patternを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 49965件
A test pattern to the logic circuit 4 generated in the test pattern generation circuit 12 is forcedly assigned to a corresponding scan flip-flop as a PLS input test pattern by the first test pattern generation circuit 13.例文帳に追加
テストパターン発生回路１２で生成された論理回路４に対するテストパターンは、第１のテストパターン生成回路１３でＰＬＳ用入力テストパターンを対応するスキャンフリップフロップに強制的に割り付けされる。 - 特許庁
RESIST PATTERN FORMING METHOD AND SEMICONDUCTOR MANUFACTURING SYSTEM例文帳に追加
レジストパターン形成方法及び半導体製造システム - 特許庁
By selecting the most suitable dither pattern corresponding to the designated screen pattern among the plurality of dither patterns, the interference between the screen pattern and the dither pattern can be reduced and an output with nearly ideal colors can be obtained.例文帳に追加
指定された網掛けパターンに応じて、複数のディザパターンから最適なディザパターンを選択することにより、網掛けパターンとディザパターンとの干渉を軽減し、理想に近い色で出力することができる。 - 特許庁
Once the music data are received from the terminal device 102, a rhythm pattern retrieval server 113 specifies rhythm pattern data (accompaniment) matching the music that the data represent through retrieval and transmit its pattern name, pattern number, etc.例文帳に追加
端末装置１０２からその曲データを受信すると、リズムパターン検索サーバー１１３は、そのデータが示す曲に合ったリズムパターンデータ（伴奏）を検索により特定し、そのパターン名やパターン番号等を送信する。 - 特許庁
As a result, the lighting fixture is suitable for obtaining a high beam light distribution pattern HP for running and a low-beam light distribution pattern LP for passing which has combined the condensing light distribution pattern SP and the diffusion light distribution pattern WP.例文帳に追加
この結果、この発明は、集光配光パターンＳＰと拡散配光パターンＷＰとを組み合わせた走行用の配光パターンＨＰおよびすれ違い用の配光パターンＬＰを得るのには適している。 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING CIRCUIT PATTERN例文帳に追加
回路パターン検査装置、および回路パターン検査方法 - 特許庁
This first pattern 6 is a periodic high density pattern which adds a dummy pattern to an aperture pattern which should finally be formed in the processed layer 4, and super-resolving technology, such as an optimal deformed illumination, etc. is used at the time of exposure.例文帳に追加
この第１のパターン６は被加工層４に最終的に形成すべき開口パターンにダミーパターンを付加した周期密集パターンであり、露光時にこれに最適な変形照明等の超解像技術を用いる。 - 特許庁
A pattern for position detection and a pattern for density correction are plotted on the surface of the intermediate belt with the lapse of fixed time, and the pattern for density correction is detected with the lapse of fixed time after detecting the pattern for position detection.例文帳に追加
中間ベルト表面に位置検出用パターン及び濃度補正用パターンを一定時間を隔てて描画し、位置検出用パターン検出後にこの一定時間を隔てて濃度補正用パターンを検出する。 - 特許庁
To provide a pattern position detector and a pattern position detecting method for rapidly detecting the position of a predetermined pattern included in a two-dimensional code or the like while improving accuracy in detecting the pattern position.例文帳に追加
２次元コードなどに含まれる所定パターンの位置の検出精度を向上させつつ、高速に当該位置を検出することができるパターン位置検出装置及びパターン位置検出方法を提供する。 - 特許庁
The flexible printed circuit board 10 has a linear signal pattern or the like and a ground pattern 14G or the like on its bottom surface and a plane ground pattern 12 on its upper surface, and a portion 16 having no ground pattern on an end portion.例文帳に追加
フレキシブルプリント配線板１０は、下面に線状のシグナルパターン等と線状のグランドパターン１４Ｇ等を有し、上面に面状グランドパターン１２を有し、端部の部分にグランドパターン無し部１６を有する。 - 特許庁
METHOD FOR ALLOWING CRYSTAL GRAIN PATTERN OF ALUMINUM ALLOY TO APPEAR例文帳に追加
アルミニウム合金の結晶粒模様表出方法 - 特許庁
COMPOSITION FOR NANOIMPRINT, PATTERN, AND PATTERNING METHOD THEREFOR例文帳に追加
ナノインプリント用組成物、パターンおよびその形成方法 - 特許庁
GLASS BOTTLE HAVING UNEVEN PATTERN AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加
凹凸模様入りガラスびん及びその製造方法 - 特許庁
INJECTION MOLDED FORM WITH FINE PATTERN TRANSFERRED IN HIGH ACCURACY例文帳に追加
微細なパターンが高転写された射出成形体 - 特許庁
Then, when one special pattern game is probability variable winning and the other special pattern game is a normal winning, the variable display time of the one special pattern game is determined such that the other special pattern game of the normal winning is ended first.例文帳に追加
そして、一方の特図ゲームが確変当りで、他方の特図ゲームが通常当たりの場合には、通常当たりの他方の特図ゲームが先に終わるように一方の特図ゲームの変動表示時間を決める。 - 特許庁
CONDUCTIVE PATTERN AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加
導電性パターン及び導電性パターンの作製方法 - 特許庁
The hanabishi pattern is also used to decorate metal fittings on Japanese furniture. 例文帳に追加
和家具の金具などの装飾にも用いられる。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
In addition, a shippo tsunagi pattern called "hoshi shippo" also exists. 例文帳に追加
ほかに「星七宝（ほししっぽう）」というものもある。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
"KIRITANPO PATTERN TOOTHBRUSH" HAVING EFFECT EXPECTED TO PREVENT PNEUMONIA例文帳に追加
肺炎予防に効果が期待できる「キリタンポ型歯ブラシ」 - 特許庁
ANALYTICAL METHOD AND ANALYTICAL DEVICE OF ELECTRON DIFFRACTION PATTERN例文帳に追加
電子回折パターンの解析方法及び解析装置 - 特許庁
To enhance contrast of interference pattern for an interferometer.例文帳に追加
干渉計において、干渉縞のコントラストを高める。 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND PATTERN LAYOUT METHOD THEREOF例文帳に追加
半導体集積回路およびそのパターンレイアウト方法 - 特許庁
METHOD FOR MOLDING POLYESTER RESIN TWO-COLOR PATTERN MOLDED ARTICLE例文帳に追加
ポリエステル樹脂二色・絵柄成形品の成形方法 - 特許庁
PATTERN SIZE MEASURING METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
パターン寸法計測方法及び走査電子顕微鏡 - 特許庁
NONWOVEN FABRIC HAVING PRINTED PATTERN AND DISPOSABLE DIAPER例文帳に追加
印刷模様を有する不織布及び使い捨ておむつ - 特許庁
MANUFACTURING METHOD OF WOODY FIBERBOARD HAVING WOODGRAIN PATTERN例文帳に追加
木目模様を有する木質繊維板の製造方法 - 特許庁
FRINGE SCAN INTERFERENCE PATTERN MEASUREMENT METHOD, AND INTERFEROMETER例文帳に追加
フリンジスキャン干渉縞計測方法および干渉計 - 特許庁
To understand an energy consumption or electricity consumption pattern.例文帳に追加
エネルギー消費または電気消費パターンを理解する。 - 特許庁
The pachinko game machine 1 carries out big winning pattern lottery processing for deciding one big winning pattern constantly integrally with the big winning pattern lottery processing without regard to the result of the big winning pattern lottery processing.例文帳に追加
パチンコ遊技機１は、一の大当たり図柄を決定しておくための大当たり図柄抽選処理を、大当たり抽選処理の結果の如何に拠らず該大当たり抽選処理と常時一体的に実行する。 - 特許庁
DECORATIVE BODY PRESENTING MOIRE PATTERN, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
モアレ模様を呈する装飾体とその製造方法 - 特許庁
CIRCUIT BOARD HAVING AUXILIARY CIRCUIT PATTERN AND CARD READER例文帳に追加
補助回路パターンを有する回路基板及びカードリーダ - 特許庁
LOST WAX CASTING PATTERN USING BIODEGRADABLE RESIN例文帳に追加
生分解性樹脂を用いたロストワックス鋳造原型 - 特許庁
A photoresist pattern 5 is formed on the insulating film.例文帳に追加
その絶縁膜上にフォトレジストパターン５を形成する。 - 特許庁
WALL PANEL HAVING PATTERN COATING FILM AND ITS COATING METHOD例文帳に追加
模様塗膜を有する壁パネルとその塗装方法 - 特許庁
This measurement is performed by measuring an amplitude of a diffraction order of a diffraction pattern obtained from an interference between a pattern on a wafer level and a pattern projected on the pattern on the wafer level.例文帳に追加
この測定は、ウェーハ水準上のパターンと、ウェーハ水準上のパターンの上に投影されるパターンとの間の干渉から得られる回折模様の回折次数の振幅を測定することによって行われる。 - 特許庁
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