「plasma analysis」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

ELEMENT-ANALYZING PLASMA TORCH, AND ANALYSIS DEVICE AND ANALYSIS METHOD USING IT例文帳に追加

元素分析用プラズマトーチ、このプラズマトーチを用いた分析装置及び分析方法 - 特許庁

PLASMA TORCH FOR ELEMENTAL ANALYSIS, ANALYTICAL APPARATUS AND METHOD USING THE PLASMA TORCH, AND PROTECTOR FOR THE PLASMA TORCH例文帳に追加

元素分析用プラズマトーチ、このプラズマトーチを用いた分析装置、分析方法、及びプラズマトーチ用保護具 - 特許庁

INDUCTION COUPLED PLASMA MASS ANALYZER AND ANALYSIS METHOD例文帳に追加

誘導結合プラズマ質量分析計及び分析方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR PLASMA ION SOURCE MASS SPECTROMETRIC ANALYSIS例文帳に追加

プラズマイオン源質量分析装置及び分析方法 - 特許庁

ANALYSIS METHOD OF WALL CHARGE STATUS IN PLASMA DISPLAY PANEL例文帳に追加

プラズマディスプレイパネルにおける壁電荷状態の解析方法 - 特許庁

METHOD FOR HIGH-PRECISION ANALYSIS OF METAL ELEMENTS BY INDUCTIVELY-COUPLED PLASMA EMISSION SPECTRAL ANALYSIS METHOD例文帳に追加

誘導結合プラズマ発光分光分析法による金属元素の高精度分析方法 - 特許庁

NEBULIZER AND HIGH FREQUENCY INDUCTIVE COUPLING PLASMA EMISSION ANALYSIS DEVICE例文帳に追加

ネブライザ及び高周波誘導結合プラズマ発光分析装置 - 特許庁

BLOOD PLASMA COMPONENT ANALYSIS SENSOR CHIP AND SPECIMEN LIQUID EXTRACTING METHOD例文帳に追加

血漿成分分析センサチップ及び試料液抽出方法 - 特許庁

ISOTOPE-RATIO ANALYSIS USING PLASMA ION SOURCE MASS ANALYZER例文帳に追加

プラズマイオン源質量分析装置を用いた同位体比分析 - 特許庁

To provide a plasma potential measuring method which has few error factors without the necessity of an analysis, and to provide plasma potential measuring equipment.例文帳に追加

誤差要因の少ない解析不要のプラズマ電位測定方法及び装置を提供する。 - 特許庁

QUANTITATIVE ANALYSIS OF ALUMINUM IN STEEL BY INDUCTIVELY COUPLED PLASMA EMISSION SPECTROSCOPIC ANALYSIS METHOD例文帳に追加

誘導結合プラズマ発光分光分析法による鋼中のアルミニウムの定量分析方法 - 特許庁

METHOD OF MEASURING WOOD DENSITY BY LASER INDUCED PLASMA EMISSION ANALYSIS例文帳に追加

レーザ誘起プラズマ発光分析による木材密度の測定方法 - 特許庁

ISOTOPE RATIO ANALYSIS METHOD USING PLASMA ION SOURCE MASS SPECTROSCOPE例文帳に追加

プラズマイオン源質量分析装置を用いた同位体比分析方法 - 特許庁

QUANTITATIVE ANALYSIS METHOD OF ORGANIC METAL USING HIGH-FREQUENCY INDUCTIVELY COUPLED PLASMA EMISSION SPECTRAL ANALYSIS METHOD例文帳に追加

高周波誘導結合プラズマ発光分光分析法を用いた有機金属の定量分析方法 - 特許庁

To enable a plasma emission analysis to surely turn on a light in plasma in a short time, to make helium light intensity constant and to stabilize analysis sensitivity in an analysis and a quantitative determination of a halogen element.例文帳に追加

プラズマ発光分析において、プラズマの短時間での確実な点灯が可能とし、ヘリウム光強度を一定とし、ハロゲン元素の分析定量の際の分析感度の安定化が行えるようにする。 - 特許庁

Analysis units 3A-3C for serum, analysis units 3D and 3E for plasma, and analysis units 3F and 3G for urine are arranged along a main transport line 20.例文帳に追加

主搬送ライン２０に沿って血清用分析ユニット３Ａ〜３Ｃ、血漿用分析ユニット３Ｄ、３Ｅ及び尿用分析ユニット３Ｆ、３Ｇを配置する。 - 特許庁

To monitor plasma without using a dummy wafer or a complicated particular mechanism for analysis.例文帳に追加

ダミーウェーハや、分析用の特別の複雑な機構を用いずに、プラズマのモニタを行う。 - 特許庁

METHOD FOR AUTOMATICALLY JUDGING QUALITATIVE ANALYSIS RESULT IN PLASMA ION SOURCE MASS SPECTROMETER例文帳に追加

プラズマイオン源質量分析装置における定性分析結果の自動判定方法 - 特許庁

PLASMA ANALYSIS METHOD AND DEVICE OF HIPIMS SPUTTER SOURCE BY TOF MASS SPECTROSCOPY例文帳に追加

ＴＯＦ質量分析によるＨＩＰＩＭＳスパッタ源のプラズマ解析方法及びその装置 - 特許庁

GAS ANALYSIS METHOD FOR TOTAL ORGANIC CARBON IN GAS USING LOW-TEMPERATURE PLASMA AND ITS DEVICE例文帳に追加

低温プラズマを用いるガス中の総有機炭素のガス分析方法及びその装置 - 特許庁

MONITORING AND CONTROL METHOD FOR LASER IMPACT PEENING USING SUCCESSIVE PLASMA LIGHT SPECIAL ANALYSIS例文帳に追加

経時プラズマ光スペクトル解析を用いたレーザー衝撃ピーニングの監視及び制御方法 - 特許庁

As a surface analysis method, an XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy) analysis method or the like is enumerated, and when being used together with an ICP-AES (Inductively Coupled Plasma-Atomic Emission Spectroscopy) analysis, a result which is unmeasurable in the ICP-AES analysis can be supplemented.例文帳に追加

表面分析方法としては、ＸＰＳ分析法等が挙げられ、ＩＣＰ−ＡＥＳ分析と併用すれば、ＩＣＰ−ＡＥＳ分析では測定不可能だった結果を補足することも出来る。 - 特許庁

To carry blood, plasma and calibration solution within a device, without using pump in a blood analyzer performing plasma separation in a passage by centrifugal operation, and to automatically carry out works without the intermediary of manpower in a blood analysis method for surely discharging calibration solution from a sensor part to enable precise analysis.例文帳に追加

遠心操作により流路内で血漿分離を行う血液分析装置において、ポンプなどを用いることなく装置内で血液、血漿、較正液の搬送を行う。 - 特許庁

In this component analysis method and this component analyzer, while supplying helium gas to an atmospheric pressure plasma source 2 arranged close to an analysis object body, a high-frequency power is supplied from a power source 4, and thereby plasma 5 is generated, and light is emitted from the analysis object body exposed to the plasma 5.例文帳に追加

本発明の成分分析方法及び成分分析装置においては、被分析対象物体に近接して配置された大気圧プラズマ源２にヘリウムガスを供給しつつ、電源４より高周波電力を供給することにより、プラズマ５を発生させて、プラズマ５にさらされた被分析対象物体を発光させる。 - 特許庁

To provide an inductively coupled plasma torch for realizing GC analysis, etc. and solution analysis by means of the same torch without detaching a capillary tube, etc. therefrom.例文帳に追加

キャピラリーチューブなどを取り外すことなく、ＧＣ分析等と溶液分析を同一のトーチで実現することが可能な誘導結合プラズマトーチの提供。 - 特許庁

ANALYSIS METHOD OF VERY SMALL AMOUNT OF Pd, Rh AND Ru AND HIGH-FREQUENCY PLASMA MASS ANALYZER USED THEREIN例文帳に追加

微量Ｐｄ、Ｒｈ及びＲｕの分析方法及び該方法に用いる高周波プラズマ質量分析装置 - 特許庁

To solve a problem in a conventional cannula having a dull tip which separates blood plasma from blood, and cannot efficiently supply the blood plasma to a point-of-care inspection cartridge for an analysis.例文帳に追加

先がとがっていない従来のカニューレは、血漿を血液から分離し、分析のために血漿をポイントオブケア検査カートリッジに効率的に供給し得ない。 - 特許庁

To provide an analyzer useful for technological development of a plasma assist catalyst reaction system and capable of implementing a vibrational spectroscopic analysis and a luminescent spectroscopic analysis with high consistency.例文帳に追加

プラズマアシスト触媒反応系の技術開発に有用な、振動分光分析と発光分光分析が整合よく実施することができる分析装置を提供する。 - 特許庁

To provide a plasma generation means, a plasma generator and an element analysis method for quickly removing air bubbles generated in a narrow/small section and electrodes when a plasma is generated by concentrating an electric field in the narrow/small section.例文帳に追加

狭小部に電界を集中させてプラズマを発生させる際に、狭小部や電極に発生する気泡を速やかに除去することのできるプラズマ発生手段、プラズマ発生装置及び元素分析方法を提供すること。 - 特許庁

To achieve accurate and rapid qualitative analysis, quantitative analysis, and isotope ratio analysis of an element by preventing pollution (memory effect) caused by a sample solution attached to or accumulated in an induction coupling plasma analyzer or a sample introduction device.例文帳に追加

誘導結合プラズマ分析装置および試料導入管への試料溶液の付着や滞留による汚染（メモリー効果）を抑制し、迅速かつ精確な、元素の「定性分析・定量分析・同位体比分析」を可能とする。 - 特許庁

In the analysis method, quantitative analysis on tin in the organic acid solution is performed through the use of an inductively coupled plasma emission analyzer, and the analysis is performed with the wavelength of analyzing emission rays of the inductively coupled plasma emission analyzer set at any of 235.484 nm, 242.270 nm, or 283.999 nm.例文帳に追加

有機酸溶液中のスズの定量分析を誘導結合プラズマ発光分析装置を用いて行う分析方法であって、上記誘導結合プラズマ発光分析装置の分析発光線の波長を２３５．４８４ｎｍ、２４２．１７０ｎｍ及び２８３．９９９ｎｍのいずれかに設定して分析を行うようにした。 - 特許庁

To provide a high-frequency inductively coupled plasma emission spectrometric analysis method of high analytical accuracy and high reliability for arsenic-containing solutions.例文帳に追加

砒素を含む溶液の高分析精度、高信頼性の高周波誘導結合プラズマ発光分光分析方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device for laser plasma X-ray spectroscopic analysis capable of identifying and measuring a quantity of a minute element in a sample.例文帳に追加

試料中の微量な元素を迅速に同定・定量することのできるレーザプラズマＸ線分光分析装置を提供する。 - 特許庁

To provide a plasma potential measuring method and device for measuring plasma potential along with an analysis of ion species applying a mass spectrometer without depending on a probe measuring instrument at a low cost considering that both mass spectrometry and plasma potential measurement can be performed.例文帳に追加

プラズマ電位を、プローブ計測器に頼ることなく、質量分析器を応用して、イオン種の分析と併せて計測でき、質量分析とプラズマ電位計測の双方を行える割りには安価に済むプラズマ電位計測方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a soil pollution measuring method and a device by a laser plasma spectroscopic analysis adaptable to wide-range soil property including viscous soil.例文帳に追加

粘性土を含む広範囲の土質に適応可能なレーザープラズマ分光分析による土壌汚染測定方法及び装置を提供する。 - 特許庁

This method enables the zinc impurity concentration to be evaluated in a non-destructive manner in a shorter period of time with a simpler operation, as compared with a precision chemical analysis such as ICP-MS (Inductively Coupled Plasma-Mass Spectroscopy) requiring an advanced analysis technology.例文帳に追加

この方法により高度な分析技術の必要なＩＣＰ質量分析等の精密化学分析に比べて、非破壊で、短時間かつ簡便に亜鉛不純物濃度を評価することができる。 - 特許庁

A charged particle beam apparatus is configured so that a plasma gas supply source and an electrode connected to a plasma power supply can be installed in the vicinity of a desired region inside the charged particle apparatus to realize local plasma processing and composite functions such as inspection, analysis, and microfabrication by a charged particle beam.例文帳に追加

荷電粒子線装置内にプラズマのガス供給源とプラズマ電源に繋がった電極を所望領域近傍に設置できる構成とし、局所的なプラズマ加工と荷電粒子線による検査、解析、微細加工等の複合機能を実現する。 - 特許庁

To provide a plasma torch for realizing analysis of high sensitivity, by utilizing the light emitted from plasma discarded to the outside hitherto in the heating, desolvation and decomposition of an analyzing sample and, the atomization, excitation and ionization of an analyzing target element, and a plasma torch holder.例文帳に追加

これまで外部に棄てられていたプラズマから発せられる光を分析試料の加熱、脱溶媒、分解、分析対象元素の原子化、励起、イオン化に利用することによって、高感度分析を実現するためのプラズマトーチ及びプラズマトーチホルダーを提供する。 - 特許庁

In a method for detecting a dry etching endpoint, spectral analysis of plasma-emitted light is used in a dry etching process of a contact hole or the like.例文帳に追加

ドライエッチング終点検出方法であって、コンタクトホール等のドライエッチング工程において、プラズマ発光のスペクトル分析を利用するものである。 - 特許庁

To provide an analyzing device capable of collecting a volume of blood plasma component required for analysis, from a necessary minimum of a sample liquid.例文帳に追加

必要最小限の試料液から分析に必要な量の血漿成分を採取できる分析用デバイスを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a dispensation method which can maintain the accuracy of analysis by preventing the inclusion of a blood corpuscle into a plasma sample, a dispenser, and analyzer.例文帳に追加

血漿サンプルへの血球の混入を防止して分析精度を維持しうる分注方法、分注装置および分析装置を提供する。 - 特許庁

The nonlinear regression analysis is performed using the emission intensity of plasma acquired before a first time when the emission intensity of plasma exceeded a peak, and a second time becoming the etching endpoint is calculated using the regression equation.例文帳に追加

非線形回帰分析は、プラズマの発光強度がピークを超えた第１の時間までに取得したプラズマの発光強度を用いて行われ、回帰式を用いてエッチング終点となる第２の時間が算出される。 - 特許庁

To provide an ICP emission spectrometer equipped with a plasma torch which dispenses with optical regulation before measurement, enables stable measurement of high sensitivity and can be used for another purpose simultaneously with the emission analysis of a plasma flame.例文帳に追加

測定前の光学調節が不要であり、高感度で安定な測定が可能であり、さらにプラズマ炎を発光分析と同時に他の目的にも使用できるプラズマトーチを備えたＩＣＰ発光分析装置を提供する。 - 特許庁

To provide an analysis start time determination method capable of clearly obtaining a stable time in sample replacement and accurately obtaining the analysis start time of a sample, and an ICP (Inductively Coupled Plasma) light emission analyzer using the method.例文帳に追加

試料交換時の安定時間を明確に把握でき、また試料の分析開始時期を正確に把握することができる分析開始時期判断方法及び該方法に使用するＩＣＰ発光分析装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for a trace component analysis in steel with high accuracy by enabling the rapid removal of a matrix component capable of corresponding even to inductive coupling plasma mass analysis supplying an electrolytic solution continuously.例文帳に追加

連続的に電解溶液を供給する誘導結合プラズマ質量分析にも対応可能な迅速なマトリックス成分除去を可能とすることにより、鉄鋼中微量成分の高精度分析方法を提供する。 - 特許庁