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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > pogo-pinの意味・解説 > pogo-pinに関連した英語例文

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pogo-pinの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 56



例文

CONTACT PIN AND POGO PIN例文帳に追加

コンタクトピン及びポゴピン - 特許庁

POGO PIN BLOCK OF SEMICONDUCTOR TESTER例文帳に追加

半導体テスタのポゴピンブロック - 特許庁

POGO PIN BLOCK OF IC TESTER例文帳に追加

ICテスタのポゴピンブロック - 特許庁

ELASTICITY-MEASURING APPARATUS FOR POGO PIN例文帳に追加

POGOピンの弾性測定装置 - 特許庁

例文

POGO PIN AND CONTACTOR FOR SEMICONDUCTOR ELEMENT TEST EQUIPPED WITH THE POGO PIN例文帳に追加

ポゴピン及びそのポゴピンを備える半導体素子テスト用コンタクター - 特許庁


例文

Since the elasticity-measuring apparatus for the POGO pin can measures the elasticity of the POGO pin under the same conditions, while the POGO pin is mounted on a POGO module, it has the effect of preventing defects due to the POGO pin in advance.例文帳に追加

このPOGOピン弾性測定装置は、POGOピンがPOGOモジュールに装着されている間に、同一な条件でPOGOピンの弾性を測定できるので、POGOピンによる不良を事前に防止できる効果がある。 - 特許庁

To provide a pogo pin and a contactor for semiconductor element testing that is equipped with the pogo pin.例文帳に追加

ポゴピン及びそのポゴピンを備える半導体素子テスト用コンタクターを提供する。 - 特許庁

To easily clean dirt from a pogo pin.例文帳に追加

ポゴピンの汚れを容易にクリーニングする。 - 特許庁

The above contact may be a pogo pin.例文帳に追加

前記コンタクトは、ポゴピンであってもよい。 - 特許庁

例文

POGO PIN FOR INSPECTING INTEGRATED CIRCUIT PACKAGE例文帳に追加

集積回路パッケージ検査用ポゴピン - 特許庁

例文

The pogo pin 60 contacts the chuck lead plate 54.例文帳に追加

ポゴピン60はチャックリード板54に接触する。 - 特許庁

This pin block structure consists of a pogo pin block 13 having plural pogo holes 17 for inserting plural pogo pins 11, a connecting hole formed within the pogo block 13 for a prescribed number of the pogo holes 17 to share the same space with the pogo pins 11, and a pogo cap 12 for locking the pogo pins 11 in the preset pogo holes 17.例文帳に追加

本ピンブロック・ストラクチャは、複数のポゴピンを挿入するための複数のポゴホール有するポゴピンブロックと、そのポゴピンブロック内において所定数のポゴホールについてポゴピンが同じ空間を共有するように設けられた接続ホールと、そのポゴピンをあらかじめ定められたポゴホールにロックするためのポゴキャップとにより構成される。 - 特許庁

POGO PIN SOCKET AND DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING SEMICONDUCTOR WAFER USING IT, AND METHOD FOR EXTRACTING POGO PIN例文帳に追加

ポゴピンソケットおよびそれを用いた半導体ウェハの検査装置と半導体ウェハの検査方法並びにポゴピンの抜取方法 - 特許庁

The tip 9 of the contact pin (pogo pin 3) and the recess 5 of the electrode pad (pogo seat 1) are formed to be truncated, respectively.例文帳に追加

コンタクトピン(ポゴピン3)の先端9と、電極パッド(ポゴ座1)の凹部5は、それぞれ錐状に形成されている。 - 特許庁

The pogo pin 31 composes a pogo pin body part 31a by bending a strip-shaped metal plate into a U shape.例文帳に追加

ポゴピン31は、帯状金属板材をU字状に折り曲げてポゴピン本体部31aを構成させる。 - 特許庁

The contactor for semiconductor element test is provided with the pogo pin which is equipped with a contact pad part made of an electrical conductive rubber and a spring formed under part of the contact pad part, and a pogo pin array which is mounted in plural number with the pogo pin, and a housing fixing the pogo pin array.例文帳に追加

伝導性ゴム材質のコンタクトパッド部と、コンタクトパッド部の下部に形成されたバネと、を備えるポゴピン、及び、かかるポゴピンが複数配置されたポゴピンアレイと、ポゴピンアレイを固定するハウジングと、を備える半導体素子テスト用コンタクターである。 - 特許庁

A pogo pin 60 is secured at the peripheral part of the chuck top 49.例文帳に追加

チャックトップ49の周辺部にはポゴピン60を固定する。 - 特許庁

To provide a means for extracting a damaged pogo pin from the insertion hole of a pogo pin socket easily, when the plunger of the pogo pin inserted into the insertion hole is damaged.例文帳に追加

ポゴピンソケットの挿入穴に挿入したポゴピンのプランジャが破損した場合に破損したポゴピンを挿入穴から容易に抜取る手段を提供する。 - 特許庁

A dual pogo pin board 20 is disposed between a test board 12 and a probe card 16, to mainly form spaces of a depth corresponding to the thickness of pogo pins 22, 24/the dual pogo pin board 20.例文帳に追加

テストボード12とプローブカード16との間に、両ポゴピンボード20を配置し、主としてポゴピン22,24、両ポゴピンボード20の厚みに相当する空間を形成する。 - 特許庁

The surface of the pogo-pin interposer is provided with pogo pins 13 for electrically connecting to the conversion substrate, and the conversion substrate can be mounted on the surface.例文帳に追加

ポゴピンインターポーザは、変換基板と電気的に接続するポゴピン13が表面に設けられ、変換基板をこの表面上に載置できる。 - 特許庁

To provide a pogo block with a constitution that is highly resistant to impact, is easily fixed, and does not apply stress to a wire by burying a ferrite core for a pogo pin into the pogo block 3.例文帳に追加

ポゴブロック3内にポゴピン用フェライトコアを埋め込むことで、衝撃に強く、固定が容易で、ワイヤにストレスのかからない構成のポゴブロックを実現する。 - 特許庁

METHOD FOR EXCHANGING PROBE CARD WITH PROBE NEEDLE OF POGO PIN STRUCTURE WITH PROBE NEEDLE例文帳に追加

ポゴピン構造のプローブ針を有するプローブカードとプローブ針の交換方法 - 特許庁

The contactors are provided in each pogo pin insertion hole of a connection unit of an inspection device.例文帳に追加

また、検査装置の接続ユニットの各ポゴピン挿入穴に、上記接触子を備えた。 - 特許庁

Furthermore, pogo pin guides 17b which have diameters enlarged in tapered states are provided on the other surface.例文帳に追加

また、他の面に、テーパ状に拡径したポゴピンガイド17bが設けられている。 - 特許庁

The probe card, which is a probe card including a plurality of pogo pins contacting electrically with each electrode of an inspected body, includes a supporting substrate supporting the each pogo pin, and the supporting substrate concerned includes a strong supporting member positioning and supporting the lower part of the each pogo pin and a sheet-like flexible supporting member supporting an intermediate part of the each pogo pin.例文帳に追加

本発明のプローブカードは、被検査体の各電極に電気的に接触される複数のポゴピンを備えたプローブカードであって、前記各ポゴピンを支持する支持基板を備え、当該支持基板が、前記各ポゴピンの下部を位置決めして支持する堅牢な支持部材と、前記各ポゴピンの中間部を支持する柔軟性のあるシート状支持部材とを備えた。 - 特許庁

To achieve a pogo pin block of a semiconductor tester for equalizing a ground potential, and insulating peripheral components by each unit of the pogo pin block.例文帳に追加

グラウンド電位の電位をポゴピンブロック単位にて同電位にでき、且つ、ポゴピンブロック単位で周囲部品との絶縁が実施できる半導体テスタのポゴピンブロックを実現する。 - 特許庁

The surface of the connecting substrate is provided at locations corresponding to the locations of pogo-pin installation with signal lands 7 for transmitting signals to semiconductor devices, and the pogo-pin interposer is mounted on the surface.例文帳に追加

接続基板は、半導体装置へ信号を伝達する信号ランド7がポゴピンの設置位置に対応した表面に設けられ、ポゴピンインターポーザがこの表面上に載置される。 - 特許庁

The base substrate; the connecting substrate; and the pogo-pin interposer are each common regardless of attributes of semiconductor devices, and the conversion substrate can be attached to and removed from the pogo-pin interposer.例文帳に追加

ベース基板、接続基板及びポゴピンインターポーザの各々は半導体装置の属性に関わらず共通であり、変換基板はポゴピンインターポーザから着脱可能である。 - 特許庁

In attaching and detaching the unit 52 to an from the unit 51, the pogo pin 58 and the electrode of the partition board 37 are kept out of contact by the air cylinder 54 so as to prevent deformation of the pogo pin.例文帳に追加

ユニット51上へのユニット52の搭載時及び取り外し時はエアシリンダ54によってポゴピン58と隔壁ボード37の電極が接触しない状態とすることができ、ポゴピン58の変形を防止できる。 - 特許庁

An angle θ1 of the tip 9 of the contact pin (pogo pin 3) and an angle θ2 on the bottom of the recess 5 are approximately equal to each other.例文帳に追加

コンタクトピン(ポゴピン3)の先端9の角度θ1と凹部5の底部の角度θ2とが互いに略等しい。 - 特許庁

To provide a pin block structure capable of easily replacing such a contact pin as pogo pin with another contact pin and of easily changing the contact pin position.例文帳に追加

例えばポゴピンのようなコンタクトピンを他のコンタクトピンと取り替えたり、コンタクトピンの位置変更を容易にできるように構成したピンブロック・ストラクチャを提供する。 - 特許庁

On the SBc, an IC socket SKT and a pogo pin pad PPD connected to the socket terminal with wiring is provided.例文帳に追加

SBcには、ICソケットSKTと、そのソケット端子に配線で接続されたポゴピンパッドPPDを設ける。 - 特許庁

The semiconductor inspection jig 1 has a conversion substrate 12; a pogo-pin interposer 11; a connecting substrate 6; and a base substrate 2.例文帳に追加

半導体検査治具1は、変換基板12とポゴピンインターポーザ11と接続基板6とベース基板2とを有する。 - 特許庁

For example, the burn-in board 103c is constituted of a socket board SBc, a pogo pin board PNB, and a circuit-forming board PBc.例文帳に追加

例えば、バーンインボード103cを、ソケットボードSBcと、ポゴピンボードPNBと、回路形成ボードPBcによって構成する。 - 特許庁

The upper end of the pogo pin of the IC socket is flat to increase the contact area with the flat bottom of the BGA package 410.例文帳に追加

ICソケットのポゴピンの上端部は、BGAパッケージ410の平坦な底面と接触面積を増大させるために平坦である。 - 特許庁

A pogo pin (52a) with which a test head (5) of the semiconductor inspecting apparatus for inspecting the semiconductor device is equipped, is configured so as to contact with the contact point.例文帳に追加

前記半導体装置を検査する半導体検査装置のテストヘッド(5)が備えるポゴピン(52a)は、前記接点と当接する。 - 特許庁

The double end POGO pins 8, 9 are mounted on a pin mounting part 16 to be located corresponding to the bumps 13 of the IC 12.例文帳に追加

IC2のバンプ13に対応して位置するように両端ポゴピン8、9をピン装着部16に取り付ける。 - 特許庁

The support surface 56 is connected to the tester 22 by way of the chuck top 49, the pogo pin 60, the chuck lead plate 54, and an cable 55.例文帳に追加

支持面56はチャックトップ49とポゴピン60とチャックリード板54とケーブル55を経由してテスタ22につながっている。 - 特許庁

The IC tester which tests an object under test is improved in such a way that the object is mounted on a performance board and that a signal is transferred via the POGO pin of a POGO pin block connected to the performance board.例文帳に追加

本発明は、被試験対象をパフォーマンスボードに搭載し、このパフォーマンスボードに接続するポゴピンブロックのポゴピンを介して信号の授受を行い、被試験対象の試験を行うICテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

On the PBc, a connector CN to be a connection terminal to the burn-in device body, and the pogo pin pad PPD connected with each pin in the CN with wiring are provided.例文帳に追加

PBcには、バーンイン装置本体との接続端子となるコネクタCNと、このCN内の各ピンに配線で接続されたポゴピンパッドPPDを設ける。 - 特許庁

For example, when the pogo pin corresponding parts A to I are constituted by two layers, an upper layer is connected with the power supply wiring or the GND wiring through each switch, and a lower layer is connected with a signal pin.例文帳に追加

例えば、ポゴピン対応部A〜Iを2層により構成した場合、上層は各スイッチを介して電源配線またはGND配線へと接続され、下層は信号ピンへと接続される。 - 特許庁

The contact pin (or pogo pin) is constituted of the bellows structure 1 having a spring function of the integrated structure, and the plurality of slits 2 is provided in the periphery of a projection part of the bellows, in the bellows structure 1.例文帳に追加

コンタクトピン(又はポゴピン)を一体構造化されたバネ機能を有するベローズ構造1で構成し、さらに、前記ベローズ構造1に、ベローズの突出部の周囲に複数個のスリット2が設けたことを特徴とする。 - 特許庁

As a result, the problem wherein a lead component affects a gold-plated part of the pogo pin and causes the surface of the pogo pin to oxidize, due to the problem of solder balls being generated at solder ball contact and contact with the solder ballscan be prevented fundamentally, by using the contact pad of the electrical conductive rubber on the upper part.例文帳に追加

これにより、上部に導電性ゴム材質のコンタクトパッドを使用することによって、ソルダーボール接触時に発生するソルダーボールの損傷問題及びソルダーボールとの接触により、鉛成分がポゴピンの金メッキに影響を及ぼしてポゴピンの表面を酸化させる問題を根本的に防止できる。 - 特許庁

By using such a constitution, with respect to a plurality of kinds of semiconductor devices, the socket board SBc or pogo pin board PNB becomes commonly useable.例文帳に追加

このような構成を用いると、同一パッケージを備えた複数品種の半導体デバイスに対して、ソケットボードSBcやポゴピンボードPNBを共通に使用することが可能となる。 - 特許庁

To achieve stable inspection of low contact resistance by preventing increase of contact resistance due to a conventional POGO pin type contact, in the inspection of a semiconductor device provided with a soldering electrode in a connection electrode.例文帳に追加

接続電極に半田電極を備えた半導体素子の検査において、従来のポゴピン方式接触子による接触抵抗増加を抑制し、低接触抵抗で安定した検査を実現する。 - 特許庁

Since attributes of each pogo pin corresponding parts A to I can be freely changed by the switches, it is possible to correspond to the evaluation of various kinds of ICs by one test board.例文帳に追加

各ポゴピン対応部A〜Iの属性をスイッチにより自由に変更可能に構成されるので、1枚のテストボードで多品種のIC評価に対応することができる。 - 特許庁

To suppress the run-out of a plunger and to detect the omission of a soldered ball electrode in a pogo pin for electrically connecting an external terminal and a measuring substrate of a tester in an IC package test.例文帳に追加

ICパッケージのテストにあたりその外部端子とテスターの測定基板とを電気接続するためのポゴピンにおいて、プランジャの芯振れを抑制すると共に、半田ボール電極の欠落を検出するのを可能にする。 - 特許庁

A pogo pin provided for the connector 1 connected to the test equipment through another coaxial cable contacts with the signal contact zone 15 and the ground contact zone 14 to electrically connect the test device and the test equipment to each other.例文帳に追加

テスト機器に別の同軸ケーブルを介して接続されたコネクタに設けられたポゴピンが信号接触ゾーン15、接地接触14ゾーンと接触し、被検デバイスとテスト機器とが電気的に接続される。 - 特許庁

An outer circumferential face of a CSP 5 with no conductive ball is constituted to be positioned by a side part fixing part 32 to bring a connector 6 of the CSP 5 into contact with a pogo pin 22.例文帳に追加

CSP5の接続子6がポゴピン22に当接するように、導電性ボールの付いていないCSP5の外周側面を側部固定部32により位置決めする構造としてある。 - 特許庁

例文

A probe card in an inspection apparatus includes probe needles for Kelvin contacts each comprising a coil type probe needle and a pogo pin type probe needle disposed in the inside thereof, and a probe needle for two-terminal measurement.例文帳に追加

検査装置のプローブカードは、コイル型プローブ針とその内側に配置されたポゴピン型プローブ針とで構成されたケルビンコンタクト用プローブ針および2端子測定用プローブ針を備えている。 - 特許庁

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