「pulse test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

TRANSMISSION SYSTEM HAVING PULSE MASK TEST FUNCTION例文帳に追加

パルスマスク試験機能を備えた伝送システム - 特許庁

METHOD FOR CALIBRATING TRANSMISSION LINE PULSE TEST SYSTEM例文帳に追加

伝送線路パルス試験システムの較正方法 - 特許庁

A test pulse is superposed on the input signal, and a comparison pulse having the unit delay amount to the test pulse is generated.例文帳に追加

そして入力信号にテストパルスを重畳させ、また該テストパルスに対して単位遅延量を持つ比較用パルスを発生させる。 - 特許庁

TEST PULSE GENERATION METHOD AND SYSTEM FOR TESTING ELECTRONIC APPARATUS例文帳に追加

電子装置試験用の試験パルス生成方法とシステム - 特許庁

The step for deriving temporary pulse condition includes performing test recording on a test recording layer and derives the temporary pulse condition.例文帳に追加

暫定パルス条件導出ステップは、テスト記録層においてテスト記録を行い、暫定パルス条件を導出する。 - 特許庁

ONE-SHOT PULSE GENERATING APPARATUS PROVIDED WITH CIRCUIT FOR TEST AND METHOD FOR TESTING ONE-SHOT PULSE GENERATING APPARATUS USING CIRCUIT FOR TEST例文帳に追加

テスト用回路を備えたワンショットパルス発生装置及びそのテスト用回路を使用したワンショットパルス発生装置のテスト方法 - 特許庁

An optical pulse test apparatus 1 displays a measured waveform of the test result to a display device 24a.例文帳に追加

光パルス試験装置１は、試験結果の測定波形を表示装置２４ａに表示する。 - 特許庁

OPTICAL PULSE TESTER AND OPTICAL FIBER LONGITUDINAL DIRECTION CHARACTERISTIC TEST METHOD例文帳に追加

光パルス試験器及び光ファイバ長手方向特性試験方法 - 特許庁

In the transmission characteristic of the optical fiber grating 6, the light of band other than that of the test pulse light is passed, and the band of the test pulse light is blocked.例文帳に追加

光ファイバグレーティング６の透過特性は、試験パルス光以外の帯域の光は透過させ、試験パルス光の帯域は阻止する。 - 特許庁

ANALOG-DIGITAL CONVERSION DEVICE AND METHOD AND OPTICAL PULSE TEST DEVICE例文帳に追加

Ａ／Ｄ変換装置、Ａ／Ｄ変換方法、及び光パルス試験装置 - 特許庁

In the test recording, recording is performed while changing the level of a cooling pulse in the recording pulse signals.例文帳に追加

このテスト記録においては記録パルス信号中のクーリングパルスのレベルを変更しつつ記録が行われる。 - 特許庁

The plurality of test signals are pulse signals whose pulse periods do not overlap each other.例文帳に追加

複数の試験信号は、各々パルス信号であって、かつ、互いのパルス期間が重複しない信号である。 - 特許庁

To provide a test pulse generation method and a system for testing an electronic apparatus.例文帳に追加

電子装置試験用の試験パルス生成方法とシステムの提供。 - 特許庁

To reduce a test time by reducing the number of shifts of a pulse control register.例文帳に追加

パルス制御レジスタのシフト数を少なくして、テスト時間を短縮する。 - 特許庁

The reference pulse is supplied at a fixed time point to the test pattern.例文帳に追加

基準パルスをテストパターンに対して固定の時間位置で供給する。 - 特許庁

When the test signal is detected by the test signal detection circuit 8, a one-shot pulse is sent from the one-shot pulse generation circuit 9 as a response signal.例文帳に追加

検査信号検出回路８により検査信号が検出されたときワンショットパルス発生回路９からワンショットパルスが応答信号として送出される。 - 特許庁

The light receiving element 150 receives the pulse light reflected from the test piece 121 and converts the pulse light into an electric signal.例文帳に追加

受光素子１５０は、試験片１２１から反射されたパルス光を受光して電気信号に変換する。 - 特許庁

A pulse generation circuit 13 for applying a pulse Po is provided on a test electric wire 31, which is an inspection object covered electric wire.例文帳に追加

検査対象の被覆電線である被検電線31にパルスPoを印加するパルス生成回路13を設ける。 - 特許庁

The steps for deriving the final pulse condition includes correcting the temporary pulse condition based on the test area reflection light level, to derive the final pulse condition.例文帳に追加

最終パルス条件導出ステップは、テスト領域反射光レベルに基づいて暫定パルス条件を補正し、最終パルス条件を導出する。 - 特許庁

A test using the pulse having the narrower pulse width than the system clock can be performed simply by monitoring the pulse having the pulse width set beforehand simply and accurately by an external tester.例文帳に追加

予め設定したパルス幅のパルスを簡便かつ正確に外部テスタでモニタすることにより、簡便に、システムクロックよりもパルス幅の狭いパルスを用いた試験を行うことができる。 - 特許庁

In this counter test circuit for testing counters 3, 4 constituted by connecting two four-bit counters longitudinally, a load pulse generating part 2 generates a load pulse of the counters 3, 4 from a test mode signal for showing a test mode of the counters and a counter load pulse test input signal inputted from an external terminal.例文帳に追加

４ビットのカウンタを２個縦列接続して構成したカウンタ３，４をテストするカウンタテスト回路で、ロードパルス生成部２は、カウンタのテストモードを示すテストモード信号と外部端子により入力されるカウンタロードパルステスト入力信号とからカウンタ３，４のロードパルスを生成する。 - 特許庁

The device is provided with a test signal input terminal, a test clock input terminal, a test start pulse input terminal, and a test output terminal other than a power source terminal, and also provided inside with a test data generating circuit for generating test digital data, and with a test switch installed correspondingly to an output terminal.例文帳に追加

電源端子以外に、テスト信号入力端子、テストクロック入力端子、テストスタートパルス入力端子、テスト出力端子を、設け、内部に、テスト用ディジタルデータを発生するテストデータ発生回路と、出力端子に対応して設けられるテストスイッチとを設ける。 - 特許庁

To provide a radiation monitor device that greatly shorten a test time, and changes test items according to circumstances by automatically and sequentially optimizing the frequency of a test pulse.例文帳に追加

テスト時間を大幅に削減し、テストパルスの周波数を自動で逐次最適化してテスト項目を臨機応変に変更可能な放射線監視装置を得る。 - 特許庁

The printer 12 receives the test data stream of the response pulse width selected at present, and compares the received test data stream with the predetermined test data stream.例文帳に追加

プリンタ１２は、現在選択されている応答パルス幅でテストデータ列を受信し、受信したテストデータ列を予め定めたテストデータ列と比較する。 - 特許庁

Next, the operation processing section 23 sets pulse width of a write-in pulse or an erasing pulse based on the number of times of repetition of the memory test, and a memory test is performed in residual other region 312 of the EEPROM.例文帳に追加

次に、演算処理部２３は、上記メモリテストを繰り返した回数にもとづき書き込みパルスまたは消去パルスのパルス幅を設定し、ＥＥＰＲＯＭの残りの他領域３１２においてメモリテストを行う。 - 特許庁

To remove a useless consumption of power energy even in a long-time load test of a pulse power supply.例文帳に追加

パルス電源の長時間負荷試験にも電力エネルギーの無駄な消費を無くす。 - 特許庁

Timing of refresh-operation in a test mode is set based on a refresh-pulse generating signal TREF1 for the first test generated by a refresh-pulse generating circuit 62 for the first test responding to the address transition detecting signal ATD.例文帳に追加

テストモードにおけるリフレッシュ動作のタイミングは、アドレス遷移検出信号ＡＴＤに応答し第１のテスト用リフレッシュパルス発生回路６２で発生される第１のテスト用リフレッシュパルス発生信号ＴＲＥＦ１に基づき設定される。 - 特許庁

After a test mode is set, an input side of a switch is switched to a pulse output line side.例文帳に追加

テストモードに設定された後、スイッチの入力側がパルス出力ライン側に切り換えられる。 - 特許庁

By this test, the width of the pulse in energy offset selected from peak energy is determined.例文帳に追加

このテストによると、ピークエネルギーからの選択されたエネルギーオフセットにおけるパルスの幅が決定される。 - 特許庁

Further, the test signal outputted from the module may be composed of a pulse train or a continuous wave as well.例文帳に追加

さらに、モジュールから出力される試験信号は、パルスであっても連続波であってもよい。 - 特許庁

The light emitting element 130 emits pulse light onto a test piece 121 to which blood is adhered.例文帳に追加

発光素子１３０は、血液が付着した試験片１２１に向けてパルス光を発光する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR CALIBRATING PULSE WIDTH TIMING ERROR CORRECTION IN SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TEST例文帳に追加

半導体集積回路試験におけるパルス幅タイミング誤差補正のための較正方法および装置 - 特許庁

In this semiconductor testing device, the event pulse generating part is provided with an address generating means for generating an event pulse to make a plurality of prescribed test items executable continuously, and the storage memory, in a test execution mode where a test for a DUT is executed in order along the plurality of divided test items.例文帳に追加

ＤＵＴの試験実施が複数の試験項目に分割して順次実施される試験実施形態のとき、イベントパルス発生部は所定複数の試験項目が連続的に実施可能とするイベントパルス発生用のアドレス発生手段と格納メモリとを備える、半導体試験装置。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device with a pulse width compensating device that can fine-adjust to a prescribed pulse width by a circuit structure suitable for making an LSI corresponding to an input pulse signal received.例文帳に追加

ＬＳＩ化に適した回路構成で、入力されるパルス信号を受けて所定のパルス幅に微調整が可能なパルス幅補正装置を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

A recording pulse condition for the shortest recording mark in a recording pulse standard condition is changed to perform test writing on an optical disk (S2 and S3), the test writing is reproduced (S4), and a recording pulse condition for making reproduced signal quality good is selected (S5).例文帳に追加

記録パルス標準条件における最短の記録マークに対する記録パルス条件を変化させて、光ディスク上に試し書きを行い（Ｓ２、Ｓ３）、試し書きを再生し（Ｓ４）、再生信号品質の良くなる記録パルス条件を選択する（Ｓ５）。 - 特許庁

A pulse pattern generator generating a test signal of specified pattern using a plurality of digital/analog converters and outputting the test signal to a test object is improved.例文帳に追加

本発明は、所定のパターンの試験用信号を、複数のデジタルアナログ変換器を用いて生成し、被試験対象に出力するパルスパターン発生装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide an optical pulse test method and an optical pulse test device, capable of accurately executing the OTDR measurement of an optical fiber to be measured of a long distance using a short dummy fiber.例文帳に追加

本発明は、短いダミーファイバを用いて長距離の被測定光ファイバのＯＴＤＲ測定を精度よく行うことのできる光パルス試験方法及び光パルス試験装置の提供を目的とする。 - 特許庁

To perform both of a pulse test in a fiber line having a large light loss and a pulse test with high resolution in an OTDR using photon counting without generating any dead zones.例文帳に追加

本発明は、フォトンカウンティングを用いたＯＴＤＲにおいて、光損失の大きなファイバ線路でのパルス試験と高分解能でのパルス試験の両方を、デッドゾーンを生じさせずに行なうことを目的とする。 - 特許庁

To decide an optimal recording pulse for each mark and space by shortening switching timing of each test write pulse to the limited test writing area of a disk-like recording medium, and writing various kinds of test write pulses as many as possible.例文帳に追加

ディスク状記録媒体の限られた試し書き領域に対して、各試し書きパルスの切り替えタイミングを早くしてできるだけ多くの種類の試し書きパルスを書き込んで各マーク及びスペースに対して最適な記録パルスを決定する。 - 特許庁

To provide an optical pulse tester capable of measuring the characteristic in the longitudinal direction of an optical fiber by a precise wavelength, and a test method using the optical pulse tester.例文帳に追加

光ファイバの長手方向の特性を精密な波長により測定可能な光パルス試験器、及び該光パルス試験器を用いた試験方法を提供する。 - 特許庁

The picosecond imaging circuit analysis (PICA)/high current source system includes a step for applying a pulse from a high current pulse source to a device under test (DUT).例文帳に追加

ピコ秒イメージ化回路解析（ＰＩＣＡ）／高電流源システムは、高電流パルス源から被試験デバイス（ＤＵＴ）にパルスを加えるステップを含む。 - 特許庁

To achieve a highly accurate test by suppressing influence of delay and dullness of an input pulse waveform.例文帳に追加

入力されたパルス波形の遅延及び鈍りの影響を抑制し、より高精度なテストを実現すること。 - 特許庁

Delay pulse width is adjusted in accordance with voltage of the second power source terminal Vcc2 and an operation test is performed.例文帳に追加

第２の電源端子Ｖｃｃ２の電圧に応じて遅延パルス幅を調整して動作テストを行う。 - 特許庁

In a recording method of an optical information recording medium in which recording condition is decided based on the result of test recording carried out to an optical recording medium by irradiation of pulse of a laser beam, test recording is performed by varying gradually power and pulse width of write pulse 10.例文帳に追加

レーザ光のパルス照射により光記録媒体にテスト記録を行い、その結果に基づいて記録条件を決定する光情報記録媒体の記録方法において、記録パルス１０のパワーとパルス幅を段階的に変化させてテスト記録を行う。 - 特許庁

In a scan path test, the semiconductor integrated circuit device is provided with the number of the terminals of a test clock SCLK which is fewer than the number of domains of user clocks (UCLK1 to UCLK3) and comprises a test clock control circuit (TCLKCTL) for controlling whether a pulse of the test clock SCLK is allowed to propagate through a test clock line or to be cut off.例文帳に追加

スキャンパステストの際、ユーザクロック（ＵＣＬＫ１〜ＵＣＬＫ３）ドメイン数よりも少ない数のテストクロックＳＣＬＫの端子を確保し、テストクロックライン上にテストクロックＳＣＬＫのパルスを伝播するか遮断するかを制御するテストクロック制御回路（ＴＣＬＫＣＴＬ）を備えている。 - 特許庁