「ray parameter」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

PARAMETER ADJUSTMENT METHOD OF FLAT X-RAY DETECTOR AND THE DEVICE, AND X-RAY DIAGNOSTIC EQUIPMENT例文帳に追加

Ｘ線平面検出器のパラメータ調整方法及びその装置、Ｘ線診断装置 - 特許庁

To enable the shift correction of an X-ray beam reflecting a scan parameter.例文帳に追加

スキャンパラメータを反映させたX線ビームのシフト補正ができる。 - 特許庁

IMAGING PARAMETER DETERMINATION METHOD, X-RAY CT APPARATUS AND INJECTOR例文帳に追加

造影パラメータ決定方法、Ｘ線ＣＴ装置およびインジェクタ - 特許庁

METHOD OF SETTING SCAN PARAMETER OF SHUTTLE MODE HELICAL SCAN AND X-RAY CT APPARATUS例文帳に追加

シャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法およびＸ線ＣＴ装置 - 特許庁

To provide a system estimating a suitable or an optimum parameter for an irradiation method of an X ray image.例文帳に追加

Ｘ線画像について適当な乃至最適な照射手法パラメータを予測する。 - 特許庁

To provide an X-ray imaging system capable of simplifying imaging operation on setting an X-ray control parameter and a console control parameter to improve imaging efficiency.例文帳に追加

Ｘ線制御パラメータおよびコンソール制御パラメータを設定する時の撮影操作を簡略化し、撮影効率を向上させることができるＸ線画像撮影システムを提供する。 - 特許庁

Image processing is started with a predetermined parameter after X-ray exposure, and the image processing is re-executed only if an operator changes the predetermined parameter.例文帳に追加

Ｘ線ばく射後に所定のパラメータで画像処理を開始して、もし操作者が所定のパラメータを変更した場合にのみ、画像処理を再実施する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR AUTOMATIC DETERMINATION OF TISSUE CANCELLATION PARAMETER IN X-RAY DUAL ENERGY IMAGING例文帳に追加

デュアル・エネルギーＸ線撮影で組織相殺パラメータを自動的に決定するための方法及び装置 - 特許庁

To provide apparatus which assesses the life of an X-ray planar detector automatically from the temporal transition of temporal transition data of information of the fitting time of an action parameter and such an action parameter.例文帳に追加

動作パラメータと当該動作パラメータの調整時期の情報との経時的変化データの経時的推移からＸ線平面検出器の寿命を自動的に推し量ること。 - 特許庁

In this case, the offset center position calculating part 25 calculates the center position from the two-dimensional parameter and thickness parameter based on the transmitted X rays obtained by the X-ray detector 24.例文帳に追加

その場合、偏り中心位置算出部２５は、Ｘ線検出器２４により得られた透過Ｘ線に基づく二次元的パラメータと厚みパラメータとから偏り中心位置を算出する。 - 特許庁

To provide X-ray diagnostic equipment capable of confirming an alteration result of the image processing parameter of an LIH image without performing the irradiation with X rays at each time when the image processing parameter is altered.例文帳に追加

ＬＩＨ像の画像処理のパラメータを変更する際に、その都度、Ｘ線を照射することなく、その変更結果を確認することができるＸ線診断装置を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR ESTIMATING PATTERN SHAPE IN CHARGED-PARTICLE RAY EXPOSURE TRANSFER, METHOD FOR DETERMINING RETICLE PATTERN USED FOR CHARGED-PARTICLE RAY EXPOSURE TRANSFER AND METHOD FOR ESTIMATING PARAMETER OF PROXIMITY EFFECT例文帳に追加

荷電粒子線露光転写におけるパターン形状の推定方法、荷電粒子線露光転写に使用するレチクルパターンの決定方法、及び近接効果のパラメータの推定方法 - 特許庁

The parameter preferably is a specular reflection intensity which is acquired by the ray tracing method from the measured surface shape.例文帳に追加

前記パラメータは、計測した前記表面の形態からレイトレーシング法によって得られる正反射強度であることが好ましい。 - 特許庁

To display a parameter to be used for executing dynamic range com pression processing(DRC processing) for an X-ray image or the like easily under standably.例文帳に追加

Ｘ線画像等のダイナミックレンジ圧縮処理（ＤＲＣ処理）を行うのにに用いるパラメータを判り易く表示する。 - 特許庁

To acquire the positional relationship between an X-ray tube and a detector, the positional relationship between the X-ray tube and a reference tomographic plane and a parameter such as an X-ray projection direction to easily grasp the positional relationship between them in an imaging space at every radiation imaging apparatus.例文帳に追加

Ｘ線管と検出器との間の位置関係、Ｘ線管と基準断層面の位置関係、更にはＸ線投影方向などのパラメータを取得して、それらの撮像空間内の位置関係を装置毎に容易に把握する。 - 特許庁

To automatically provide an imaging parameter suitable for a subject without adding special and physical remodeling to an X-ray CT apparatus.例文帳に追加

Ｘ線ＣＴ装置に別段の物理的な改造を加えることなく、被検体に適した造影パラメータを自動で求められるようにする。 - 特許庁

A proper parameter related to imageable various kinds of images is calibrated in a prescribed angle position of a radioactive ray emitter 11 and a prescribed angle position of a radioactive ray receiver 12.例文帳に追加

撮像できる様々な種類の像に関係する固有のパラメータを、放射線放出装置（１１）の所定の角度位置及び放射線受取り装置（１２）の所定の角度位置において較正する。 - 特許庁

The X-ray CT apparatus then updates the value of the rotation center channel and repeats S14-S18 to search a geometrical parameter which gives an optimum characteristic value (S110).例文帳に追加

その再構成像からワイヤーファントムの領域を抽出し（Ｓ１５）、特徴量として領域長を求めて保存する（Ｓ１６、１７）。 - 特許庁

Based on the speckle, a computing unit 16 calculates a parameter representing the nonuniformity of the scattering intensities of the scattered X-ray 11a coming from the sample 12, and uses the parameter as an index of the nonuniformity of the structure of the sample 12.例文帳に追加

演算部１６は、このスペックルに基づいて、試料１２からの散乱Ｘ線１１ａの散乱強度の不均一さを表すパラメータを算出し、試料１２の構造の不均一性の指標とする。 - 特許庁

To provide an X-ray fluorescence analyzer capable of quantifying all of compositions, heights and occupancy rates about island structures existing in a dotted fashion on a substrate, by using an FP (fundamental parameter) method.例文帳に追加

ＦＰ法で基板上に点在する島状構造物について組成、高さおよび占有率をすべて定量できる蛍光Ｘ線分析装置を提供する。 - 特許庁

An image processing section 113 then carries out image processing of an X-ray image inputted from an image input section 111 on the basis of the set image processing parameter.例文帳に追加

そして、画像処理部１１３では、設定された画像処理パラメータに基づいて、画像入力部１１１から入力されるＸ線画像の画像処理を行う。 - 特許庁

Also, the offset map to be subtracted from a following X-ray image is selected using an irradiation parameter acquired for the imaging system before the image acquisition.例文帳に追加

幾つかの実施形態では、画像取得の前にイメージング・システムについて取得された照射パラメータを用いて後続のＸ線画像から減算するオフセット・マップを選択する。 - 特許庁

To measure the thickness of a thin film by an X-ray diffraction method by performing the parameter fitting of a theoretical rocking curve of diffracted X-ray intensity considering orientation to a measured rocking curve, even when film thickness measurement by an X-ray reflectivity method can not be performed because of a reason as existence of a contiguous layer having an approximate density or the like.例文帳に追加

密度が近い隣接層が存在するなどの理由でＸ線反射率法による膜厚測定ができない場合でも，配向性を考慮した回折Ｘ線強度の理論ロッキングカーブを測定ロッキングカーブにパラメータフィッティングすることで，Ｘ線回折法によって薄膜の膜厚を測定可能にする。 - 特許庁

To provide a simple, high-speed, and highly-reliable X-ray inspection device and an inspection method wherein a proper parameter for inspecting a conduction failure in a conductor is set.例文帳に追加

導通体の導通不良を検査するための適切なパラメータを設定し、シンプルで高速で信頼性の高いＸ線検査装置及び検査方法を提案することを目的とする。 - 特許庁

An adder 26 adds the level of the U signal calculated by a U level detection circuit 22 and the level of the V signal calculated by a V level detection circuit 24 to calculate a UV (ultraviolet ray) suppression parameter.例文帳に追加

Ｕレベル検出回路２２で求めたＵ信号のレベルと、Ｖレベル検出回路２４で求めたＶ信号のレベルを加算器２６において加算し、ＵＶ抑圧パラメータを求める。 - 特許庁

To set automatically a weighting parameter for optimum differential processing in accordance with a dual-energy X-ray image of a measuring object so that stable and highly-sensitive foreign matter detection can be performed easily.例文帳に追加

高感度で安定した異物検出が容易に行えるよう被測定物のデュアルエネルギーＸ線画像に合わせて最適な差分処理用の重みパラメータを自動設定する。 - 特許庁

The correcting means 16 executes the correcting processing of projection data based on a parameter showing the X-ray irradiation and measurement conditions recorded in the recording means 15 and corrects the gain variation of measurement data proportional to the X-ray tube current, an X-ray irradiation pulse width and the detected sensitivity of the detector 6.例文帳に追加

投影データ補正手段１６は、Ｘ線照射・計測条件記録手段１５に記録されているＸ線照射・計測条件を示すパラメータを基に投影データの補正処理を行ない、Ｘ線管電流，Ｘ線照射パルス幅及び二次元Ｘ線検出器６の検出感度に比例する計測データのゲイン変化を補正する。 - 特許庁

The dielectric powder containing titanium, having a crystal structure of a perovskite, and having an average particle size of not greater than 1 μm has a ratio c/a of a c-axis lattice parameter to an a-axis lattice parameter by X-ray diffraction of not less than 1.009, and particularly includes a group 2a element of the periodic table.例文帳に追加

チタンを含有し、結晶構造がペロブスカイトからなり、平均結晶粒子径が１μｍ以下の誘電体粉末において、Ｘ線回折によるｃ軸の格子定数とａ軸の格子定数の比ｃ／ａが１．００９以上であり、特に、周期律表第２ａ族元素を含む。 - 特許庁

A diagnostic parameter of the specimen 80 is calculated by an analytical part, based on each of the plurality of tomographic data obtained by the plurality of X-ray sensor lines, and the diagnostic parameter is calculated until the plurality of tomographic data calculated stepwise satisfies a prescribed convergence condition.例文帳に追加

そして、解析部によって複数のＸ線センサ列から得られる複数の断層データの各々から被検体８０の診断パラメータが算出され、段階的に算出される複数の診断パラメータが所定の収束条件を満たすまで診断パラメータが算出される。 - 特許庁

The image processing part 5 is provided with a gradation conversion processing part 521 for controlling the parameter of image processing with respect to the two kinds of X-ray images of different energy characters or a synthetic image obtained by synthesizing them by using an X-ray absorption image made by the specific substance.例文帳に追加

画像処理部５は、上記特定の物質によるＸ線吸収画像を用いて、上記エネルギー特性の異なる２種類のＸ線画像またはそれらを合成した合成画像に対する画像処理のパラメータを制御する階調変換処理部５２１を備えている。 - 特許庁

A data of a probe diameter to an acceleration voltage and a data of an X-ray generating region to the acceleration voltage of the apparatus or a parameter data for quickly calculating the minimum probe diameter and the X-ray generating region determined by the acceleration voltage and an irradiation current, are previously prepared in a database 15.例文帳に追加

加速電圧に対するプローブ径のデータおよび装置の加速電圧に対するＸ線発生領域のデータ、または加速電圧と照射電流によって決まる最小プローブ径とＸ線発生領域とを直ちに計算できるパラメータのデータが予めデータベース１５に準備される。 - 特許庁

A scan controller 38 for controlling the whole scan starts to transmit a control parameter corresponding to the second scan to an X-ray controller 28 for controlling the voltage and current of the X-ray tube 20 during the first scan without waiting the finish of the first scan (S27).例文帳に追加

スキャン全体の制御を行うスキャンコントローラ３８が、第１のスキャン終了を待たず、第１のスキャン中に、Ｘ線管２０の管電圧および管電流を制御するＸ線コントローラ２８に対して、第２のスキャンに対応した上記制御パラメータの送信を開始する（Ｓ２７）。 - 特許庁

Data processing such as quantitative correction calculation by an ROI (Region Of Interest) integrated value and fitting is performed based on the spectrum, and surface distribution of the analysis parameter such as determined X-ray intensity and composition information is displayed.例文帳に追加

そのスペクトルに基づいてＲＯＩ 積算値やフィッティングによる定量補正計算等のデータ処理を行ない、求められたＸ線強度や組成情報等の分析パラメータの面分布を表示する。 - 特許庁

To provide an X-ray CT device capable of obtaining the tomographic image of an appropriate space resolution by setting the parameter and data of a filter processing corresponding to an arbitrarily set display visual field.例文帳に追加

任意に設定された表示視野（ＦＯＶ）に対応したフィルタ処理のパラメータ及びデータを設定することにより、適正な空間分解能の断層像が得られるＸ線ＣＴ装置を提供する。 - 特許庁

The system (10) automatically generates, from a received set of scan parameter values, a default noise index (106) for specifying a desired tube current of an X-ray source (114) to be used for scanning a patient (22).例文帳に追加

本システム（１０）は、受け取った一組の走査パラメータ値から、患者（２２）を走査する際に使用するためのＸ線源（１１４）の所望の管電流を指定するデフォルト・ノイズ指数（１０６）を自動的に作成する。 - 特許庁

In the mean time, theoretical diffraction X ray intensity is calculated based on the orientation density distribution function ρ, and the characteristic parameter of the orientation density distribution function is obtained so that the theoretical rocking curve approaches the measurement rocking curve most.例文帳に追加

一方，配向密度分布関数ρに基づいて理論的な回折Ｘ線強度を計算し，理論ロッキングカーブが測定ロッキングカーブに最も近づくように配向密度分布関数の特性パラメータを求める。 - 特許庁

Based on the geometric characteristic parameter of the profile distribution, the optimum X-ray tube current value is found as the target value of the CT value standard deviation of the image noise in the tomographic image at each z-direction coordinate position of the subject.例文帳に追加

そのプロファイル分布の幾何学的特徴パラメータにより、被検体の各ｚ方向座標位置の断層像における画像ノイズのＣＴ値標準偏差値の目標値に最適Ｘ線管電流値を求める。 - 特許庁

The operation parameter is determined by an operator through user interface included in a computer 36 of the system, and the computer memorizes the function determining the current regulating factor of the X-ray source in relation to the determined parameters.例文帳に追加

操作パラメータはシステムのコンピュータ（３６）に含まれるユーザ・インタフェイスを介して操作者により決定し、またコンピュータには、決定されたパラメータに対してＸ線源電流調節ファクタを決定する関数を記憶することができる。 - 特許庁

To provide a C arm type cone beam X-ray CT device capable of suitably obtaining and correcting mechanical manufacture errors, or the like, due to artifacts in the case that a geometrical parameter is biased depending on the range of a rotation angle.例文帳に追加

回転する角度範囲によって幾何学パラメータに偏りがある場合において、アーチファクトの原因となる機械的製作誤差等を好適に求め補正することが可能なＣアーム方式コーンビームＸ線ＣＴ装置を提供する。 - 特許庁

A carbon material for the electric double-layer capacitor electrode uses oil raw coke as a raw material, such that a graphite-like crystal structure parameter (Ip/Io) at a diffraction peak of a (002) surface of an X-ray diffraction intensity curve is >0.3 and ≤0.8.例文帳に追加

Ｘ線回折強度曲線の（００２）面の回折ピークにおける黒鉛的結晶構造パラメーター（Ｉｐ／Ｉｏ）が０．３＜Ｉｐ／Ｉｏ≦０．８である石油生コークスを原料とする電気二重層キャパシタ電極用炭素材。 - 特許庁

To provide a spatial filtering method whereby a method for taking balance between restoration of deterioration and noise suppression as a parameter by each dose is used to produce a filter and the parameter by each dose is adjusted depending on the preference of a doctor examining diagnosis so as to generate an image permitting ease of diagnosis for the doctor and to provide a radiant ray image processing system employing the same.例文帳に追加

線量毎に、劣化の復元度及びノイズの抑制度のバランスをパラメータ化した手法を用いてフィルターを作成し、診断する医師の好みに応じて線量毎のパラメータを調整し、医師が診断し易い画像を作成できる空間フィルタリング方法及びこれを用いた放射線画像処理システムを提供することを目的とする。 - 特許庁

The degree is analyzed by simultaneous use of the rocking curve method by XRD and a fluorescent X-ray fundamental parameter method.例文帳に追加

ＸＲＤによるロッキングカーブと蛍光Ｘ線ファンダメンタル・パラメータ法の併用により、結晶性の基板または層上に製膜された、格子定数のミスマッチによる結晶歪みを有する組成比未知の結晶性固溶体薄膜の結晶歪み度合いを分析する。 - 特許庁

To allow image data reconstructed using an image reconstruction parameter optimal for image processing to use the image processing such as the three-dimensional image processing using X-ray CT data by constructing environment facilitating the storage of projection data and the image reconstruction.例文帳に追加

Ｘ線ＣＴデータを使用した三次元画像処理などの画像処理に対して，その画像処理に最適の画像再構成パラメータを使用して画像再構成された画像データを使用することを可能にするために，投影データの保存と画像再構成を容易にする環境を構築する。 - 特許庁

An objective lens 7 as this optical element is molded by using an optical plastic material, and the optical plastic material includes a resin and inorganic particles and has 2.2-3.8 of a fractal shape parameter in a Porod range measured by the X-ray small angle scattering measurement.例文帳に追加

本発明に係る光学素子としての対物レンズ７は、光学用樹脂材料を用いて成型されたものであり、当該光学用樹脂材料は、樹脂と無機粒子とを含有し、Ｘ線小角散乱測定により得られるPorod領域のフラクタル形状パラメータが２．２〜３．８である。 - 特許庁

Further, a photographing condition detecting means detects operating states, such as endurance time, environmental temperature, X-ray energy and a sensor bias, determines an optimal after image correction parameter from a predefined LUT or the like in accordance with the detected operating states and corrects an image output.例文帳に追加

さらに撮影条件検出手段は耐久時間、環境温度、Ｘ線エネルギー、センサバイアスなどの動作状態を検出し、検出された動作状態に応じて、予め定められたＬＵＴなどから最適な残像補正パラメータを決定し、画像出力を補正することを特徴とする。 - 特許庁