「speed testing」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

LOAD CELL CORRECTION JIG, HIGH-SPEED TENSION TESTING MACHINE AND HIGH-SPEED TENSION TESTING METHOD例文帳に追加

ロードセル矯正治具、高速引張り試験機および高速引張り試験方法 - 特許庁

VARIABLE SPEED THREE-POINT BENDING IMPACT TESTING DEVICE例文帳に追加

可変速三点曲げ衝撃試験装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING HIGH-SPEED PRODUCT例文帳に追加

高速製品の試験方法及び装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND HIGH SPEED TESTING SYSTEM例文帳に追加

半導体集積回路及び高速テストシステム - 特許庁

APPARATUS FOR TESTING HIGH-SPEED ELECTROPLATING INTERNAL STRESS例文帳に追加

高速電気めっきの内部応力試験装置 - 特許庁

TESTING DEVICE, HIGH-SPEED SERIAL CONTROLLER, AND IMAGE PROCESSOR例文帳に追加

テスト装置、高速シリアルコントローラ及び画像処理装置 - 特許庁

To provide a test board and a testing method which enables high-speed testing, using simple configuration.例文帳に追加

簡単な構成で高速試験を可能にしたテスト基板とテスト方法を提供する。 - 特許庁

METHOD, PROGRAM, AND APPARATUS OF TESTING HIGH-SPEED SERIAL TRANSFER DEVICE例文帳に追加

高速シリアル転送デバイス試験方法、プログラム及び装置 - 特許庁

INTEGRATED DATA JITTER GENERATOR FOR HIGH-SPEED SERIAL INTERFACE TESTING例文帳に追加

高速シリアルインターフェースのテスト用の集積データジッター発生器 - 特許庁

To provide a testing device tester, capable of detecting defective through-hole at high speed, and to provide a testing device testing method.例文帳に追加

不良のスルーホールを高速に検出できる被試験デバイス試験装置及び被試験デバイス試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a testing device which can test a high-speed multivalued signal.例文帳に追加

高速多値信号を試験可能な試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a technique for suitably testing a speed conversion device.例文帳に追加

速度変換装置を適切に試験する技術を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing circuit that can realize a high- speed test for semiconductor device even by using a low-speed testing device.例文帳に追加

低速の試験装置を使用しつつも半導体装置の高速試験を可能にした半導体試験回路を提供する。 - 特許庁

ROLLER USED FOR BRAKE/SPEED TESTING MACHINE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

ブレーキ／速度テスト用試験機に使用するローラ及びその製造方法 - 特許庁

To provide a semiconductor memory capable of testing high-speed time performance by using a low-speed tester.例文帳に追加

低速テスタを使用して高速な時間性能が試験できる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

HIGH-SPEED ACCELERATION DEVICE AND CRASH TESTING DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

高速加速装置及び該高速加速装置を用いた衝突試験装置 - 特許庁

DEVICE FOR DETECTING ANGLE-POSITION/SPEED OF ROTOR AND SYSTEM FOR TESTING MOTIVE POWER例文帳に追加

回転体の角度位置／速度検出装置および動力試験システム - 特許庁

To achieve high speed antenna testing and analysis where the size of data acquired during the antenna performance verification testing is reduced.例文帳に追加

アンテナの性能確認試験で取得されるデータサイズを低減し、試験及び解析の高速化を図ること。 - 特許庁

To provide a tablet testing device of high reliability and high processing speed capable of monitoring testing data even after tablets are delivered to a patient, and reducing testing labor of a testing pharmacist.例文帳に追加

信頼性が高く、処理速度が速いうえ、患者に手渡された後でも検査データを監視することができ、検査調剤師の検査労力を緩和できる錠剤検査装置を提供する。 - 特許庁

To enable semiconductor testing to be performed at a desired low-speed rate time length and cycle ratio by means of a semiconductor testing device equipped with a high-speed pattern generator and a low-speed pattern generator.例文帳に追加

高速パターン発生器と、低速パターン発生器とを備えた半導体試験装置で、希望する低速レート時間長とサイクル比とで半導体試験を行なえるようにする。 - 特許庁

To provide a testing device capable of testing the device to be tested such as a semiconductor memory with low cost and at high speed.例文帳に追加

低コスト、且つ高速度で半導体メモリ等の被試験デバイスを試験することができる試験装置を提供する。 - 特許庁

AUTOMATIC FAILURE TESTING OF LOGICAL BLOCK USING INTERNAL AT-SPEED LOGIC BUILT IN SELF TEST例文帳に追加

内部アットスピード論理ＢＩＳＴを用いた論理ブロックの自動故障試験 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of testing a high-speed memory at a real operation speed even when the operational speed of a BIST circuit is restricted.例文帳に追加

ＢＩＳＴ回路の動作速度を抑えても実動作速度で高速メモリのテストを実施できる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

The method, the apparatus and the system for testing an error in a high-speed input-output system are available.例文帳に追加

高速入出力システムにおけるエラーを試験する方法、装置、及びシステム。 - 特許庁

To quicken the testing speed of an electronic tag label in an electronic tag label attachment device.例文帳に追加

電子タグラベル貼着装置における電子タグラベルの検査速度の高速化を図る。 - 特許庁

To provide a simple optical setup for testing a high-speed digital communications system.例文帳に追加

高速のデジタル通信システムをテストするための簡単な光学機構を提供する。 - 特許庁

To provide a transformer testing device of high operational speed and simple circuit configuration.例文帳に追加

動作速度が速く回路構成が簡単な変成器試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device which achieves speed up of a testing operation.例文帳に追加

テスト動作の高速化を図ることが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MODELING OPERATIONAL SPEED OF WORKING MACHINE, METHOD AND DEVICE FOR OPTIMIZING OPERATIONAL ROUTE, AND METHOD AND DEVICE FOR TESTING OPERATIONAL SPEED例文帳に追加

加工機の動作速度モデル化方法、装置、動作経路最適化方法、装置、及び、動作速度検定方法、装置 - 特許庁

To achieve a high speed and high functionalization of an existing testing device at a low cost by means of an addition circuit.例文帳に追加

付加回路を用いて既存の試験装置を低コストで高速および高機能化する。 - 特許庁

CONTROL DEVICE OF GAS TURBINE ENGINE, AND TESTING METHOD OF OVER SPEED PREVENTIVE FUNCTION PART OF GAS TURBINE ENGINE例文帳に追加

ガスタービンエンジンの制御装置およびガスタービンエンジンの過回転防止機能部の試験方法 - 特許庁

To provide a circuit capable of accurately testing a ROM even when defective speed is generated in an address decoder.例文帳に追加

アドレスデコーダにスピード不良発生時も、ＲＯＭを正確にテスト可能なテスト回路。 - 特許庁

To provide a drop testing machine reduced in the error caused by a change in a drop posture, reduced in the irregularity of a drop impact speed and having high reliability, and a drop testing method.例文帳に追加

精密機器に使用する実装基板等の落下試験では、高度な繰り返し再現性と精度が求められている。 - 特許庁

To provide a semiconductor apparatus and its testing method for testing a circuit block (IP) at a high speed, using few external terminals.例文帳に追加

少ない外部端子を用いて高速に回路ブロック（ＩＰ）をテストすることができる半導体装置およびそのテスト方法を実現する。 - 特許庁

To enhance a testing workability by easily mounting a testing device to a speed adjustment machine even in the case where a surrounding space of the speed adjustment machine is narrow.例文帳に追加

本発明は、調速機の周囲のスペースが狭い場合でも、調速機への取付を容易に行えるようにし、試験の作業性を向上させることを目的とするものである。 - 特許庁

To provide a motor evaluation device for improving the upper limits of both of measurable torque and rotation speed and evaluating both a testing motor generating a large torque power and a testing motor rotatable in high speed.例文帳に追加

モータ評価装置において、測定可能な最大トルクを増加させると捩れ共振点が低下し、測定可能なトルク及び回転速度の双方の向上に対応できない。 - 特許庁

To realize a testing function at the same speed as that in an actual use on a semiconductor integrated circuit by means of a comparatively low speed tester.例文帳に追加

比較的低速のテスタにより高速の半導体集積回路について実使用と同じスピードでのテスト機能を実現する。 - 特許庁

To execute high-speed testing of an LSI at low cost by preparation in a short time without using an expensive high-speed LSI tester or measuring jig.例文帳に追加

高価な高速ＬＳＩテスタや測定冶具を用いず且つ、短時間の準備で安価にＬＳＩの高速テストを実施すること。 - 特許庁

To provide a high-speed abrasion testing device, measuring abrasion loss of a rubber member in a selectively preset speed range.例文帳に追加

選択的に設定された速度域におけるゴム部材の磨耗量を計測することができる高速磨耗試験装置を得る。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device testing a plurality of DUTs simultaneously at a high speed, while suppressing deterioration of a test signal waveform.例文帳に追加

試験信号波形の劣化を抑えながら、複数のＤＵＴの試験を同時に高速で行える半導体試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a system, an apparatus and a method for testing about a high-speed data transmission error.例文帳に追加

高速データ伝送エラーに関して試験するためのシステム、装置、及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device using a sequence control circuit, capable of heightening operation speed.例文帳に追加

動作速度を高速化できるシーケンス制御回路を用いた半導体試験装置を実現すること。 - 特許庁

TEST PIECE GRIPPING DEVICE FOR HIGH-SPEED ROTARY BEND FATIGUE TESTING MACHINE COMPRISING CHUCKING ROD AND TAPER BUSH例文帳に追加

チャッキングロッドおよびテーパーブッシュからなる高速回転曲げ疲れ試験機用試験片の把持装置。 - 特許庁

2. Machines capable of testing rotors with speed exceeding 12,500 rotations per minute 例文帳に追加

（二）　一分につき一二、五〇〇回転を超える回転数でロータを試験することができるもの - 日本法令外国語訳データベースシステム

The basic test speed is 500 MHz, but this speed can be increased to up to 1 GHz in Double Data Rate Mode (DDR Mode), for at-speed testing of today's faster memory devices. 例文帳に追加

基本的な試験速度は500MHzであるが, 今日のより速い記憶デバイスの速度指向試験用には, DDR(倍速)モードでこの速度を1GHzまで増大させることができる. - コンピューター用語辞典