「speed testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

This semiconductor device 1 having a testing circuit 2 operating at a high speed, internally stores a high speed pattern generating circuit 3 for coverting a low speed test pattern of a reference clock, an input signal and an output expected value signal inputted from the low speed LSI tester into a test pattern of a speed adapted to the testing circuit 2 operating at a high speed.例文帳に追加

高速動作する試験回路２を有する半導体装置１において、低速ＬＳＩテスター１２から入力する基準クロック，入力信号及び出力期待値信号の低速テストパターンを、高速動作する試験回路２に適応する速度のテストパターンに変換するための高速パターン発生回路３を内蔵したものである。 - 特許庁

To provide a high-speed and highly accurate power supply voltage variation testing apparatus, a method, and a computer program.例文帳に追加

高速かつ高精度な電源電圧変動検証装置、方法や及びコンピュータプログラムを提供する。 - 特許庁

To generate higher-speed clock edges than the period of testing rate generation continuously even in a simple hardware scale.例文帳に追加

簡易なハードウェア規模であっても、テストレイト発生周期よりも高速なクロックエッジを連続発生させる。 - 特許庁

To obtain a lubrication property-testing device for simulating a lubrication property in the high-speed rolling of an emulsion rolling oil.例文帳に追加

エマルション圧延油の高速圧延時の潤滑性がシミュレ−トできる潤滑性試験装置を得る。 - 特許庁

The prevention provides an integrated data generator for testing a high-speed serial interface.例文帳に追加

本発明によれば、高速シリアルインターフェースのテストを行うための集積データ発生器が提供される。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of testing a squelch circuit at a higher speed using a DC voltage by a low-speed tester.例文帳に追加

低速テスターによる直流電圧を用いてスケルチ回路をより高速テストをすることが可能な半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

To realize a high speed operation without using any memory whose access time is fast or any high speed element in the sequence control circuit of a semiconductor testing device.例文帳に追加

半導体試験装置のシーケンス制御回路において、アクセス時間の速いメモリや高速素子を用いることなく高速動作を可能にする。 - 特許庁

After testing is terminated, high-speed sampled data stored in the memory card 108 are transmitted to the data processor 200 and the data processor 200 synthesizes the low-speed and high-speed sampled data.例文帳に追加

試験終了後、メモリカード１０８に記憶されている高速サンプリングデータをデータ処理装置２００に伝送し、データ処理装置２００は低速および高速サンプリングデータを合成する。 - 特許庁

To provide an engine testing device that easily and properly reproduces an engine behavior of an actual vehicle at an abrupt change in engine rotation speed such as at the time of engine start-up or speed change, and to provide an engine testing method.例文帳に追加

エンジン始動時や変速時などのエンジン回転速度の急変時における実車でのエンジン挙動を容易かつ的確に再現することのできるエンジン試験装置及びエンジン試験方法を提供する。 - 特許庁

To enable high speed lowering by simultaneously operating lowering mechanisms as two stages in a strut support device high speed separating mechanism for supporting a wind testing model.例文帳に追加

風試模型を支持するストラット支持装置高速離脱機構に関し、降下機構を２段として同時に作動させて高速降下を行えるようにする。 - 特許庁

To provide a testing device capable of realizing a test of a device having a high operation speed, inexpensively in a small size.例文帳に追加

動作速度が高速な被試験デバイスの試験を小型且つ安価に実現できる試験装置を提供する。 - 特許庁

By selecting the band at random, a more accurate predicted value is obtained and a testing speed can be accelerated.例文帳に追加

バンドをランダムに選択することで、より正確な予想値を得るとともに、テスト速度を速めることができる。 - 特許庁

To provide a cross wind generator capable of suppressing deviation in speed of a testing wind over a parallel direction.例文帳に追加

並列方向にわたる試験風の速度の偏りを抑えることができる横風送風装置を提供する。 - 特許庁

To test a semiconductor device in a testing environment using a low-speed test device having few terminals.例文帳に追加

端子数が少なく且つ低速な試験装置を用いた試験環境で半導体装置を試験できるようにする。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device having a comparator of a high operation speed with low fluctuation of a leak current.例文帳に追加

動作速度が速く、リーク電流の変動が小さいコンパレータを有する半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

A load of the testing device is furthermore reduced by supplying the internal high-speed clock to a BIST circuit.例文帳に追加

また、内部高速クロックをＢＩＳＴ回路にも供給することで、試験装置の負担はさらに軽減される。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of generating the test patterns of test signals at faster speed.例文帳に追加

試験信号の試験パターンをより速い速度で発生することのできる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The reference rotating speed SR is the rotating speed at which the DC motor cannot be rotated when the reference voltage SE is applied to the DC motor in a state of hot and cold water existing in the bathtub, and is the rotating speed lower than the testing rotating speed TR.例文帳に追加

基準回転数ＳＲは、浴槽内に湯水がある状態で直流モータに基準電圧ＳＥを印加した場合、直流モータが回り得ない回転数であって、試験回転数ＴＲよりも低い回転数である。 - 特許庁

To provide a reliability testing device capable of preventing breakage of the testing device by blocking a member to be tested from a current detection means at high speed.例文帳に追加

本発明は、被試験部材と電流検出手段とを高速に遮断することにより、試験装置を破損させることを防止することができる信頼性試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a simple and compact device capable of testing accurately testing a tire even if an endless belt is run at high speed, and prolonging the service life of the endless belt.例文帳に追加

無端ベルトを高速走行させても正確に試験することができると共に無端ベルトの寿命を高めた簡素でコンパクトなタイヤ試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a connection technique capable of testing a semiconductor wafer, LSI package, etc., by using high frequency at high speed.例文帳に追加

高速で高周波数で半導体ウエハ，ＬＳＩパッケージその他をテストすることができる接続技術を提供する。 - 特許庁

A system for at-functional-clock-speed continuous scan array built-in self testing (ABIST) of multiport memory is disclosed.例文帳に追加

機能性クロック速度でのマルチポート・メモリの連続走査アレイ内蔵自己テスト（ＡＢＩＳＴ）のためのシステムが開示される。 - 特許庁

To provide a network equipment testing apparatus which can respond even to small-size packets and is capable of performing a test on transfer capability and filtering at a media speed.例文帳に追加

小さいサイズのパケットにも対応し、転送能力やフィルタリングにおいて、メディアスピードでの試験を可能にする。 - 特許庁

To inexpensively perform operation verification of a test program at higher speed at low cost in offline simulation environment of a testing device.例文帳に追加

試験装置のオフライン・シュミレーション環境において、テストプログラムの動作検証をより高速かつ低コストで実現する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus capable of reliably and easily confirming the operations in a low-speed operation and high-speed operation of a test waveform creating part for outputting waveforms for test.例文帳に追加

試験用波形を出力する試験用波形生成部の、低速動作や高速動作における確実な動作の確認が容易な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a transmitter, a receiver, and a testing circuit for performing input/output with a tester at a low speed and operating the inside of the circuit at a high speed.例文帳に追加

テスタとの入出力は低い速度で行いながら、回路内部を高速で動作させる送信装置、受信装置、テスト回路およびテスト回路を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of synchronizing timing of high-speed side pattern data and low-speed side pattern data when canceling hold with simple hardware control.例文帳に追加

簡略なハードウェア制御によってホールド解除時の高速側パターンデータと低速側パターンデータのタイミングを揃えることが可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

Vibrational oscillation force is imparted to the testing body, by passing compressed air through a valve device opened and closed repeatedly at a high speed, and by blowing the compressed air intermittently against the testing body, and the testing body is thereby oscillated, without being restricted by the material and a form thereof.例文帳に追加

圧縮空気を高速で開閉を繰り返す弁装置を通過させ、圧縮空気を間歇的に試験体に吹き付けすることで振動的加振力を試験体に与え、その材質や形態に制約されずに試験体を加振できるようにする。 - 特許庁

As for data to be recorded in a CD-R disk, the testing of conversion into a recording format is carried out, and based on the result of this testing, data to be recorded at a high speed applicable to the disk and data to be recorded at a low speed are discriminated from each other (S2 to S6).例文帳に追加

ＣＤ−Ｒディスクに記録しようとするデータについて記録フォーマットへの変換テスト処理を行い、そのテスト結果からそのディスクに適応可能な高速記録可能なデータと低速記録すべきデータとを判別する（Ｓ２〜Ｓ６）。 - 特許庁

To smoothly test a tire while traveling speed on a pseudo-road surface has been stabilized when testing a tire.例文帳に追加

タイヤの試験を行う場合に、擬似路面の移動速度を安定化した状態でスムーズに試験を行うことができるようにする。 - 特許庁

To increase the speed of testing a power supply switch used for supplying power to an arbitrary function block provided on a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路に設けられた任意の機能ブロックに電源を供給する電源スイッチのテストを高速化する。 - 特許庁

To potentiate high-speed testing of a tested object and to make it possible to obtain an output value of the tested object.例文帳に追加

高速に被試験対象の試験を行うことができ、被試験対象の出力値を得ることができるを目的にする。 - 特許庁

To process a network testing system at high speed with a rate near the maximum data transfer rate of a network path or a network device.例文帳に追加

ネットワーク検査システムにおいて、ネットワーク経路またはネットワーク装置の最大転送速度に近い速度で処理できるようにする。 - 特許庁

To achieve the miniaturization of a load testing apparatus for linear actuator by providing a speed increasing mechanism in between an inertial load section and a linear actuator.例文帳に追加

本発明は、慣性負荷部とリニアアクチュエータとの間に増速機構を設け、装置の小型化を得ることを目的とする。 - 特許庁

To provide a mixed-signal-IC testing apparatus by which the noise test of a mixed-signal IC can be executed at a high speed with a small software amount.例文帳に追加

少ないハードウエア量でミックスドシグナルＩＣのノイズ試験を高速に実行するミックスドシグナルＩＣ試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a very compact and lightweight filtering speed testing device of filter paper capable of simply, easily and accurately measuring and evaluating actual filtering performance by a testing method without taking an arranging place.例文帳に追加

非常にコンパクトで軽く、設置場所を取らず、試験方法がシンプルで実際の濾過性能を容易に、かつ、正確に測定し評価することができる濾紙の濾過速度試験装置を提供する。 - 特許庁

To test engine cooling with an engine testing device for testing engine characteristics by connecting the engine to an absorbing motor and accurately simulating the high speed running.例文帳に追加

本発明は、吸収電動機にエンジンを連結してその連結したエンジンの特性を試験するエンジン試験装置に関し、エンジンの冷却について、高速走行を高精度に模擬した試験を行なう。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus and a calibration technique of the semiconductor testing apparatus, correcting accidental errors due to dispersion of properties of a print circuit board and waveform distortion so as to make timing calibration at high speed.例文帳に追加

プリント基板の特性のばらつきや波形のなまりによる誤差を補正して高速にタイミング校正を行うことができる半導体試験装置および半導体試験装置の校正方法を実現する。 - 特許庁

To obtain a high-detection rate while expecting effects by a reduction in the number of pins and an increase in the speed of testing by performing a logic BIST test.例文帳に追加

ロジックＢＩＳＴテストを行なうことによるテストの高速化およびピン数削減の効果を期待しつつ、高検出率を得る。 - 特許庁

A high-speed modulating clock signal is generated to allow a jitter testing to be conducted with a receiver combined with downstream.例文帳に追加

ダウンストリームに結合された受信器によってジッターテストを行うことを可能とするために高速変調クロック信号が発生される。 - 特許庁

The reference voltage SE is the voltage of the DC motor when rotated at a testing rotating speed TR by idling the circulating pump.例文帳に追加

基準電圧ＳＥは、循環ポンプを空回転させて試験回転数ＴＲで回転させる際の直流モータの電圧である。 - 特許庁

In this material testing machine 100, a changing speed of a stress or strain in a specimen is detected by a load cell 105 or an extensometer 106, and a pulse number P is determined based on a value of a deviation ΔV between a set target changing speed and a detected actual changing speed to control a rotating speed of a motor 1.例文帳に追加

材料試験機１００は、供試体の応力または歪みの変化速度をロードセル１０５や伸び計１０６により検出し、設定された目標変化速度と検出した実変化速度との偏差ΔＶの値によりパルス数Ｐを決定して、モータ１の回転速度を制御する。 - 特許庁

To provide a direct-current testing device capable of measuring highly accurately at high speed, a current changing rate or a ripple component without great cost increase, and a semiconductor testing device equipped with the device.例文帳に追加

大幅なコスト上昇を招かずに電流変化率やリップル成分を高精度且つ高速に測定することとができる直流試験装置、及び当該装置を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a scratch strength testing device and a method thereof for carrying out a scratch test while continuously varying a load at a high speed.例文帳に追加

高速で連続的に荷重を変化させながらスクラッチ試験を行うことが可能なスクラッチ強度試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To accurately perform testing at a high speed even when phase shift occurs in DUT due to temperature variation, power supply variation or the like.例文帳に追加

温度変動や電源変動等によりＤＵＴに位相ずれが生じたとしても、高速且つ正確に試験を行うことを目的とする。 - 特許庁