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threshold samplingの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 119件
A statistical processing part 83 forms for each light output level, a frequency distribution obtained by counting how many times a value of a light receiving signal indicating the intensity of received light equals to or exceeds a predetermined threshold in each predetermined sampling cycle in the predetermined times of measurement processing.例文帳に追加
統計処理部83は、所定の回数の測定処理において、受光した光の強度を示す受光信号の所定のサンプリング周期毎の値が所定の閾値以上となる回数を各所定の時間毎にカウントすることにより得られる度数分布を、各光出力レベル毎に作成する。 - 特許庁
A difference detecting section 12 detects a difference amount showing a difference between previous image data and latter image data of two pieces of consecutive image data input by the sampling section 11, and determines to perform screen update by using the latter image data when the difference value is equal to or larger than a threshold value.例文帳に追加
差分検出部12は、サンプリング部11で入力された連続する二つの画像データについて前の画像データと後の画像データとの差を示す差分量を検出し、この差分量がしきい値以上であるときに後の画像データを用いた画面更新を決定する。 - 特許庁
Picture data are inputted (S1), inputted picture data are sampled (S2), the histogram of the sampling picture is extracted (S3), a color level of special large frequency in the extracted histogram is recognized as a base level to calculate such a binary threshold value as is free from the influence of the base level (S4).例文帳に追加
画像データを入力し(S1)、入力される画像データをサンプリングし(S2)、サンプリング画像のヒストグラムを抽出し(S3)、抽出したヒストグラム中の特別に度数の多い色レベルを下地レベルとして認識して下地レベルの影響がないような2値化閾値を算出する(S4)。 - 特許庁
To solve the problem wherein a conventional demodulation circuit employing a configuration of sampling a received signal with a clock having the 4n times the carrier frequency of the one of the received signal must generate a clock of a higher frequency, and this brings troubles for constraints of a threshold frequency of a device on the occasion of configuring hardware.例文帳に追加
受信信号の搬送波周波数の4n倍のクロックで受信信号をサンプリングする構成の従来の復調回路は、高い周波数のクロックを生成しなければならず、ハードウェアを構成する上で、デバイスの限界周波数の制約から問題となっている。 - 特許庁
A sampling transistor 10A is brought into a conducted state and threshold voltage of the drive transistor 10E is written in a first capacitor 10C by supplying reference voltage from a signal line in a state in which a first switching transistor 10D is brought into a non-conducted state and a second switching transistor 10F is brought into a conducted state.例文帳に追加
前記第1スイッチングトランジスタ10Dを非導通、第2スイッチングトランジスタ10Fを導通とした状態で、サンプリングトランジスタ10Aを導通状態として信号線から基準電圧を供給して駆動トランジスタ10Eの閾値電圧を第1容量10Cに書き込む。 - 特許庁
The marker recognition method printed on a study material for learning includes a step of sampling video of the study material for learning, a step of grouping the sampled pixel video into a first video group and a second video group based on the threshold, and a step of calculating the medians of the first video group and second video group and updating the threshold using the average value of the calculated medians.例文帳に追加
学習用教材上に印刷されたマーカ認識方法は、学習用教材の映像に対するサンプリングを行う段階と、サンプリングされたピクセルの映像を閾値に基づいて第1映像グループ及び第2映像グループにグループ化する段階と、前記第1映像グループ及び第2映像グループそれぞれの中央値を算出し、算出された前記中央値の平均値で前記閾値を更新する段階とを含む。 - 特許庁
The testing device carrying out charge- or discharge testing for a sample includes first memory for sequentially overwriting oldest data with state information to execute loop recording if the state information acquired at given sampling time does not exceed a preset threshold value, and a second memory for sequentially recording state information if the state information exceeds a preset threshold value.例文帳に追加
試料に対して充電試験または放電試験を遂行する試験装置において、一定のサンプリングタイムで取得した状態情報が予め設定された閾値を超えない場合に、最も古いデータに対して状態情報を順次上書きしてループ記録する第一メモリと、状態情報が予め設定された閾値を超えた場合に、状態情報を順次記録する第二メモリとを備える試験装置とする。 - 特許庁
A reference path 200 is provided with a second comparator 100 comparing a test signal 20 with a second threshold Vth2 to supply a second comparison signal 100A, and a second sampling device 260 receiving both a second timing signal 270 comprising a plurality of consecutive secondary timing marks and the above second comparison signal 100A as input signals.例文帳に追加
基準経路200は、試験信号20を第2の閾値Vth2と比較し、第2の比較信号100Aを供給する第2の比較器100、複数の連続する第2のタイミングマークからなる第2のタイミング信号270とともに第2の比較信号100Aを入力として受信する第2のサンプリング装置260を備える。 - 特許庁
A power supply scanner 105 switches the power line between the first potential and a second potential while a signal selector 103 is supplying a reference potential to the signal line after the sampling transistor 3A conducts to hold a voltage corresponding to the threshold voltage of the driving transistor 3B in the holding capacitor 3C.例文帳に追加
電源スキャナ105は、サンプリング用トランジスタ3Aが導通した後で信号セレクタ103が信号線に基準電位を供給している間に、電源線を第1電位と第2電位との間で切り換え、以って駆動用トランジスタ3Bの閾電圧に相当する電圧を保持容量3Cに保持しておく。 - 特許庁
A switching transistor T3 is turned on according to a control signal supplied from a scanning line AZ prior to sampling of the video signal, connects a source of the transistor T2 for driving with fixed potential Vss to turn off the light emission element EL and corrects variation of threshold voltage and a degree of movement of the transistor T2 for driving.例文帳に追加
スイッチングトランジスタT3は、映像信号のサンプリングに先立って走査線AZから供給される制御信号に応じてオンし駆動用トランジスタT2のソースを固定電位Vssに接続して発光素子ELを非発光状態にし、その間に駆動用トランジスタT2の閾電圧や移動度のばらつきを補正する。 - 特許庁
A sampling transistor T2 performs the threshold voltage correcting operation according to a control signal supplied to a scan line WS when a signal line SL is at a reference potential Vofs, and performs the signal potential write operation according to a control signal supplied to the scan line WS when the signal line SL is at a signal potential Vsig.例文帳に追加
サンプリング用トランジスタT2は、信号線SLが基準電位Vofsにある時走査線WSに供給された制御信号に応じて閾電圧補正動作を行い、信号線SLが信号電位Vsigにある時走査線WSに供給された制御信号に応じて信号電位書込動作を行う。 - 特許庁
The reception discrimination section 5b having once received the received level alarm detects the received level alarm a prescribed sampling period until the received level alarm gets higher than the threshold 1 and is made stable, and transmits control information to an opposite station to control output power of a transmitter 3a of the opposite station on the basis of the result of detection.例文帳に追加
一度受信レベルアラームを受信した受信判定部5bは、受信入力レベルが閾値1より高くなり安定するまで一定のサンプリング周期で受信入力レベルの検出を行い、その検出結果を基に対向局の送信機3aの出力電力を制御するために制御情報を送出する。 - 特許庁
Also, the analog signal turns into a digital signal A/D by conversion in a signal processing circuit 122 and sampling every predetermined interval, and then the microcomputer 121 compares this digital signal with a plurality of threshold values prestored into an EEPROM, and the angle signals interpolating between the reference angle signals are obtained from the comparison results.例文帳に追加
また、アナログ信号は、信号処理回路122にてA/D変換され、所定間隔毎にサンプリングされたデジタル信号となり、マイコン121はこのデジタル信号を、予めEEPROMに記憶された複数の閾値と比較し、その比較結果から上述の基準の角度信号間を補間する角度信号を得る。 - 特許庁
Furthermore, an abrupt damage to the guide wheel 5 or a local damage to the guide rail 7 can be estimated by the error display by having the error displayed when the stored maximum value or variation amount for the RMS value which undergoes next sampling is larger than a separately set threshold value when compared to the stored maximum value or the average value for the RMS value.例文帳に追加
更に、記憶してある最大値又はRMS値の平均値に対し、次にサンプリングされた最大値又はRMS値の変化量が、別に設定して或るしきい値よりも大となるときにもエラーを表示させ、このエラー表示により案内輪5の急な損傷や案内軌条7の局所的な損傷を推定できるようにさせる。 - 特許庁
Thereafter, when returning the supply line DS from the low potential Vss to the high pressure potential Vcc and when the signal line SL is in the reference potential Vofs, correction operation of discharging a holding capacitor C1 is performed such that the sampling transistor T1 is turned on according to the control signal and that the source voltage of the driving transistor T2 increases toward a threshold voltage Vth thereof.例文帳に追加
この後給電線DSを低電位Vssから高電位Vccに戻し且つ信号線SLが基準電位Vofsのとき、サンプリング用トランジスタT1が制御信号に応じてオンして駆動用トランジスタT2のソース電圧がその閾電圧Vthに向かって上がるように保持容量C1を放電する補正動作を行う。 - 特許庁
Then, a full-wave rectification waveform is produced from the filter output data outputted when the predetermined pieces of sampling data were supplied to this band-pass filter, and a normalized standard deviation at the peak value in this full-wave rectification waveform is obtained, and when this is a threshold value TH or below, the pitch is obtained from a period in which the filter output data is zero.例文帳に追加
そして、このバンドパスフィルタに前記所定数個のサンプリングデータを供給した時に出力されたフィルタ出力データから全波整流波形を生成し、この全波整流波形のピーク値の正規化標準偏差を求め、これがしきい値TH以下の場合には、フィルタ出力データが零となる周期からピッチを求める。 - 特許庁
It also comprises a comparison processor 24 for comparing the upper and the lower threshold placed on the basis of the predicted nuclear output with a nuclear instrumentation signal sampled from the signal of a nuclear instrumentation with a measurement sampling part 22 to judge whether or not it exceeds the thresholds and a display 26 for notifying the excess of the threshold in the case that the nuclear instrumentation signal exceeds the threshold.例文帳に追加
高速炉の1次冷却系入口部に取り付けられている1次冷却材温度計10と、その計測サンプリング部12と、1次冷却材温度計の温度応答を補正する1次遅れ補正部14と、1次冷却材温度計の位置から配管及び高速炉下部プレナム部を冷却材が流れる時間を補正するむだ時間補正部16と、現在の1次冷却材温度からむだ時間経過後の高速炉出力を予測計算する高速炉出力計算部18と、予測計算した核出力を基準として設けた上下限閾値と、核計装20の信号を計測サンプリング部22で採取した核計装信号とを比較して前記閾値を超えたか否かを判定する比較処理部24と、核計装信号が前記閾値を超えた場合に閾値超過を報知する表示部26を有する。 - 特許庁
The edge information of the composition good is extracted and the number of edges of the composition good is counted, based on the detection of the linear height shapes of a plurality of measurement object disposed on the composition good by once sampling from the light receiving element, and the quality of the measurement object is determined based on the degree of coincidence by the comparison of the number of counted edges with the set threshold.例文帳に追加
受光素子からの1回のサンプリングによる測定対象物の複数並んだ構成物品におけるライン状の高さ形状の検出に基づき、測定対象物の構成物品のエッジ情報を抽出し、当該構成物品のエッジの数をカウントして、カウントされたエッジ数と設定されたエッジ数しきい値との比較に基づきその一致度から測定対象物の良否を判定する。 - 特許庁
A ripple voltage detecting part 41 of a control circuit 27 performs sampling detection of the boosted DC voltage VDC through a DC voltage detecting circuit 43 during heating cooking operation, computes its standard deviation, and compares the computed standard deviation with a preset ripple threshold to determine the service life of the smoothing capacitor 2, and when determining the end of the service life, informs to that effect from an operation display part 2.例文帳に追加
制御回路27のリップル電圧検出部41は、加熱調理運転中に、直流電圧検出回路43を介して昇圧直流電圧VDCをサンプリング検出し、それの標準偏差を演算して、その演算した標準偏差と予め設定されたリップル閾値とを比較することにより平滑コンデンサ2の寿命を判断し、寿命と判断したときには操作表示部2からその旨を報知させる。 - 特許庁
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