「touch probe」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

METHOD FOR CALIBRATING IMAGE PROBE, AND TOUCH PROBE例文帳に追加

画像プローブの校正方法とタッチプローブ - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TOUCH PROBE MEASURING例文帳に追加

タッチプローブ測定方法および測定装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DETECTING CONTACT OF TOUCH PROBE例文帳に追加

タッチプローブの接触検出方法及び装置 - 特許庁

The probe 34 can touch the groove of the work.例文帳に追加

接触子３４はワーク２の溝３に当接可能である。 - 特許庁

A touch probe 9 is mounted to a main shaft 7.例文帳に追加

主軸部７には、タッチプローブ９が装着されている。 - 特許庁

OPERATION CONTROL STRUCTURE FOR TOUCH SIGNAL PROBE例文帳に追加

タッチ信号プローブの動作制御構造 - 特許庁

MEASUREMENT METHOD FOR MEASURING FLEXURE AMPLITUDE OF TOUCH PROBE例文帳に追加

タッチ式プローブのたわみ振幅を測定する測定方法 - 特許庁

CONNECTION DETECTING DEVICE FOR TOUCH SIGNAL PROBE例文帳に追加

タッチ信号プローブの接続検出装置 - 特許庁

To obtain a highly accurate three-dimensional touch probe by improving the rocking means of a probe.例文帳に追加

測定子の揺動手段を改善して、高精度な三次元のタッチプロープを得る。 - 特許庁

SIGNAL PROCESSING DEVICE AND SIGNAL PROCESSING METHOD FOR TOUCH SIGNAL PROBE例文帳に追加

タッチ信号プローブの信号処理装置および信号処理方法 - 特許庁

A stereo vision probe system 120 uses a plurality of cameras 130A and 130B to image markers 150 formed on a touch probe 14 and carries out trigonometric calculations of the coordinates of the touch probe.例文帳に追加

ステレオビジョンプローブシステム１２０は、タッチプローブ１４０に形成されたマーカパターン１５０を複数のカメラ１３０Ａ，１３０Ｂで撮影し、三角法演算を行ってタッチプローブ座標位置を測定する。 - 特許庁

To provide operation control structure of a touch signal probe which can use an ultrasonic touch signal probe as a probe for copying measurement and continuous measurement, and measure the shape of an object to be measured with high precision.例文帳に追加

超音波式タッチ信号プローブを倣い測定、連続測定用のプローブとして用いることができ、かつ被測定物の形状を高精度に測定することのできるタッチ信号プローブの動作制御構造を提供すること。 - 特許庁

The inspection device of the capacitive touch panel 50 includes an inspection part 3 provided with a touch probe 2 on an insulation part 1 as a base, where the surface of the insulation part 1 and a contact part of the touch probe 2 are formed on the same level.例文帳に追加

静電容量式タッチパネル５０の検査装置であって、ベースとなる絶縁部１にタッチプローブ２を設けた検査部３を備え、絶縁部１の表面とタッチプローブ２の接触部とが同一レベルに形成されている。 - 特許庁

To provide a measurement probe, such as a touch trigger probe, is which includes a stylus module (22, 122) attachable to a base module (20, 120).例文帳に追加

ベースモジュール（２０、１２０）に取り付けできるスタイラスモジュール（２２、１２２）を備えるタッチトリガプローブなどの測定プローブを提供すること。 - 特許庁

The cam surfaces touch the probe blocks at positions partitioned on both sides with the pivot axis interposed between.例文帳に追加

カム面は、ピボット軸を挟んだ両側に振り分けられた位置でプローブブロックに接触する。 - 特許庁

To provide a touch sensing probe that improves a sensing accuracy and convenience, and reduces cost.例文帳に追加

センシング精度の向上および利便性、コスト低減を図ったタッチセンシングプローブを提供する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING ABNORMAL MEASUREMENT OF TOUCH SIGNAL PROBE例文帳に追加

タッチ信号プローブの測定異常検出方法及び測定異常検出装置 - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING AND CHECKING POSITION OF CONTACT OF TOUCH-PROBE TYPE MEASUREMENT MECHANISM PART例文帳に追加

タッチプローブ型測定機構部の接触子の位置補正及び確認方法 - 特許庁

To provide a signal processing device and method for touch signal probe wherein malfunction is improved.例文帳に追加

誤動作を改善したタッチ信号プローブの信号処理装置および方法を提供すること。 - 特許庁

To reduce the number of component items of a signal processing circuit for a touch probe, and to reduce its cost.例文帳に追加

タッチプローブ信号処理回路の部品点数の削減およびコストの低減。 - 特許庁

In a measurement of a micro high-aspect-ratio pattern using an elongated probe, when the probe sticks to a sidewall of the pattern, touch of the probe and the sidewall is detected and contact force between the probe and an object is temporarily increased so that the probe reaches the bottom of the sidewall.例文帳に追加

細長探針を用いた微細な高アスペクト比パターンの測定において、探針がパターンの側壁に吸着された場合、探針のパターン側壁への吸着を検知し、探針−試料間の接触力を一時的に増加させることによって、探針を側壁の底まで到達させる。 - 特許庁

In a global calibration system 100, frame distortion calibration includes an iterative process for installing the touch probe 140 on a portable calibration jig 160 and performing triangulation, but the iterative process will not be affected by probe form distortion errors in the touch probe 140.例文帳に追加

包括的校正システム１００において、フレーム歪み校正は、可搬式の校正治具１６０にタッチプローブ１４０を設置して三角法演算を行う反復工程を含むが、タッチプローブ１４０のプローブ形状歪み誤差に影響されない。 - 特許庁

To touch a probe and a test pad certainly in probe inspection employing a prober having a probe formed by a manufacturing technology for a semiconductor integrated circuit device.例文帳に追加

半導体集積回路装置の製造技術によって形成された探針を有するプローバを用いたプローブ検査時において、探針とテストパッドとを確実に接触させる。 - 特許庁

The prober is provided with an inclination-absorbing means for absorbing an inclination between the probe needle 7 and the terminal due to a stylus pressure of the probe needle 7, thereby correctly bringing the probe needle in touch with the terminal.例文帳に追加

プローブ針７の針圧による、プローブ針７と端子２２，２３との間の傾きを吸収し、互いに正確に接触させる傾き吸収手段を備えた。 - 特許庁

This ultrasonographic system includes: the probe; a sensor mounted on the probe to generate a selection signal by sensing user's touch on the probe; and a central control part for controlling the activation of the probe according to the selection signal.例文帳に追加

本発明は超音波診断システムにおいて、プローブと、プローブに装着されて使用者がプローブに接触することを感知して選択信号を生成するためのセンサと、選択信号に基づいてプローブの活性化を制御するための中央制御部を含む。 - 特許庁

To support touch probe measurement so as to more easily and safely conduct teaching work for fine measuring objects.例文帳に追加

微細な測定物に対するティーチング作業をより簡単且つ安全に行なえるように、タッチプローブ測定を支援する。 - 特許庁

In addition, an operator is unnecessary to directly touch the probe when attaching the prober to the prober, preventing its tip end from being broken.例文帳に追加

また、プローバ装置に探針を取付ける作業者が、直接探針に触れることなく作業ができ、探針先端部の破損を防ぐことができる。 - 特許庁

A probe 101 of a grounded electrode plate 12 is brought in touch with one terminal 2011 of the semiconductor device 200.例文帳に追加

接地された電極板１２の接触針１０１を、半導体デバイス２００の１つの端子２０１ｌに接触させる。 - 特許庁

In particular, uncertainty related to flexural deformation of the touch probe can be measured accurately by this method.例文帳に追加

特にそのような方法によって前記タッチ式プローブのたわみ変形作用に関連づけられる不確実性を正確に測定することができる。 - 特許庁

To provide a coordinate measuring machine for easily performing teaching work for a coordinate measuring instrument equipped with a touch probe.例文帳に追加

タッチプローブを備えた座標測定装置において、ティーチング作業を簡単に行なえる座標測定機を提供する。 - 特許庁

Positions A, B, C, D, E, F, G, H, and I, i.e., three points on the three surfaces of the workpiece 1' orthogonally crossing one another, are detected by a touch probe 2.例文帳に追加

該加工物１’の互いに直交する３つの面上のそれぞれ３点の位置Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈ，Ｉをタッチプローブ２で検出する。 - 特許庁

To provide a touch signal probe which can easily solve problems of assembly accompanying size reduction.例文帳に追加

小型化に伴い発生する組立上の問題を容易に解決できるタッチ信号プローブを提供すること。 - 特許庁

The touch probe 2 is embedded in the insulation part 1, or printed on the surface of the insulation part 1.例文帳に追加

タッチプローブ２は、絶縁部１に埋設されているか、あるいは、絶縁部１の表面にプリントされている - 特許庁

Besides, the apparatus includes a contact correcting implement 7 which performs position adjustment etc. of a contact 2a etc. of the touch probe type measuring mechanism 2.例文帳に追加

また、タッチプローブ型測定機構部２の接触子２ａ等の位置調整等を行う接触子補正具７が設けられている。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display whose display defect is suppressed by preventing generation of a bubble due to touch of an inspection probe.例文帳に追加

検査プローブの接触による気泡の発生を防止して、表示不良を抑制した液晶表示装置を提供する。 - 特許庁

A front face measuring stylus 8 is mounted on the central shaft 7 of a touch probe 6 for transmitting a signal when rocking the central shaft 7 at a right angle thereto.例文帳に追加

中心軸７が揺動したとき信号を送り出すタッチプローブ６の中心軸７に表面計測用スタイラス８を直角に取り付ける。 - 特許庁

This fit-in type micro touch unit is manufactured by a micro mechano-electric process, and includes an arm 41 and a probe tip end part 43.例文帳に追加

マイクロ機電工程により製作され、かつアーム４１とプローブ尖端部４３と嵌入部４５とを備える。 - 特許庁

To provide a touch signal probe capable of reducing damage of a measuring object and a contact detecting part compared with conventional one.例文帳に追加

被測定物および接触検知部の損傷を従来に比べて非常に小さくできるタッチ信号プローブを提供すること。 - 特許庁

This measurement reads in a value of the straight line position measuring instrument 25 when a touch probe 19 is turned on by contacting with the detecting object part M.例文帳に追加

この実測は、タッチプローブ１９が被検出部Ｍに接してオンしたときの直線位置計測器２５の値を読み込むものとする。 - 特許庁

To obtain a contact site detecting structure for using an ultrasonic touch signal probe for copying measurement and continuous measurement.例文帳に追加

超音波式タッチ信号プローブを倣い測定、連続測定に利用することのできる接触部位検出構造を提供すること。 - 特許庁

To provide the seating mechanism of a touch signal probe for highly precisely correcting any seating deviation error accompanied by a restoring operation.例文帳に追加

復帰動作に伴う着座ずれ誤差を高精度に修正可能なタッチ信号プローブの着座機構を提供する。 - 特許庁

To provide a touch probe that takes measurements of the innermost part of a thin hole and/or a measured object having a projection with high accuracy and at high speed.例文帳に追加

細穴の奥や突起部を有するような被測定物でも高精度、かつ高速に測定を行うタッチプローブを提供する。 - 特許庁

To provide a method and device for detecting the contact of a touch probe of a wide measurement angle by making a measurement pressure low.例文帳に追加

測定圧が低く、広い測定角度のタッチプローブの接触検出方法及び装置を提供。 - 特許庁

To provide a measuring method, capable of taking into consideration of a deformation in a touch probe during a measurement cycle.例文帳に追加

測定サイクル時におけるタッチ式プローブの変形を考慮することができる測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a surface grinding machine improving the position detecting function of a touch probe sensor and providing a ground work having good surface roughness.例文帳に追加

タッチプロ−ブセンサの位置検出機能を高め、面粗度の良好な研削加工ワ−クを与える表面研削装置。 - 特許庁