「touch probe」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

The operation control structure for touch signal probe which controls the operation of a base 23 operating a touch signal probe equipped with a stylus 102 having a contact part 102A coming into contact with the body to be measured atop is equipped with an exciting means 103A which vibrates the stylus 102 along the and a 2nd exciting means 110 which vibrates it at right angles to the axis.例文帳に追加

先端に被測定物と接触する接触部１０２Ａを有するスタイラス１０２を備えたタッチ信号プローブを動作させる支持体２３の動作制御を行うタッチ信号プローブの動作制御構造は、スタイラス１０２を軸方向に振動させる加振手段１０３Ａと、軸に直交する方向に振動させる第２加振手段１１０とを備えている。 - 特許庁

The target body is selected from one of a photogrammetry target, a theodolite target, a construction ball, a touch probe target, a coordinating measurement machine probe target, a laser tracker target, and a laser projector target.例文帳に追加

ターゲット本体は、写真測量法のターゲット、セオドライト用ターゲット、建設用ボール、タッチプローブ用ターゲット、座標測定機械のプローブ用ターゲット、レーザートラッカー用ターゲット、及びレーザープロジェクター用ターゲットから選択される。 - 特許庁

The touch sensing probe includes: a nozzle body 2 including a contact tip 1 for energization inside the body; and a tip end probe 3 detachably mounted by being threaded into an end of the nozzle body 2, and electrically connected with the contact tip 1 by a contact spring 5.例文帳に追加

内部に通電用のコンタクトチップ１を有するノズル本体２と、ノズル本体２先端部にネジ式で着脱自在に取り付けられ、コンタクトチップ１と接触バネ５により電気的に接続される先端プローブ３とを備える。 - 特許庁

A plurality of probe needles 7 integrally supported corresponding to terminals of a liquid crystal display panel 15 are correctly brought in touch with the terminals, thereby testing the terminals in this prober.例文帳に追加

液晶表示パネル１５の端子２２，２３に対応して複数本を一体的に支持されたプローブ針７を前記端子に正確に接触させて試験を行うプローバである。 - 特許庁

The probe needle groups separated to the gate side and data side are brought in touch with the terminals in an order from a larger stylus pressure and separated from the terminals in an order from a smaller stylus pressure.例文帳に追加

ゲート側とデータ側に分類されたプローブ針群を、針圧の大きい順に前記端子に接触させ、針圧の小さい順に前記端子から離すようにした。 - 特許庁

Further, by making the measuring probe of a prescribed signal measuring device touch the central contact 20 through the hole 12 of the coaxial connector 3, the signal transmitted through the central conducting body of the coaxial cable can also be monitored by signal measuring device.例文帳に追加

また、所定の信号測定器の測定プローブを、同軸コネクタ３の透孔１２を透して中心コンタクト２０へ接触させ、同軸ケーブルの中心導体を伝わってきた信号を、該信号測定器でモニターすることもできる。 - 特許庁

To provide a contact structure that can send and receive ample electric signals in a stable way between an electrode and a probe made to touch the electrode and can be easily manufactured.例文帳に追加

電極とその電極に接触させるプローブとの間で十分な電気信号を安定して授受でき、且つ容易に製造できる接触構造体を提供する。 - 特許庁

To provide a gear measuring method allowing multi-point continuous measurement using a touch probe and being capable of reducing measuring time compared with known methods.例文帳に追加

タッチ式プローブを用いて多点式連続測定ができ、従来の方法に比べて測定時間を短縮することができる歯車測定方法を提供する。 - 特許庁

APPARATUS FOR MEASURING SHAFT HAVING OPTICAL TYPE AND TOUCH PROBE TYPE MEASURING MECHANISMS AND SHAFT SUPPORTING MECHANISM, AND METHOD FOR MEASURING SPECIFICATIONS AND ACCURACY OF SHAFT BY THE APPARATUS例文帳に追加

光学式やタッチプローブ型の測定機構部及び軸体支持機構部を有する軸体測定装置及び該装置による軸体の諸元及び精度の測定方法 - 特許庁

To provide a touch signal probe which can shorten detection delay time and, at the same time, can eliminate measurement errors by improving the detecting ability variation among styluses.例文帳に追加

検出遅れ時間を短縮するとともにスタイラス間での検出能力のバラツキを改善して測定誤差を解消するタッチ信号プローブを提供すること。 - 特許庁

To provide a probe replacement jig for a stylus type surface shape measuring instrument with which replacement of probes is performed with one hand by one touch without damaging a supporting point.例文帳に追加

探針の交換を、支点を傷めずに、片手でワンタッチで行うことができる触針式表面形状測定器用の探針交換用冶具を提供する。 - 特許庁

At the time of a connection inspection, if a terminal metal fitting and a probe pin 14 come into touch with each other, not only is the terminal metal fitting of the connector 2 in a good fit state and the like, but also the coat member 3 is set properly to the housing.例文帳に追加

導通検査時に、端子金具２２とプローブピン１４との接触があったときは、コネクタ２の端子金具２２の装着状態等が良いことだけではなく、被覆部材３がハウジング２１に適切に装着されているとされる。 - 特許庁

To provide the operation control structure for a touch signal probe which prevents a stylus from agglutinating on coming into contact with a body to be measured and can perform continuous measurement along the surface of the body to be measured.例文帳に追加

被測定物との接触により生ずるスタイラスの凝着現象を防止し、被測定物の表面に沿って連続測定を行うことのできるタッチ信号プローブの動作制御構造を提供すること。 - 特許庁

The contact site of the contact part 102A can be detected by the contact site detecting means 70, so that the touch signal probe 10 can be used for the copying measurement and continuous measurement of an object to be measured.例文帳に追加

接触部位検出手段７０で接触部１０２Ａの接触部位が検出できるので、タッチ信号プローブ１０を被測定物の倣い測定、連続測定に利用することが可能となる。 - 特許庁

A contact shoe 23a of the touch probe 23 is made contact with a work outer peripheral surface in the neighbouhood of a groove 2 by moving the table 11 and the wheel spindle stock 19 at first in advance of maching of the work 1.例文帳に追加

ワーク１の加工に先立ち、まず、テーブル１１及び砥石台１９を移動し、タッチプローブ２３の接触子２３ａを溝２近傍のワーク外周面に接触させる。 - 特許庁

The touch signal probe is provided with a coil spring 26 for energizing on the side of a stylus 20 a movable member 21 relatively movably held by a holding member 11, an exciting coil 15 for moving the movable member 21 in a reverse energizing direction, a fixed yoke 16, and an armature 25.例文帳に追加

保持部材11に相対移動可能に保持された可動部材21を、スタイラス20側に付勢するコイルばね26と、反付勢方向に移動させる励磁コイル15、固定ヨーク16、アーマチャ25とを設ける。 - 特許庁

A touch probe 23 is provided on a grinder free to revolve on a grinding wheel stock 19 by centering and holding grooved axial work 1 between a spindle stock 14 of a table 11 and a tailstock 15 on a grinder.例文帳に追加

研削盤において、テーブル１１上の主軸台１４と心押台１５との間に溝付き軸物ワーク１を芯出し保持し、砥石台１９上にタッチプローブ２３を回動可能に設ける。 - 特許庁

Since a first stopper 91 is fixed and a compression spring 92 acts between the first stopper 91 and the housing 8, the probe 85 is urged to touch the body part.例文帳に追加

第１ストッパ９１が取り付けられているとともに、圧縮ばね９２が第１ストッパ９１とハウジング８０との間に作用することによって、プローブ８５が、ボディ部に接するように付勢されている。 - 特許庁

By forming such a communicating hole 12, the output probe of signal generator generating prescribed signal is enabled to touch the central contact 20 through the hole 12 of the coaxial connector 3.例文帳に追加

このような透孔１２を設けることにより、所定の信号を送出する発信器の出力プローブを、同軸コネクタ３の透孔１２を透して中心コンタクト２０へ接触させることができる。 - 特許庁

A touch trigger measurement probe is described that comprises a measurement portion for measuring an object and a data transfer portion for receiving data from and/or transmitting data to the associated unit.例文帳に追加

物体を測定するための測定部と、関連ユニットからデータを受信および／またはこれにデータを送信するためのデータ伝送部とを具えた接触トリガー測定プローブ。 - 特許庁

The apparatus for treatment comprises a laser beam irradiating probe 1 having contactors 12 and 12' used for both a function as a touch sensor and a low-frequency stimulating (generating a pulse) function and provided at a distal end of a head part 1a.例文帳に追加

このトリートメント装置は、タッチセンサとしての機能と低周波刺激（パルス発生）機能とを兼用する接触子１２，１２’をヘッド部１ａの先端に設けたレーザ光照射プローブ１を有している。 - 特許庁

This method is used for calibrating a tool comprising the touch probe used for a contact-type measuring instrument, in order to take into consideration its dynamic shape characteristics.例文帳に追加

本発明は、動的形状特性を考慮するために接触型測定機械に使用されるタッチ式プローブからなる工具を校正するための方法に関する。 - 特許庁

In the probing test at the second time, a semiconductor chip 1 is moved in the width direction of the first terminal 21 only by the arrangement space P_1 of the first terminal 21, so that the probe 31 is made to touch a first terminal 21b of even numbered terminals.例文帳に追加

二回目のプロービングテストは、第１端子２１の配置間隔Ｐ_1 分だけ半導体チップ１を第１端子２１の幅方向に移動して行い、プローブ３１を偶数番目の第１端子２１ｂに接触ささせる。 - 特許庁

In this surface grinding machine 1, a shaft 89 suspending a probe 92 supporting a stylus 91 of the touch probe sensor 90 at the tip is parallel to the surface in the direction of the diameter of a grinding wheel 24 and fitted to the front side of a safety cover 25 of a grinding wheel to be positioned in a point O of intersection on an extension axis of the grinding wheel spindle.例文帳に追加

平面研削装置１にはタッチプロ−ブセンサ９０のスタイラス９１を先端に支えるプロ−ブ９２の垂下している軸８９が砥石車２４の直径方向の面に対し平行面であって前記砥石主軸の延長軸線上にある交点Ｏに位置するよう砥石車の安全カバ−２５前面側に取り付けられる。 - 特許庁

In the drink dispenser including the touch panel assembly 200, a carbonator probe and a carbonator pump assembly removable from the front of the drink dispenser 100, the touch panel assembly 200 has a light source backward illuminating a user operation board and visually displaying the dispenser 100.例文帳に追加

タッチパネル組立体２００と、カーボネータープローブと、飲料ディスペンサ１００のフロントから取外し可能なカーボネーターポンプ組立体とを含む飲料ディスペンサであり、タッチパネル組立体２００は、ユーザ操作盤をバック照明しかつディスペンサ１００を視覚的に表示する光源を備える。 - 特許庁

To provide a chip resistor having a sufficient area for touching a probe when trimming in which an upper surface electrode does not touch an adjacent upper surface electrode to cause a poor resistance, and to provide its production process.例文帳に追加

上面電極が、トリミングの際にプローブを接触させる領域を十分に有するとともに、上面電極が隣接する上面電極と接触して抵抗値不良となることがないチップ抵抗器及びチップ抵抗器の製造方法を提供する。 - 特許庁

First, by performing touch sensing with the probe 14 on the branching pipe 2a of the object of welding which is welded temporarily to a main pipe 1, the position of the branching pipe 2a of the object of welding in a longitudinal direction of the main pipe 1 and in the directions of the X-and Y-axes which are the horizontal direction orthogonal to the longitudinal direction are detected.例文帳に追加

母管１に仮付けされた溶接対象の枝管２ａに対し、先ず、探触子４によるタッチセンシングを行って、母管１の長手方向とそれに直交する水平方向であるＸＹ軸方向の位置を検出する。 - 特許庁

The stylus 20 is mounted directly on a detecting means 32, which is mounted directly on a holder 10 to constitute a touch signal probe 1 so that the holder 10 and stylus 20 are not in contact and the stylus 20 and detecting means 32 are in contact.例文帳に追加

検出手段３２に直接スタイラス２０を装着し、検出手段３２をホルダ１０に直接装着することで、ホルダ１０とスタイラス２０とを互いに非接触の状態で、かつスタイラス２０と検出手段３２とを接触の状態でタッチ信号プローブ１を構成した。 - 特許庁

A difference between a coordinate at a prescribed position of the machined workpiece and a reference coordinate or a difference between a coordinate of a prescribed position of the machine tool and the reference coordinate are measured by a touch probe by timing determined in advance, and the measured values are successively stored in a memory.例文帳に追加

加工されたワークの所定位置の座標と基準座標との差、または工作機械の所定位置の座標と基準座標との差を、あらかじめ決められたタイミングでタッチプローブにより測定し、この測定値を順次メモリに記憶する。 - 特許庁

This touch signal probe 10 is provided with a stylus 3 having a contact part 3B supported to a stylus holder 2, a vibrating means 4A for making the stylus 3 resonate, a detecting means 4B for detecting change in the vibration, and a Q-value controlling means 7 for controlling the Q-value in the resonance of the stylus 3.例文帳に追加

スタイラスホルダ２に支持され接触部３Ｂを有するスタイラス３と、スタイラス３を共振させる加振手段４Ａと、この振動の変化を検出する検出手段４Ｂと、スタイラス３の共振のＱ値を制御するＱ値制御手段７とを備える。 - 特許庁

To provide a fit-in type micro touch unit capable of making a position of a probe tip end consistent with a normal position reference of a joining portion, capable of enhancing assembling precision by a single order joining method, and capable of enhancing the coherence of the whole function, and a manufacturing method therefor.例文帳に追加

プローブ尖端の位置と接合部位の定位基準を一致させ、単次接合方法により全体の組立精度を高め、全体機能の一貫性を向上させることが可能な嵌入式マイクロタッチユニット及びその製造法を提供する。 - 特許庁

An ultrasonic flaw detection system comprises: an ultrasonic probe 100 which has such a size as to touch a surface of a part to be detected and comprises an ultrasonic transducer for transmitting ultrasonic waves and an ultrasonic transducer for receiving ultrasonic waves; and a signal processor 300 which performs aperture synthetic processing of the signals which indicate a level of an ultrasonic wave received by the transducer for receiving ultrasonic waves of the ultrasonic probe and are output from the ultrasonic probe 100.例文帳に追加

検査対象の部位の表面に接触し得る大きさであって、超音波の送信用の超音波振動子と、超音波の受信用の超音波振動子とを有する超音波探触子１００と、超音波探触子の受信用の超音波振動子が受信した超音波の大きさを示す信号であって、超音波探触子１００から出力された信号を、開口合成処理する信号処理装置３００とを備える。 - 特許庁

The arithmetic part of this numerical control measures the positions of first and second centering reference holes formed in the work by use of the touch probe of a main spindle (S102), and determines the actual inclination between the work axis and the coordinate axis of a machine tool and the actual work machining reference position from the coordinate system origin of the machine tool (S103).例文帳に追加

数値制御手段の演算部は、ワークに形成された第１、第２の芯出し用基準穴の位置を主軸のタッチプローブを用いて計測し（Ｓ１０２）、ワーク軸心と工作機械の座標軸との実際の傾き角度と、工作機械の座標系原点からの実際のワーク加工基準位置とを求める（Ｓ１０３）。 - 特許庁

The probe unit is provided with a substrate, a plurality of first conductors formed on the substrate and having first contact sections which are arrayed along one end of the substrate and come in touch with electrodes of a specimen, and a second conductor formed lower than the first contact sections on a part of the substrate between the one end of the substrate and the first contact sections.例文帳に追加

基板と、前記基板上に形成され、前記基板の一端に沿って配列され検体の電極に接触する複数の第一接触部を有する第一導線と、前記基板の前記一端と前記第一接触部との間の前記基板上に前記第一接触部より低く形成されている第二導線と、を備える。 - 特許庁