びくうきょうけんさの英語

光学式欠陥検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を観察する電子顕微鏡5において、欠陥を再検出する光学顕微鏡14を搭載し、この光学顕微鏡14で暗視野観察する際に瞳面に分布偏光素子及び空間フィルタを挿入する構成とする。例文帳に追加

The electron microscope 5 for observing a defect detected by the optical defect inspection device or the optical appearance inspection device has a constitution wherein an optical microscope 14 for re-detecting the defect is loaded, and a distribution polarization element and a space filter are inserted onto a pupil surface when performing dark field observation by the optical microscope 14. - 特許庁

検査工程が簡略な燃料電池用セパレータのクラック検査方法およびクラック検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a crack inspection method of a separator for a fuel cell having a simple inspection process and to provide a crack inspection device of the separator. - 特許庁

走査型プローブ顕微鏡の感度および空間分解能を向上させるためのカンチレバーの冷却システムを提供すること。例文帳に追加

To provide a cooling system for a cantilever for enhancing sensitivity and spatial resolution of a scanning type probe microscope. - 特許庁

光学フィルタから出射される光の向きを制御して光を所定の位置へ導くことができる照明装置及び走査顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide an illuminator capable of guiding light emitted from an optical filter to a predetermined position by controlling the direction of the light, and a scanning microscope. - 特許庁

打鍵時の爪の衝突音が甲高く響くのを防止して打鍵時の音質を向上させ得る樹脂製の電子鍵盤楽器用鍵を提供する。例文帳に追加

To provide a key for an electronic keyboard instrument made of resin, capable of improving sound quality when hitting the key, by preventing that nail impact sound on key hitting time shrilly sounds. - 特許庁

電子線式パターン検査装置において短時間で最適な検査条件を導くことができる手段を提供する。例文帳に追加

To provide a means capable of leading an optimal inspection condition in a short period at an electron beam type pattern inspection device. - 特許庁

位置がずれている場合でも、ファイバ・コアから提供される光を検出器に導く方法及び装置を提供する。例文帳に追加

To provide a method and device for introducing the light from a fiber core to a detector even in case of position is deviated. - 特許庁

サーバおよびクライアントを試験対象とする場合に、試験モードを自動的に変更可能なプロトコル試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a protocol test device capable of automatically changing test mode when it executes a protocol test for a server or a client. - 特許庁