多針電極の英語

また、電極パッド６１との接触を多数回繰り返すためプローブ針先端部６２ａが自然酸化膜６３で汚染された場合でもプローブ針６２の側面（導電性の液体１１で濡れている部分）を通じて電気的導通が可能となる。例文帳に追加

The contact with the electrode pad 61 is repeated many times, therefore even if the needle head part 62a is polluted by a natural oxide film 63, electric continuity is enabled through the side (a part wetted by the conductive liquid 11) of the probe needle 62. - 特許庁

或いは誘電層と多針電極との間に空隙を形成するための顔料を含む第１の誘電層の上に第２の誘電層を設け、その顔料としてアルミナ含有微粒子を用いる。例文帳に追加

Or, a second dielectric layer is applied on a first dielectric layer containing a pigment to form a space between the dielectric layer and a multistylus, and the pigment used consists of alumina- containing fine particles. - 特許庁

電圧制御回路により放電電極針に高圧の交流電圧を印加して正負のイオンを除電に必要なイオンを多くなるように生成する。例文帳に追加

Positive and negative ions are generated so as to make the ion, necessary for removing static electricity, gain in quantity by impressing alternating current high voltage to a discharging electrode needle by a voltage control circuit. - 特許庁

アルミナ含有微粒子はモース硬度が高く多針電極のクリーニング効果が高く、しかもそれ自体トナー定着性が良好なため、良好な画像が得られる。例文帳に追加

Since the alumina-containing fine particles have high Mohs' hardness and a high cleaning effect for the multistylus and have good fixing property for a toner, therefore, a good image can be obtained. - 特許庁

コロナ放電時の減衰を最小に押さえることで最良の状態を保ち、低電圧で多量のマイナスイオンやオゾンを発生させ、且つ長時間でもイオンの流出圧力が上がって遠くに飛ばすことができる放電用の針状電極を提供する。例文帳に追加

To provide a needle-like electrode for discharge capable of keeping the best condition by minimizing attenuation in corona discharge, of generating large quantities of negative ions and ozone at a low voltage and of making ions fly to a distant place by increasing emission pressure of the ions even for a long time. - 特許庁

本発明の目的は、多数のプローブ針と半導体チップの個々の表面電極との接続状態の良否を工数アップを招くことなく、かつ、通電作業中も判定可能な半導体バーへの通電装置および通電方法を提供することである。例文帳に追加

To provide a current-carrying device and a current-carrying method to a semiconductor bar, capable of determining the quality of the connection state between many probe needles and each surface electrode of a semiconductor chip, without causing increase in the man-hours, even during a current-carrying operation. - 特許庁

歪曲表面を有する支持部１６により半導体素子１１の裏面を支持して、半導体素子１１の、電極が配置された表面に多数の探針（図２では、コンタクトピン１２）を圧接して、半導体素子１１を歪曲表面の形状に歪曲させて、電気特性を試験する。例文帳に追加

Electrical characteristics are tested by supporting the back surface of a semiconductor element 11 with a supporting part 16 having a distorted surface, bringing a large number of probes (contact pins 12 in Fig.2) into press-contact with the surface having electrodes disposed thereon of the semiconductor element 11, and distorting the shape of the distorted surface of the semiconductor element 11. - 特許庁