SAMPLE TABLE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡用試料台 - 特許庁

SAMPLE HOLDER, SAMPLE TABLE AND SAMPLE TABLE FIXTURE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の試料ホルダー、試料台および試料台用治具 - 特許庁

X-Y TABLE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

ＸＹテーブル及び走査形プローブ顕微鏡 - 特許庁

90°-CONVERSIBLE SAMPLE TABLE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡用９０°変換試料台 - 特許庁

SAMPLE TABLE DRIVING DEVICE FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間力顕微鏡の試料台駆動装置 - 特許庁

With the position of a crossover A as the table face of this electron microscope, the energy filter can be settled under the table of the electron microscope.例文帳に追加

クロスオーバーＡの位置を電子顕微鏡のテーブル面とし、エネルギーフィルタを電子顕微鏡のテーブルの下に納めることができる。 - 特許庁

FIXING METHOD OF SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE TABLE例文帳に追加

透過電子顕微鏡用試料の固定方法および試料台 - 特許庁

To provide a sample table for a microscope in which sample table aligns the shaft of a sample with the rotating shaft of the sample table to adjust the position of the sample while saving space.例文帳に追加

試料の軸を試料台の回転軸に合わせ、省スペースにおいて試料の位置調整を行う顕微鏡用試料台を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope that prevents a microscope body and a specimen or specimen placing table from interfering with each other.例文帳に追加

顕微鏡本体と、試料または試料載台が干渉することを防止する顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The sample table for the microscope is used to observe and examine different peripheral positions of a linear element sample S using a microscope.例文帳に追加

線状体の試料における周方向の異なる位置を顕微鏡で観察し検査するための顕微鏡用試料台である。 - 特許庁

To provide a compact electron microscope with a shield cover, which includes a table surface usable as both a work table and an observation table without inhibiting the performance or handling property of the electron microscope.例文帳に追加

電子顕微鏡の性能や取扱性を阻害することなく作業台や観察台を兼用し得るテーブル面を備えたコンパクトなシールドカバー付きの電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR ALIGNING ROTARY AXIS OF CHUCK TABLE AND CENTER OF MICROSCOPE IN CUTTER例文帳に追加

切削装置におけるチャックテーブルの回転軸と顕微鏡の中心との位置合わせ方法 - 特許庁

A scanning mechanism 10 of the scanning probe microscope has a fixed table 12 and a movable table 14 movable relative thereto.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の走査機構１０は、固定テーブル１２と、これに対して移動可能な可動テーブル１４を有している。 - 特許庁

To highly accurately prevent a table of a sample stage used for an optical microscope and an electron microscope from inclining when the table of the sample stage is moved to a predetermined position in micron order.例文帳に追加

光学顕微鏡や電子顕微鏡に使用される試料ステージのテーブルを所定位置にミクロン単位で移動させた際、テーブルが傾斜してしまうことを精度高く抑制することができるようにすることにある。 - 特許庁

The microscope 150 is placed by the microscope stage moving table 113 so that its optical axis approximately coincides with a rotation axis 116 of the air spindle 102.例文帳に追加

顕微鏡１５０は、顕微鏡ステージ移動テーブル１１３により、その光軸がエアースピンドル１０２の回転軸１１６と概略一致するように配置される。 - 特許庁

To provide a sample fixing table allowing the location of a foreign substance to be rapidly and efficiently identified within an electron microscope image; an electron microscope equipped with it; and a position identifying method of the foreign substance.例文帳に追加

異物の場所を電子顕微鏡画像の中で素早く、効率的に特定できる試料固定台及びそれを備えた電子顕微鏡、並びに、その異物の位置特定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a sample holder and a sample table that enable examination of the samples for examination, from many directions in the electron microscope.例文帳に追加

電子顕微鏡内において観察対象となる試料を多方向から観察することができる試料ホルダーおよび試料台を提供する。 - 特許庁

This application may be composed as an additional module receivable particularly onto the sample table of a conventional scanning electron microscope.例文帳に追加

本発明は、特に、従来式の走査電子顕微鏡の試料台の上で受容可能な追加モジュールとして構成されていてよい。 - 特許庁

In this sample table for the electron microscope, surface roughness of a surface is set to 0.05 to 1.0 μm in arithmetical mean roughness Ra stipulated in JIS B 0601.例文帳に追加

表面の面粗さがＪＩＳ Ｂ ０６０１に規定される算術平均粗さ（Ｒａ）で０．０５〜１．０μｍとしてなる電子顕微鏡用試料台。 - 特許庁

An image is obtained by holding plural plates 2 in the circumferential direction by the plate table 1, and by rotating oscillatingly or moving forwards and backwards a microscope 13 with a microscope arm 11, and by moving it vertically with respect to the plate table 1.例文帳に追加

また、プレートテーブル１によりプレート２を周方向に複数保持し、顕微鏡アーム１１により顕微鏡１３を首振り回転し又は前後移動し、およびプレートテーブル１に対して上下移動することで画像を取得する。 - 特許庁

The auxiliary illuminating arrangement is employed and mounted on the slit lamp microscope having a microscope body 1, a jaw table section 2, the slit lamp 3 which irradiates the eye of the patient supported by the jaw table section with slit light, an imaging device 4 for photographing an image of slit light reflected in the eye of the patient, and a video capture means 5.例文帳に追加

顕微鏡本体１と、顎台部２と、顎台部によって支持された患者の眼にスリット光を照射する細隙灯３と、患者の眼に映ったスリット光の像を撮影する撮像装置４と、ビデオキャプチャー手段５とを有する細隙灯顕微鏡に装着されて使用される。 - 特許庁

The electron microscope is provided with a sample table 33 to mount a sample on it, and an electron beam imaging part in order to irradiate an electron beam on the sample mounted on the sample table 33, and to form an electron beam observation image.例文帳に追加

電子顕微鏡は、試料を裁置する試料台３３と、試料台３３に裁置された試料に対して電子線を照射し電子線観察像を結像するための電子線撮像部とを備える。 - 特許庁

The microscope system is provided with an objective lens 5, a sample table 3 for placing an observation sample 2, a sensor target 4 attached to the leading end part of the objective lens 5 and a non-contact type sensor 1 attached to the sample table 3.例文帳に追加

顕微鏡装置は、対物レンズ５と、観察試料２が載置される試料台３と、対物レンズ５の先端部に取り付けられたセンサーターゲット４と、試料台３に取り付けられた非接触式センサー１とを有している。 - 特許庁

To provide a sample table driving device for an atomic force microscope capable of measuring surface force of a sample to be measured with high accuracy and high resolution by controlling the movement of the sample table with high reliability and repeatability.例文帳に追加

高い信頼性及び再現性にて試料台を移動制御して試料の表面力を高精度及び高分解能で測定することができる原子間力顕微鏡の試料台駆動装置の提供。 - 特許庁

To provide a compact damping device and a compact damping table capable of properly damping a damped object having a comparatively light weight and needing the immediate damping of vibration, such as an optical microscope and a measuring instrument placed on a working table, having high damping speed, and suitably used on the desk with superior vibration damping performance.例文帳に追加

作業台に載置される光学顕微鏡や測定機器などの比較的軽量で、振動を直ぐに減衰させる必要のある除振対象物の除振に好適であり、減衰応答が早く、優れた振動減衰性能を有する卓上使用に適した小型除振器と小型除振台を提供する。 - 特許庁

A tool table 15 is placed on a rotary table 30, and turned by πradian, a blade tip 16a of the tool 16 is detected by a microscope, and the tool position is adjusted or corrected so that the blade tip 16a before the turning is agreed with that after the turning.例文帳に追加

工具台１５をロータリテーブル３０に積載しπラジアン旋回させ、工具１６の刃先端１６ａを顕微鏡により検知し、旋回前と旋回後の刃先端１６ａを一致させるよう工具位置を調整または補正して加工する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope provided with a highly reliable holding and dismounting mechanism allowing a sample to be changed on a sample table and a sample transfer device which allow the sample table to be easily be extracted from a sample changing chamber and replaced.例文帳に追加

本発明の目的は、試料台に於いて、試料が確実に、かつ、信頼性の高い保持脱着機構と、試料交換室から試料台が容易に取り外し交換できる試料移送装置を備えた走査型顕微鏡を提供することである。 - 特許庁

To provide a sample table for an electron microscope causing no burying of a microstructure of a biological sample and damage of the sample, and having stable electric conductivity and surface roughness.例文帳に追加

生物試料の微細構造の埋没、試料損傷等の発生がなく、安定した導電性及び面精度を有する電子顕微鏡用試料台を提供する。 - 特許庁

This application relates to this scanning electron microscope provided with a sample chamber, an electron detector disposed in the sample chamber, and a sample table disposed in the sample chamber and equipped with a sample holder.例文帳に追加

本発明は、試料室と、試料室の中に配置された電子の検出器と、試料室の中に配置された、試料ホルダを備える試料台とを備える走査電子顕微鏡に関する。 - 特許庁

A microscopic sample is displaced at high speed in the optical axis direction of the microscope by extending/shortening the piezoelectric element using a calibration table of the voltage-extension characteristics for a piezoelectric element without using a feedback circuit etc.例文帳に追加

ピエゾ素子の電圧−伸長特性の校正表を用いることにより、フィードバック回路等を用いることなく高速にピエゾ素子を伸長・短縮させ、顕微試料を顕微鏡の光軸方向に高速に変位させる。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope which is of low cost, easy to use, and can make it sufficiently small in size as can be put on, for example, a table in a classroom.例文帳に追加

安価で、使い易く、例えば教室のテーブル上に置くことのできる十分に小さな寸法とすることができる走査型電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

In the support apparatus, a base body 31 which can be jointed to a microscope 10 installed on the installation face 9a of a vibration-absorbing table 9, is installed substantially perpendicular to the installation face 9a.例文帳に追加

除震台９の設置面９ａに設置される顕微鏡１０に結合可能なベース本体３１を、設置面９ａに対してほぼ垂直に設置する。 - 特許庁

A microscope capable of checking a reference mark is disposed at one of the stop positions at four points of the turn table 6 so that the outer peripheral ends of the signal grooves of the master stamper can be checked.例文帳に追加

基準マークを確認しうる顕微鏡を回転テーブル６の４箇所の停止位置の１つに設けて、マスタースタンパの信号溝の外周端を観察できるようにする。 - 特許庁

This electron microscope is provided with the visible light imaging part for imaging a visible light observation image which is attached to the sample table 33 movable at least on the XY plane, and the visible light imaging part is adjusted in a position and an angle in which the visible light observation image of the sample mounted on the sample table 33 is imaged in a state being attached to the sample table 33.例文帳に追加

この電子顕微鏡は、少なくともＸＹ平面上を移動可能な前記試料台３３上に装着される、可視光観察像撮像用の可視光撮像部を備え、可視光撮像部は試料台３３に装着された状態で、試料台３３上に裁置される試料の可視光観察像を撮像可能な位置及び角度に調整されている。 - 特許庁

For disposing the nano-tube in a desired place, the precise disposition control using an electron microscope is conducted with the same focal depth used on the stage, in which a base board installing table having an angle is installed and the nano-tube is moved in the horizontal direction, and therefore, the situation of the movement can be observed through the microscope owing to the same focal depth.例文帳に追加

任意の場所へナノチューブを配置するには、電子顕微鏡を利用し、ステージ上に同一焦点深度を利用した精密配置制御を行うために、角度をつけた基板設置台を設け、ナノチューブは、水平方向に移動させるので、同一焦点深度であるため、移動の状況は、該顕微鏡により観察することができる。 - 特許庁

The microscope system is also provided with a motor 10 for moving the objective lens 5 along the optical axis, and a controller 13 for adjusting a relative distance between the leading end part of the objective lens 5 and the sample table 3 by controlling the motor 10.例文帳に追加

顕微鏡装置は更に、対物レンズ５を光軸に沿って移動させるモーター１０と、モーター１０を制御して対物レンズ５の先端部と試料台３との間の相対距離を調節するコントローラー１３とを有している。 - 特許庁

Consequently, it is possible to constitue a ceramic made raceway track without cutting work to a ceramic made member and is possible to incorporate it in electronic equipment (for example, an X-Y table of an electronic microscope and a semiconductor manufacturing device) for which its non-magnetism is required.例文帳に追加

したがって、セラミック製部材への切削加工を行うことなく、セラミック製の軌道を構成できる上に、非磁性であることが要求される電子機器(例えば、電子顕微鏡や半導体製造装置のＸ−Ｙテーブル)に組み込むことができる。 - 特許庁

To provide a light scanning microscope which having; an at least single-dimensional light distribution apparatus for grid-shaped illumination of a sample in a locally limited grid field; a detector for capturing sample light; and a sample table capable of moving in at least one direction.例文帳に追加

大きさの制限されたラスタフィールド内で試料をラスタ状に照明するための少なくとも１次元の光分布装置、試料光捕捉のための検出装置および少なくとも１方向に移動できる試料ボードを有する光走査型顕微鏡 - 特許庁

A surface of a sample placed on a sample table 15 of an atomic force microscope and a probe provided on an end of a cantilever are brought close to each other and surface data of the sample are obtained based on an elastic deformation of the cantilever caused by interatomic force produced between the two.例文帳に追加

原子間力顕微鏡の試料台上に載置された試料表面とカンチレバー先端に設けられた探針とを近接させて両者間の原子間力によるカンチレバーの弾性変形に基づいて試料の表面情報を得る。 - 特許庁

A decode processing part 33 converts the physical address into a display address showing the arrangement of the objective lens when viewed from the viewpoint of a user, by using an address conversion table prepared in advance, when the type information shows an upright microscope, and displays the display address on a display part 23.例文帳に追加

デコード処理部３３は、種別情報により示される種別が正立顕微鏡用である場合、予め用意されたアドレス変換テーブルを用いて、物理アドレスを、使用者の視点から見た対物レンズの配置を示す表示アドレスに変換し、表示部２３に表示させる。 - 特許庁

The microscope observation device includes: a specimen table 11 for fixedly supporting the substrate 10A to be observed; an immersion objective lens 14; supply means 16 and 17 for supplying the liquid 20 between the leading end of the objective lens and the substrate; and liquid receiving means 22 to 24 for receiving the liquid 21 dripping from the substrate after supplied by the supply means.例文帳に追加

観察対象の基板１０Ａを固定的に支持する試料台１１と、液浸系の対物レンズ１４と、対物レンズの先端と基板との間に液体２０を供給する供給手段１６,１７と、供給手段により供給された液体のうち基板から落下する液体２１を受ける液体受け手段２２〜２４とを備える。 - 特許庁