test bankとは 意味・読み方・使い方

A test pattern generated with the test pattern generation circuit 1 is given to the related circuit of the selected bank and the test pattern given from a tester is given to the related circuit of the other banks.例文帳に追加

選択されたバンクの関連回路にテストパターン発生回路１で生成されたテストパターンを与えるとともに、他のバンクの関連回路にはテスタから与えられたテストパターンを与える。 - 特許庁

To provide a device and method for using a single electrical fuse (eFuse) bank in order to preserve test data continuously.例文帳に追加

テスト・データを連続的に保存するために単一の電気的ヒューズ（eFuse）バンクを使用するための装置および方法の提供。 - 特許庁

In this method, an error address is transmitted for an external test layer in a compressed form from an error position in a bank.例文帳に追加

この方法では、エラーアドレスは、バンクでのエラー位置から圧縮された形状で外部試験層に向けて伝送される。 - 特許庁

The self-test section is provided with an address counter (35) that corresponds to a plurality of addressings in which updating methods of the X address, the Y address and the bank address are made different.例文帳に追加

セルフテスト部は、Ｘアドレス、Ｙアドレス及びバンクアドレスの更新の仕方の異なる複数のアドレシングに対応したアドレスカウンタ（３５）を有する。 - 特許庁

It can be therefore determined that which part of the bank of the eFuse is already programmed by the previous test stage, and that where operation for programming next data set to the bank of the eFuse is to be started.例文帳に追加

従って、eFuse のバンクのどの部分が前のテスト・ステージによって既にプログラムされていたか、および次のデータ・セットをeFuse のバンクにプログラムする動作をどこで開始すべきかを容易に決定することが可能である。 - 特許庁

To provide a test apparatus testing appropriately a memory to be tested which performs simultaneously write-in and read-out of data for a plurality of blocks by multi-bank operation.例文帳に追加

マルチバンク動作により複数のブロックに対して同時にデータの書き込み又は読み出しを行う被試験メモリを適切に試験する試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device which can perform a device test for a shorter time by applying a bank memory provided in an AFM and being not used and storing fall information from a DUT.例文帳に追加

ＡＦＭ内に備える使用されていなかったバンクメモリを適用して、ＤＵＴからのフェイル情報を格納させることで、より短時間にデバイス試験が実施可能な半導体試験装置、及び試験方法を提供する。 - 特許庁

The light emission substrate 1003 is provided with: a pixel region 110 having bank regions 220 and light emission regions 230 divided by the bank regions 220; a droplet material spotting precision test region 210 disposed besides the pixel region 110; function layers disposed on the light emission regions 230; and a spotting precision test layer 226 disposed on the droplet material spotting precision test region 210.例文帳に追加

本発明の発光用基板１００３は、バンク領域２２０およびバンク領域２２０によって区画された発光領域２３０を有する画素領域１１０と、画素領域１１０以外に設けられた着弾精度試験用領域２１０と、発光領域２３０に設けられた機能層と、着弾精度試験用領域２１０に設けられた着弾精度試験用層２２６と、を備える。 - 特許庁