意味 | 例文 (999件) |
点粒子の部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 1397件
前記導電性粒子は、高融点金属粒子と、低融点金属粒子とを含む。例文帳に追加
The conductive particles contains high melting point metal particles and low melting point metal particles. - 特許庁
荷電粒子ビームの焦点評価方法及び荷電粒子線装置例文帳に追加
FOCAL EVALUATION METHOD OF CHARGED PARTICLE BEAM AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE - 特許庁
荷電粒子線装置の焦点調整方法及び荷電粒子線装置例文帳に追加
FOCUS ADJUSTING METHOD OF CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS, AND THE CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS - 特許庁
荷電粒子ビームの焦点合わせ方法及び荷電粒子ビームの非点調整方法例文帳に追加
FOCUSING METHOD OF CHARGED PARTICLE BEAM AND ASTIGMATISM ADJUSTING METHOD OF CHARGED PARTICLE BEAM - 特許庁
圧密化を磁性粒子の融点と絶縁材被覆粒子の融点との間の温度域で行う。例文帳に追加
The pressure densification is performed in a temperature range between a melting point of the magnetic particles and a melting point of the insulating material coating particles. - 特許庁
絶縁粒子4のガラス転移点は導電粒子3のガラス転移点よりも小さい。例文帳に追加
The glass transition point of the insulating particles 4 is smaller than that of the conductive particles 3. - 特許庁
粒子を撮像して得られた画像データの粒子の輪郭の屈曲点の数と粒子の周囲長を求め、屈曲点の数と周囲長とから粒子の凹凸度を求めることを特徴とする粒子画像解析方法。例文帳に追加
This particle image analysis method is characterized by determining the number of inflection points of a contour of particles and the peripheral length of the particles in image data acquired by imaging the particles, and thereby determining the irregularity degree of the particles from the number of inflection points and the peripheral length. - 特許庁
成長起点3は微粒子であってもよい。例文帳に追加
The growth starting points 3 may be particulates. - 特許庁
荷電粒子線装置および自動非点収差調整方法例文帳に追加
CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS AND AUTOMATIC ASTIGMATISM ADJUSTING METHOD - 特許庁
磁性粒子のキュリー点よりも低温で焼成する。例文帳に追加
Sintering process is performed at a temperature under a Curie point of the magnetic particles. - 特許庁
荷電粒子線装置および自動非点収差調整方法例文帳に追加
CHARGED PARTICLE RAY DEVICE AND AUTOMATIC ASTIGMATIC ADJUSTING METHOD - 特許庁
荷電粒子を眼点内へ取り込みます例文帳に追加
And allows charged particles to enter the eyespot - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
粒子やすす及び 有害ガスの観点からみると例文帳に追加
Pollute in terms of particles and soot - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
これが、再点火された炭素の粒子です。例文帳に追加
Those are the particles of carbon re-ignited a second time. - Michael Faraday『ロウソクの科学』
走査形荷電粒子顕微鏡、並びに走査形荷電粒子顕微鏡の非点収差補正方法例文帳に追加
SCANNING TYPE CHARGED PARTICLE MICROSCOPE, AND ITS ASTIGMATISM CORRECTING METHOD - 特許庁
荷電粒子ビーム装置の非点収差補正方法及び該補正方法を用いた荷電粒子ビーム装置例文帳に追加
CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS ASTIGMATISM CORRECTING METHOD, AND CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS USING THE SAME - 特許庁
粒子ビームの非点収差の支援による粒子光学装置における集束を実行する方法例文帳に追加
METHOD OF EXECUTION FOR FOCUSING IN PARTICLE OPTICAL DEVICE WITH ASSISTANCE OF ASTIGMATIC PARTICLE BEAM - 特許庁
磁性接点材が、磁性粒子と、この磁性粒子が分散した分散媒とを含む。例文帳に追加
The magnetic contact material includes magnetic particles and a dispersion medium containing the dispersed magnetic particles. - 特許庁
荷電粒子線装置、および、荷電粒子線装置における非点収差補正調整方法例文帳に追加
CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, AND ASTIGMATISM CORRECTION ADJUSTING METHOD IN IT - 特許庁
隣接粒子との接触点へレーザビームを照射して球形微粒子同士を融着させる。例文帳に追加
Laser beam is radiated to a contact point of the vicinal particles to fuse the spherical particles. - 特許庁
2012年7月4日時点で ヒッグス粒子は 素粒子物理学の標準モデルにおいて例文帳に追加
As of july 4, 2012, the higgs boson is the last fundamental piece - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
荷電粒子ビーム描画装置、荷電粒子ビーム描画方法及び荷電粒子ビームの非点補正方法例文帳に追加
CHARGED PARTICLE BEAM LITHOGRAPHY DEVICE, CHARGED PARTICLE BEAM LITHOGRAPHY METHOD, AND METHOD OF CORRECTING ASTIGMATISM OF CHARGED PARTICLE BEAM - 特許庁
粒子が滞留する特異点が生じないようにして、粒子を高効率のもとで輸送できるようにした粒子輸送装置を構成する。例文帳に追加
To provide a particle transport device, capable of transporting particles with high efficiency by eliminating a singular point at which the particles stay. - 特許庁
また、上記コート層3は、ナイロン粒子,ウレタン粒子,シリカ粒子等の粒子4を含有しており、その粒子4の平均粒径は、上記ゴム層2の外周粗面の十点平均粗さ(R_Z )以下に設定されている。例文帳に追加
The layer 3 contains particles 4 such as nylon particles, urethane particles and silica particles, and the average particle size of the particles 4 is set to be equal to or under the ten-point average roughness (Rz) of the outer peripheral rough surface of the layer 2. - 特許庁
ナノメートルオーダの一次粒子径を持つ一種の単体微粒子または二種以上の固溶体微粒子である基粒子の表面に貴金属を担持してなる触媒粒子において、熱による活性点の減少を抑制する。例文帳に追加
To suppress decrease of an active site due to heat in a catalyst particle made by making a substrate particle comprising one kind of fine particles or two or more kinds of solid solution fine particles having a nano-meter order primary particle size carry a noble metal on the surface thereof. - 特許庁
硫黄粒子および導電性粒子を含有する複合粒子からなる電極活物質の製造に際して、硫黄粒子と導電性粒子とを、硫黄粒子の融点以上沸点未満、かつ導電性粒子の融点未満の加熱温度で加熱しながら混合することによって、複合粒子を調製する。例文帳に追加
In a manufacturing process of the electrode active material composed of complex particles containing sulfur particles and conductive particles, the complex particles are prepared by mixing the sulfur particles and the conductive particles by heating at a temperature that is the melting point or above and below the boiling point of sulfur, and is below the melting point of the conductive particles. - 特許庁
荷電粒子線露光装置及び非点ボケ、非点歪の補正方法例文帳に追加
CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE APPARATUS AND METHOD OF CORRECTING ASTIGMATIC BLUR AND ASTIGMATIC DISTORTION - 特許庁
電極(1)は、金属焼結体の基材中に分散する高融点のタングステン粒子(W)と、タングステン粒子(W)の担持材としてタングステン粒子(W)に密着し且つタングステン粒子(W)より低融点のニッケル(Ni)とを含む。例文帳に追加
The electrode (1) contains refractory tungsten particles (W) dispersed in the base material of the metal sintered body and contains a nickel powder (Ni) having a lower melting point than that of the tungsten particles (W) which adheres intimately to the tungsten particles (W) as the carrying material of the tungsten particles (W). - 特許庁
接点Aが、導電性粒子10と硬質粒子11とを含有しており、硬質粒子11を、熱可塑性樹脂からなる基板4に食い込ませて、接点Aの表面からの硬質粒子11の突出をなくした。例文帳に追加
The contact A contains conductive particles 10 and rigid particles 11, which latter are made to bite into a board 4 made of thermoplastic resin to do away with protrusion of the rigid particles from the surface of the contact A. - 特許庁
付着工程では、結晶性樹脂および着色剤を含み、軟化点が110℃以下であり、円形度が0.960以下のトナー母粒子と、樹脂微粒子とを撹拌混合し、トナー母粒子表面に樹脂微粒子を付着させて樹脂微粒子付着トナー母粒子を得る。例文帳に追加
In the adhesion step, toner base particles with the adhesion of resin fine particles are obtained by mixing under stirring toner base particles which contain a crystalline resin and a colorant and has a softening point of 110°C or lower and a circularity of 0.960 or smaller with resin fine particles so as to make the resin fine particles adhere to the surfaces of the toner base particles. - 特許庁
基材11上に接着剤層12を介して形成された一次粒子13と、該一次粒子13の少なくとも粒子頂点部分を覆う二次粒子14と、二次粒子14を有する一次粒子13を被覆する低表面張力被覆層15とからなるものである。例文帳に追加
The non-adhesive structure comprises a primary particle 13 formed via an adhesive agent layer 12 on a base material 11, a secondary particle 14 covering at least the top portion of the primary particle 13, and a low surface tension coating layer 15 covering the primary particle 13 having the secondary particle 14. - 特許庁
少なくとも錫を含有し、融点が230℃以下の低融点金属A粒子5aと、少なくとも錫を含有し、低融点金属A粒子5aよりも融点が低い低融点金属B粒子5bと、融点が230℃を超える低抵抗金属粒子5cと、樹脂とを含有することを特徴とする例文帳に追加
This conductive paste contains: low-melting-point metal A particles 5a containing at least tin and having melting points below 230°C; low-melting-point metal B particles 5b containing at least tin and having melting points lower than those of the particles 5a; low-resistance metal particles 5c having melting points over 230°C; and a resin. - 特許庁
前記金属成分が、高融点金属粒子表面に、中融点金属粒子から形成された中融点金属層と、低融点金属粒子から形成された低融点金属層とをこの順に有する多層金属粒子である態様などが好ましい。例文帳に追加
The metal component is preferably a multi-layer metal particle having an intermediate melting-point metal layer formed from the intermediate melting-point metal particle, and a low melting-point metal layer formed from the low melting-point particle in this order on the surface of the high melting-point metal particle. - 特許庁
本発明に係る導電性粒子の製造方法では、基材粒子と、基材粒子の表面上に形成された低融点金属層とを有する導電性粒子を得る。例文帳に追加
In the method of producing conductive particles, conductive particles having base material particles, and a low melting point metal layer formed on the surface of the base material particles are obtained. - 特許庁
分散液調製工程は、樹脂被覆ワックス粒子、結着樹脂粒子、着色剤粒子および第1ワックスよりも融点の低い第2ワックス粒子を、水系媒体中に分散させて分散液を得る。例文帳に追加
In the dispersion liquid preparation step, the resin-coated wax particles, binder resin particles, colorant particles and second wax particles having a melting point lower than that of the first wax are dispersed in an aqueous medium to obtain a dispersion liquid. - 特許庁
融点降下が起こるサイズ領域にある金属微粒子を含有していても、耐熱性に優れ、加熱処理による金属微粒子の粒子サイズや形状の変化が抑制された金属微粒子含有組成物の提供。例文帳に追加
To provide a metal fine particle-containing composition excellent in heat resistance although containing a metal fine particle in a size range where melting point depression occurs, and suppressed in alteration of particle size or shape of the metal fine particle due to a heat treatment. - 特許庁
固体粒子集合体からの粒子間物質の取出し装置における取出し終了時点検知方法、および固体粒子集合体からの粒子間物質の取出し装置、ならびに溶液の物性値差検知方法。例文帳に追加
METHOD FOR DETECTION OF TAKEOUT COMPLETION IN APPARATUS FOR TAKING OUT INTER-PARTICLE SUBSTANCE FROM SOLID PARTICLE AGGREGATE, APPARATUS FOR TAKEOUT THEREOF AND METHOD FOR DETECTION OF DIFFERENCE IN PHISICAL-PROPERTY VALUE OF SOLUTION - 特許庁
有機微粒子A:SP値18.414〜30.69(MPa)^1/2、沸点120℃以上の水溶性有機溶媒に溶解又は膨潤する水不溶の有機微粒子で、Tgが70℃以上で、平均粒子径が100nm以下の有機微粒子。例文帳に追加
The organic fine particle A is an organic fine particle insoluble in water and soluble in or swollen by a water soluble organic solvent of 18.414-30.69 (MPa)^1/2 in SP value and ≥120°C in boiling point, and ≥70°C in Tg and ≤100 nm in average particle size. - 特許庁
走査形荷電粒子顕微鏡、並びに走査形荷電粒子顕微鏡の焦点合わせ方法及び非点収差補正方法例文帳に追加
SCANNING TYPE CHARGED PARTICLE MICROSCOPE, METHOD OF FOCUSING IT AND METHOD OF COMPENSATING ITS ASTIGMATISM - 特許庁
即ち、異形粒子群1個が平面(被研磨基板)と2点以上の点で接触できるか、線または面で接触できる粒子群を意味している。例文帳に追加
In other words, one of the deformed particle groups can be contact on a plane (polished substrate) and two points, or the particle group can be contacted on a line or plane. - 特許庁
本発明に係る導電性粒子の製造方法では、基材粒子52と、低融点金属層を形成するための低融点金属粒子53と、樹脂粒子54とを接触させ、せん断圧縮によって低融点金属粒子53を溶融させることにより、基材粒子の表面上に低融点金属層を形成する。例文帳に追加
In the method of producing conductive particles, a low melting point metal layer is formed on the surface of the base material particles, by bringing the base material particles 52, the low melting point metal layer 53 for forming a low melting point metal layer, and resin particles 54 into contact, and melting the low melting point metal layer 53 by shear compression. - 特許庁
走査型荷電粒子顕微鏡における自動焦点システム例文帳に追加
AUTOMATIC FOCUSING SYSTEM IN SCANNING TYPE CHARGED PARTICLE MICROSCOPE - 特許庁
試料に対する荷電粒子の焦点を調整する合焦制御方法例文帳に追加
FOCUSING CONTROL METHOD FOR ADJUSTING FOCUS OF CHARGED PARTICLE ON SAMPLE - 特許庁
高空間分解能および多視点結像用の荷電粒子ビーム装置例文帳に追加
CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE FOR HIGH SPATIAL RESOLUTION AND MULTI-VIEWPOINT IMAGE FORMATION - 特許庁
非点補正器、荷電粒子線露光装置及び半導体装置の製造方法例文帳に追加
MANUFACTURE OF ASTIGMATIC CORRECTOR, CHARGED PARTICLE RAY EXPOSING DEVICE AND SEMICONDUCTOR - 特許庁
遺体が火葬されたら 微粒子はどうなる? 1000度未満の融点は?例文帳に追加
Since the body was cremated, even incompetently, what would happen to any transferred particulates with a melting point of less than 1,000 degrees? - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
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原題:”THE CHEMICAL HISTORY OF A CANDLE” 邦題:『ロウソクの科学』 | This work has been released into the public domain by the copyright holder. This applies worldwide. (C) 1999 山形浩生 本翻訳は、この版権表示を残す限りにおいて、訳者および著者にたいして許可をと ったり使用料を支払ったりすることいっさいなしに、商業利用を含むあらゆる形で 自由に利用・複製が認められる。 プロジェクト杉田玄白 正式参加作品。詳細はhttp://www.genpaku.org/を参照のこ と。 |
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