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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > 試料位置の意味・解説 > 試料位置に関連した英語例文

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試料位置の部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 1321



例文

試料位置出し機構例文帳に追加

SAMPLE POSITIONING MECHANISM - 特許庁

試料位置決め装置例文帳に追加

TESTPIECE POSITIONING DEVICE - 特許庁

試料位置決め装置例文帳に追加

SAMPLE POSITIONING DEVICE - 特許庁

試料位置決め装置,試料測定装置例文帳に追加

SAMPLE-POSITIONING APPARATUS AND SAMPLE-MEASURING APPARATUS - 特許庁

例文

試料位置矯正装置例文帳に追加

SAMPLE DISH POSITION CORRECTING DEVICE - 特許庁


例文

試料面の高さ位置調整方法例文帳に追加

HEIGHT POSITION ADJUSTING METHOD OF SAMPLE FACE - 特許庁

さらに前記試料保持装置は試料位置決め部材を有し、試料の搭載後に試料位置決めを行う。例文帳に追加

Furthermore, the sample holding device has a positioning member of the sample, and positioning of the sample is carried out, after the mounting of the sample. - 特許庁

本発明は、試料試料キャリアとの良好な位置合わせを実現する。例文帳に追加

The present invention attains better alignment of the sample to the sample carrier. - 特許庁

試料検査装置、被検査試料の画像位置合わせ方法及びプログラム例文帳に追加

SAMPLE INSPECTING DEVICE, AND METHOD AND PROGRAM FOR POSITIONING IMAGE OF SAMPLE TO BE INSPECTED - 特許庁

例文

位置決め機構8により、試料装着治具2を試料マスク4に対して位置決めできるので、試料3の位置決めが容易になる。例文帳に追加

Since a sample mounting means 2 can be positioned with respect to a sample mask 4 by a positioning mechanism 8, the positioning of the samples 3 becomes easy. - 特許庁

例文

パレット(2)は、試料保持位置試料解除位置との間を移動可能な試料保持部材(4)と、試料保持部材(4)を付勢する付勢手段(9)と、試料保持部材(4)に設けられている試料開放用係合部(7)とを具備している。例文帳に追加

The pallet (2) includes a sample holding member (4) movable between a sample holding position and a sample releasing position, urging means (9) for urging the sample holding member (4), and a sample release engaging part (7) provided in the sample holding member (4). - 特許庁

筐体1の上面に、試料吸引位置7と、試料分注位置19と、試料プローブを試料吸引位置7と試料分注位置19の間で移動させるための試料分注機構11と、試料分注機構11の移動範囲の上方及び側方を覆う保護カバー27を備えている。例文帳に追加

The upper surface of the housing 1 is equipped with the sample suction position 7, a sample dispensing position 19, the sample dispensing mechanism 11 for moving the sample probe between the sample chucking position 7 and the sample dispensing position 19 and the protective cover 27 for covering the upper and lateral parts of the moving range of the sample-dispensing mechanism 11. - 特許庁

接触位置は、検出棒2と試料Sの間、試料Sと試料台9の間、もしくは、試料Sを二分割した間である。例文帳に追加

The contact position is between the detection rod 2 and the sample S, between the sample S and a sample stand 9 or between two portions formed by halving the sample S. - 特許庁

試料の軸を試料台の回転軸に合わせ、省スペースにおいて試料位置調整を行う顕微鏡用試料台を提供する。例文帳に追加

To provide a sample table for a microscope in which sample table aligns the shaft of a sample with the rotating shaft of the sample table to adjust the position of the sample while saving space. - 特許庁

不要成分類似試料を溶出位置確認試料として用いて溶出位置を決定する。例文帳に追加

An unnecessary component analogous sample is used as an elution position confirming sample to determine an elution position. - 特許庁

試料観測位置とATR法で実際に測定する試料測定位置とのずれをなくす。例文帳に追加

To remove displacement between a sample observation position and a sample measuring position for actually measuring by an ATR method. - 特許庁

さらに、カム機構30により、把持機構20を試料保持の閉位置試料開放の開位置とに切り換えるので、試料保持が容易になる。例文帳に追加

Further, since the grasping mechanism 20 is changed over to a sample holding closed position and a sample releasing open position by a cam mechanism 30, the holding of the samples becomes easy. - 特許庁

ウエハ試料押圧部材8はウエハ試料Wを前記試料位置決め部材5に押圧して位置決め固定する。例文帳に追加

The wafer sample pressing member 8 positions and fixes the wafer sample W, by pressing it against a sample positioning member 5. - 特許庁

本発明にかかる試料ステージは、試料台9を載せる試料ステージであって、試料台9を水平方向に移動させて、当該試料台の位置を調整する試料ステージ駆動機構を備えている。例文帳に追加

The sample stage is used to be placed on with a sample base 9 and has a sample stage driving mechanism for adjusting the position of the sample base 9 by moving the sample base 9 to a horizontal direction. - 特許庁

試料載置面にウエハ試料Wを載置した状態で、作動部材13を作動位置から離隔位置に移動すると、ウエハ試料押圧部材8を支持するウエハ試料押圧用移動部材6は試料自由位置から前記試料固定位置に向けて移動する。例文帳に追加

When an operating member 13 is moved from an operating position to a separated position in a state mounted with the wafer sample W in a sample mounting face, a wafer sample pressing moving member 6 for supporting a wafer sample pressing member 8 is moved from a sample free position toward a sample fixing position. - 特許庁

試料管ホルダ用の試料管破断検出器は破壊された試料管に対応する延伸位置試料管ホルダ内の破壊されない試料管に対応する撤退位置とを有する摺動可能なプランジャを含んでいる。例文帳に追加

The sample tube fracture detector for the sample tube holder includes plungers slidable between an extended location corresponding to fractured test tubes and a retreated location corresponding to unfractured test tubes in the test tube holder. - 特許庁

液体試料をこぼすことなく短時間で試料容器を液体試料採取位置から混合部の位置まで移動できる粒径分布測定装置の試料調整部における試料容器移動方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a sample container moving method in a sample preparation part of a particle size distribution measuring device capable of moving the sample container from the liquid sample collection position to the position of a mixing part in a short time without spilling the liquid sample. - 特許庁

電子顕微鏡における試料位置補正方式例文帳に追加

SAMPLE POSITION CORRECTION METHOD IN ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過電子顕微鏡試料位置検出方法及び装置例文帳に追加

SAMPLE POSITION DETECTING METHOD AND DEVICE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

位置制御ユニットを含む試料液体分析システム例文帳に追加

SAMPLE LIQUID ANALYZING SYSTEM CONTAINING POSITION CONTROL UNIT - 特許庁

試料と電極との相互の位置調整を容易に行う。例文帳に追加

To easily perform mutual positional adjustment of a sample and an electrode. - 特許庁

試料観察装置、エッジ位置算出装置、及びプログラム例文帳に追加

SAMPLE OBSERVATION APPARATUS, EDGE POSITION CALCULATION DEVICE, AND PROGRAM - 特許庁

電子線描画装置および試料位置の補正方法例文帳に追加

ELECTRON BEAM DRAWER AND CORRECTING METHOD FOR SAMPLE POSITION - 特許庁

試料位置検知端部エフェクタおよびその使用方法例文帳に追加

SAMPLE POSITION DETECTION END EFFECTOR AND METHOD FOR USING THE SAME - 特許庁

超音波顕微鏡の試料位置検出装置例文帳に追加

SAMPLE POSITION DETECTION DEVICE OF ACOUSTIC MICROSCOPE - 特許庁

試料検査装置、画像位置合わせ方法及びプログラム例文帳に追加

SAMPLE INSPECTION DEVICE, IMAGE ALIGNMENT METHOD AND PROGRAM - 特許庁

試料液流の位置制御方法および装置例文帳に追加

METHOD AND DEVICE FOR CONTROLLING POSITION OF SAMPLE LIQUID CURRENT - 特許庁

駆動機構は、試料位置を動かす。例文帳に追加

The driving mechanism moves the position of the sample. - 特許庁

荷電粒子線装置の試料位置決め装置例文帳に追加

SAMPLE POSITIONING DEVICE OF CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS - 特許庁

超音波顕微鏡の試料位置検出装置例文帳に追加

SAMPLE POSITION DETECTING DEVICE FOR ULTRASONIC MICROSCOPE - 特許庁

試料検査装置、画像位置合わせ方法及びプログラム例文帳に追加

SPECIMEN INSPECTION DEVICE, IMAGE ALIGNMENT METHOD, AND PROGRAM - 特許庁

板状の試料試料台の所定の位置に吸着させるために、試料の外周面を押さえて試料を所定の位置に保持したまま、試料を平坦化や吸着しても、試料を擦らずに発塵しない位置決め装置を提供する。例文帳に追加

To provide a positioning device that does not rub off a sample not to scatter a dust even the sample is flattened and sucked with the circumference surface of the sample pressed and with the sample held to the predetermined position in order to keep the plate-like sample sucked to the predetermined position of the sample support. - 特許庁

この二つの位置の間で試料Sを移動させるための試料ステージ7が設けられている。例文帳に追加

A sample stage 7 is provided to move the sample S between the two positions. - 特許庁

照射スポットに位置する試料4の試料面の一部が励起して散乱光を発する。例文帳に追加

A portion of the sample surface of the sample 4 located at an irradiation spot is excited, and generates scattering light. - 特許庁

試料位置移動はレバー32により試料台支持部材31を動かすことにより行なう。例文帳に追加

A sample position shift is carried out by a lever 32, by moving the sample-table holding member 31. - 特許庁

反りや撓みを生じていない状態でウエハ試料試料ホルダに位置決め固定すること。例文帳に追加

To position and fix a wafer sample in a sample holder, in a state of not causing warpages or deflection. - 特許庁

ピックアップ試料の垂直位置出し方法と垂直方向を示す印を持つ試料例文帳に追加

VERTICAL POSITIONING METHOD OF PICKED-UP SAMPLE, AND SAMPLE HAVING MARK FOR SHOWING VERTICAL DIRECTION - 特許庁

偏光解析装置100は、対象試料114と測定試料124の高さと傾きの調整のために、試料位置出し機構を備えている。例文帳に追加

The polarimetric analysis apparatus 100 is provided with the sample positioning mechanism for adjusting heights and inclinations of the target sample 114 and the measurement sample 124. - 特許庁

駆動手段5は、持上機構2によって試料3が試料台4から持ち上げられている間に、位置ずれ量に基いて試料台4を駆動させる。例文帳に追加

The means 5 drives the sample 4 based on the deviation amount while the sample 3 is lifted from the base 4 by the mechanism 2. - 特許庁

試料位置出し機構は対象試料と測定試料の高さ傾き調整手段300と400を備えている。例文帳に追加

The sample positioning mechanism has height and inclination-adjusting means 300 and 400 for the target sample and the measurement sample respectively. - 特許庁

試料観察時には試料位置が安定し、かつ試料をスムーズに移動できる試料ステージ及びその試料ステージを用いた顕微鏡又は測定器を提供すること。例文帳に追加

To provide a sample stage which stabilizes a sample position during sample observation and can smoothly move a sample and a microscope or measuring instrument using this sample stage. - 特許庁

試料が大きくなったことから試料台からのエアー吹き出しでは、十分試料が浮上しないため、試料試料台の摺動抵抗が大きくなり、アクチュエータが十分機能せず、必要な位置決め精度を確保できない。例文帳に追加

To keep accuracy of testpiece positioning in a positioning device by using an elevation pin having reduced sliding resistance even if the testpiece becomes large in size. - 特許庁

装置の機械精度に依存することなく、試料の走査により、その検出データから迅速に且つ確実に試料位置を判別できる試料分析装置における試料保持装置および試料分析方法を提供する。例文帳に追加

To provide a holding device for an analytical sample and an analytical method for the sample in an analytical device for the sample which can speedily and certainly distinguish a sample position from detected data by scanning the sample without depending on the mechanical accuracy of the device. - 特許庁

試料試料台の所定の位置位置決めする際の位置決め精度を、コストをかけずに向上させる。例文帳に追加

To improve a positioning accuracy in the case of positioning a sample at a predetermined position of a sample base without cost. - 特許庁

例文

試料を収容する試料容器を複数個保持可能な試料容器保持手段と、該試料容器保持手段に保持された試料容器に貼付された識別情報を読み取る識別情報読取手段と、を備えた自動分析装置において、前記試料容器保持手段は、保持している試料容器の位置を変更する試料容器移動手段を備え、かつ前記識別情報読取手段は、前記試料容器移動手段による試料容器の移動とは関係なく、試料容器保持手段に保持されている任意の位置試料容器の識別情報を読み取るための識別情報読取位置変更手段と、を備えている自動分析装置。例文帳に追加

The identification information reading means comprises an identification information read position changing means for reading the identification information of a sample vessel at an arbitrary position held by the sample vessel holding means, regardless of the travel of the sample vessel by the sample vessel moving means. - 特許庁

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