「Defect Density」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To reduce defect density in a semiconductor element substrate.例文帳に追加

半導体素子用基板において、欠陥密度を低減する。 - 特許庁

To form a low-defect density crystalline silicon film.例文帳に追加

欠陥密度の小さい結晶性珪素膜を形成する - 特許庁

To provide an AIN layer of large area with small defect density.例文帳に追加

欠陥密度が小さく且つ大面積のＡｌＮ層を得る。 - 特許庁

VACANCY DOMINATED SILICON HAVING LOW DEFECT DENSITY例文帳に追加

低欠陥密度の空孔優勢シリコン - 特許庁

SELF-INTERSTITIAL DOMINATED SILICON HAVING LOW DEFECT DENSITY例文帳に追加

低欠陥密度の自己格子間物優勢シリコン - 特許庁

METHOD OF MEASURING DEFECT DENSITY IN SINGLE CRYSTAL例文帳に追加

単結晶の欠陥密度測定方法 - 特許庁

To minimize defect density in an SiGe layer.例文帳に追加

ＳｉＧｅ層中の欠陥密度を最小化することができる。 - 特許庁

SOS SUBSTRATE REDUCED IN SURFACE DEFECT DENSITY例文帳に追加

表面欠陥密度が少ないＳＯＳ基板 - 特許庁

The defect density generated by a lattice mismatching is reduced, and the defect distribution can be distributed.例文帳に追加

格子不整合によって発生する欠陥密度を減少させ、欠陥分布を分散させることができる。 - 特許庁

The monthly fatal defect density of the reference product is multiplied by a calculated average fatality ratio to calculate the monthly fatal defect density of the yield prediction subject product.例文帳に追加

リファレンス製品の月別致命欠陥密度に平均致命率の比をかけ、予測対象製品の月別致命欠陥密度を算出する。 - 特許庁

To provide a method of growing an artificial quartz crystal having low linear defect density and the artificial quartz crystal having the low linear defect density.例文帳に追加

線状欠陥密度の低い人工水晶の育成方法、及び線状欠陥密度の低い人工水晶を提供する。 - 特許庁

To separate a low defect density film from a base substrate after growing the low defect density film on the base substrate.例文帳に追加

ベース基板に低欠陥密度膜を形成した後低欠陥密度膜をベース基板から分離させること。 - 特許庁

It is a defect data analysis method to analyze the defect distribution status based on defect position coordinates detected by an inspection device to classify into any one of the distribution characteristics categories among iterations defect, high density defect, line distribution defect, ring/massive distribution defect, and random defect.例文帳に追加

検査装置によって検出された欠陥位置座標に基づいて欠陥の分布状態を解析し、繰り返し欠陥、密集欠陥、線状分布欠陥、環・塊状分布欠陥、ランダム欠陥のうちいずれかの分布特徴カテゴリに分類する。 - 特許庁

METHOD OF REDUCING POOR PLANARIZATION AND DEFECT DENSITY OF SILICON GERMANIUM例文帳に追加

シリコンゲルマニウムの、平坦化及び欠陥密度を減少させる方法 - 特許庁

LOW DEFECT DENSITY SILICON SINGLE CRYSTAL WAFER DOPED WITH NITROGEN AND ITS PRODUCTION例文帳に追加

窒素ド—プした低欠陥シリコン単結晶ウエ—ハおよびその製造方法 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING SILICON SEMICONDUCTOR WAFER HAVING LOW DEFECT DENSITY例文帳に追加

低欠陥密度を有するシリコン半導体ウエハの製造方法 - 特許庁

POLARIZATION INVERSION METHOD BY DEFECT DENSITY CONTROL AND OPTICAL WAVELENGTH CONVERSION ELEMENT例文帳に追加

欠陥密度制御による分極反転法および光波長変換素子 - 特許庁

PRODUCTION OF NITROGEN-DOPED, LOW DEFECT DENSITY SILICON SINGLE CRYSTAL例文帳に追加

窒素ドープした低欠陥シリコン単結晶の製造方法 - 特許庁

EPITAXIAL STRUCTURE HAVING LOW DEFECT DENSITY, AND PRODUCTION PROCESS OF THE SAME例文帳に追加

低欠陥密度を有するエピタキシャル構造およびその製造方法 - 特許庁

SILICON SINGLE CRYSTAL WAFER HAVING LOW CRYSTAL DEFECT DENSITY AND ITS PRODUCTION例文帳に追加

結晶欠陥の少ないシリコン単結晶ウエーハ及びその製造方法 - 特許庁

To provide a semiconductor element employing a semiconductor film of low defect density.例文帳に追加

低欠陥密度の半導体膜を用いた半導体素子を提供する - 特許庁

To obtain a substrate for a semiconductor device having low defect density over a wide range.例文帳に追加

広範囲に亘って欠陥密度が低い半導体素子用基板を得る。 - 特許庁

LOW DEFECT DENSITY VACANCY-DOMINATED SILICON WAFER AND INGOT例文帳に追加

低欠陥密度の空孔優勢シリコンウエハおよびインゴット - 特許庁

To obtain a substrate for semiconductor element having small defect density extending over a wide area.例文帳に追加

広範囲に亘って欠陥密度が小さい半導体素子用基板を得る。 - 特許庁

METHOD OF SIMULATING DENSITY AND SIZE DISTRIBUTION OF DEFECT IN SINGLE CRYSTAL例文帳に追加

単結晶内欠陥の密度分布及びサイズ分布のシミュレーション方法 - 特許庁

To provide a gallium nitride semiconductor layer having a low defect density.例文帳に追加

低欠陥密度を有する窒化ガリウム半導体層を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR EVALUATING GROWN-IN DEFECT DENSITY OF SILICON WAFER例文帳に追加

シリコンウエハのグローン・イン欠陥密度の評価方法 - 特許庁

PROCESS FOR PREPARING LOW DEFECT DENSITY SILICON USING HIGH GROWTH RATE例文帳に追加

高成長速度を用いた低欠陥密度シリコンの製造方法 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING REORIENTED Si OF LOW DEFECT DENSITY例文帳に追加

配向変更された低欠陥密度のＳｉを製造する方法 - 特許庁

An identification of a low-defect density region and a positioning of a semiconductor device formation region are performed by using alternate and periodical formation of a low-defect density region and a high-defect density region.例文帳に追加

横方向成長工程において、低欠陥密度領域と高欠陥密度領域とが交互に周期的に形成されることを利用して、低欠陥密度領域の特定、および半導体素子形成領域の位置決めを行う。 - 特許庁

The GaN layer 10 includes a high-defect region 10a and a low-defect region 10b lower in defect density than the high-defect region 10a, and has a principal surface 10c.例文帳に追加

ＧａＮ層１０は、高欠陥領域１０ａと、高欠陥領域１０ａよりも欠陥密度の低い低欠陥領域１０ｂとを含み、主表面１０ｃを有する。 - 特許庁

The epitaxial wafer 110 includes a high defect region 111 and a low defect region 112 having lower defect density than the high defect region 111, and has a main surface 113 and a backside 114 on the opposite side from the main surface 113.例文帳に追加

エピウエハ１１０は、高欠陥領域１１１と、高欠陥領域１１１よりも欠陥密度の低い低欠陥領域１１２とを含み、主表面１１３と、主表面１１３と反対側の裏面１１４とを有する。 - 特許庁

Also, defect inspection is carried out at a linear recording density equal to or lower than 1/(2 to 4) of a defect size impossible to be error-corrected at the magnetic disk device, and a defect size targeted for acceptance/rejection determination in defect inspection.例文帳に追加

また、磁気ディスク装置でエラー訂正不可能な欠陥サイズであって且つ欠陥検査で合否判定の対象とする欠陥サイズの１／（２〜４）以下の線記録密度で欠陥検査を行うこと。 - 特許庁

To provide a defect inspection method capable of inspecting a defect by setting a size determination region having defect detection sensitivity corresponding to the size of a defect part automatically according to the pattern density.例文帳に追加

パターンの密度に応じて自動的に欠陥部分のサイズに応じた欠陥検出感度を有するサイズ判定領域を設定して欠陥検査できる欠陥検査方法を提供すること。 - 特許庁

By doing this, after the low defect density film is grown preferably on the base substrate, the low defect density film is separated from the base substrate and the device can be formed on the low defective density film.例文帳に追加

こうすることで、ベース基板に好適に低欠陥密度膜を形成した後、低欠陥密度膜をベース基板から分離させ低欠陥密度膜上にデバイスを形成することができる。 - 特許庁

A substrate has a plurality of high-defect regions composed of a crystal having a second average dislocation density higher than a first average dislocation density, in a low-defect region composed of a crystal having the first average dislocation density.例文帳に追加

基板は、第１平均転位密度を有する結晶からなる低欠陥領域中に、第１平均転位密度より高い第２平均転位密度を有する結晶からなる複数の高欠陥領域を有する。 - 特許庁

A value obtained by subtracting a density of a center pixel from a defect surrounding density, which is a density obtained by applying a filter arithmetic operation to the center pixel affected by the defect, is used as a correction amount (S7e).例文帳に追加

傷による影響を受けている画素を中心画素としたフィルタ演算により得られる濃度を傷周辺濃度として、上記傷周辺濃度から上記中心画素の濃度を減算して得られる値を補正量とする（Ｓ７ｅ）。 - 特許庁

The preferred graphene has a defect formed by bonding of a carbon atom to an oxygen atom and the number density of the defect is 0.0001-0.1.例文帳に追加

好ましいグラフェンは、炭素原子が酸素原子と結合してできた欠陥を有し、その数密度は０．０００１以上０．１以下である。 - 特許庁

The defect introduction layer 108 is large in crystal defect density relative to the first nitride semiconductor layer 107 and the second nitride semiconductor layer 109.例文帳に追加

欠陥導入層１０８は、第１の窒化物半導体層１０７及び第２の窒化物半導体層１０９と比べて結晶欠陥密度が大きい。 - 特許庁

To enlarge the control region of defect-free layer depth and fine defect density of the inside in a CZ silicon wafer.例文帳に追加

ＣＺシリコンウエーハにおいて、無欠陥層深さと内部微小欠陥密度の制御範囲を拡大する。 - 特許庁

To detect a processing defect which causes the deterioration of high-density multicolor reproduction, and to perform correction in accordance with the defect.例文帳に追加

高濃度の多重色の色再現の劣化を招くプロセス不良を検出し、それに応じた補正を行う。 - 特許庁

Consequently, the defect densities in the oxide film 12 and at the boundary between the film 12 and the substrate 11 decrease, and an insulating film having low defect density is obtained.例文帳に追加

これにより、酸化膜１２および酸化膜１２と基板１１との界面における欠陥密度が低減し、欠陥密度が低い絶縁膜が得られる。 - 特許庁

SILICON ON INSULATOR STRUCTURE FROM LOW DEFECT DENSITY SINGLE CRYSTAL SILICON例文帳に追加

欠陥密度が低い単結晶シリコンから得られるシリコン・オン・インシュレーター構造体 - 特許庁

The doped silicate glass formed in this way has a low defect density and a small striae width.例文帳に追加

このようにして形成されたドープケイ酸塩ガラスは、欠陥密度が低く脈理幅が小さい。 - 特許庁

To provide a III group nitride semiconductor substrate with low defect density and with reduced warpage.例文帳に追加

欠陥密度が低く、かつ反りの少ないIII族窒化物半導体基板を提供すること。 - 特許庁