「High-Test」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

To extract threshold value test items (test path) with high correctness including an upper limit value, a vicinity value, and an abnormal value, and only items sufficiently needed for threshold value test in the early stage of development.例文帳に追加

正当性が高く、上限値、近傍値、異常値を含む限界値テスト項目（テスト経路）、また、限界値テスト用に十分必要なテスト項目のみを、開発段階の早期に抽出する。 - 特許庁

To provide a probe card capable of desired actual operation test of a semiconductor device by means of an existing LSI tester even if both a low-speed test signal and a high-speed test signal are necessary.例文帳に追加

低速テスト信号と高速テスト信号の双方が必要な場合であっても、既存のＬＳＩテスタを使用して、半導体装置の所望の実動作試験を行えるプローブカードの提供。 - 特許庁

To provide a device for generating masking data for test which eliminates information leakage of production data in creating test data, and high consistency and validity with original data as a test data.例文帳に追加

テストデータを作成することにおいて、本番データの情報漏洩を無くし、なおかつテストデータとして元のデータとの整合性・有効性が高いテスト用マスキングデータ生成装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test apparatus, a semiconductor test apparatus control method, a program, and a storage medium which generate a large-current load with high precision only by functions of a test apparatus.例文帳に追加

テスト装置の機能のみで大電流負荷を高精度に生成することができる半導体試験装置、半導体試験装置の制御方法、プログラム、及び記録媒体を提供する。 - 特許庁

To provide an interface test circuit and a method including a high-speed input/output circuit (HSIO) test circuit and method which can be used for assembled self-test (BIST).例文帳に追加

組込み自己試験（ＢＩＳＴ）に用いることができる高速入力／出力回路（ＨＳＩＯ）試験回路及び方法を含むインタフェース試験回路及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test apparatus capable of concurrently attaining high reliability of product test and prevention of missing of a test cable and of remarkably improving convenience.例文帳に追加

本発明は、製品テストの信頼性向上とテストケーブルの紛失防止とを同時に実現でき、利便性を著しく向上できるテスト装置を提供することを目的とするものである。 - 特許庁

A low-speed test pattern generated by an external low-speed LSI tester is input to be transmitted to an inner circuit by converting the input low-speed test pattern to a high-speed test pattern.例文帳に追加

外部の低速ＬＳＩテスタから発生された低速のテストパターンを入力し、この入力した低速のテストパターンを高速のテストパターンに変換して内部回路に与える。 - 特許庁

To provide a test burn-in device which realizes a self diagnostic test in a low-temperature or high-temperature state and also enables a simpler self diagnostic test.例文帳に追加

本発明の課題は、低温又は高温状態における自己診断試験を実現するとともに、より簡便な自己診断試験を可能とするテストバーンイン装置を提供することである。 - 特許庁

To provide a vibration test device performing a sweep test with constant velocity amplitude and a sweep test with constant acceleration amplitude in a wide frequency band including a high frequency region.例文帳に追加

高周波域を含めた広い周波数帯において速度振幅一定スイープ試験及び加速度振幅一定スイープ試験を行うことのできる振動試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a drop tester and a drop test method capable of easily dropping test objects under fixed conditions and having high reproducibility of test environments without spending much labor.例文帳に追加

一定の条件下で試験対象物を落下させるのが容易で、かつ労力を費やすことなく、試験環境の再現性が高い落下試験装置および落下試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a leakage testing device capable of measuring accurately the pressure inside a test object without increasing test man-hours, and detecting leakage from the test object with extremely high accuracy.例文帳に追加

被試験体内の圧力を、試験工数を増加することなく正確に計測し、被試験体の漏れを極めて高い精度で検出することができる漏洩試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an air leakage test method and an air leakage test device capable of executing under the atmospheric pressure without putting the whole test object product into a vacuum container, and realizing the quantification and high accuracy of the leakage amount.例文帳に追加

検査対象物全体を真空容器に入れることなく大気圧下で行え、かつ漏れ量の定量化、高精度化が実現できる気密漏れ検査方法と装置を提供する。 - 特許庁

The test circuit 30 is used for shipping test of the 8 pin microcomputer, and outputs from the 2 input Ex-OR circuit EX1 a test enable signal Test Enable being a "High" level signal based on the test clock signal TCLK input from the terminal Pad 1 being the test terminal.例文帳に追加

テスト回路３０は８ピンマイコンの出荷テストなどを行うときに使用され、テスト端子である端子Ｐａｄ１から入力されるテストクロック信号ＴＣＬＫにもとづいて、２入力Ｅｘ−ＯＲ回路ＥＸ１から“Ｈｉｇｈ”レベルの信号であるテストイネーブル信号Ｔｅｓｔ Ｅｎａｂｌｅが出力される。 - 特許庁

To provide a bit synchronization circuit which can cope with a high speed transmission rate, which has high reliability and the test of which is easy.例文帳に追加

高速の通信速度に対応可能で信頼性の高い、かつ、テストが容易であるビット同期回路を提供する。 - 特許庁

Therefore, color adjustment with high accuracy can be performed based on the position of the color test image detected with high accuracy.例文帳に追加

従って、精度良く検出した色テスト画像の位置に基づいて、精度の良い色合わせ調整を行うことができる。 - 特許庁

To provide: a printed circuit board test-assisting apparatus that can efficiently assist in conducting an actual measurement test after a high-density mounting printed board is manufactured; a printed circuit board test-assisting method; and a printed circuit board test-assisting program.例文帳に追加

高密度実装のプリント基板の製造後における実測試験を効率的に支援することのできるプリント基板試験支援装置、プリント基板試験支援方法、及びプリント基板試験支援プログラムを提供することを課題とする。 - 特許庁

Thereby, the test pattern signal can be supplied at a high frequency from a test control device 100, and it is unnecessary for the test control device 100 to directly read out output signals from the test devices DUT to be tested.例文帳に追加

このため、テスト制御装置１００から、高い周波数でテストパターン信号を供給することができ、また、テスト制御装置１００が被試験デバイスＤＵＴからの出力信号を直接読み込む必要が無くなる。 - 特許庁

Next, the room temperature test is performed, and a method of testing the semiconductor device accepts or reject the memory cell arrays 11a to 11n on the basis of the high temperature test result written on the memory cell arrays 11a to 11n and the room temperature test result of the room temperature test.例文帳に追加

次いで、常温試験を行い、メモリセルアレイ１１ａ，１１ｂ，〜，１１ｎに書き込まれた高温試験結果と、常温試験の常温試験結果とに基づいて、メモリセルアレイ１１ａ，１１ｂ，〜，１１ｎの合否判定を行う。 - 特許庁

To verify, in a short time, the operation of a connection mechanism with high reliability by automatically determining the best combination of a test program with a load program with high load effects and performing a long time load test under high load.例文帳に追加

負荷効果の高い試験プログラムと負荷プログラムを最良な組み合わせを自動的に決定して高負荷による長時間負荷試験を行って短時間で信頼性の高い接続機構の動作検証を可能とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and a method for manufacturing semiconductor device which realizes high accuracy DC current test as well as high integration and high speed.例文帳に追加

高集積化あるは高速化を図りつつ、高精度での直流電流試験を実現した半導体装置とその製造方法を提供する。 - 特許庁

A test order setting part 62 provided in the tester 36 calculates a failure rate for each test item based on a plurality of tested results obtained by testing a plurality of solid-state imaging devices, and rearranges a test order of each test item in order of a high failure rate to reset the test pattern.例文帳に追加

テスタ３６に設けられた検査順序設定部６２は、複数の固体撮像素子を検査することによって得られた複数の検査結果を基に、検査項目毎の不良率を算出して、この不良率の高い順に各検査項目の検査順序を並べ替え、テストパターンを再設定する。 - 特許庁

To carry out the ignition test of an engine under a high vacuum state and further carry out the test efficiently by shortening the time for reaching the high vacuum state.例文帳に追加

高真空状態でのエンジンの着火試験を行うことができ、さらに高真空状態に至るまでの時間を短縮して効率よく試験を実施できることを目的とする。 - 特許庁

To make a tester for outputting a digital signal for test of high frequency unnecessary in a semiconductor device having a DAC, and realize tests in various test modes of high frequency.例文帳に追加

ＤＡＣを有する半導体装置において、高周波のテスト用ディジタル信号を出力するテスタを不要とし、かつ高周波の種々のテストモードでのテストを実現すること。 - 特許庁

To provide a test device and a test method capable of easily measuring and evaluating the transistor characteristic of the same lot or the same wafer, and measuring a high-speed timing with high accuracy.例文帳に追加

同一ロットあるいは同一ウェハのトランジスタ特性をテスタ上で容易に測定、評価でき、高速タイミングを高精度で測定することができるテスト装置及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

The high voltage test device 10 having the authorization of a high voltage test laboratory of JAB in accordance with the guide of ISO and an engine power generator 11 are loaded on a running mobile vehicle 9.例文帳に追加

走行移動車９に、ＩＳＯのガイドに準拠したＪＡＢの高電圧試験所認定を受領した高電圧試験装置１０と、エンジン発電機１１とを搭載する。 - 特許庁

To execute a high-quality test in a short time, and execute the high- quality test without imposing a severe design convention on a designer and without requiring an expensive tester.例文帳に追加

高品質なテストを短時間で実行できるようにするほか、設計者に厳しい設計規約を課すことなく且つ高価なテスタを必要とすることなく高品質なテストを可能にする。 - 特許庁

To provide a creep tester constituted so as to perform a creep test for a material used in a machinery operated in a high temp. dry steam atmosphere by forming a test environment simulating the high temp. dry steam atmosphere.例文帳に追加

高温、乾き蒸気雰囲気中で作動する機器に使用される素材を、同雰囲気を模擬する試験環境にしてクリープ試験ができるようにしたクリープ試験機に関する。 - 特許庁

To provide a high quality semiconductor integrated circuit by preventing test omission by executing a high speed test among all flip-flops in the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

本発明の課題は、半導体集積回路において全てのフリップフロップ間の高速テストを実施し、テスト漏れを防ぐことにより高品質の半導体集積回路を提供することにある。 - 特許庁

To provide a high throughput test system having a small size, with saving cost, being not so complicated and more suitable for sample test companies of a small-to-medium scale.例文帳に追加

小型で、費用がかからず、あまり複雑でなく、中小規模の試料試験企業により適した、高スループット試験システムの提供。 - 特許庁

When the recording linear velocity of the disk becomes to be equal to or faster than the fixed volocity, the processing part can perform high-speed test writing easily using the outer periphery-side test writing area.例文帳に追加

一定速度以上の記録の際には、外周側の試し書領域を用いて、容易に高速の試し書きを行うことができる。 - 特許庁

Under this condition, the pressure test is conducted by applying high voltage E for the pressure test to stem pins Fv and Fc connected to grids G3A, G3B, G5S, G5V, etc.例文帳に追加

この状態でグリッドＧ３Ａ，Ｇ３Ｂ，Ｇ５Ｓ，Ｇ５Ｖ等に接続されたステムピンＦｖ，Ｆｃに耐圧試験用の高電圧Ｅを印加して、耐圧試験を行う。 - 特許庁

To provide an automatic temperature impact test system having simple conveyance operation and high reliability, capable of performing a low-temperature test for a long period.例文帳に追加

搬送動作が単純で信頼性が高く、更には長時間に渡る低温試験を行うことができる、自動温度衝撃試験システムを得る。 - 特許庁

To provide a device and a method for a jitter test which enable execution of a high-reliability jitter test, in a short time.例文帳に追加

本発明は、短時間で信頼性の高いジッタ試験を行うことのできるジッタ試験装置及びジッタ試験方法の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide an apparatus for measuring a dimension, capable of accurately setting a position of a test piece and measuring the dimension of the test piece with high accuracy.例文帳に追加

試験片の位置を正確に設定することができ、試験片の寸法を精度よく測定することが可能な測寸装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which a test mode can be set by an address key when a test in which high power source voltage is applied is performed.例文帳に追加

高い電源電圧を印加する試験を行なっている場合にアドレスキーによってテストモードの設定が可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁

To enable high-precision leak detection by a differential pressure type air leak test device while reducing the capacity of master-side and work- side two test pressure closure systems.例文帳に追加

差圧型エアリークテスト装置において、マスタ側，ワーク側の２つのテスト圧閉鎖系の容積を減少させて、高精度の漏れ検出を行う。 - 特許庁

To provide a brake testing device capable of performing a braking test with a high accuracy even in a brake device requiring a braking test at a low operation pressure.例文帳に追加

低い操作圧で制動試験をしなければならないブレーキ装置でも高精度で制動試験を行うことができるブレーキ試験装置を得る。 - 特許庁

To automate a test for an automatic ticket handling system that uses a contactless IC card, thus conducting the test quickly with good reproducibility and high accuracy.例文帳に追加

非接触ＩＣカードを用いる自動改札処理システムの試験を自動化し、再現性よく高精度、かつ迅速に試験を行えるようにする。 - 特許庁

The memory test circuit is arranged in an on-chip-memory and performs a high speed test of the on-chip-memory, and is provided with two dummy memory cells in which a high level and a low level are stored previously, and a control circuit controlling an operation of reading of respective data from two dummy memory cells at the high speed test.例文帳に追加

メモリテスト回路は、オンチップメモリ内に配置され、オンチップメモリの高速テストを行うもので、各々ハイレベルおよびローレベルがあらかじめ記憶された２つのダミーメモリセルと、高速テスト時に、２つのダミーメモリセルから各々データのリードを行うことを制御する制御回路とを備えている。 - 特許庁

To provide a direct current test apparatus for high voltage which can be configured at low cost without the use of a high withstand voltage switch.例文帳に追加

高耐圧のスイッチを用いることなく、安価に構成することができる高電圧用の直流試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a clogging testing machine for high-pressure grout capable of performing clogging test by injecting a grout material under high pressure.例文帳に追加

グラウト材を高圧注入して目詰まり試験を行うことができる高圧グラウト用目詰まり試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a high-safety manufacturing method of a semiconductor device including a B/I (Burn-In) test process.例文帳に追加

安全性が高いＢ／Ｉテスト工程を含んだ半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide the air leak test device which detects a leak in a work in a short time with high precision.例文帳に追加

ワークの漏れ検出を短時間でしかも高精度に行えるエアリークテスト装置を提供する。 - 特許庁

To obtain a mobile phone voice input test device with a high efficiency without losing the operability.例文帳に追加

効率性が高く、且つ作業性を損なわない携帯電話機音声入力試験装置を得る。 - 特許庁

To perform high speed multi-bit discrimination by reducing circuit occupancy area of a multi-bit test circuit.例文帳に追加

マルチビットテスト回路の回路占有面積を低減し、かつ高速でマルチビット判定を行なう。 - 特許庁