「High-Test」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an electrochemical detection method for a test substance, capable of detecting the test substance with high detection sensitivity.例文帳に追加

高い検出感度で被検物質を検出することができる被検物質の電気化学的検出方法を提供する。 - 特許庁

To inexpensively perform operation verification of a test program at high speed in offline simulation environment of a test device.例文帳に追加

試験装置のオフライン・シュミレーション環境において、テストプログラムの動作検証をより高速かつ低コストで実現する。 - 特許庁

To suppress reduction of charge and discharge efficiency in a cycle test of a battery, and maintain a battery capacity high after the cycle test.例文帳に追加

電池のサイクル試験における充放電効率の低下を抑制し、サイクル試験後の電池容量の高く維持する。 - 特許庁

To provide a nonaqueous electrolyte battery with a high output at initial ambient temperature and at -30°C, providing high discharge capacity even at high-rate discharging, and yet, with a high capacity retention ratio after endurance tests such as high-temperature preservation test and a cycle test, and excellent in initial output performance and a high-rate discharge capacity even after the endurance test.例文帳に追加

初期の常温および−３０℃出力が高く、ハイレート放電時にも高い放電容量を与え、加えて高温保存試験やサイクル試験といった耐久試験後の容量維持率が高く、かつ耐久試験後でも初期の出力性能やハイレート放電容量に優れた非水系電解液電池を提供する。 - 特許庁

To provide a test method for determining disconnection of a coaxial cable assembly at high speed and with high precision.例文帳に追加

同軸ケーブルアセンブリの断線の有無を高速かつ高精度に判定する試験方法を提供する。 - 特許庁

To perform the test of a secret data storage part with high secrecy and high reliability while suppressing increase of a chip area.例文帳に追加

チップ面積の増大を抑え、高い秘匿性、高い信頼性で秘密データ格納部の検査を行う。 - 特許庁

To produce a catalyst enhanced in heat resistance and having high purifying capacity even after a high temp. durability test.例文帳に追加

耐熱性が向上し、高温耐久試験後にも高い浄化能を有する触媒を製造する。 - 特許庁

To provide a plasma processing apparatus where a test piece can be heated to a high temperature without breaking a test piece stand, and heating efficiency is excellent by eliminating contamination to the test piece due to the abnormal electric discharge of the test piece.例文帳に追加

試料台の異常放電による試料への汚染がなく、試料台を破損せずに、試料を高温まで加熱することができ、しかも加熱効率の優れたプラズマ処理装置を提供する。 - 特許庁

To carry out a memory test at a high speed by evading that the path of an input signal for the memory test or an output signal of the memory becomes the critical path for a memory test, and to reduce further the number of terminals at the memory test.例文帳に追加

メモリテスト時にメモリテスト用入力信号やメモリの出力信号の経路がクリチカルな経路となることを回避してメモリテストを高速に行い、さらにメモリテスト時の端子数を削減する - 特許庁

A pattern generating circuit generates a plurality of the same continuous pattern data of test rate in the generation of a test waveform at a general test rate on the basis of the clock of the test rate generated in a rate generator, and generates a plurality of different continuous pattern data of test rate in the generation of high-speed test waveform.例文帳に追加

パターン発生回路は、レート発生器で発生したテストレートのクロックに基づいて、通常のテストレートでテスト波形を生成するときはテストレートの複数の同じ連続パターンデータを発生し、高速のテスト波形を生成するときはテストレートの複数の異なる連続パターンデータを発生する。 - 特許庁

To provide a high/low temperature test room air-conditioning method capable of setting the entire test room in a required high/low temperature state in a short time, and resetting a specific high/low temperature state in a short time with high reproducibility.例文帳に追加

試験室内全体を所要の高低温状態に短時間で精度よく設定し、また一定の高低温状態への再設定を短時間で再現性よく行う高低温試験室空調方式を提供する。 - 特許庁

HIGH AND LOW TEMPERATURE IC WAFER TEST METHOD AND PROBE CARD HOLDER EQUIPPED WITH HEAT SHIELDING PLATE例文帳に追加

ＩＣウェハの高低温検査方法および遮熱プレート付きプローブカードホルダ。 - 特許庁

To align an original image and its corresponding test image with high accuracy.例文帳に追加

オリジナル画像２２及び対応する試験画像２４を高精度にアライメントさせる。 - 特許庁

To efficiently verify an LSI with high precision and to perform stable inspection (test).例文帳に追加

ＬＳＩを高精度且つ効率的に検証し、安定的な検査（テスト）を行う。 - 特許庁

To perform a test simulating torque pulsation occurring in an actual tire with high precision.例文帳に追加

実タイヤで発生するトルク脈動を高い精度で模擬した試験ができる。 - 特許庁

To provide an extreme-ultraviolet ray microscope which can perform a high resolution test.例文帳に追加

高解像度の検査を可能とする極端紫外線顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To perform a high accuracy emulation test by using a simulated semiconductor device.例文帳に追加

シミュレートされた半導体デバイスを用いて、精度の高いエミュレーション試験を行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which yield is high and a test time is short.例文帳に追加

歩留りが高く、テスト時間が短くて済む半導体装置を提供する。 - 特許庁

The cold impact test device 1 has a high-temperature test tub 2 and low-temperature test tub 3, and a rack 4 carrying a sample W can move between the both.例文帳に追加

冷熱衝撃試験装置１は、高温試験槽２と低温試験槽３とを有し、両者の間を試料Ｗを載せたラック４が移動可能な構成とされている。 - 特許庁

To enable a test of high accuracy wherein, with a simple circuit with few number of gates, a test pattern is easily generated, related to a test of an input/output part of a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路の入出力部のテストに、テストパターンの作成が容易で、少ないゲート数の単純な回路でよく、精度の高いテストを可能とすること。 - 特許庁

To conduct selection of high quality having wide test coverage by switching in order a serial mode and a parallel mode to be operated, in a burn-in test using a static burn-in test device.例文帳に追加

スタティックバーインテスト装置を用いたバーインテストにおいて、シリアルモードとパラレルモードを順次切り替えて動作させることにより、テストカバレージの大きな高品質な選別を行なう。 - 特許庁

A test signal of a plurality of bits in which only a test control signal T1 becomes a high level and test control signals T2 to Tn become a low level is inputted to a decoder DEC.例文帳に追加

また、デコーダＤＥＣにテスト制御信号Ｔ１のみがハイレベルとなり、テスト制御信号Ｔ２乃至Ｔｎがロウレベルとなる複数ビットのテスト信号を入力する。 - 特許庁

To provide a method for accurately performing a fracture mechanics test at a high temperature using a small-sized test piece sampled from a mounting machine, and a test object therefor.例文帳に追加

実機から採取した小型の試験片を利用して高温における破壊力学的試験を正確に行えるようにする方法及びその試験体を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device allowing the high density mounting of a driver circuit for switching test voltage to one or two times to apply the voltage to a device under test.例文帳に追加

本発明は、試験電圧を１倍と２倍とに切り換えて被試験デバイスに電圧印加するドライバ回路を高密度実装できる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a system for generating data patterns/test data, which avoid test omission and generate efficiently the data pattern/test data with high correlation among the data.例文帳に追加

テスト漏れを回避でき、データ間での相関性が高く、しかも効率良く生成でき、信頼性が保証されたデータパターン/テストデータを生成可能なシステムを提供する。 - 特許庁

To reduce cost required for a test by enabling a high-speed LSI test by an inexpensive testing device, and to test also a semiconductor device on a mounting substrate.例文帳に追加

安価な試験装置により高速なＬＳＩの試験を可能として試験に要するコストを削減し、また、実装基板上の半導体装置の試験も可能とする。 - 特許庁

To provide a polarizing plate in which no light leak exists in a heat resisting test, no decolorization occurs in a moisture resisting test, no crack is generated after a durability test and high durability is provided.例文帳に追加

耐熱試験での光漏れがなく、耐湿試験での褪色がなく、および耐久試験後にクラックの発生のない、高い耐久性を有する偏光板を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device test apparatus which performs a test on a device under test which outputs a reference clock for use in data delivery synchronously with data reading with high precision.例文帳に追加

データの読み出しに同期してデータの受渡しに利用される基準クロックを出力する被試験デバイスを高精度に試験する半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁

To reduce a cost required for a test by performing a test continuously by using a high speed clock signal in an expected value determination test and defective cycle detection of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の期待値判定テストおよび不良サイクル検出に関し、高速のクロック信号を用いて連続してテストを行うことでテストに係る費用を削減する。 - 特許庁

To provide a deterioration test method and a deterioration test system capable of conducting a deterioration test in a shorter time and with high accuracy by performing position management of a laser focal point.例文帳に追加

レーザー合焦点の位置管理を行い、より短時間に高精度の劣化試験を実施することができる劣化試験方法及び劣化試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a memory test circuit which can perform surely a high speed test of a whole user circuit including an on-chip-memory in a short time.例文帳に追加

オンチップメモリを含むユーザ回路全体の高速テストを短時間で確実に行うことができるメモリテスト回路を提供する。 - 特許庁

To provide a temperature indicator with high detection sensitivity to the temperature of objects under test by making easy heat transfer from objects under test to a case.例文帳に追加

被測定物の熱がケースに伝わり易くして、被測定物の温度の検出感度が高い温度表示器を提供する。 - 特許庁

To provide a test handler and a semiconductor element test method, capable of testing a semiconductor element under a high temperature environment and a low temperature environment.例文帳に追加

半導体素子を高温環境及び低温環境でテストできるテストハンドラー及び半導体素子テスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and its test method capable of performing a test having high reliability, while keeping performance of a multichip module.例文帳に追加

マルチチップモジュールの性能を維持しつつ、信頼性の高い試験を可能にした半導体装置とテスト方法を提供する。 - 特許庁

SMALL HIGH-SPEED PER-PIN IC TEST SYSTEM (PER-PIN IC TEST SYSTEMS SUCH AS ANALOG IC, DIGITAL IC, MIXED IC, MEMORY IC AND LOGIC IC)例文帳に追加

小型高速パーピンＩＣテストシステム（アナログＩＣ、デジタルＩＣ、ミックスドＩＣメモリーＩＣ、ロジックＩＣなどのパーピンＩＣテストシステム） - 特許庁

To quickly, surely, and easily fit a thermocouple temperature- measuring part to a high-temperature material test peace and to fit a thermocouple to a large test piece without requiring operator skills.例文帳に追加

熱電対測温部を高温材料試験片に迅速、確実に且つ容易に取り付けることができるようにする。 - 特許庁

To provide an apparatus for raising/lowering a temperature which raises or lowers the temperature of numerous semiconductor devices at a time in a handler for performing high temperature test and low temperature test to realize high-speed processing as the whole apparatus, and also to provide the high and low temperature test handler.例文帳に追加

高温テスト及び低温テストを実施するハンドラにおいて、一度に大量の半導体装置の高温化又は低温化を可能とし、装置全体としての高速処理を実現した高低温化装置及び高低温テストハンドラを提供する。 - 特許庁

HIGH-ENERGY PARTICLE GENERATING DEVICE, NON-DESTRUCTIVE TEST DEVICE OF TUBE-SHAPED MEMBER, AND HIGH-ENERGY PARTICLE GENERATING METHOD例文帳に追加

高エネルギー粒子発生装置及び管状部材非破壊検査装置並びに高エネルギー粒子発生方法 - 特許庁

A humidifier 14 for adding steam to the test gas introduced into the high-pressure chamber is installed in the high-pressure flow channel.例文帳に追加

高圧流路に、高圧チャンバーに導入される試験ガスに水蒸気を添加する加湿器１４を設置した。 - 特許庁

To perform a high-speed, high-quality test by reducing inspection time for semiconductor integrated circuits under inspection (DUT).例文帳に追加

被検査半導体集積回路（ＤＵＴ）の検査時間を短縮して高速で高品質な検査を行う。 - 特許庁

A voltage control circuit connects a second high level voltage wire with a third high level voltage wire in the case of the burn-in test.例文帳に追加

電圧制御回路は、バーンイン試験時に第２高レベル電圧線を第３高レベル電圧線に接続する。 - 特許庁

To attain the real recording operation with high quality by obtaining the appropriate recording power with high accuracy in the test recording operation.例文帳に追加

テスト記録で適正な記録パワーを高精度に求めて本番の記録を高品位に行えるようにする。 - 特許庁

To provide a high frequency contact point sheet to conduct a performance test of IC elements of ultrahigh frequency with high accuracy.例文帳に追加

超高周波のＩＣ素子の性能検査を高精度に行うための高周波接点シートを提供する。 - 特許庁

To provide a system for automatically performing a function test in the production or maintenance of a ultrasonic diagnosing device with high reliability and at high speed and to provide a test method, a test device and the device.例文帳に追加

超音波診断装置の製造上やメンテナンスにおける機能テストを、高速・高信頼性にて自動的に行なうことができるシステム、テスト方法、テスト装置および超音波診断装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a wedge-shaped grip for a tensile test, capable of acquiring an accurate test result when being used in a high-speed tensile test or the like, while capable of improving the operability of a sandwiching/releasing work of a test piece.例文帳に追加

高速引張試験等に用いて正確な試験結果を得ることができながら、試験片の挟着／解放作業の操作性を向上させることのできる楔式の引張試験用グリップを提供する。 - 特許庁