「High-Test」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a connecting method which realizes connection with high reproducibility even if connection/disconnection are repeated in a high frequency in a test fixture.例文帳に追加

テストフィクスチャにおいて高い周波数で続／断を繰り返しても再現性良く接続を実現できる接続方法を提供する。 - 特許庁

To provide a solar cell string and a solar cell module which ensure reliability in a high-temperature keeping test and a high temperature cycle.例文帳に追加

高温保持試験並びに高温温度サイクルでの信頼性を確保できる太陽電池ストリング及び太陽電池モジュールを提供する。 - 特許庁

To realize the high accuracy and acceleration of a magnetic recording medium or a magnetic head test in accordance with the high frequency processing of a magnetic disk drive.例文帳に追加

磁気ディスク装置の高周波化に対応して磁気記録媒体または磁気ヘッド検査の高精度化および高速化を実現する。 - 特許庁

To provide an electronic device having leads including excellent wettability to solder after a high-temperature and high-humidity test and high reliability by using lead-free tin alloy-plating.例文帳に追加

鉛フリーのスズ合金めっきを用いていて、高温高湿試験後にはんだ濡れ性の優れたリードを有する信頼性の高い電子装置を実現することにある。 - 特許庁

Further, conventionally, as a connection test of a row address and a column address between a logic section and a memory is performed by an actual operation test of a whole LSI, a fault detecting rate of a circuit is low, but this test can be performed by a scan-test, and a test pattern having a high fault detecting rate of a circuit can be automatically made.例文帳に追加

さらには、ロジック部とメモリ間の行アドレス及び列アドレスの接続テストを従来は、ＬＳＩ全体の実動作テストで行っていたため、回路の故障検出率を低かったが、この発明によりスキャンテストにより行うことができ、回路の故障検出率が高いテストパターンを自動で作成することができる。 - 特許庁

To provide a system-in-package test inspection device and a test inspection method capable of securing reliability by performing a high-speed/high-frequency test inspection by inputting an inspection signal from a signal wire between LSI chips, and by performing a non-defective inspection highly accurately.例文帳に追加

ＬＳＩチップ間の信号線から検査信号を入力することにより高速・高周波試験検査を行い、良品検査を高精度に行うことにより信頼性を確保することのできるシステムインパッケージ試験検査装置及び試験検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test instrument for an optical element package which enable easy, efficient test operation and can perform high-precision testing, evaluation, or measurement by transmitting a high-frequency signal from a test signal generator as it is to an optical element package to be tested.例文帳に追加

試験操作を簡単かつ能率的に行え、試験信号発生器からの高周波試験信号を、そっくりそのまま、試験対象の光素子パッケージに伝送して、高精度の試験評価又は測定ができる、光素子パッケージの試験器具を提供すること。 - 特許庁

A detector having a low threshold voltage and a detector having a high threshold voltage are provided to a test terminal for controlling a test mode of a semiconductor device, and the detector having the low threshold voltage releases a reset of a logic circuit while the detector having the high threshold voltage controls switching of the test mode.例文帳に追加

半導体装置のテストモードを制御するテスト端子に、低閾値電圧のディテクタと高閾値電圧のディテクタを設け、低閾値電圧のディテクタによって論理回路のリセットを解除し、高閾値電圧のディテクタでテストモードを切替え制御するような構成にした。 - 特許庁

The data temporarily stored in the table are sorted in the order of high priority, and the test time of each record is added in the order of high priority, and records until the test time exceeds the test execution time received from the client 10 are acquired and output (S194 to S198).例文帳に追加

一時テーブルに格納されたデータは優先度の値が高い順にソートされた後、各レコードの試験時間を優先度の高い順から加算し、クライアント１０より受信した試験実施時間を超える前までのレコードを取得し、出力する（S１９４〜S１９８）。 - 特許庁

To provide a friction test device capable of carrying out friction test with ease and high accuracy by simulating the friction test, while using a sample product without making a prototype to be actually used, one by one, when a friction test for a visco-elastic material is carried out.例文帳に追加

粘弾性材料の摩擦試験を行う場合に、実際に使用する製品の試作品を一々作製することなく、製品の試料を用いて摩擦試験をシュミレートさせて容易かつ高精度に行うことができる摩擦試験装置を提供することにある。 - 特許庁

A program 80 for being tested is automatically tested by a test device 10 based on a test case correct solution 4 created by a high-order design tool 1, an operation procedure 5 for the test case correct solution, and a basic test operation procedure stored in a storage device 100.例文帳に追加

上位設計ツール１で作成されたテストケース正解例４及びテストケース正解例準拠操作手順５と、記憶装置１００に記憶された基本テスト操作手順とに基づいて、テスト装置１０で被テストプログラム８０のテストを自動実行する。 - 特許庁

In the test light cutoff filter existence/ absence determining device 31, existence/absence is determined on the basis of reflected light strength relationship between a test wavelength λ1 in a low reflectance area and a test wavelength λ2 in a high reflectance area of the test light cutoff filter 8.例文帳に追加

試験光遮断フィルタ有無判定装置３１では、試験光遮断フィルタ８の低反射率帯にある試験波長λ１と高反射率帯にある試験波長λ２のそれぞれの反射光強度の大小関係に基づいて有無判定をする。 - 特許庁

In a test conducting state, a relay contact (not shown) is switched and the metal line 11 is connected to a metal line test unit 122 at this side of a splitter circuit, then the test is conducted with high accuracy.例文帳に追加

試験を行う状態では、図示しないリレー接点が切り替わって、スプリッタ回路の手前側でメタリック回線１１１がメタリック回線試験機１２２に接続されるので、試験を高精度で行うことができる。 - 特許庁

Hereby, rearrangement of the test items can be executed according to the self-diagnosis result, and a test can be executed from the test item having high possibility of detection of a failure spot, to thereby shorten the failure detection time.例文帳に追加

これにより、自己診断結果に応じて試験項目の並び替えを行うことができ、故障箇所を検出する可能性の高い試験項目から試験を実行できるため、故障検出時間を短縮できる。 - 特許庁

To provide a withstand voltage test method of power equipment dispensing with test equipment comprising a large-scale exclusive test power source or the like, capable of applying a variable voltage over a rated voltage, and having high defect detection accuracy.例文帳に追加

大規模な専用の試験電源等からなる試験設備が不要で、定格電圧以上の可変電圧を印加することができる欠陥検出精度が高い電力設備の耐電圧試験方法を提供する。 - 特許庁

To test step-out or the like in a short time, by generating a test pattern, which is specified in verification of faults such as the step-out in a high-speed serial transfer device, and by successively transferring the test pattern in a target device.例文帳に追加

高速シリアル転送デバイスでの同期外れ等障害の検証に特化した試験パターンを作成して対象装置内で連続的に転送することで、同期外れ等を短時間に検証可能とする。 - 特許庁

A positional deviation between the electrode pad of the semiconductor element and the probe pin 13 generated in a high temperature test and a low temperature test of the electric characteristic test is avoided by adjusting the temperature of the support members 12a, 12b.例文帳に追加

そして、電気的特性試験の高温試験、或いは低温試験で発生した、半導体素子の電極パッドとプローブピン１３との位置ずれを支持部材１２ａ、１２ｂの温度を調節することにより回避する。 - 特許庁

To provide a memory which realizes a reduction of a test period and an improvement in test accuracy in high operating frequency by switching an operating mode according to DMA test entries, and to provide a system LSI which incorporates the memory.例文帳に追加

ＤＭＡテスト項目に応じ動作モードを切り換えることで検査時間の短縮と高い動作周波数での検査精度の向上とを実現するメモリ、及びそれを内蔵するシステムＬＳＩを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus which can perform a test with high precision, without causing decreases in testing accuracy, even when performing a test of a DUT having different clock delays for each application of a test signal.例文帳に追加

試験信号を印加する度にクロック遅延が異なるＤＵＴを試験する場合であっても、試験精度の低下を招くことなく高い精度で試験を行うことができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To continuously monitor a concentration of the infinitesimal quantity of a to-be-analyzed material in test water at the high accuracy.例文帳に追加

検水中の極微量の分析対象物質の濃度を連続的に高精度にてモニタリングする。 - 特許庁

To provide a high-temperature corrosion testing device that conducts a precise corrosion test and has superior durability.例文帳に追加

精度のよい腐食試験が可能でしかも耐久性に優れた高温腐食試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a nonvolatile semiconductor memory device capable of reducing the test time for high reliability.例文帳に追加

高信頼性に向けたテスト時間の短縮化が可能な不揮発性半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a web test module for printers in order to inspect a high-speed moving printed web for defects.例文帳に追加

印刷機のためのウエブ検査モジュールにおいて高速で移動する印刷済みウエブの欠陥を検査する。 - 特許庁

To test telecommunication equipment in a short time and with high quality.例文帳に追加

時間が短縮され、しかも質の高い計測を達成することが可能な、電気通信装置をテストを実現する。 - 特許庁

To provide a high- and low-temperature test device capable of efficiently performing temperature testing on an object to be temperature-tested.例文帳に追加

効率的に温度試験対象物の温度試験ができる高低温度試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test device for a driver's arousal level which allows the driver to concentrate on driving and has high accuracy.例文帳に追加

運転者が運転に集中し易く、かつ精度に優れた運転者覚醒度検査装置の提供。 - 特許庁

To provide a durability evaluation test machine capable of evaluating with high repeatability the durability of a holding jig.例文帳に追加

高い再現性で保持治具の耐久性を評価できる耐久性評価試験機を提供すること。 - 特許庁

To load sufficient stress to a minute test piece at high temperature by a simple mechanism.例文帳に追加

微小試験片に対して、簡単な機構によって高温時に十分な応力負荷ができるようにする。 - 特許庁

Since the input address is checked directly, test can be conducted in a short time with high reliability.例文帳に追加

直接入力アドレスをチェックするため、上記テストを短時間且つ高信頼性で行うことができる。 - 特許庁

To efficiently perform a withstand voltage test on two or more high and low voltage detectors, in a short time.例文帳に追加

複数本の高低圧用検電器を短時間で能率よく耐電圧試験を行えるようにする。 - 特許庁

About 450,000 students from the fifth grade of elementary school up to the third grade of junior high school took the Ministry's test. 例文帳に追加

小学５年生から中学３年生までの約45万人の生徒が文科省のテストを受けた。 - 浜島書店 Catch a Wave

To provide a test apparatus capable of easily testing bio-related substances, in a short time and with high accuracy.例文帳に追加

生体関連物質を短時間で高い精度で簡便に検査できる検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a dust explosion test apparatus which can evaluate dust explosibility at high temperature.例文帳に追加

高温における粉塵爆発性を評価することが可能な粉塵爆発試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a chromosome test learning device which can realize an extremely high learning effect.例文帳に追加

極めて高い学習効果を実現することができる染色体検査学習装置を提供する。 - 特許庁

To provide a motion vector detector in a simple configuration, which conducts a self-test with high precision.例文帳に追加

精度よく自己テストを行なうことができる、簡単な構成の動きベクトル検出装置を提供する。 - 特許庁

To measure a capacity at a high speed, using a semiconductor parametric test system.例文帳に追加

半導体パラメトリックテストシステムを利用し、容量測定を高速に測定する容量測定システムを提供する。 - 特許庁

To test hormone action of a substance in a reliable form low in cost, simple, rapid and high sensitivity.例文帳に追加

ある物質のホルモン作用を、低コストで簡易、迅速、高感度の信頼し得る様式で試験すること。 - 特許庁

To provide a scan test system and a technique with fully indefinite tolerance and very high scan compression.例文帳に追加

完全に不定値許容性の非常に高スキャン圧縮なスキャンテストシステム及び技術を提供する。 - 特許庁

When a test mode signal TMD is set to a high level, the power source line 34 is set to a ground potential.例文帳に追加

テストモード信号ＴＭＤがハイレベルに設定されると電源線３４は接地電位に設定される。 - 特許庁

To improve the quality of testing by generating a test pattern which detects bridge failures of LSI, with high accuracy.例文帳に追加

ＬＳＩのブリッジ故障を高精度に検出するテストパターンを作成し、テストの品質を向上する。 - 特許庁

Detecting the defective sector is performed by read/write test at a high operational temperature of 40-65°C.例文帳に追加

欠陥セクタの検出は、４０℃〜６５℃といった高い動作環境温度でリード／ライト試験により行う。 - 特許庁

SIMULTANEOUS CODE CHECKER AND HARDWARE EFFICIENT HIGH-SPEED I/O HAVING BUILT-IN SELF-TEST AND DEBUG FUNCTION例文帳に追加

組込み自己試験及びデバッグ機能を有する同時コードチェッカー及びハードウエア効率的高速Ｉ／Ｏ - 特許庁

To provide a semiconductor device having a high operating speed in which current consumption can be reduced at the time of test.例文帳に追加

動作速度が速く、かつ試験時の消費電流を低減できる半導体装置を提供する。 - 特許庁

In a state in which a fuse judging signal S1 is high, first judgement is performed by making a test mode signal TEST1 'high', after that, in a state in which the fuse judging signal is 'high', a test mode signal TEST2 is made to be 'low', while second judgement is performed by making the test mode signal TEST2 'low'.例文帳に追加

ヒューズ判定信号Ｓ１がハイとなっている状態で、テストモード信号ＴＥＳＴ１をハイとして第１の判定を行い、その後、ヒューズ判定信号Ｓ１がハイとなっている状態で、テストモード信号ＴＥＳＴ２をロウとすると共に、テストモード信号ＴＥＳＴ２をロウとして第２の判定を行う。 - 特許庁

A high-speed test signal transmission control part 24 generates a predetermined high-speed test signal to be transmitted to the semiconductor device 4 based on an instruction from the LSI tester 3, and outputs the generated high-speed test signal to a second driver 25 in predetermined timing based on the output instruction from the LSI tester 3.例文帳に追加

高速テスト信号送信制御部２４は、ＬＳＩテスタ３からの指令に基づき、半導体装置４に送信すべき所定の高速テスト信号を生成し、ＬＳＩテスタ３からの出力指令に基づいて所定のタイミングで、その生成する高速テスト信号を第２ドライバ２５に出力する。 - 特許庁