「High-Test」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a method for producing a high-strength cold-rolled steel sheet excellent in a corrosion resistance after coating, even under such severe atmosphere as a hot brine dipping test and a compound cycle corrosion test.例文帳に追加

塩温水浸漬試験や複合サイクル腐食試験のような過酷な環境でも塗装後耐食性に優れる高強度冷延鋼板の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device for a temperature test having suitable controllability and operability for a temperature needed from a normal temperature to a high temperature region, which is small-sized and low-priced in the temperature test.例文帳に追加

温度試験において、必要な常温から高温領域の温度を制御性および操作性がよく、小型で安価な温度試験用半導体装置を提供する。 - 特許庁

In addition, the test specimen 1 is arranged at a high location in comparison with the receiving antenna 7, and the receiving antenna 7 is arranged so that the direction of its maximum sensitivity is directed toward the test specimen 1.例文帳に追加

また、被試験体１を受信アンテナ７と比較して高い位置に配置し、受信アンテナ７をその最大感度の方向が被試験体１を向くように設置する。 - 特許庁

To provide a low-cost type discrimination unit distinguishing the type of an imaged test subject with high accuracy by processing a taken image of the test subject imaged by a camera.例文帳に追加

カメラで撮像している被検者の撮像画像を処理し、撮像されている被検者の類型を精度よく判別する安価な類型判別ユニットを提供する。 - 特許庁

To provide a method and an equipment for thermal fatigue test in which thermal fatigue test can be conducted effectively and conveniently even for a material being used under high temperature.例文帳に追加

高温で使用される材料に対しても有効な熱疲労試験片を簡易に実施することができる，熱疲労試験方法及び熱疲労試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a simply executable wall magnification simplified test method capable of calculating accurately, based on high correlation data with wall magnification by an in-plane shear test method.例文帳に追加

簡易に実施でき、面内せん断試験方法による壁倍率との相関性の高いデータに基づいて、精度良く算定できる壁倍率簡易試験方法を提供する。 - 特許庁

Prior to the shipment of the product, the high voltage is applied to the test point TP, and after data are written into the EEPROM 30, voltage application to the test point TP is suspended.例文帳に追加

そして、製品出荷に先立ち、テストポイントＴＰに高電圧を印加しつつ、ＥＥＰＲＯＭ３０にデータを書き込んだ後、テストポイントＴＰへの電圧印加を停止する。 - 特許庁

To develop a high-quality product in a short term by analyzing change points in a module and automatically executing a test case and a test with an expectation value changed.例文帳に追加

モジュールの変更点を解析し、自動的にテストケースおよび期待値を変更したテストを実施することにより、品質の高い製品開発を短期間で実現する。 - 特許庁

To provide a delay fault test quality calculation method for high-accuracy calculation test quality to delay fault, caused by physical defects and defectiveness that are to be the objects.例文帳に追加

対象とする物理欠陥・不良に起因する遅延故障に対するテスト品質を高精度に算出する遅延故障テスト品質算出方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device capable of performing a tRCD test adapted to the reduction in time between command inputs even when the test employs a memory testing apparatus inoperable for a high speed clock.例文帳に追加

高速なクロックで動作できないメモリ試験装置を用いる場合でも、短縮化に対応したｔＲＣＤ試験を可能にする半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

Therefore, as entry to the test mode is possible without using high voltage SVIH, entry to the test mode is possible even when it is incorporated in a registered DIMM.例文帳に追加

したがって、高電圧ＳＶＩＨを使用せずにテストモードにエントリすることができるので、レジスタードＤＩＭＭに組込んだ場合でもテストモードにエントリすることができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which a test of a high frequency operation characteristic in a wafer level can be performed and test yield in a package level can be improved.例文帳に追加

ウェーハレベルにおける高周波動作特性のテストが可能であり、パッケージレベルにおける検査歩留まりを向上させることができる半導体メモリ装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a torsion testing device capable of applying torsional stresses to a test piece, using a servo motor and applying a torsional load to the test piece at high frequency.例文帳に追加

サーボモータを用いて試験片にねじり応力を加え、且つ、高い繰り返し速度でねじり荷重を試験片に加えることができるねじり試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus capable of reliably and easily confirming the operations in a low-speed operation and high-speed operation of a test waveform creating part for outputting waveforms for test.例文帳に追加

試験用波形を出力する試験用波形生成部の、低速動作や高速動作における確実な動作の確認が容易な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a terminal strip with high efficiency capable of eliminating a process for erecting a test pin which is an additional component in a printed board in tinuiry/insulation test on the printed board.例文帳に追加

プリント基板上での導電性／絶縁性試験において、別部品であるテストピンをプリント基板に立てる工程が不要な、作業性の良い端子台を提供する。 - 特許庁

The calcined dolomite preferably has high activity of 280 mL/10 min or more according to coarse grain titration test (standard test method according to JAPAN LIME ASSOCIATION).例文帳に追加

軽焼ドロマイトは、粗粒滴定試験（日本石灰協会標準試験方法）による活性度が１０分値で２８０ｍＬ以上の高活性のものが好ましい。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device and its test method permitting timing control at high accuracy and improving failure detection rate by fewer test patterns.例文帳に追加

高い精度でのタイミング制御を可能にしつつ、少ないテストパタンにより故障検出率の改善を図った半導体集積回路装置とテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a disk device which can perform test writing at high recording linear velocity surely to a disk on which a test writing area is provided even at an outer peripheral side, a method and a disk.例文帳に追加

外周側にも試し書領域を設けたディスクに、高記録線速度での試し書きを確実に行なえるディスク装置と方法及びディスクを提供する。 - 特許庁

To provide a synchronization test system for a breaker attaining high reliability and economical efficiency by controlling input of a plurality of breakers by one synchronization test device 700.例文帳に追加

１台の同期検定装置７００で複数の遮断器を投入制御することで、高い信頼性と高い経済性を有する遮断器の同期検定システムを提供する。 - 特許庁

To provide a test circuit for securing reliability of a register file and to provide a register file having high reliability by improving accuracy of a quality deciding test.例文帳に追加

レジスタファイルの信頼性を確保するためのテスト回路を提供するとともに、良否判定テストの精度を向上させて、信頼性の高いレジスタファイルを提供する。 - 特許庁

To perform a high voltage insulation test of a two-phase output transformer in a two-phase output inverter transformer circuit in the completely same state as an actual operation state by one time test, concerning a high voltage insulation tester.例文帳に追加

高電圧絶縁試験器に関し、２相出力インバータトランス回路に於ける２相出力トランスの高電圧絶縁試験を実働状態と全く同じ状態で、しかも、１回の試験で検査できるようにする。 - 特許庁

Acceptance or rejection discrimination fuse circuits 13a to 13n are provided on memory cell arrays 11a to 11n respectively, and a high temperature test result of the high temperature test of the corresponding memory cell arrays 11a to 11n is written.例文帳に追加

合否判定ヒューズ回路１３ａ，１３ｂ，〜，１３ｎは、メモリセルアレイ１１ａ，１１ｂ，〜，１１ｎのそれぞれに設けられ、対応するメモリセルアレイ１１ａ，１１ｂ，〜，１１ｎの高温試験の高温試験結果が書き込まれる。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a separator for a fuel cell, capable of bringing a flexural strength after a test into 95% or more of initial value, without bringing deterioration of the mechanical characteristics, even if carrying out the environmental test of high temperature and high humidity.例文帳に追加

高温高湿の環境試験を実施しても機械的特性の劣化を招くことがなく、試験後の曲げ強度を初期値の９５％以上にできる燃料電池用セパレータの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a burn-in test method by operating a semiconductor device of an inspection object with a real operation clock at high speed, without providing an expensive high-speed MPU and high-speed comparator to the burn-in system.例文帳に追加

バーンイン装置に高価な高速ＭＰＵや高速コンパレータを設けることなく、検査対象の半導体デバイスを実動作クロックで高速動作させながらバーンイン試験を行う。 - 特許庁

To easily carry out a test where a high voltage is applied to a high- voltage circuit element in an integrated circuit chip where a low-voltage and a high-voltage circuit are mixedly provided.例文帳に追加

低電圧系および高電圧系の回路部が混在する集積回路チップで、高電圧系の回路素子に高電圧を印加する試験を簡単に実施できるようにする。 - 特許庁

To provide a curable sheet for use in the production of a multilayer wiring board, having a high density precise circuit, high heat resistance, high water resistance and long term stability under a high temperature test of 130°C or higher.例文帳に追加

精密で高密度な回路を有し、耐熱性、耐水性が高く、且つ１３０℃以上の高温放置試験下での長期安定性を有する多層配線板の製造に使用できる硬化性シートを提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a probe card which has a high probe density, a high contact stability with an electric circuit during testing, which can test a wafer, which can execute a large deformation of the probe, and which can rapidly test in a high frequency and to provide the probe card.例文帳に追加

プローブ密度が高く、ウェーハのテストが可能で、プローブの大幅変形を実施可能で、試験中電気回路の間との接触安定性が高く、プローブで高周波テストおよび高速テストが可能なプローブカードの製造方法およびプローブカードを提供する。 - 特許庁

To conduct a tolerance against identical code succession with a clear criterion and high measurement precision without using any complicated circuit in an identical code succession tolerance testing device which conducts a test with test data including a specific identical code succession tolerance test pattern.例文帳に追加

所定の同符号連続耐力テストパターンを含む試験データで試験を行う同符号連続耐力試験装置に関し、判定基準が明確であり測定精度の高い同符号連続耐力試験を複雑な回路を用いずに行う。 - 特許庁

At least one chip out of the first and the second chips receives an input voltage through the common input/output pad and includes a high voltage generator that generates a test voltage in response to test mode signals between test operating modes.例文帳に追加

第１及び第２のチップのうち少なくとも一つは、共通入／出力パッドを通じて入力電圧を受け入れ、テスト動作モード間テストモード信号に応答してテスト電圧を発生する高電圧発生器を含む。 - 特許庁

The test circuit adds only minimal area and complexity to the row drive function, providing a high degree of test coverage at a low cost, with minimal possibility of test circuit-induced failures.例文帳に追加

テスト回路は、行ドライバーの機能に対して最小の面積と複雑さを加えるだけであるので、テスト回路によって誘引される故障の可能性は最小の状態で、広いテスト適用範囲を低コストで提供することができる。 - 特許庁

A target test piece is fixed, and a flight member is discharged at a predetermined speed from a high-precision flight member discharging device which is to collide with the test piece for measuring the time history of the deformation quantities of the respective parts of the test piece at collision.例文帳に追加

対象とする試験片を固定し、飛翔体を高精度飛翔体発射装置から前記試験片に所定速度で発射して衝突させ、衝突時の試験片各部の変形量の時刻歴を計測する。 - 特許庁

To realize an IC test device capable of attaining a high testing rate without any increase in the number of signal conductors.例文帳に追加

信号線の数を増大せずにテストレートの高速化を図るＩＣ試験装置を実現することを目的にする。 - 特許庁

To provide a metallic corrosion acceleration test method having high correlation to actual exposure to the outside air, out of doors.例文帳に追加

実際に屋外で外気に晒された場合との相関性が高い金属腐食加速試験方法を提供する。 - 特許庁

A signal propagation delay time between a control section 1 and a high frequency section 2 is automatically measured by a test signal.例文帳に追加

試験信号を用いて制御部から高周波部間の信号の伝播遅延時間を自動で測定する。 - 特許庁

To provide a high tensile steel material having little attenuation of reflected echoes when an ultrasonic flaw detection test is performed.例文帳に追加

超音波探傷試験を行った場合の反射エコーの減衰量が少ない高張力鋼材を製造する。 - 特許庁

To provide a test circuit particularly allowing a high-speed and precise inspection of an LSI having MCP structure.例文帳に追加

特にＭＣＰ構成を採るＬＳＩの検査を高速かつ正確に行うことが可能なテスト回路を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device capable of realizing a test of a device having a high operation speed, inexpensively in a small size.例文帳に追加

動作速度が高速な被試験デバイスの試験を小型且つ安価に実現できる試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a dielectric ceramic improving reliability in a high temperature load test and prolonging the service life.例文帳に追加

高温負荷試験における信頼性を向上し、長寿命とすることができる誘電体磁器を提供する。 - 特許庁

To provide a method for detecting Bacillus coagulans in a test sample specifically, in a short period of time and with high sensitivity.例文帳に追加

被検試料中のバチルスコアグランスを特異的、短時間、かつ、高感度で検出する方法を提供する。 - 特許庁

The moisture absorbing means 25 discharges moisture absorbed by the air circulating in the high-temperature test tub 2.例文帳に追加

吸湿手段２５は、高温試験槽２内を循環する空気によって吸収している湿気を放出する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and its test method, enabling high-speed tests at a desired operation frequency.例文帳に追加

所望の動作周波数での高速テストが可能である半導体装置及びそのテスト方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a lubricity test device capable of simulating excellently lubricity of emulsion rolling oil in high-speed rolling.例文帳に追加

高速圧延におけるエマルション圧延油の潤滑性を良好にシミュレ−トできる潤滑性試験装置を得る。 - 特許庁

To expand working area to attain a high accurate ground test.例文帳に追加

この発明は、動作範囲の拡大化を図ったうえで、高精度な地上試験を実現し得るようにすることにある。 - 特許庁

To detect a focus position rapidly with high efficiency, and prevent charging and damages or the like to a test piece.例文帳に追加

高速かつ高い効率で焦点位置の検出を行うと共に、試料の帯電（チャージング）、損傷などを防ぐ。 - 特許庁

To decrease frequency of maintenances and raise throughput by providing a test pattern print method with a high clogging preventing effect.例文帳に追加

目詰まり防止効果の高いテストパターン印刷方法を提供し、メンテナンスの回数を減らし、スループットを高める。 - 特許庁