「Random Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

A defect data analytic method analyzes the defect distribution state based on defect location coordinates detected by the inspection apparatus and categorizes the defect distribution state into one of distribution feature categories including repetitive defects, aggregate defects, circular distribution defects, radial distribution defects, linear distribution defects, ring or cluster distribution defects and random defects.例文帳に追加

検査装置によって検出された欠陥位置座標に基づいて欠陥の分布状態を解析し、繰り返し欠陥、密集欠陥、円弧状分布欠陥、放射状分布欠陥、線状分布欠陥、環・塊状分布欠陥、ランダム欠陥のうちいずれかの分布特徴カテゴリに分類する。 - 特許庁

To screen a so-called variable retention time (VRT) defect caused by the fact that a data retention time varies like random telegraph noise in DRAM.例文帳に追加

DRAMにおいて、データ保持時間がランダム・テレグラフ・ノイズ的に変化してリテンション不良となる、いわゆるVariable Retention Time（VRT）不良をスクリーニングする。 - 特許庁

To obtain a wafer macro-inspection device by which pseudo defect owing to the influence of a random pattern part is suppressed and a macro- inspection is executed with high precision.例文帳に追加

ランダムパターン部の影響による疑似不良を抑えることができ、高精度のマクロ検査が可能なウェハのマクロ検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a signal processing circuit capable of correcting a fixed noise, a flaw such as a pixel defect, and a random noise without degrading in the resolution.例文帳に追加

解像度の低下を招くことなく、固定ノイズや画素欠陥のようなキズ並びにランダムノイズを補正できる信号処理回路を提供する。 - 特許庁

To provide a defect detecting method having high detection capability with respect to a malfunction of memory cells caused by variation in manufacturing magnetic random access memory.例文帳に追加

磁気ランダムアクセスメモリ素子の製造時のバラツキによって発生するメモリセルの動作不良に対し、高い検出能力を持つ不良検出技術を提供する。 - 特許庁

To detect minute defect existing in a PMOS load transistor of an SRAM (Static Random Access Memory) memory cell without extremely increasing circuit area and at high speed.例文帳に追加

回路面積を極端に増大させることなく、かつ高速に、ＳＲＡＭメモリセルのＰＭＯＳ負荷トランジスタに存在する微小欠陥を検出すること。 - 特許庁

To provide an apparatus for producing a novel crosslinkable foam which eliminates the defect of random foaming, which is characteristic to conventional technology, and allows a plastic material to pass freely in a mold.例文帳に追加

従来技術に特徴的なランダム発泡の欠点を克服し、プラスチック材料がモールド内をスムーズに通れるような新規な架橋性発泡体の製造装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

A critical area of one via is calculated on the basis of sizes of a plurality of vias, sizes of defects causing random defect failures of the plural vias and a distance from the one via to another adjacent via.例文帳に追加

複数のビアのサイズ、複数のビアのランダム欠陥不良の原因となる欠陥のサイズ、及び複数のビアのうちの一のビアと該一のビアに隣接する他のビアとの間の距離に基づいて、一のビアのクリティカルエリアを算出する。 - 特許庁

To restrain a hot spot of emission to the minimum as a big defect inevitably accompanying an electron field emitter formation method necessary for using "assembly of random emitters" such as usage of an emitter paste containing acicular carbons such as nanotubes.例文帳に追加

ナノチューブなどの針状炭素で構成されるエミッタペーストを使用するなど、「ランダムなエミッタの集合」を用いる必要のある電子電界エミッタ形成方法に必ず伴う大きな欠点の放出のホットスポットを最小限に抑えること。 - 特許庁

As for each defective memory cell (unit bit defect) by a so-called random defect without providing any redundant cell array, data to be stored in the defective memory cell is held by a latch circuit 22 disposed between column data 12 and an I/O buffer 21, and the held data is output in place of the data of the defective memory cell.例文帳に追加

冗長セルアレイを持たず、所謂ランダム欠陥による各個の欠陥メモリセル（単ビット欠陥）に関して、この欠陥メモリセルに格納されようとするデータを、列データ１２と入出力バッファ２１との間に設けられたラッチ回路２２によってデータを保持し、また、該保持されたデータを欠陥メモリセルのデータに替えて出力するようにした。 - 特許庁

A bit which may cause a retention defect of a data retention capability resulting from random changes with time is screened by repeating a pause refresh test for checking a data retention function in the whole chip surface and the whole bits by an optimized frequency.例文帳に追加

データ保持機能を調べるポーズ・リフレッシュ試験を、チップ全面全ビットにおいて、最適化された回数分繰り返すことで、データ保持能力のランダムな経時変化に起因したリテンション不良を生じる可能性のあるビットをスクリーニングする。 - 特許庁

To provide a processor system allowing prevention of reduction of system performance without drastically expanding circuit size when a defect is present in a part of a word line of an SRAM (Static Random Access Memory) used for a cache memory or even when a part of the word line fails.例文帳に追加

キャッシュメモリに使用されるＳＲＡＭのワードラインの一部に欠陥がある場合やワードラインの一部が故障してしまった場合であっても、回路サイズを大幅に拡大することなく、システム性能の低下を防止することができるプロセッサシステムを提供すること。 - 特許庁

To provide an information management device that uses as a medium for information recording a random-accessible recording medium having solved defect problems of a recording medium where only sequential information description and reproduction are possible like conventional video tapes, and records and stores photographic data of an electronic camera recording photographic information on the random-accessible recording medium as information that a user can view through easy operation.例文帳に追加

従来のビデオテープの如きシーケンシャルな情報記述及び再生しかできなかった記録媒体の欠点を克服した、ランダムアクセス可能な記録媒体を情報記録用の媒体として用い、このランダムアクセス可能な記録媒体に撮影情報を記録する電子カメラの撮影データを、簡便な操作にて利用者が見ることが出来る情報として記録・保存する情報管理装置を提供すること。 - 特許庁

Further, the artificial flaw forming means is a means for forming the artificial defective image at every flaw of a plurality of defects to be classified and the learning means determines the learning patterns of the artificial image of a defect to be classified and a non-defective image by random numbers to allow the neural network to learn.例文帳に追加

また、人工欠陥作成手段は複数の分類すべき欠陥毎に人工的な欠陥画像を作成する手段であり、学習手段は分類すべき欠陥の人工画像と良品画像の学習パターンを乱数により決定してニューラルネットワークに学習させる。 - 特許庁

To provide a color image pickup element and a device for substantially solving the problem of generating color moire fringes caused by a periodic color coding array, for ensuring miniaturization, low costs and high resolution, for substantially preventing generation of deteriorated resolution even when any isolated pixel defect exists, for relatively increasing the degree of freedom of the array of the color coding array, and for obtaining a high random effect.例文帳に追加

周期的色コーディング配列に伴う色モアレの発生等の問題を本質的に解決し、小型低コストで高解像度を確保すると共に、孤立的画素欠陥が存在しても解像度の劣化が実質的に生じさせず、且つ色コーディング配列の配列自由度が比較的高く、高いランダム効果が得られるカラー撮像素子及びカラー撮像装置を提供する。 - 特許庁