「Reference mark」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

REFERENCE DEVICE AND REFERENCE MARK FOR AUTOMOBILE RUNNING例文帳に追加

自動車走行用基準装置並びに基準マーク - 特許庁

REFERENCE MARK MODEL TEMPLATE CREATING METHOD例文帳に追加

基準マークモデルテンプレート作成方法 - 特許庁

to "trade mark" shall include reference to "collective mark" or "certification trade mark"; 例文帳に追加

「商標」というときは，「団体標章」又は「証明商標」も含む。 - 特許庁

REFERENCE MARK FORMING DEVICE AND RECORDING APPARATUS PROVIDED WITH THE REFERENCE MARK FORMING DEVICE例文帳に追加

基準マーク形成装置、該基準マーク形成装置を備えた記録装置 - 特許庁

(2) Subregulations 16.3(2) (3) and (4) and regulation 16.4 apply to an application to approve the variation of the rules governing the use of a registered certification trade mark as if a reference in those provisions to an application for registration of a certification trade mark were a reference to an application to approve the variation of the rules governing the use of a registered certification trade mark.例文帳に追加

規則 16.10 規約変更についての決定 - 特許庁

Thereafter, the reference mark 1 is erased.例文帳に追加

その後、基準マーク１を消去する。 - 特許庁

The position of each reference mark to the index mark is obtained by counting each reference mark, for instance.例文帳に追加

電子像形成システムが、基準パターンの指標マーク(90)に対して、プローブチップの幾何学的重心を求める。 - 特許庁

A registration precision measurement mark is constituted of a reference mark 10 and an overlap mark 20.例文帳に追加

重ね合わせ精度測定マークは、基準マーク１０と合わせマーク２０とからなる。 - 特許庁

REFERENCE MARK REGISTRATION DEVICE FOR COMPONENT MOUNTING AND REFERENCE MARK REGISTRATION METHOD FOR COMPONENT MOUNTING例文帳に追加

部品実装用基準マーク登録装置及び部品実装用基準マーク登録方法 - 特許庁

First, the reference mark 1 is image-processed to obtain the positional data of the reference mark 1 (S2).例文帳に追加

まず基準マーク１を画像処理して、前記基準マーク１の位置データを求める（Ｓ２）。 - 特許庁

INSPECTION APPARATUS FOR REFERENCE MARK OF INSPECTION OBJECT例文帳に追加

検査対象物の基準マーク検査装置 - 特許庁

REFERENCE LINE POSITION MEASURING INSTRUMENT, PROGRAM FOR REFERENCE LINE POSITION MEASUREMENT, AND REFERENCE LINE MARK例文帳に追加

標線位置測定装置、標線位置測定用プログラム、および標線マーク - 特許庁

For example, the pixel value of a "reference" mark is calculated by an interpolation operation of four pixels ("black circle" mark) around the pixel of the "reference" mark.例文帳に追加

例えば、※印の画素値を、※印の画素の周囲の４つの画素（●印）の補間演算によって算出する。 - 特許庁

The substrate S is formed with a first reference mark P1, a third reference mark P3 and a fourth reference mark P4 each having a predetermined diameter and a second reference mark P2 having a larger diameter than the above reference marks P1, P2, P4.例文帳に追加

基板Ｓに所定径の第１基準マークＰ１、第３基準マークＰ３および第４基準マークＰ４とこれら基準マークＰ１、Ｐ３、Ｐ４より大きい径の第２基準マークＰ２とを形成する。 - 特許庁

Then, the position of the second reference position mark 41b is corrected to an ideal reference position mark 41c against the first reference position mark 41a.例文帳に追加

そして、第２基準位置マーク４１ｂの位置を第１基準位置マーク４１ａに対し、理想的基準位置マーク４１ｃに補正する。 - 特許庁

A base plate stage is provided with a reference mark (a second mark) SM.例文帳に追加

基板ステージには基準マーク（第２マーク）ＳＭが設けられている。 - 特許庁

DISPLAY METHOD AND DRAWING DEVICE FOR REFERENCE MARK例文帳に追加

基準マークの表示方法および作図装置 - 特許庁

The reference image 64 is provided with a body mark 69 and a probe mark 74.例文帳に追加

参照画像６４はボディマーク６９とプローブマーク７４とを有する。 - 特許庁

The encoder includes a reference mark detector for generating the first reference mark signals when the first reference marks pass the reference mark detector.例文帳に追加

エンコーダには、第１基準標識が基準標識検出器を通過した場合に第１基準標識信号を生成する基準標識検出器も含まれている。 - 特許庁

REFERENCE MARK BODY AND ALIGNER HAVING THE SAME例文帳に追加

基準マーク体及びそれを有する露光装置 - 特許庁

REFERENCE MARK MOVING APPARATUS AND SUBSTRATE ALIGNMENT APPARATUS例文帳に追加

基準マーク移動装置及び基板アライメント装置 - 特許庁

A reference treated substrate 30, onto which the 1st reference alignment mark of the reference reticle is transferred as a 3rd reference alignment mark 31, is formed.例文帳に追加

基準レチクルの第１の基準アライメントマークを第３の基準アライメントマーク３１として転写された基準処理基板３０を形成する。 - 特許庁

The reference mark to be a reference for the position of a mark frame is printed on the mark sheet 2 by an optically readable color.例文帳に追加

マークシート２２上には、光学的に読取可能な色でマーク枠２３の位置の基準となる基準マーク２４が印刷されている。 - 特許庁

(a) the reference in that section to a registered trade mark shall be treated as a reference to a protected international trade mark (Singapore); and例文帳に追加

(a)当該条文にいう登録商標は，保護国際商標(シンガポール)として扱われ，かつ - 特許庁

The position of the probe chip 48 is obtained with respect to an index mark of the reference plate 50 to obtain the position of the next probe chip 48 to an adjacent reference mark.例文帳に追加

複数の半導体プローブカードのプローブチップ(48)は、プレート上の基準パターンと接触する。 - 特許庁

A reference mark 1 and a reference mark 2 are attached to the object to be held which is detachably attached to the holding part.例文帳に追加

保持部に着脱可能に保持され保持対象には、基準マーク１及び基準マーク２が附される。 - 特許庁

A signal cross of the reference mark secondary signal is identified in the spatial vicinity of the signal cross of the reference mark primary reference signal.例文帳に追加

基準マーク二次信号の信号クロスは、基準マーク一次基準信号の信号クロスの空間的近傍で特定される。 - 特許庁

In the mark edge deviation measuring part 70, mark edge deviation between a reference clock edge and a mark edge is measured.例文帳に追加

マークエッジずれ測定部７０は、基準クロックエッジとマークエッジとの間のマークエッジずれを測定する。 - 特許庁

A resist reference mark 120 is formed in a rectangular shape of dimensions different from those of the ground reference mark 110 on a resist film 134 on the ground reference mark 110.例文帳に追加

レジスト基準マーク１２０は、下地基準マーク１１０上のレジスト膜１３４に形成され、下地基準マーク１１０と異なる寸法の矩形枠状に形成される。 - 特許庁

MAGNETIC SERVO POSITION DEMODULATOR, METHOD FOR DETERMINING REFERENCE MARK BY MAGNETIC MEDIUM, DEVICE FOR DETECTING REFERENCE MARK, AND METHOD FOR DETECTING REFERENCE MARK BY MAGNETIC MEDIUM例文帳に追加

磁気サーボ位置復調器、磁気媒体で基準マークを判断する方法、基準マークを検出するための装置、および磁気媒体で基準マークを検出する方法 - 特許庁

Next, the reference mark 2 rotated by 180 degrees is subjected to image processing to obtain the positional data of the reference mark 2 (S4).例文帳に追加

次に１８０度回転させた基準マーク２を画像処理して、基準マーク２の位置データを求める（Ｓ４）。 - 特許庁

LEVEL GAUGE, AND REFERENCE MARK POSITION CHANGING METHOD FOR LEVEL GAUGE例文帳に追加

レベルゲージ、及びレベルゲージの基準マーク位置変更方法 - 特許庁

(a) a reference to a trade mark is taken to include a collective trade mark; and例文帳に追加

(a) 商標についての言及は、団体商標を含んでいるものとみなし、また - 特許庁

Since the picture image is scanned by the mark corner detecting part 51 until the reference mark is detected, the reference mark can be surely detected.例文帳に追加

基準マークが検出されるまでマーク角検出部５１で画像イメージの走査を行うので、確実に基準マークを検出することができる。 - 特許庁

X-RAY DETECTING METHOD FOR REFERENCE MARK OF MULTILAYER LAMINATED BOARD例文帳に追加

多層積層板の基準マークのＸ線検出方法 - 特許庁

The notational system of character reference to Onsen mark is ♨ (♨). 例文帳に追加

温泉マークの文字参照による表記方法は、♨（♨）である。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

(a) a reference in that Part to a registered trade mark were a reference to the protected international trade mark; and例文帳に追加

(a) 前記の部における登録商標についての言及は、国際保護商標についての言及とすること、及び - 特許庁

The part where the reference mark of the printed wiring board must be located is moved to a position facing a reference mark camera and imaged.例文帳に追加

プリント配線板の基準マークが位置するはずの部分を基準マークカメラに対向する位置に移動させて撮像する。 - 特許庁

To allow the center of a reference mark to be detected soon after the reference mark is selected using a template.例文帳に追加

テンプレートで基準マークを選択してから短時間で基準マークの中心を検出することができるようにする。 - 特許庁

A reference mark position acquiring device 80 is provided with an image data acquisition part 80, a recognition mark position data acquisition part 94, and a reference mark selection part 100.例文帳に追加

基準マーク位置取得装置８０を、画像データ取得部８０，認識マーク位置データ取得部９４および基準マーク選出部１００を含むものとする。 - 特許庁

(a) to a registered trade mark or a trade mark that is registered is taken to be a reference to the protected international trade mark or a trade mark that is a protected international trade mark; and例文帳に追加

(a) 登録商標又は登録される商標についてのものは、国際保護商標又は国際保護商標である商標についての言及とみなし、また - 特許庁

While the alignment mark 10 is superposed upon the reference mark 20 and parallel light rays are projected from the upper surface of the mark 10, the light quantity at the position corresponding to each pattern is detected on the lower surface of the reference mark 20.例文帳に追加

両マーク１０，２０を重ね合わせ、アライメントマーク１０の上面から平行光を照射し、基準マーク２０の下面で各パターンに対応する位置での光量を検出する。 - 特許庁

A land mark identification section 140 identifies a land mark reference point and a land mark objective point overlapped with a land mark which is commonly displayed on the reference image and the objective image.例文帳に追加

ランドマーク点特定部１４０は、参照画像と対象画像とに共通して映っているランドマークに重畳するランドマーク参照点とランドマーク対象点とを特定する。 - 特許庁

(3) Unless the context otherwise requires, any reference in these Rules to a trade mark shall be construed as including a reference to a certification mark, collective mark and defensive trade mark. 例文帳に追加

(3) 文脈上別異の解釈を要する場合を除いて，本規則において，商標というときは，証明標章，団体標章及び防護商標への言及を含むものとする。 - 特許庁

To maintain superposition accuracy even if an error is included in the reference mark positions of reference members.例文帳に追加

基準部材の基準マーク位置に誤差が含まれていても、重ね合わせ精度を維持する。 - 特許庁