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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > Reference markの意味・解説 > Reference markに関連した英語例文

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Reference markの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 966



例文

to the use of a mark, - (i) in relation to goods, shall be construed as a reference to the use of the mark upon, or in any physical or in any other relation whatsoever, to such goods; (ii) in relation to services, shall be construed as a reference to the use of the mark as or as part of any statement about the availability, provision or performance of such services; 例文帳に追加

標章の使用というときは, (i) 商品に関しては,物理的関係であるか又はその他如何なる関係であるかを問わず,当該商品についての標章の使用をいうものと解釈する。 (ii) サービスに関しては,当該サービスの利用可能性,提供,又は実施についての記述若しくはその一部としての当該標章の使用をいうものと解釈する。 - 特許庁

The surface of a dry film resist layer 55 is irradiated with the UV rays from mirrors 22 and 23, with the detected position of the reference mark 50 as a reference, by which the marks drawn on photomasks 24 and 25 are printed onto the dry film resist layer 55.例文帳に追加

該基準マーク50の検出位置を基準として、ミラー22、23から紫外線をドライフィルムレジスト層55上に照射し、フォトマスク24、25に描かれたマークをドライフィルムレジスト層55上に焼き付ける。 - 特許庁

Consequently, a preparatory work for setting a reference position, such as actually positioning a substrate 3 or separately preparing a position reference mark indicating the position of the substrate at a component mounting position [P], is not required.例文帳に追加

これにより、基板3を実際に位置決めするかあるいは部品実装位置[P]における基板の位置を示す位置基準マークを別途準備するなどの基準位置設定のための準備作業を必要としない。 - 特許庁

When a wobble signal corresponding to the wobble shape of the pit column is detected, influence of the reference mark can be easily reduced, since the reference marks corresponds to the period of the wobbling along the pit column.例文帳に追加

さらに、基準マークとピット列の蛇行の周期とが対応関係を有しているため、ピット列の蛇行形状に対応するウォブル信号を検出する際に、基準マークの影響を容易に低減することが可能となる。 - 特許庁

例文

In the pattern exposure process, the time when the electron beam 83 passes on the exposure position reference mark 21 is detected with the electron detector and the timing for irradiating the electron beam 83 is controlled with reference to the passing time.例文帳に追加

パターン露光を行う工程において、露光位置参照マーク21上を電子ビーム83が通過する時刻を電子検出器により検出し、通過時刻を基準として電子ビーム83を照射するタイミングを制御する。 - 特許庁


例文

A reference glass 20 with a reference mark 25 formed for adjusting a plane position is inserted between a first alignment camera 1 for measuring a head 10 and a second alignment camera 2 for measuring a member 18 to be recorded.例文帳に追加

ヘッド10を測定するための第1アライメントカメラ1と、被記録部材18を測定するための第2アライメントカメラ2との間に、平面位置調整のため基準マーク25をつけた基準ガラス20を挿入する。 - 特許庁

In one alignment mark 200, line segments 201A and 201B in a parallel direction with a reference direction and line segments 202A and 202B which intersect the reference direction at right angles intersect one another approximately in a cross shape as a whole.例文帳に追加

一方のアライメントマーク200は、予め設定された基準方向に対して平行方向の線分201A、201Bと直交方向の線分202A、202Bとが、全体として略+字状に交差している。 - 特許庁

The game machine uses a reel tape 106 obtained by forming a reference mark 107 showing a reference position for winding on the reels 101a, b and c with patterns by a pattern forming means being a screen printer not shown in the figure.例文帳に追加

回胴101a、b、cに対する巻き付け用の基準位置を示す基準マーク107を、図柄形成手段たる図示しないスクリーン印刷装置によって図柄とともに形成したリールテープ106を用いた。 - 特許庁

The inclination correction is performed by obtaining the coordinate value of the reference point, therefore, the inclination correction can be performed for a wafer to which a target mark is not applied as well.例文帳に追加

このように、基準点の座標値を求めて傾き補正を行うので、ターゲットマークの付されていないウェハに対しても傾き補正を行える。 - 特許庁

例文

The layered body 10 from which one substrate 1 is exfoliated is cut on the other substrate 1 on the basis of the position reference mark M and divided into a plurality of divisions.例文帳に追加

一方の基板1を剥離した積層体10を、他方の基板1上で位置基準マークMを基準にして切断して、複数に分割する。 - 特許庁

例文

A proximity switch is provided at a first device out of the devices, and a reference mark is provided at the second device out of the devices.例文帳に追加

これらのデバイスのうちの第1デバイスに近接スイッチが設けられ、これらの2つのデバイスのうちの第2デバイスに基準マークを設けることができる。 - 特許庁

In the case of writing by superposing a plurality of colors, the reference position mark 4 is written on the intermediate transfer belt 3 in the first color first, and then an image is written after a fixed time.例文帳に追加

複数の色を重ねて書く場合、最初の色では、まず中間転写ベルト3に基準位置マーク4を書き、その後、一定時間後に画像を書く。 - 特許庁

The printer 1 detects aligning reference on the recording paper 12a such as a black mark 12c or an end of a label by using a sensor such as a reflection type photosensor 26.例文帳に追加

プリンタ1は、記録紙12a上のブラックマーク12cやラベル端部などの位置合わせ基準を、反射型フォトセンサ26などのセンサで検出する。 - 特許庁

A driving element incorporating TFT is formed on the other substrate (108), thereon a reference mark and an alignment film are formed (109, 110) to complete a TFT(thin film transistor) substrate.例文帳に追加

他方の基板にはTFTを含む駆動素子を形成し(108)、基準マークを形成し(109)、配向膜を形成して(110)、TFT基板が完成する。 - 特許庁

In Fig. b the distance L1 between corresponding guide mark P1 and reference hole H1 is defined and the angle α is obtained at which the square sum Q of L1-L4 is minimum.例文帳に追加

図(b)で対応するガイドマークP1と基準穴H1の距離L1を定義し、L1〜L4の自乗和Qが最小となる角αを求める。 - 特許庁

Next, a mark image on a reticle reference plate via the projection optical system is measured to calculate the focal position, the plane-direction positional displacement, etc. (S30).例文帳に追加

次に、投影光学系を介したレチクル基準プレート上のマーク像を計測し、焦点位置や平面方向位置ずれ量等を算出する(S30)。 - 特許庁

If the lens part 2 is a non axially symmetric lens, the projecting parts 5a and 5b are also used as a mark in the radial direction being reference with respect to the condensing characteristic of the lens.例文帳に追加

また、レンズ部2が非軸対称レンズである場合には、その集光特性に対する基準となる半径方向の目印として用いることもできる。 - 特許庁

To provide an aligner which can appropriately suppress the deformation of a reference mark plate due to a change in temperature and accurately measure a base line, at the same time.例文帳に追加

温度変動などに起因する基準マーク板の変形を良好に抑えて、高精度な同時ベースライン計測を行うことのできる露光装置。 - 特許庁

At this time, the reference mark 206 is rotated and reduced in size to be equal in size to a designated point 208 of the specified monster 202.例文帳に追加

このとき、指標206は、指定したモンスター202の指示ポイント208の大きさとほぼ同じ大きさになるまで回転しながら縮小していく。 - 特許庁

To obtain an alignment method for an exposure apparatus and an exposure apparatus, wherein a work piece is not rejected from the production line even when a reference mark position on the work piece is misaligned and the process efficiency is hardly decreased.例文帳に追加

ワーク上の基準マーク位置がずれていてもラインアウトせず、処理効率の低下しにくい露光装置のアライメント方法および露光装置を得る。 - 特許庁

A mark 46 being a reference in cutting roll media 40 is formed in a part (margin) apart from picture areas 41a and 41b of the roll media 40.例文帳に追加

ロールメディア40のうち画像領域41a,41bから外れた部分(余白)に、カッタで自動的に切断するときの基準になるマーク46を形成した。 - 特許庁

Consequently, the approver can confirm whether the workman has carried out work by properly referring to the reference information by looking at the mark.例文帳に追加

従って、承認者は、印を見ることによって作業担当者が正しく参照情報を参照して作業を行ったかを確かめることができる。 - 特許庁

An operation panel 21 is operated while an operator observes a monitor screen, and a plurality of reference patterns 41, 42,..., 4n corresponding to a mark on a cell and TAB are successively instructed.例文帳に追加

オペレータは、モニタ画面を見ながら操作パネル21を操作し、セルおよびTAB上のマークに対応する複数の基準パターン41,42,…,4nを順次教示する。 - 特許庁

This improved wound dressing 20 includes: a backing layer 20 bearing a reference mark 25; a hydrocolloid layer 30, and a release layer 40.例文帳に追加

この外傷用傷当材10は、基準マーク25を帯びている裏地層20と、親水コロイド層30と、そして剥し取り層40とを有している。 - 特許庁

To estimate rotation of an imaging system and its time variation even when images in three-dimensional images have no mark on a surface being a reference in low quality.例文帳に追加

3次元画像において画像が低品質で基準となる面に目印となるものが無くても撮像系の回転やその時間変動の推定を可能とする。 - 特許庁

The disposable diaper 1 of a spread type is equipped with an indication mark 31 which uses a navel of the wearer as a reference in a ventral part 11.例文帳に追加

この使い捨ておむつ1は展開型のおむつであり、その腹側部分11には、着用者の臍を基準とした目安マーク31が設けられている。 - 特許庁

A first color printing means 10a puts a reference register mark 40a with a feed direction segment and a width direction segment to a printing substrate W.例文帳に追加

第1色目の印刷手段10aは送り方向線分および幅方向線分を有する基準の見当マーク40aを印刷基板Wに付ける。 - 特許庁

To provide a molding die of an optical element having a mark serving as measurement reference capable of correct shape evaluation of a stepped diffraction pattern.例文帳に追加

階段状となる回折パターンの形状評価を正確に行うことができる測定基準としてのマークを有する光学素子の成形金型を提供する。 - 特許庁

(1) The Office shall mark the application for an invention with the date of its filing, assign it a reference number and issue the applicant a certificate of the filing of the application for an invention.例文帳に追加

(1) 庁は,発明出願に出願日を記載し,これに参照番号を付し,かつ出願人に発明出願証明書を発行する。 - 特許庁

Any invalidation of a registration of a mark shall be deemed to have been effective as of the date of registration, and shall be recorded and a reference thereto published as soon as possible. 例文帳に追加

標章登録の如何なる無効処分も,登録日現在で発効したとみなし,登録され,かつ,それへの言及は速やかに公告される。 - 特許庁

Using the inner layer reference hole mark 4 thus read out as the origin, the position of each inner layer land of test coupons 3 provided at four corners of each inner layer is measured automatically.例文帳に追加

読取った内層基準孔マーク4を原点として、内層各層の四隅に設けたテストクーポン3の各内層ランド位置を自動計測する。 - 特許庁

Further, suitable measurement marks are selected out of the calibration marks, and relative positions thereof are detected by a reference mark constituted at a wafer side.例文帳に追加

更に、それらのキャリブレーションマークの中から適切な計測マークを選択し、それらの相対位置を、ウエハ側に構成された基準マークによって、検出する。 - 特許庁

This constitution can grasp an tendency and a property of a positional dislocation quantity of the reference mark quantitatively analyzed with the lapse of time.例文帳に追加

この構成によって、経時的かつ数量的に分析された当該基準マークの位置ずれ量の傾向及び性質を把握できるようになる。 - 特許庁

Various measurement sequences, containing a detecting operation of detecting position data on the reference marks by the use of a mark detection system, are executed by a control device.例文帳に追加

また、制御装置により、マーク検出系を用いて各基準マークの位置情報を検出する検出動作を含む各種計測シーケンスが実行される。 - 特許庁

To provide an IC test system capable of photographing a reference mark which has been unable to be photographed when the contact ring with a round hole, ins spite of forming the hole in a rectangular shape.例文帳に追加

コンタクトリングの孔を矩形状に形成し、丸孔の場合では撮影できない基準マークの撮影が可能なICテストシステムを提供する。 - 特許庁

The image data for one circuit of the can 1 is created on the basis of a scale 11 attached to the chuck 10 with reference to a mark location 5 detected from a bar code 4.例文帳に追加

バーコード4から検出したマーク位置5を基準としてチャック10に付されている目盛11に基づいて、缶1の1周画像データを作成する。 - 特許庁

In such a case, the time that the belt 14 is driven and rotated to circulate once is counted with a connection mark 41 detected by the the sensor 42 as the reference.例文帳に追加

この際に、センサ42により検出する接続痕41を基準として、回転駆動により転写ベルト14が一周する時間をカウントする。 - 特許庁

Through the configuration above, when the original is placed on the basis of the reference mark 13, the element area A is imaged and background recognition processing is applied to the imaged area.例文帳に追加

この構成において基準マーク13に基き原稿が設置されると要素領域Aを撮像し、これに対して背景認識処理を施す。 - 特許庁

This suppresses the measuring error from growing in the base line measurement using the reference mark WM_1, WM_2, WM_3, WM_4 and the measuring pattern ST.例文帳に追加

したがって、基準マークWM_1,WM_2,WM_3,WM_4及び計測パターンSTを用いたベースライン計測では計測誤差の発生が抑制される。 - 特許庁

The characteristic position of the mark can be found by using correlation analysis of this signal waveform and a known reference waveform, or known symmetry of the signal waveform.例文帳に追加

マークの特徴的位置は、この信号波形と既知の基準波形との相関解析あるいは信号波形の既知の対称性を用いて求めることができる。 - 特許庁

A reference mark 20 on a projection aligner side is constituted by arranging square patterns 21 smaller in size than the patterns 22 at regular intervals in a line.例文帳に追加

投影露光装置側の基準マーク20は、パターン11よりも小さい正方形のパターン21が、同じ行列で等間隔を開けて配置されたものである。 - 特許庁

When the mark for detecting the reference position is detected eventually by means of the sensor, the ink carriage is switched to a low speed at a predetermined timing.例文帳に追加

その後,センサによって上記基準位置検出マークが検出された場合には,その後所定のタイミングでインクキャリッジの速度を低速に切り替える。 - 特許庁

Regarding operation, subsurface image can be formed by a reference mark or by other area for determining the position of the beam on the element.例文帳に追加

操縦に関しては、表面下の像は素子上のビームの位置を決定するための基準マーク又は他の部位によって形成されることができる。 - 特許庁

An actual relative position vector Vs of a plurality of imaging means is determined from the image position of a reference mark imaged at the facing position of each imaging means.例文帳に追加

各撮像手段の対向位置で撮像された基準マークの画像位置から複数の撮像手段の実際の相対位置ベクトルVsを求める。 - 特許庁

The reference mark 10 is positioned at a higher position than the mounting component 7 where it becomes highest in its state being mounted on the printed wiring board 3.例文帳に追加

前記プリント配線板3に実装された状態での高さが最も高くなる実装用部品7より高くなる位置に前記基準マーク10を位置付ける。 - 特許庁

This method is to measure the relative position of the patterns produced on the substrate by a step mode, using a reference mark overlaid on the device pattern.例文帳に追加

デバイス・パターン上に重畳している基準マークを使用して、基板上にステップ・モードにより現像したパターンの相対的位置を測定するための方法。 - 特許庁

After the central point of the cross mark is aligned with the reference point 11a of a left top module M11 among four corners of a bonding area BA, a set switch is pushed.例文帳に追加

クロスマークの中心点を、ボンディングエリアBAの四隅のうち左上端のモジュールM11の基準点M11aに合わせて、セットスイッチを押す。 - 特許庁

Based on the position information on the central position of a reference mark set beforehand and the position information on the central position of each substrate mark F1-F4, a corrected position at which the amount of a positional slippage becomes minimum is calculated by the image processing device.例文帳に追加

画像処理装置で、あらかじめ設定した基準マークの中心位置の位置情報と、各基板マークF1〜F4の中心位置の位置情報とに基づいて、位置ずれのずれ量が最も小さくなる補正位置を演算する。 - 特許庁

Moreover, the amount of paper expansion/contraction can be measured with the accuracy close to a nozzle pitch by way of newly making an additional recording of the expansion/contraction reference mark on the first surface and detecting the position of the mark recorded additionally in corresponding with the non-discharge detecting pattern.例文帳に追加

また、前記第1面に新たに伸縮基準マークを追加記録し、当該追加記録したマークの位置を不吐検知パターンと対応させて検出することでノズルピッチに近い精度で用紙伸縮量を計測できる。 - 特許庁

例文

A face mark determining part 8 includes symbol characters that are adjacent horizontally to a character string between the detected left and right side face contours in the character string and determines them to be a face mark if the ratio is greater than a reference ratio.例文帳に追加

顔文字判定部8は、上記比率が基準比率以上であれば、検出された左側顔輪郭から右側顔輪郭までの文字列に、これらの左右に隣接する記号文字を含めて、顔文字であると判定する。 - 特許庁




  
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