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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > Secondary electronの意味・解説 > Secondary electronに関連した英語例文

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Secondary electronの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 660



例文

TRANSMISSION SECONDARY ELECTRON SURFACE AND ELECTRON TUBE例文帳に追加

透過型2次電子面及び電子管 - 特許庁

SECONDARY ELECTRON IMAGE OBSERVATION DEVICE例文帳に追加

二次電子像観察装置 - 特許庁

SECONDARY ELECTRON MULTIPLICATION DEVICE例文帳に追加

二次電子増倍装置 - 特許庁

SECONDARY ELECTRON DETECTOR例文帳に追加

二次電子検出器 - 特許庁

例文

SECONDARY ELECTRON MEASURING DEVICE例文帳に追加

2次電子測定装置 - 特許庁


例文

ELECTRON/SECONDARY ION MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

電子・2次イオン顕微鏡装置 - 特許庁

SECONDARY-ELECTRON EMITTING COLD CATHODE例文帳に追加

二次電子放射冷陰極 - 特許庁

ALIGNMENT METHOD FOR SECONDARY ELECTRON IMAGE例文帳に追加

二次電子像位置合わせ方法 - 特許庁

ADJUSTING METHOD FOR SECONDARY ELECTRON IMAGE例文帳に追加

二次電子像調整方法 - 特許庁

例文

SECONDARY ELECTRON EMISSION RATE MEASURING DEVICE例文帳に追加

二次電子放出率測定装置 - 特許庁

例文

MANUFACTURE OF SECONDARY ELECTRON EMISSION FILM, AND THE SECONDARY ELECTRON EMISSION FILM例文帳に追加

二次電子放出膜の製造方法及び二次電子放出膜 - 特許庁

ELECTRON-PROJECTING LITHOGRAPHY DEVICE UTILIZING SECONDARY ELECTRON例文帳に追加

二次電子を利用した電子投射露光装置 - 特許庁

SECONDARY ELECTRON-REFLECTED ELECTRON DETECTING DEVICE, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE HAVING SECONDARY ELECTRON-REFLECTED ELECTRON DETECTING DEVICE例文帳に追加

2次電子・反射電子検出装置及び2次電子・反射電子検出装置を有する走査電子顕微鏡 - 特許庁

To selectively detect a secondary electron signal and a reflected electron signal regarding a secondary electron-reflected electron detecting device and a scanning electron microscope having the secondary electron-reflected electron detecting device.例文帳に追加

本発明は2次電子・反射電子検出装置及び2次電子・反射電子検出装置を有する走査電子顕微鏡に関し、2次電子信号と反射電子信号を選択的に検出することを目的としている。 - 特許庁

An photoelectron and a secondary electron are emitted from a sample 7 by X-ray irradiation, and the secondary electron is detected by a secondary electron detector 15.例文帳に追加

X線照射により試料7から光電子や2次電子が放出され、2次電子は2次電子検出器15で検出される。 - 特許庁

The secondary electron drawing grid 7 adjusts the flight of the secondary electron to improve the detecting efficiency and the response speed of the secondary electron signal.例文帳に追加

2次電子引き出しグリッドにより、2次電子の飛行を調整して検出効率の向上及び2次電子信号の応答速度の向上を図る。 - 特許庁

LOW VACUUM OF SECONDARY ELECTRON DETECTING APPARATUS SUCH AS SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, ETC例文帳に追加

走査電子顕微鏡等の低真空二次電子検出装置 - 特許庁

The secondary electron emission emitter has an electron emission surface.例文帳に追加

前記二次電子放出エミッタは、電子放出面を有する。 - 特許庁

To make uniform the collection efficiency of secondary electrons of a secondary electron detector within an electron beam scanning region.例文帳に追加

二次電子検出器の二次電子収集効率を電子線走査領域内で均一とする。 - 特許庁

In the image acquisition section 114, the secondary electron intensity is subjected to brightness modulation for obtaining a secondary electron image.例文帳に追加

画像取得部114では、二次電子強度を輝度変調して二次電子画像を得る。 - 特許庁

MEASUREMENT METHOD USING SECONDARY ELECTRON MULTIPLICATION ELEMENT AND DEVICE USING SECONDARY ELECTRON MULTIPLICATION ELEMENT例文帳に追加

二次電子増倍素子を使用した測定方法及び二次電子増倍素子を使用した装置 - 特許庁

To provide an MCP(microchannel plate) and a secondary electron amplification device that can provide high secondary electron amplification, with a simple structure.例文帳に追加

簡素な構造で高い2次電子増幅率が得られるMCP及び2次電子増幅装置の提供。 - 特許庁

The separated secondary electrons are detected by the plural secondary electron detectors.例文帳に追加

分離された二次電子は、複数の二次電子検出器で検出される。 - 特許庁

The secondary column is to catch a secondary electron generated from the surface of the testpiece.例文帳に追加

二次コラムは、試料表面から発生する二次電子を捕獲する。 - 特許庁

A secondary electron conversion electrode 7 for generating a secondary electron 9a caused by collision of the reflected electron 8a is arranged further toward an electron source side than an object lens 4 and toward a sample side than a secondary electron detector 5a.例文帳に追加

本発明は、反射電子(8a)の衝突によって二次電子(9a)を発生させる二次電子変換電極(7)を、対物レンズ(4)より電子源側であり且つ、二次電子検出器(5a)より試料(6)側に配置したことを特徴とする。 - 特許庁

A secondary-electron detector is placed above the specimen. 例文帳に追加

二次電子検出器は、試料の上方に配置される。 - 科学技術論文動詞集

OBSERVATION METHOD FOR SCANNING SECONDARY ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型2次電子顕微鏡の観察方法 - 特許庁

SECONDARY ELECTRON MULTIPLICATION ELECTRODE AND PHOTOMULTIPLIER TUBE例文帳に追加

二次電子増倍電極及び光電子増倍管 - 特許庁

PHOTOELECTRIC SURFACE, SECONDARY ELECTRON SURFACE, AND ELECTRONIC TUBE例文帳に追加

光電面、二次電子面及び電子管 - 特許庁

To effectively detect each of a plurality of secondary electron beams.例文帳に追加

複数の2次電子ビームの各々を有効に検出する。 - 特許庁

SECONDARY ELECTRON DETECTOR AND CHARGE PARTICLE BEAM APPARATUS例文帳に追加

二次電子検出器、及び荷電粒子ビーム装置 - 特許庁

MATERIAL OF LOW GAS EMISSION AND LOW SECONDARY ELECTRON EMISSION例文帳に追加

低ガス放出及び低2次電子放出材料 - 特許庁

Secondary electron emission coefficient can be obtained accurately.例文帳に追加

二次電子放出比を正確に求めることが可能になる。 - 特許庁

SECONDARY ELECTRON DETECTOR AND CHARGED PARTICLE BEAM INSPECTION DEVICE例文帳に追加

2次電子検出器、及び荷電粒子線検査装置 - 特許庁

The detector is to detect the secondary electron.例文帳に追加

検出器は、二次電子を検出する。 - 特許庁

LITHOGRAPHY PROJECTOR EQUIPPED WITH SECONDARY ELECTRON REMOVER例文帳に追加

二次電子除去装置を備えたリソグラフィ投影装置 - 特許庁

ALL-PURPOSE TYPE SECONDARY ELECTRON EMISSION RATE MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加

汎用型二次電子放出率測定器 - 特許庁

To restrain an aberration increase caused by a spatial charge effect of a secondary electron beam in an overlapped area of a primary electron beam and the secondary electron beam.例文帳に追加

一次電子ビームと二次電子ビームとの重複領域で二次電子ビームの空間電荷効果による収差増大を抑制する。 - 特許庁

The secondary electrons from the sample 4 are detected and converted into an electric signal by a secondary electron detector 5, and displayed on a secondary electron image display means 8.例文帳に追加

試料4からの2次電子は2次電子検出器5により検出され電気信号に変換されて、2次電子像表示手段8に表示される。 - 特許庁

In an electron beam inspection device for obtaining a potential information of the sample by selecting in energy level for detecting a secondary electron, there are provided: an energy filter grid 6 for conducting energy selection; a secondary electron drawing grid 7 for accelerating the secondary electron toward the secondary electron drawing grid 7; and a secondary electron detector 3 for detecting the secondary electron passed through the both grids 6 and 7.例文帳に追加

2次電子をエネルギー選別して検出することにより試料の電位情報を得る電子線検査装置において、エネルギー選別を行うエネルギーフィルタグリッド6と、2次電子を2次電子引き出しグリッド7に向けて加速する2次電子引き出しグリッド7と、両グリッド6,7を通過した2次電子を検出する2次電子検出器3とを備える。 - 特許庁

The secondary electron or the like generated in the heavy metal layer 20 further generates a secondary electron or the like in the diamond layer 10, and the generated secondary electron or the like is also used as an electron for detection or the like.例文帳に追加

また、重金属内20で発生した二次電子等がダイヤモンド層10内でさらに二次電子等を発生させ、発生した二次電子等も検出用の電子等として利用される。 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING CARBON FIBER, ELECTRON EMITTER, ELECTRON SOURCE, IMAGE FORMING APPARATUS, LIGHT BULB AND SECONDARY BATTERY例文帳に追加

カーボンファイバー、電子放出素子、電子源、画像形成装置、ライトバルブ、二次電池の製造方法 - 特許庁

To guide a large number of secondary electrons to an electron detection part, in a scanning electron microscope.例文帳に追加

走査電子顕微鏡において、多数の2次電子を電子検出部に導くこと。 - 特許庁

The electron-optical system has an objective lens, an E×B separator, and a plurality of secondary electron detectors.例文帳に追加

電子光学系は、対物レンズと、E×B分離器と、複数の二次電子検出器とを有する。 - 特許庁

The electron beam swung back at the second deflector 3 irradiates the surface of the sample 6 to produce the secondary electron.例文帳に追加

第2偏向器3で振り戻された電子線は、試料6面を照射し、2次電子を発生させる。 - 特許庁

A rectangular electron beam formed from an electron beam emitted from an electron gun 11 is made to irradiate a sample S, and a secondary electron, a reflecting electron or a transmitting electron from the sample is detected.例文帳に追加

電子銃11から放出された電子線を成形した長方形の電子ビームを試料Sに照射させ、試料からの二次電子又は反射電子或いは透過電子を検出する。 - 特許庁

The electron beam inspection device irradiates electron beam from an electron gun in an electron gun chamber onto samples placed in a sample room and detects secondary electron and reflected electron generated from the samples.例文帳に追加

電子ビーム検査装置は、試料室に置かれた試料に電子銃室の電子銃から電子線を照射し、試料から発生する二次電子および反射電子を検出することにより、試料の形状観察または寸法測定を行う。 - 特許庁

A secondary-electron detecting sensor for detecting the secondary electrons is provided on an ion injection device.例文帳に追加

イオン注入装置には2次電子を検出する2次電子検出センサを設ける。 - 特許庁

To provide a secondary electron detector capable of suppressing reduction in the detected amount of secondary electrons.例文帳に追加

二次電子の検出量の減少を抑制することが可能な二次電子検出器を提供する。 - 特許庁

例文

To raise contrast level of the FIB image by increasing the secondary electron collection efficiency of the secondary electron detection system in the focusing ion beam device(FIB).例文帳に追加

集束イオンビーム装置(FIB)における二次電子検出系の二次電子収集効率を高めてFIB画像のコントラストレベルを上げる。 - 特許庁

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