「Secondary electron」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

This is a scanning electron microscope apparatus which irradiates a sample 10 with an electron beam 20 and detects secondary electrons discharged from the sample 10 caused by the irradiation and is equipped with a scan generators 32 and 36 for detecting the secondary electrons at a frequency according to a magnification for observing the object 10.例文帳に追加

試料１０へ電子線２０を照射し、該照射に起因して試料１０から放出される２次電子を検出する走査型電子顕微鏡装置であって、試料１０を観察する倍率に応じた頻度で２次電子を検出するためのスキャン・ジェネレータ３２，３６を備えた走査型電子顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

In this state, by actuating an electron gun 130 or an ion gun 140, electrons or positive ions of inactive gas is irradiated onto an MgO membrane surface of the measurement sample, energy distribution of the emitted secondary electrons is measured with an electronic spectroscope 150, and the measured data of the secondary electron spectra are sent to an analysis device 200.例文帳に追加

この状態で、電子銃１３０或はイオン銃１４０を作動させて電子或は不活性ガスの正イオンを測定試料のＭｇＯ膜表面に照射すると共に、電子分光器１５０で、その放出された二次電子のエネルギー分布を測定し、測定した二次電子スペクトルのデータを解析装置２００に送る。 - 特許庁

An electron microscope can display the observed image on a display unit 28 by applying an acceleration voltage to an electron gun to irradiate a sample with an electron beam based on predetermined image observation conditions, scanning the desired area of the surface of the sample while secondary electrons or reflected electrons emitted from the sample are detected by one or more detectors, thereby focusing the image.例文帳に追加

電子顕微鏡は、所定の像観察条件に基づいて、電子銃に加速電圧を印加して電子線を試料に照射し、試料から放出される二次電子または反射電子を１以上の検出器で検出しながら試料表面の所望の領域を走査することで、観察像を結像し表示部２８にて表示可能である。 - 特許庁

The photoelectric element comprises a substrate (10), a conductive electric field reinforcement layer (12) which is formed on the substrate and has a plurality of local electric field concentrated end parts on the surface, an electron multiplication layer (13) by a secondary electron emitting substance formed on the conductive electric field reinforced layer, and a photoelectric substance layer (14) formed on the electron multiplication layer.例文帳に追加

基板(10)と、基板に形成され、表面に複数の局部的電界集中端部を有する導電性電界強化層(12)と、導電性電界強化層上に形成される２次電子放出物質による電子増幅層(13)と、電子増幅層上に形成される光電物質層(14)と、を備える光電界素子である。 - 特許庁

This electron multiplier tube is constituted of a plate-like insulating substrate 1, channels 2 formed with electron multiplier faces 3 emitting secondary electrons via the collision of electrons with the inner wall faces of through holes provided on the insulating substrate 1, a cathode electrode 4 and an anode electrode 5 provided on both faces of the insulating substrate 1 to apply a voltage to the electron multiplier faces 3.例文帳に追加

板状の絶縁性基体１と、その絶縁性基体１に貫通孔が設けられその貫通孔の内壁面に電子の衝突により二次電子を放出する電子増倍面３が形成されるチャンネル２と、その電子増倍面３に電圧を印加するため、絶縁性基体１の両面にそれぞれ設けられるカソード電極４およびアノード電極５とからなっている。 - 特許庁

In a method that an image is formed by utilizing a secondary electron amplification by residual gas around a sample in a low vacuum scanning electron microscope(SEM) and an absorption current, the observation with high resolution and good image quality is enabled by an electric field in which an electrode acts with the comparatively reduced number of parts and a design taking scattering of a first electron beam into consideration.例文帳に追加

低真空SEMにおける試料周辺の残留ガス分子による二次電子増幅法と吸収電流を利用して画像を形成する方式に於いて、比較的少ない部品数で電極が作用する電界や１次電子ビームの散乱を考慮した設計によって、低真空における高分解能・良好な像質での観察を可能とする。 - 特許庁

A means 9 of judging charge-up finds the difference between the measured value Ek1 and a theoretical value Ek2, and if it is outside an allowable range, the charge-up is considered to exist and the accelerating voltage of the electron gun 2 after the irradiation of the electron beam 3 is changed to suppress the charge-up by adjusting the quantity of the secondary electron.例文帳に追加

チャージアップ判定手段９が、このエネルギーの測定値Ｅｋ１と理論値Ｅｋ２との差を求め、これが許容範囲外ならばチャージアップありとみなし、主コントローラー１４によりそれ以降の電子ビーム３照射の際の電子銃２の加速電圧を変化させ、２次電子量を調整してチャージアップを抑制する。 - 特許庁

In other words, an off-set current and an off-set voltage for cancelling deflection by an electric field and deflection by a magnetic field to the primary electron beam and for superimposing an electric field and a magnetic field deflecting the secondary signal electron are generated by the deflector for generating an electric field or a magnetic field for scanning the primary electron beam.例文帳に追加

すなわち、一次電子線に対しては電界の偏向作用と磁界の偏向作用が相殺され、かつ、二次信号電子に対しては偏向作用が働く電界及び磁界を重畳させるオフセット電流及びオフセット電圧を、一次電子線を走査させる電界又は磁界を発生する偏向器に発生させる。 - 特許庁

By controlling irradiation condition of primary electron beams 108 in which pre-charge is carried out according to conditions of the testpieces, the charge amount at the observation position is controlled by confirming that the charge amount at the observation position has become to have the desired amount from that of secondary electron signal detected by using an energy light filter 101b and two electron detectors 102a, 102b.例文帳に追加

試料の状態にあわせてプリチャージを行う一次電子線１０８の照射条件を制御し、エネルギーフィルタ１０１ｂと２つの電子検出器１０２ａ，１０２ｂを用いて検出される二次電子信号量から観察箇所が所望の帯電量になったことを確認し、観察箇所の帯電量を制御する。 - 特許庁

This substrate inspection method uses a first acceleration voltage in which the yield of secondary electrons emitted from the specified material inside an inspection object region S by irradiating electron beams is larger than 1, and a second acceleration voltage in which the yield of the secondary electrons is smaller than 1.例文帳に追加

本発明に係る基板検査方法では、電子ビームを照射することにより検査対象領域Ｓ内の所定材料から出射される二次電子の収率が１より大きくなる第１の加速電圧と、二次電子の収率が１より小さくなる第２の加速電圧とを用いる。 - 特許庁

This prevents overlay of the DC component of visible lights on the image signal of secondary electrons, because the visible light from the lighting system stops during the scanning of electron beam on the sample and the writing of images of secondary electrons in a image memory 14.例文帳に追加

このように、電子ビームを試料上で走査して走査２次電子画像を画像メモリー１４に書き込んでいる期間は、可視光照明機構からの可視光の照明を停止するので、２次電子画像信号に可視光に基づく直流成分が重畳されることは防止される。 - 特許庁

To provide a charging rate estimation device for a secondary battery capable of reducing delay of an internal resistance estimated value, when the actual internal resistance is increased by a phenomenon in which internal resistance is increased by delay of electron delivery between positive and negative electrodes during discharge of large current from a secondary battery.例文帳に追加

二次電池の大電流放電時に正負極間で電子の受け渡しが追い着かなくなることに起因して内部抵抗が増大するという現象によって実際の内部抵抗が増大した場合に、内部抵抗推定値の遅れを小さく出来る二次電池の充電率推定装置を提供する。 - 特許庁

This electron generation device 10 is provided with a primary coil 12 wound around a I type ion core 11, secondary coils 13, 14, an E type iron core 17 arranged by being connected with the I type iron core 11 and unipolar output terminal 14a extended from one end of the secondary coil 14.例文帳に追加

電子発生装置１０は、Ｉ型鉄芯１１の回りに巻回された一次コイル１２および二次コイル１３，１４と、Ｉ型鉄芯１１と連結して配置されたＥ型鉄芯１７と、二次コイル１３，１４の一端から延設された単極の出力端子１４ａとを備えている。 - 特許庁

When the SEM observation is carried out under such a condition, secondary electrons emitted from the lower face of the sample support part 11 are pulled by the potential control part 14 in the optical axis direction of the electron beam, thus random emission of the secondary electrons is suppressed, and the high resolution of an obtained ISEC image can be achieved.例文帳に追加

このような条件でＳＥＭ観察を行なうと、電位制御部１４により、試料支持部１１の下面から出射された２次電子が電子線の光軸方向に引き寄せられるために２次電子のランダム放出が抑制され、得られるＩＳＥＣ画像の高分解能化を図ることができる。 - 特許庁

A first auxiliary electrode 13 on which a negative potential of several V (volt) to several dozens V is impressed is installed at the portion near the irradiation port of an objective lens 1, and a second auxiliary electrode 14 for impressing a positive voltage is installed on a secondary electron detector 5 side of the first auxiliary electrode, thereby corrects and controls the orbit of secondary electrons.例文帳に追加

対物レンズ１の下部の１次電子線３の照射口に近い部位に数Ｖ〜数十Ｖの負電位が印加される第１補助電極１３を設置し、第１補助電極の２次電子検出器５側に正電圧を印加する第２補助電極１４を設置して２次電子軌道を修正制御する。 - 特許庁

A voltage to be applied to a collecting electrode is changed instead of a prescribed fixed voltage according to the scanning position of an electron beam to heighten collection efficiency at a position at which the collection efficiency of secondary electrons is lowered and make uniform the collection efficiency of secondary electrons within the scanning region.例文帳に追加

収集電極に印加する電圧を、一定の固定電圧に代えて、電子線の走査位置に応じて変化させることによって、二次電子の収集効率が低下する位置での収集効率を高め、走査領域内における二次電子の収集効率を均一化する。 - 特許庁

The secondary electron detector 20 is equipped with a scintillator 22 for absorbing the secondary electrons discharged from a sample surface, onto which primary charged particles are irradiated and to convert it into light, and a photoelectric conversion device 26 for converting and amplifying the light, guided through a light guide 24 into electrons.例文帳に追加

一次荷電粒子が照射された試料表面から放出される二次電子を吸収して光に変換するシンチレータ２２と、ライトガイド２４を通して導かれた光を電子に変換して増幅する光電変換装置２６を備える二次電子検出器２０である。 - 特許庁

Since the secondary signal changes according to the charged potential of the gate insulating film, the secondary electron signal, having higher energy having reached the detector 16, is displayed as an image with the potential contrast, and leakage fault is identified by evaluating the charged potential of the gate insulating film.例文帳に追加

ゲート絶縁膜の帯電電位に応じて二次電子信号は変化することから、検出器１６に到達したエネルギーの高い二次電子の信号を電位コントラストとして画像化して表示し、ゲート絶縁膜の帯電電位を評価することにより、リーク不良を特定する。 - 特許庁

A correction similar to the correction of irradiated region with respect to the pattern matching processing from the usual secondary ion image or secondary electron image of the ion beam defect correcting device is performed and a defect region 3b which is extracted by the AFM and is subjected to fine adjustment by the conformation of the pattern for alignment is corrected by ion beams 8.例文帳に追加

イオンビーム欠陥修正装置の通常の二次イオン像もしくは二次電子像からのパターンマッチング加工に対する照射領域の補正と同様な補正を行い、AFMで抽出し、位置合わせ用のパターンの合わせ込みで微調整された欠陥領域3bをイオンビーム8で修正する。 - 特許庁

To improve electron conductivity and lithium-ion mobility in a lithium-titanium composite oxide electrode active material for use in a lithium secondary battery.例文帳に追加

本発明は、リチウム二次電池に用いられるリチウムチタン複合酸化物電極活物質の電子伝導性とリチウムイオンの移動度を向上させることを目的とする。 - 特許庁

An electron multiplier 3.8 receives, from the conversion dynode, secondary charged particles generated by the ion collision with the conversion dynode surface 3.7.例文帳に追加

電子倍増管３．８は、前記変換ダイノード表面３．７に対するイオンの衝突によって生成される二次荷電粒子を前記変換ダイノードから受け取る。 - 特許庁

To provide an electron beam cooling apparatus scarcely generating secondary electrons in a collector and rarely affects on an ion beam, and an ion ring for producing an ion beam in good quality.例文帳に追加

コレクタにおける二次電子の発生が少なく、イオンビームに対して悪影響を与えることの少ない電子ビーム冷却装置および良質のイオンビームを生成することのできるイオンリングを提供する。 - 特許庁

A molybdenum, tungsten or nickel alloy having a small spatter coefficient is used as a base material 10, and a metal oxide 12 having a large secondary electron emission coefficient is scattered on the surface thereof.例文帳に追加

スパッタ係数の小さいモリブデン、タングステンまたはこれらのニッケル合金を基材１０とし、この表面に二次電子放出係数が大きい金属酸化物１２を点在化させる。 - 特許庁

Imprecisely located defects are imaged by milling a series of slices and performing a light, preferential etching to provide a topographical interface between materials having similar secondary electron emission characteristics.例文帳に追加

不正確に発見された欠陥が、一連のスライスをミリングし、軽い優先的エッチングを行って、類似する二次電子放出特性を有する材料間の形状的界面を提供することによって画像化される。 - 特許庁

To provide an ion source having high removal capacity for input heat by electron flow toward an upstream electrode, without affecting downstream electrode due to generation of secondary electrons at the upstream electrode.例文帳に追加

上流の電極における２次電子の発生による下流の電極への影響が少なく、上流の電極への電子流による入熱の除去能力の高いイオン源装置を提供する。 - 特許庁

To provide a lithium secondary battery that has improved the discharge capacity by securing electron conductivity at the low-electric potential region and by smoothing the discharge reaction of lithium manganese group oxide such as lithium manganic acid.例文帳に追加

低電位領域における電子伝導性を確保し、マンガン酸リチウムのようなリチウムマンガン系酸化物の放電反応を円滑にならしめて放電容量を改善したリチウム二次電池を提供しようとするものである。 - 特許庁

To provide a positive electrode body which can suppress the deterioration of electron conductivity and has a high output and high capacity, and to provide a lithium ion secondary battery.例文帳に追加

電解液に対して反応性を有する導電材を用いた場合であっても、電子伝導性の低下を抑えることができる、高出力かつ高容量な正極電極体、及び、リチウムイオン二次電池を提供すること。 - 特許庁

An ion push back action in plasma 14 by the positive electrode 26 and a secondary electron absorption action in plasma 14 by the positive electrode 26 occur with this structure to increase polyvalent ion 14.例文帳に追加

この構成によって、正電極２６によるプラズマ１４中のイオンの押し戻し作用と、正電極２６によるプラズマ１４中の２次電子の吸引作用とを奏し、プラズマ１４中の多価イオンの比率を高めることができる。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope which can effectively detect ions excited by primary electrons, reflecting electrons, secondary electrons generated due to bias electrode electric field or the like to obtain an absorption current.例文帳に追加

一次電子励起のイオンや反射電子励起のイオン、バイアス電極電界により生じた二次電子励起のイオンなどのイオンを効率よく検出し、吸収電流を得ることができる走査電子顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

A field emission cathode element of the present invention comprises: an insulating substrate; a first electrode; a second electrode; at least one cathode emitter; and a secondary electron emission emitter.例文帳に追加

本発明の電界放出陰極素子は、絶縁基板と、第一電極と、第二電極と、少なくとも一つの陰極エミッタと、二次電子放出エミッタと、を含む。 - 特許庁

The plasma display panel formed with pixel cells including fluorophor materials and a secondary electron emission material in each crossing of a plurality of column electrodes and a plurality of row electrode pairs is driven as follows.例文帳に追加

複数の列電極と複数の行電極対との各交叉部に、蛍光体材料及び二次電子放出材料を含む画素セルが形成されているプラズマディスプレイパネルを以下の如く駆動する。 - 特許庁

To provide a beam separator and a reflection electron microscope that can direct either the primary beam and the secondary beam straight, and bend the other beam by 90°.例文帳に追加

一次ビームと二次ビームの一方のビームを直進させ、他方のビームを９０°曲げることができるビームセパレータおよび反射電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

The analysis device 200 receives the data of the secondary electron spectra from the electronic spectroscope 150, and by analyzing the data, finds information for evaluating the nature of the measurement sample (evaluation value).例文帳に追加

解析装置２００は、電子分光器１５０から二次電子スペクトルのデータを受け取り、当該データを解析することによって、測定試料の性質を評価するための情報（評価値）を求める。 - 特許庁

In the microscope, a condensing mirror 10 for cathode luminescence detection arranged below the objective lens 4 is used also as a low vacuum atmosphere secondary electron amplification electrode.例文帳に追加

対物レンズ４の下面に配置されたカソードルミネッセンス検出用集光ミラー１０を、低真空雰囲気２次電子増幅用電極と兼用する。 - 特許庁

Thereby, high resolution attained by a semi-in-lens type object lens is made compatible with detection of ion generated by collision of a secondary electron and a gas molecule.例文帳に追加

このような構成によれば、セミインレンズ式の対物レンズによる高分解能化と、二次電子とガス分子の衝突によって発生するイオン検出の両立が可能となる。 - 特許庁

The secondary electron detector 17 is formed, by etching a field supply electrode 18 and a detection electrode 19 on a flexible thin film-like substrate, such as, a polyimide film.例文帳に追加

ポリイミドフィルムのような可撓性の薄膜状基板上に電界供給電極１８と検出電極１９をエッチングなどによって二次電子検出器１７を形成する。 - 特許庁

To provide a manufacturing device for a plasma display panel capable of forming a uniform protection film with a good secondary electron emission characteristic and sputtering resistance on a PDP substrate.例文帳に追加

ＰＤＰの基板上に２次電子放出特性及び耐スパッタリング性が良好且つ均一な保護膜を形成することができるプラズマディスプレイパネルの製造装置を提供する。 - 特許庁

To make compatible enhancement in electron conductivity of an active material and suppression of increase in irreversible capacity in an electrode for a lithium secondary battery using an active material comprising silicon.例文帳に追加

ケイ素からなる活物質を用いるリチウム二次電池用電極において、活物質の電子伝導度の向上と、不可逆容量の増加抑制とを両立させる。 - 特許庁

To reduce a processing load of a digital processing device, when processing a detection waveform detected from a plurality of secondary electron detectors, in an array inspection device.例文帳に追加

アレイ検査装置において、複数の二次電子検出器から検出される検出波形を処理する際に、デジタル処理装置の処理負担を低減する。 - 特許庁

The E×B separator separates the secondary electrons that are emitted from the sample from the primary beam by irradiating and scanning a plurality of electron beams around the optical axis.例文帳に追加

Ｅ×Ｂ分離器は、光軸の回りに複数個の電子線を照射、走査することにより試料から放出される二次電子を一次ビームから分離する。 - 特許庁

This nitrogen concentration analyzer 10 includes a storage chamber 11, a primary ion irradiation device 12, a neutralization electron irradiation device 13, a communication tube 14, a flight chamber 15 and a secondary ion detection device 16.例文帳に追加

窒素濃度分析装置１０は、収容室１１、一次イオン照射装置１２、中和電子照射装置１３、連通管１４、飛行室１５および二次イオン検出装置１６を有する。 - 特許庁

The characteristic of such substituted lithium manganate itself or the characteristic of the lithium secondary battery, in which the substituted lithium manganate is used as a positive material, is evaluated by the electron density value of the total overlap in the manganese-oxygen bonding.例文帳に追加

マンガン−酸素結合の全重なり電子密度の値により、このような置換マンガン酸リチウム自身の特性またはこのような置換マンガン酸リチウムを正極材料としたリチウム二次電池の特性を評価する。 - 特許庁

The high resolution low vacuum secondary electron observation is enabled by installing a discoid electrode on a lower surface of an objective lens.例文帳に追加

本発明の基となっている基本原理を考慮し、対物レンズ下面に円盤状の電極を設置する事で高分解能な低真空二次電子観察を可能とする。 - 特許庁

The shape of the inner face of the glass tube 10 in the region where sustaining electrodes 12a, 12b are arranged has a fine unevenness and secondary electron emission membrane 13 is formed on the inner face.例文帳に追加

サステイン電極１２ａ，１２ｂが配置された領域におけるガラス管１０の内面の形状は、微小な凹凸状であって、その内面に二次電子放出膜１３が形成されている。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope which subjects secondary particles to bandpass discrimination in a desired energy region, and detects them at a high yield.例文帳に追加

二次粒子を所望のエネルギー領域でバンドパス弁別し，なおかつ高収量で検出できる走査電子顕微鏡を提供することを課題とする。 - 特許庁