「Secondary electron」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an electron multiplier tube having electron multiplier faces with a high secondary electron emission factor, a multi-channel plate and their manufacturing method.例文帳に追加

二次電子の放出率が高い電子増倍面を有する電子増倍管、マルチチャンネルプレート、およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To reduce an erroneous signal caused by reflected electron of higher order or secondary electron which lower the detection accuracy of the reflected electron.例文帳に追加

反射電子の検出精度を低下させる高次の反射電子や高次の二次電子に起因する誤信号を低減する。 - 特許庁

The film thickness measuring device comprises a board 11, an electron gun 12 for primary electron irradiation, a deposition device 13 for specimen deposition and a secondary electron detector 14.例文帳に追加

本構成は基板１１、１次電子照射用の電子銃１２、試料蒸着用の蒸着装置１３、２次電子検出器１４からなる。 - 特許庁

An electron-beam exposure system is focused while the stepped pattern 11 is irradiated with a drawing electron beam and the secondary-electron image of the edge 15 is observed.例文帳に追加

電子線描画のフォーカス合わせを、段差状パターン１１に描画電子ビームを当ててエッジ１５の二次電子像を観察しながら行う。 - 特許庁

an electron given off by a secondary emission 例文帳に追加

電子を金属に衝突させた時,二次的に放出させる電子 - EDR日英対訳辞書

HIGH RESOLUTION/CHEMICAL BOND ELECTRON/SECONDARY ION MICROSCOPE APPARATUS例文帳に追加

高分解能・化学結合電子・２次イオン顕微鏡装置 - 特許庁

SMALL SIZE HIGH EFFICIENCY SCINTILLATION DETECTOR FOR SECONDARY ELECTRON DETECTION例文帳に追加

二次電子検出用の小型高効率シンチレーション検出器 - 特許庁

LEAD SILICATE GLASS, SECONDARY ELECTRON MULTIPLIER USING THE GLASS AND ITS PRODUCTION例文帳に追加

ケイ酸鉛ガラス、それを用いた二次電子増倍管、およびその製造方法 - 特許庁

This causes secondary electron beams 6 to be emitted from the thin-film anode 4.例文帳に追加

それにより、薄膜陽極４から二次電子ビーム６が放射される。 - 特許庁

To improve efficiency in failure analysis of a semiconductor device by a secondary electron image.例文帳に追加

２次電子像による半導体装置の不具合解析の効率化。 - 特許庁

The image of the sample face is formed by the detected secondary electron signal.例文帳に追加

検出した二次電子信号から試料面の画像が形成される。 - 特許庁

To provide a surface light source device superior in secondary electron emission characteristics.例文帳に追加

二次電子放出特性が優れた面光源装置を提供する。 - 特許庁

As a result, a secondary electron is emitted from the exposed surface 22.例文帳に追加

その結果、当該露出面２２から２次電子が放出される。 - 特許庁

Thus, a secondary electron emission coefficient can be made small, and a beam deflection amount can be reduced.例文帳に追加

２次電子放出係数を小さくでき、ビーム偏向量を低減できる。 - 特許庁

To efficiently analyze the trouble of a semiconductor device by a secondary electron image.例文帳に追加

２次電子像による半導体装置の不具合解析の効率化。 - 特許庁

To eliminate a problem caused by the configuration of a secondary electron filter in a thin film transistor array inspection device, and also to eliminate the degradation in detecting efficiency accompanying a flight of the secondary electron filter, the deterioration in the response speed of the secondary electron signal, the deterioration in sensitivity in the wide measurement of a potential, and the deterioration in the response speed of the secondary electron signal.例文帳に追加

ＴＦＴアレイ検査装置において２次電子フィルタの構成に起因する問題を解消し、２次電子の飛行に伴う検出効率の低下及び２次電子信号の応答速度の低下、幅広い電位測定における感度の低下及び２次電子信号の応答速度の低下を解消する。 - 特許庁

The electron gun and secondary electron detector are fitted at installation positions selected out of the plurality of installation positions and then the installation positions of the electron gun and secondary electron detector in the vacuum chamber are changed.例文帳に追加

複数の設置部位の中から選択した設置部位に電子銃や二次電子検出器を取り付けることにより、電子銃や二次電子検出器の真空室内での設置位置を変更する。 - 特許庁

An electron beam 3 from a first electron gun 2 is scanned on a specimen 7, and a means of detecting a secondary electron 13 detects the secondary electron 12 discharged from the specimen 7 to display the surface shape of the specimen 7 on a CRT 17.例文帳に追加

第１の電子銃２から電子ビーム３を試料７に走査し、試料７から放出された２次電子１２を２次電子検出手段１３が検出し試料７の表面形状をＣＲＴ１７に表示する。 - 特許庁

Secondary electron collection efficiency is achieved nearly 100% for majority part of the effective range of the secondary electron energy by a scintillation detector assembly that is used for detecting secondary electron in the focusing ion beam(FIB).例文帳に追加

集束イオンビーム（ＦＩＢ）装置内で二次電子検出に用いるシンチレーション検出器組立体で二次電子エネルギーの有効範囲の大部分について二次電子収集効率ほぼ１００パーセントを達成する。 - 特許庁

A secondary electron profile 29 only for the foreign matters is obtained from a secondary electron profile 28 of the foreign matters portion in a sample image 26 and a secondary electron profile 27 of the same portion in a reference image 21.例文帳に追加

試料画像２６における異物部分の二次電子プロファイル２８と参照画像２１の同じ部分の二次電子プロファイル２７から異物のみの二次電子プロファイル２９を得る。 - 特許庁

An adjacent gap 15 is provided with a low secondary electron emitting film 7, that has secondary electron emitting probability which is lower than that of the high secondary electron emitting film 6 is provided on the surface of the front surface dielectric layer 5.例文帳に追加

隣接ギャップ１５には、前面誘電体層５の表面に高２次電子放出膜６よりも低い２次電子放出確率を持つ低２次電子放出膜７を設ける。 - 特許庁

Secondary electrons are more generated at the edge 15 than at the other region, so that the secondary electron image of the edge 15 becomes brighter on a CRT, and the electron-beam exposure system is focused on the pattern of the reticle 10 at a position where the secondary electron image of the edge 15 becomes brightest.例文帳に追加

エッジ１５での二次電子の発生効率が高いため、エッジの部分の二次電子像がＣＲＴ上で明るく見え、エッジ１５の二次電子像が最も鮮明に見える位置でパターンのフォーカスも合うことになる。 - 特許庁

A sample 7-1 is irradiated with an electron beam emitted from an electron gun 1-1 via a primary electron-optical system, by which an electron emitted from the sample is detected by a detector 12-1 via a secondary electron-optical system.例文帳に追加

電子銃１-1から放出された電子ビームが１次電子光学系を介して試料７-1上に照射され、それにより試料から放出された電子が２次電子光学系を介して検出器１２-1において検出される。 - 特許庁

The electron beam system is equipped with a primary electron optical system for irradiating a sample with a primary electron beam, a detecting system and a detecting system for directing a secondary electron beam emitted from the surface of the sample by the irradiation of the primary electron beam to a detector.例文帳に追加

電子線装置は、一次電子線を試料に照射する一次電子光学系、検出系、及び一次電子線の照射によって試料面から放出される二次電子線を検出器へ指向させる検出系を備える。 - 特許庁

Then, in synchronization with the scanning of the primary electron beam 102 on the silicon substrate 108 by a polarizer 105 controlled by a primary electron raster section 106, a secondary electron 112 discharged from the silicon substrate 108 by irradiating the primary electron beam 102 is received by a secondary electron detector 113 for giving to an image acquisition section 114 as secondary electron intensity.例文帳に追加

そして、一次電子走査線部１０６により制御された偏光器１０５により一次電子線１０２がシリコン基板１０８上を走査するのと同期して、一次電子線１０２の照射を受けてシリコン基板１０８から放出される二次電子１１２を二次電子検出器１１３で受け、二次電子強度として画像取得部１１４に与える。 - 特許庁

On a sample holder 20 for an electron microscope, the electron beam that transmits through a sample S supported by a grid 28 and passes through an aperture member 31 with a main body portion 21 attached to a sample stand of a scanning electron microscope is irradiated on a secondary electron generating surface 32, resulting in a secondary electron being generated from the secondary electron generating surface 32.例文帳に追加

電子顕微鏡用試料ホルダ２０においては、走査型電子顕微鏡の試料台に本体部２１が取り付けられた状態で、グリッド２８によって支持された試料Ｓを透過し且つ絞り部材３１を通過した電子線が２次電子発生面３２に照射され、それにより、２次電子発生面３２から２次電子が発生させられる。 - 特許庁

A secondary excellent electron signal image is obtained even by a weak electron beam by applying constant voltage on a surface silicon layer to take secondary electron signal intensity.例文帳に追加

かつ表面シリコン層に一定電圧を加える構成とすることにより二次電子信号強度が大きく取れ微弱電子ビームでも良好な二次電子信号像が得られる。 - 特許庁

The processing progress is monitored by running the electron beam, and detecting secondary electrons generated from the object by a secondary electron detector to acquire an electron microscope image.例文帳に追加

また、電子ビームを走査させ、物体から発生した二次電子を二次電子検出器で検出し電子顕微鏡画像を取得して、加工の進行状況をモニタリングする。 - 特許庁

Exposing a secondary electron emission material on the upper side in the region from the electron emission part to the high voltage side electrode 3, secondary electrons efficiently are emitted to the anode electrode side for improving electron emission efficiency.例文帳に追加

電子放出部から高電位側電極３にかけての領域の上面に２次電子放出材料を露出させるため、２次電子を効率よくアノード電極側に放出させることができ、電子放出効率を向上することができる。 - 特許庁

To provide a high-sensitive X-ray detector capable of suppressing movement of a secondary electron image and distortion of the secondary electron image caused by astigmatism or the like even if bringing the detector close to a sample inside an electron microscope.例文帳に追加

電子顕微鏡内の試料に近接させても２次電子像の移動および非点収差等による２次電子像の歪みの低い，高感度なＸ線検出器を提供する。 - 特許庁

This electron beam device is equipped with an optical system 10 forming an electron beam emitted from an electron gun 11 in a plurality of electron beams and scanning the electron beams on a sample S for irradiation; and a plurality of detectors 21 for detecting secondary electrons emitted from the sample by irradiation of the electron beams.例文帳に追加

電子銃１１から放出された電子線を複数の電子ビームに形成し、電子ビームで試料Ｓ上を走査して照射する光学系１０と、電子ビームの照射により試料から放出された二次電子を検出する複数の検出器２１とを備えている。 - 特許庁

An electric field and a magnetic field are sealed within the each electronic optical system by a shielding electrode capable of vacuum-evacuating an electron beam path, and a negative voltage is set to a sample to accelerate a secondary electron and a reflected electron to a direction of an electron source side in an electron beam optical axis, so as to detect the secondary electron and the the reflected electron within the same electronic optical system.例文帳に追加

また、電子線通路を高真空排気可能な遮蔽電極で電界および磁界を各電子光学系内に封じ込めるとともに、試料に負の電圧を設定して二次電子や反射電子を電子線光軸の電子源側の方向に加速することによって、二次電子や反射電子を同一光学系内で検出することを特徴とする。 - 特許庁

An electric field and a magnetic field are sealed within the respective electronic optical systems by a shielding electrode for vacuum-evacuating an electron beam path, and a negative voltage is set to a sample to accelerate a secondary electron and a reflected electron to a direction of an electron source side in an electron beam optical axis, so as to detect the secondary electron and the reflected electron within the same electronic optical system.例文帳に追加

また、電子線通路を高真空排気可能な遮蔽電極で電界および磁界を各電子光学系内に封じ込めることとともに、試料に負の電圧を設定して二次電子や反射電子を電子線光軸の電子源側の方向に加速することによって、二次電子や反射電子を同一光学系内で検出することを特徴とする。 - 特許庁

An electric field and a magnetic field are sealed within the each electronic optical system by a shielding electrode capable of vacuum-evacuating highly an electron beam path, and a negative voltage is set to a sample to accelerate a secondary electron and a reflected electron to a direction of an electron source side in an electron beam optical axis, so as to detect the secondary electron and the the reflected electron within the same electronic optical system.例文帳に追加

また、電子線通路を高真空排気可能な遮蔽電極で電界および磁界を各電子光学系内に封じ込めることとともに、試料に負の電圧を設定して二次電子や反射電子を電子線光軸の電子源側の方向に加速することによって、二次電子や反射電子を同一光学系内で検出することを特徴とする。 - 特許庁

An electric field and a magnetic field are sealed within the each electronic optical system by a shielding electrode capable of vacuum-evacuating highly an electron beam passage, a negative voltage is set to a sample to accelerate a secondary electron and a reflected electron to a direction of an electron source side in an electron beam optical axis, and the secondary electron and the reflected electron are thereby detected within the same electronic optical system.例文帳に追加

また、電子線通路を高真空排気可能な遮蔽電極で電界および磁界を各電子光学系内に封じ込めることとともに、試料に負の電圧を設定して二次電子や反射電子を電子線光軸の電子源側の方向に加速することによって、二次電子や反射電子を同一光学系内で検出する。 - 特許庁

To measure a correct secondary electron current by cleaning the surface of a sample in advance when the secondary electron current generated by secondary electrons emitted from a sample is measured.例文帳に追加

試料から放出された二次電子による二次電子電流を測定する際に、前もって試料表面をクリーニングして正確な二次電子電流を測定できる技術を提供する。 - 特許庁

The secondary electrons inside the objective lens is drawn toward a secondary electron detector 35 by an electric field E3 formed by its corona ring 36, and accelerated, to collide with a scintillator 37 of the secondary electron detector 35.例文帳に追加

対物レンズ２３内の２次電子は、２次電子検出器のコロナリング３６によって形成される電界Ｅ_3によって２次電子検出器３５方向に引き寄せられ、加速されて２次電子検出器３５のシンチレータ３７に衝突する。 - 特許庁

A permanent magnet 26 which generates a magnetic field in such a way that secondary electrons emitted from the secondary-electron emission body are oriented toward the substrate is provided on the peripheral surface of the secondary-electron emission body.例文帳に追加

２次電子放出体から放出された２次電子を基板方向に指向させるように磁界を発生させる永久磁石２６が、２次電子放出体の外周面に設けられている。 - 特許庁

The secondary electrons 15, emitted from the small area 6a of the surface of the sample 6, are detected by a secondary electron emitting detector for a left eye 13 and a secondary electron emitting detector for a right eye 14, with a fixed parallax between left and right.例文帳に追加

左目用２次電子検出器１３及び右目用２次電子検出器１４で、試料６の表面のある小領域６ａから放出された２次電子１５を左右に一定の視差をもって検出する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing an electrode for generating secondary electrons, which can increase the efficiency of secondary electron generation and reduce the aged deterioration of the efficiency of secondary electron generation in comparison to a conventional method.例文帳に追加

従来に比して、二次電子発生効率を向上することができ、且つ、二次電子発生効率の経時劣化を低減することができる二次電子発生電極の製造方法を提供する。 - 特許庁

In this electron beam device 200, an electron beam emitted from an electron gun 34 is two-dimensionally scanned on a sample 37, and an secondary electron beam emitted from the sample 37 is detected by a detector 42.例文帳に追加

電子線装置２００は、電子銃３４から放出された電子線を試料３７上で二次元的に走査させ、試料３７から放出された二次電子線を検出器４２で検出する。 - 特許庁

This electron beam system converges a primary electron beam from electron guns 1, 2 and 3 to scan it on a sample 15, and detects secondary electron beams emitted from the sample 15 to evaluate the sample 15.例文帳に追加

電子線装置は、電子銃１，２，３からの一次電子線を収束させて試料１５上で走査し、試料１５から放出される二次電子線を検出して試料１５の評価を行う。 - 特許庁

GRAPHITE NANOFIBER, ELECTRON EMITTING SOURCE AND METHOD FOR PRODUCING THE SAME, DISPLAY ELEMENT HAVING THE ELECTRON EMITTING SOURCE, AND LITHIUM ION SECONDARY BATTERY例文帳に追加

グラファイトナノファイバー、電子放出源及びその作製方法、該電子放出源を有する表示素子、並びにリチウムイオン二次電池 - 特許庁

Preferably, a second secondary electron emitting layer ion-exchanged with ions of the second electron emitting materials is formed under the substrate surface.例文帳に追加

好ましくは、基板表面下に二次電子放出物質のイオンでイオン交換された第２二次電子放出層が形成される。 - 特許庁

Conversion electrodes 21a-21d divided into four are arranged closer to an electron source than a secondary electron detector 12.例文帳に追加

二次電子検出器１２よりも電子源側に、４分割された変換電極２１ａ〜２１ｄが配置されている。 - 特許庁