「Secondary electron」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

The surface of the supporting base plate is coated by a coating layer 28 containing a material with a secondary electron emission coefficient of 0.4 to 2.0.例文帳に追加

支持基板の表面は、二次電子放出係数が０．４〜２．０の材料を含有したコート層２８により被覆されている。 - 特許庁

The electrode 130 for the secondary battery has a large number of capsule type structures 20 formed of an electron conductive material.例文帳に追加

本発明により提供される二次電池用電極１３０は、電子伝導性材料により形成された多数のカプセル型構造体２０を有する。 - 特許庁

To provide a protective film for a plasma display panel which improves both secondary electron emission characteristics and wall electric charge retain capability.例文帳に追加

２次電子放出特性だけでなく壁電荷維持能力も共に向上させたプラズマディスプレイパネル用の保護膜を提供する。 - 特許庁

To heighten a throughput by decreasing aberration of primary electron beams and simplifying a secondary optical system structure in the case of using a multi-beam.例文帳に追加

一次電子線の収差を減少し、マルチビームを用いる場合の二次光学系の構造を簡単化しスループットを高める。 - 特許庁

By the deflection of the secondary electrons, one of detectors 20a-20n is selected correspondingly to the scanning position of the primary electron beam 1.例文帳に追加

この２次電子の偏向により、一次電子ビームの走査位置に対応して検出器２０ａ〜２０ｎのいずれかの検出器を選択する。 - 特許庁

A discharge start voltage Vf is lowered by an excellent secondary electron emission characteristic that the protective film 8 has to reduce power consumption of this PDP 1.例文帳に追加

この保護膜８が持つ良好な二次電子放出特性により放電開始電圧Ｖｆを低減させ、ＰＤＰ１の消費電力の低減を図る。 - 特許庁

Hereby, the secondary electron image and the X-ray spectrum in the measuring range can be acquired together, when first-time scanning is finished.例文帳に追加

これにより、１回の走査が終了した時点で、測定範囲の二次電子画像とＸ線スペクトルとを共に得ることができる。 - 特許庁

To provide a first discharge electrode achieving both high-efficiency secondary electron emission and long life, as well as a discharge lamp using the same.例文帳に追加

高効率の二次電子放出と長寿命を両立させた第１放電電極及びこれを用いた放電灯を提供する。 - 特許庁

Preferably, the first secondary electron emitting layer is constituted in a powder-like form obtained by crushing an MgO sputtering target.例文帳に追加

好ましくは、第１二次電子放出層は、ＭｇＯスパッタリングターゲットを粉砕して得た粉末状で構成される。 - 特許庁

To provide an adjusting method for a clear secondary electron image by optimizing the focal point control and astigmatism control more quickly.例文帳に追加

より速く焦点制御値及び非点収差制御値を最適化し、明瞭な二次電子像に調整する方法を提供する。 - 特許庁

A charging means is permitted to be a means 10 irradiating with an electron beam and a means 18 detecting secondary electrons from the sample is disposed.例文帳に追加

帯電手段は電子ビームを照射させる手段１０とし、試料からの２次電子を検出する手段１８を設ける。 - 特許庁

By the constitution, the energy of the charged particle can be distinguished according to a contrast when observing the conductor 101 by a secondary electron image.例文帳に追加

導体１０１を二次電子像で観察したときのコントラストによって荷電粒子のエネルギーを判別することが可能である。 - 特許庁

A voltage is applied between the planes of the incidence and the emission of the secondary electron emitting layer 1 to generate an electric field in the layer.例文帳に追加

そして、２次電子放出層１の入射面と出射面との間に電圧が印加され、２次電子放出層１内部に電界が形成される。 - 特許庁

The etching work is ended by detecting a work end point by a work end point detection mechanism 16 from a detected secondary electron signal.例文帳に追加

検出した二次電子信号から加工終点検出機構１６で加工終点を検出して、エッチング加工を終了する。 - 特許庁

The field emission unit is disposed on a portion of a cathode plate surface facing opposite to the secondary electron emission layer.例文帳に追加

前記電界放出ユニットは、前記陰極板の前記二次電子放出層と対向する一部表面に配置される。 - 特許庁

To provide a semiconductor inspection device and a defect inspection method that efficiently adjusts a plurality of secondary electron beams.例文帳に追加

複数本の二次電子ビーム調整を、効率良く実施することのできる半導体検査装置および欠陥検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an evaluation method for facilitating a correct evaluation of a secondary electron emission property of a material.例文帳に追加

材料の二次電子放出特性についての正確な評価を容易に行うことが可能な評価方法を提供する。 - 特許庁

When radiation enters a diamond layer 10, a secondary electron or the like is generated by interaction of the diamond with the radiation.例文帳に追加

放射線がダイヤモンド層１０に入射すると、ダイヤモンドと放射線の相互作用により二次電子等が発生する。 - 特許庁

The kind of the defect is determined based on the acquired secondary electron image to display a wafer 18 in-plane distribution.例文帳に追加

取得した二次電子画像から欠陥の種類の判定を行ない、ウエハ１８面内分布を表示する。 - 特許庁

To provide an apparatus of producing a work function image that can convert and produce the work function image on the basis of secondary electron image.例文帳に追加

二次電子像に基づいて仕事関数像を容易に変換生成できるようにした仕事関数像生成装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for inspecting defects capable of inspecting defects with high accuracy, by acquiring a secondary electron image with the noise components suppressed, and to provide a device for the method.例文帳に追加

ノイズ成分を抑制した２次電子画像を得て、高精度の欠陥検査を可能とする欠陥検査方法ないし欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

In the next place, different parts of the secondary electron beam generated by the above irradiation are made to independently and simultaneously get into sensible parts 16a, 16b.例文帳に追加

次に、この照射により生じた二次電子線の異なる一部を有感部１６ａ，１６ｂに独立に且つ略同時に入射させる。 - 特許庁

Energy of the charged particle beams to be irradiated on the sample is set so that a generation efficiency of the secondary electron generated from the sample becomes 1 or higher.例文帳に追加

試料に照射する荷電粒子線のエネルギーを試料から発生する二次電子の発生効率が1以上となるように設定する。 - 特許庁

To provide an X-Ray image tube having an improved quality of images, such as contrast or the like, by suppressing generation of a secondary electron in its output section.例文帳に追加

出力部における２次電子の発生を抑え、コントラストなどの画質を向上させたＸ線イメージ管を提供すること - 特許庁

The charged voltage of a wafer surface is controlled at a desired value by irradiating the electron ray quickly moving the wafer before obtaining the image of secondary electrons.例文帳に追加

二次電子画像取得前にウエハを移動させながら高速に電子線を照射し、ウエハ表面を所望の帯電電圧に制御する。 - 特許庁

The plate image display device is provided with a lot of fine pointed projections of a small secondary electron emission factor on a side surface of a spacer.例文帳に追加

スペーサの側面に二次電子放出係数の小さい材料からなる多数の細点状突起を配置した。 - 特許庁

To provide a reantireflection plate which does not cause an aberration even in the case where the reantireflection plate is used jointly with a secondary electron detector and can lessen the amount of reflected electrons.例文帳に追加

２次電子検出器と併用した場合にも収差の原因とならず、反射電子量を少なくできる再反射防止板を提供する。 - 特許庁

The next focal point control and astigmatism control are obtained and set to make the secondary electron image clear based on the flow, direction and articulation of the secondary electron image by referring to the result 5.例文帳に追加

その結果５を参照し、二次電子像の流れと方向及び明瞭度に基づいてより二次電子像を明瞭なものにするような次の焦点制御値及び非点収差制御値に変更し、焦点制御値及び非点収差制御値を設定する。 - 特許庁

The currents are amplified by respective preamplifiers 4, 8, a tunnel voltage corresponding to the tunnel current is outputted from a differential amplifier 7, and a secondary electron voltage corresponding to the secondary electron current is outputted from the differential amplifier 10.例文帳に追加

これらの電流はそれぞれプリアンプ４、８により増幅され、差動増幅器７からはトンネル電流に対応したトンネル電圧が出力され、差動増幅器１０からは二次電子電流に対応した二次電子電圧が出力される。 - 特許庁

To provide an ionization chamber detector capable of improving energy characteristics by bringing energy characteristic of a secondary electron driven out from an electrode close to energy characteristic of a secondary electron supplied by ionization of gas and enabling highly precise measurement without relying on an ionization gas pressure.例文帳に追加

電極から叩き出される２次電子のエネルギー特性をガスの電離によって供給される２次電子のエネルギー特性に近づけることによりエネルギー特性を向上させ、電離ガス圧によらず高精度の計測が可能な電離箱検出器を提供する。 - 特許庁

To provide a method capable of maintaining accurate measurement without having to recalibrate a secondary electron multiplying element measuring system, and a vacuum processing device that precludes the operation from stopping for recalibration that accompanies changes in the measurement accuracy of the secondary electron multiplying element.例文帳に追加

二次電子増倍素子の測定系を再校正することなく正確な測定を維持できる方法を提供すること及び二次電子増倍素子の測定精度の変化に伴う再校正のために運転が停止されることがない真空処理装置を提供すること。 - 特許庁

On a surface of the nickel plate 7a, a secondary electron emitting film 7c containing a material which has a larger secondary electron emission coefficient than that of the nickel plate 7a and that of a phosphor in a phosphor film 11 is formed.例文帳に追加

このニッケル板７ａの表面には、当該ニッケル板７ａの二次電子放出係数及び蛍光体膜１１中の蛍光体の二次電子放出係数よりも大きな二次電子放出係数を有する材料を含んだ、二次電子放出膜７ｃが形成されている。 - 特許庁

The length L of the shadow of the pattern 82 is calculated by extracting intensity distribution of the secondary electron on a line X-X perpendicular to, for example, edges 82a, 82b of the pattern 82, and as distance between two points where a recess of the intensity distribution of the secondary electron crosses a predetermined threshold I.例文帳に追加

パターン８２の影の長さＬは、例えばパターン８２のエッジ８２ａ、８２ｂと直交するラインＸ−Ｘ上の二次電子の強度分布を抽出し、その二次電子の強度分布の凹部が所定のしきい値Ｉと交差する２点間の距離として求める。 - 特許庁

When a secondary electron signal is selected by a signal selection switch on an operation image-plane by operating a mouse 21, a control means 14 controlled by a computer 19 displays the secondary electron signal on an image indicator 22 by controlling a switch 17.例文帳に追加

マウス２１を操作して操作画面上の信号選択スイッチにより二次電子信号を選択すると、コンピュ−タ１９によって制御される制御手段１４はスイッチ１７を制御して二次電子信号を像表示器２２に表示する。 - 特許庁

Further, in an insulated state with the external electrode, the whole of the surface of an internal electrode arranged freely attachably/detachably at the inside of the vessel or a part of the surface is provided with a secondary electron emission layer composed of a material having a secondary electron emission coefficient higher than that of the electrode material in the internal electrode.例文帳に追加

また、外部電極と絶縁状態で、容器の内部に挿脱可能に配置される内部電極の表面全体若しくは表面の一部に、内部電極の電極材料よりも２次電子放出係数が大きい材料からなる２次電子放出層を設けたことを特徴とする。 - 特許庁

An ion beam transport part 5, a conversion electrode 6, and a secondary electron detecting system 7 are arranged so that the incident direction of ion beams incoming in the conversion electrode 6 and a line 75 connecting the center 64 of a secondary electron outgoing opening 63 and the center 73 of a scintillator 71 form an acute angle.例文帳に追加

変換電極６に入射するイオンビームの入射方向と、二次電子出射口６３の中心６４とシンチレータ７１の中心７３とを結ぶ線７５とが、鋭角をなすように、イオンビーム輸送部５，変換電極６および二次電子検出系７は設置されている。 - 特許庁

Since the surface of the sample can easily be cleaned like this and thus, the surface of the sample can be cleaned in advance every time the secondary electron emission quantity of the sample 21 is measured, the secondary electron emission quantity of the sample 21 can accurately be provided.例文帳に追加

このように、容易に試料の表面をクリーニングすることができるので、試料２１の二次電子放出量を測定するごとに、前もって試料の表面をクリーニングすることができるため、試料２１の二次電子放出量を正確に求めることができる。 - 特許庁

In a means of improving the ion-impact secondary electron emission characteristic, the work function, crystallinity and the surface shape are improved, and the secondary electron emission ratio is enhanced by adding a material having small band gap (NiO, ZnO, Eu_2O_3, SnO_2 or CaO) to MgO.例文帳に追加

イオン衝撃二次電子放出特性を改善する手段としては、ＭｇＯにバンドギャップの小さい材料（ＮｉＯ、ＺｎＯ、Ｅｕ_２Ｏ_３、ＳｎＯ_２、又はＣａＯ）を添加することで、仕事関数や結晶性および表面形状を改善させ、二次電子放出比の向上を図る。 - 特許庁

By examining the overlapping 30 of peak waveforms of the secondary electron profile 27 only for the pattern and the secondary electron profile 29 only for the foreign matters, positions where the foreign matters 25a comes in contact with the pattern 23 is detected and whether the foreign matters are critical to the process is determined.例文帳に追加

パターンのみの二次電子プロファイル２７と異物のみの二次電子プロファイル２９のピーク波形の重なり３０を見ることで、異物２５ａがパターン２３に接触している箇所を検出し、異物がプロセスにおいて致命的か否かを判断する。 - 特許庁

In the CVD film deposition system, the whole of the wall face in a space for storing a plastic vessel provided on an external electrode or a part of the wall face is provided with a secondary electron emission layer composed of a material having a secondary electron emission coefficient higher than that of an electrode material in the external electrode.例文帳に追加

本発明に係るＣＶＤ成膜装置は、外部電極に設けたプラスチック容器を収容するための空所の壁面全体若しくは壁面の一部に、外部電極の電極材料よりも２次電子放出係数が大きい材料からなる２次電子放出層を設けたことを特徴とする。 - 特許庁

When a negative bias voltage is applied to the probe 1 by the bias power supply 6 and the distance between the probe 1 and the sample 3 is reduced, a tunnel current flows to the probe 1, and tunnel currents in opposite directions and a secondary electron current based on secondary electron emission flow to the sample 3.例文帳に追加

バイアス電源６により探針１に負のバイアス電圧を印加して探針１と試料３との距離を近づけると、探針１にはトンネル電流が流れ、試料３には、互いに逆向きのトンネル電流と、二次電子放出に基づく二次電子電流が流れる。 - 特許庁

Deflection control means 13 transmits a deflection signal for deflecting a secondary electron in synchronization with a primary beam scanning to a deflector power supply 12 so that the secondary electron emitted from a sample is incident along an optical axis of an analyzer (a center of an incident slit 15) irrespective of the primary beam scanning.例文帳に追加

偏向制御手段１３は、１次ビーム走査に拘わらず試料から放出された２次電子がアナライザの光軸（入射スリット１５の中心）に沿って入射するように、１次ビームの走査に同期して２次電子を偏向させるための偏向信号を偏向器電源１２に送る。 - 特許庁

A prescribed voltage is applied to each combination of resistors, a partial voltage according to the temperature of each resistor is generated, secondary electrons induced by the irradiation of electron beams are detected, and the temperature distribution of the sample stand is measured, based on the detected secondary electron beams.例文帳に追加

抵抗体の各組みに所定電圧を印加して、各抵抗体の温度に応じた分圧電圧を発生させ、電子線照射によって誘起される二次電子を検出し、検出した二次電子線に基づいて、試料台の温度分布を測定する。 - 特許庁

To realize a cold cathode discharge lamp which maintains its secondary electron emitting performance and has a practical long life, and is highly efficient, in a discharge lamp using for its cold cathode a diamond which has a large secondary electron emitting efficiency and a small sputtering rate.例文帳に追加

二次電子放出効率が大きくスパッタ率が小さいダイヤモンドを冷陰極に用いた放電灯において、その高い二次電子放出性能を維持し、実用的な長寿命を持つ高効率な冷陰極放電灯を実現すること。 - 特許庁

A wafer 6 is rotated, an electron beam is emitted to the rotating wafer 6 from a scanning electron microscope 1, and secondary electrons 9 emitted from the wafer 6 are detected.例文帳に追加

ウェハ６を回転させ、回転するウェハ６に対して走査型電子顕微鏡１から電子ビームを照射し、ウェハ６から放出される２次電子９を検出する。 - 特許庁