「Standard sample」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

3,5-DIPRENYL-4-HYDROXYCINNAMIC ACID FOR STANDARD SAMPLE AND METHOD FOR PRODUCING THE SAME例文帳に追加

標準品用３，５−ジプレニル−４−ヒドロキシ桂皮酸およびその製造方法 - 特許庁

A standard sample 14 is used as a reference in a quantitative and a qualitative measurement.例文帳に追加

標準試料１４は定性・定量測定時の基準として用いられる。 - 特許庁

STANDARD SAMPLE, CALIBRATION METHOD, ANALYSIS METHOD, AND METHOD FOR MANUFACTURING DEVICE例文帳に追加

標準試料、ならびに校正方法、分析方法およびデバイスの製造方法 - 特許庁

METHOD FOR CALIBRATING ELECTRON MICROSCOPE, AND STANDARD SAMPLE FOR CALIBRATING THE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の校正方法及び電子顕微鏡校正用標準試料 - 特許庁

STANDARD SAMPLE FOR CALIBRATION AND METHOD FOR CALIBRATING WATER VAPOR PERMEABILITY MEASURING DEVICE例文帳に追加

校正用標準試料および水蒸気透過度測定装置の校正方法 - 特許庁

Then, by analyzing the internal standard sample by a temperature-programmed desorption analytical method, the temperature-programmed desorption spectrum of a standard gas generated from the standard substance is acquired.例文帳に追加

次に、内標準試料を昇温脱離分析法で分析することで、指標物質より生じた指標気体の昇温脱離スペクトルを取得する。 - 特許庁

Subsequently, correlation between the secondary X-ray dose and the adhesion of plating to a sample other than the standard sample is determined (step S7), an adhesion of plating corresponding to the secondary X-ray dose of the standard sample is detected from the correlation, and adhesion of plating to the standard sample is estimated (step S8).例文帳に追加

標準サンプルを除くサンプル２のめっき付着量と二次Ｘ線量との相関関係を求め（ステップＳ７）、この相関関係から標準サンプルの二次Ｘ線量に対応するめっき付着量を検出し、これを標準サンプルのめっき付着量として推定する（ステップＳ８）。 - 特許庁

Standard sample class information 141 stores a data concerned in a classification of classifying each image position into a standard sample class, based on the pigment amount in each image position of the stained sample image.例文帳に追加

標準標本クラス情報１４１は、標準標本画像の各画像位置の色素量分布に基づいて、各画像位置を標準標本クラスに分類した分類に係るデータを記憶する。 - 特許庁

At this time, the sample to be measured and a standard sample are measured simultaneously by using this gas under identical conditions, and the difference is reflected on the sample to be measured.例文帳に追加

このとき、被測定試料と、標準試料を同時に、同条件のガスを用いて測定し、被測定試料に、その差を反映させる測定方法。 - 特許庁

STANDARD SAMPLE FOR CONTACT HOLE INSPECTION, MANUFACTURE THEREOF AND INSPECTION OF THE CONTACT HOLE例文帳に追加

コンタクトホール検査用標準試料、その製造方法およびコンタクトホール検査方法 - 特許庁

Differently from the substance of an analysis object, an internal standard sample for which a standard substance that generates a gas in the range from a normal temperature to 1000°C is added to a sample is prepared.例文帳に追加

分析対象の物質とは異なり、常温〜１０００℃の範囲で気体を生じる指標物質を試料に加えた内標準試料を作製する。 - 特許庁

SUBSTRATE FOR FLUORESCENCE X-RAY ANALYSIS AND STANDARD SAMPLE FOR FLUORESCENCE X-RAY ANALYSIS例文帳に追加

蛍光Ｘ線分析用基板および蛍光Ｘ線分析用標準試料 - 特許庁

A density measuring device 20 simultaneously performs measurement operations for a subject's head and an external standard sample 30, and generates a density image (proton density image) including the external standard sample 30.例文帳に追加

密度測定器２０は、被験者の頭部と、外部標準サンプル３０とを同時に測定し、外部標準サンプル３０が含まれた密度画像（プロトン濃度画像）を生成する。 - 特許庁

Hereby, the self-diagnosis using the standard sample can be performed easily at an optional timing without requiring putting-in/out of the standard sample by man power of the inspector.例文帳に追加

これにより、検査員の人手による標準サンプルの出し入れをしなくても、標準サンプルを用いた自己診断を任意のタイミングで容易に行うことが可能となる。 - 特許庁

The recorded value is set as the standard quantity of the dithionite existing in the sample.例文帳に追加

記録した値を試料中に存在する亜ジチオン酸塩の量の基準とする。 - 特許庁

The sample for measurement is cultured by a standard agar medium added with bromcresol purple.例文帳に追加

測定試料は、ブロムクレゾールパープルが添加された標準寒天培地で培養する。 - 特許庁

The analyzer includes a sample-dispensing pump 16a for dispensing, by aspirating a standard or a test sample of test items from a sample container 17 into a sample-dispensing probe 16 and delivering it to a reaction container 3 and a sample dispensation conditioning screen 43 setting a dummy amount of the standard sample aspirated into a sample-dispensing probe 16 and the dispensation amount of the standard and inspected samples.例文帳に追加

試料容器１７から検査項目の標準試料又は被検試料をサンプル分注プローブ１６内に吸引して反応容器３に吐出する分注を行うサンプル分注ポンプ１６ａと、サンプル分注プローブ１６内に吸引する標準試料のダミー量、並びに標準試料及び被検試料の分注量を設定するサンプル分注条件設定画面４３とを備える。 - 特許庁

The standard sample has an SiC layer having a step/terrace structure formed therein.例文帳に追加

また、この標準試料は、ステップ／テラス構造が形成されたＳｉＣ層を有している。 - 特許庁

A holder sample 101 is formed from synthetic resin using a columnar standard core.例文帳に追加

円柱状の基準入子を使用して合成樹脂によりホルダサンプル１０１を形成する。 - 特許庁

STANDARD SAMPLE FOR ADJUSTING LIGHT AXIS OF SURFACE ANALYSIS AND LIGHT AXIS ADJUSTMENT METHOD USING THE SAME例文帳に追加

表面分析の光軸調整用標準試料とそれを用いた光軸調整法 - 特許庁

To provide a significantly beneficial sample holder mounting a plurality of samples, for example, a sample to be examined and a standard adjustment sample for aberration correction in one sample holder at the same time, thereby enabling to observe each sample.例文帳に追加

本発明は、複数の試料、例えば、観察したい試料と、収差補正の標準調整試料を同時に装着し、それぞれの試料を観察できる試料ホルダーにより、大幅な利便を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a sample image length measurement method by which the length measurement can be quickly performed by performing a matching of a standard image and a pattern of the sample image, with respect to a sample.例文帳に追加

試料について、基準画像と試料像のパターンとのマッチングを行って迅速に測長を行うことができる試料像測長方法を提供する。 - 特許庁

Accordingly, the magnitude and direction of polarization of the standard sample having the reference asymmetry coinciding with the asymmetry of the sample can be evaluated with respect to those of the sample.例文帳に追加

従って、試料の非対称性と一致する基準非対称性を有する標準試料の分極の大きさ及び方向を、試料のそれと評価することができる。 - 特許庁

To provide a sample holder of a transmission electron microscope capable of correcting astigmatism without requiring a standard sample even if the sample is that of a crystal phase only.例文帳に追加

結晶相のみの試料であっても標準試料を要することなく非点収差の補正が可能な、透過型電子顕微鏡の試料ホルダーを提供する。 - 特許庁

A joined body 14B joined with an evaluated sample 10 to be evaluated and a standard sample 12 is irradiated with an electron beam E1 of a transmission electron microscope from a side way of the joined body to include the evaluated sample and the standard sample within an irradiation spot 28.例文帳に追加

評価すべき被評価試料１０と標準試料１２とが接合された接合体１４Ｂに、接合体の側方から、被評価試料と標準試料とを照射スポット２８内に含むように透過型電子顕微鏡の電子ビームＥ１を照射する。 - 特許庁

In this case, the quantitative determination error due to the deviation of the ion irradiating content to the standard sample and the sample to be analyzed is corrected by using a ratio of the standard sample to the sample to be analyzed of a back scattering spectral yield at the time of irradiating with the ion to be detected by the detector (DA).例文帳に追加

この時の標準試料及び被分析試料へのイオン照射量のずれによる定量誤差を、検出器(DA)によって検出されるイオン照射時の後方散乱スペクトル収量の標準試料と被分析試料との比を用いて補正する。 - 特許庁

In the standard sample supply container, a standard sample which is gasified by heating is previously carried by a holding material, and the holding material is filled in container with openings at both ends.例文帳に追加

両端に開口を設けた容器の内部に、加熱によりガス化する標準試料をあらかじめ担持させた保持材を充填させた標準試料の供給容器である。 - 特許庁

To dispense with putting-in/out of a standard sample by manpower of an inspector, and to perform self-diagnosis of a solid imaging element inspection device using the standard sample, easily at an optional timing.例文帳に追加

検査員の人手による標準サンプルの出し入れを無くし、標準サンプルを用いた固体撮像素子検査装置の自己診断を任意のタイミングで容易に行える様にする。 - 特許庁

Preparing a plurality of standard samples 5 on a sample stage, the standard sample used for the adjustment is selected based on the number of times for adjusting the aberration compensator 12 in the past.例文帳に追加

多数の標準試料５を試料ステージ上に用意し、過去の収差補正器１２の調整の回数に基づいて、調整に用いる標準試料を選択するようにする。 - 特許庁

The standard liquid for the calibration curve is diluted to 1/n upper limit absorbancy Abs to be mixed with the unknown sample and the measured absorbancy of the standard liquid is diluted twice, threefold etc. of Abs/n, and the standard liquid is mixed with the unknown sample to measure absorbancy (steps 103-105).例文帳に追加

検量線用標準液を上限吸光度Ａｂｓの１／ｎに希釈し未知試料と混合測定し標準液吸光度をＡｂｓ/ｎの２倍、３倍、…に希釈し未知試料と混合し測定する（ステップ１０３〜１０５）。 - 特許庁

SIMULTANEOUS MEASURING METHOD FOR MAGNETOSTRICTION AND MAGNETIZATION, PREPARATION METHOD FOR CALIBRATION STANDARD SAMPLE FOR MAGNETOSTRICTION MEASURING EQUIPMENT USING THE SAME, CALIBRATION STANDARD SAMPLE FOR MAGNETOSTRICTION MEASURING EQUIPMENT PREPARED BY PREPARATION METHOD, AND MAGNETOSTRICTION MEASURING EQUIPMENT CALIBRATED USING THE CALIBRATION STANDARD SAMPLE例文帳に追加

磁歪と磁化との同時測定方法、及びその方法を用いた磁歪計測用機器の較正用標準試料の作成方法、並びにその作成方法で作成した磁歪計測用機器の較正用標準試料、及びその較正用標準試料を使用して較正した磁歪計測用機器 - 特許庁

A material which will not influence the measurement of a standard reference material is contained in the standard sample to be proportional to the concentration or the quantity of the standard reference material, so that, the standard reference material can be evaluated precisely.例文帳に追加

標準試料中に標準物質の測定に影響を及ぼさない物質を標準物質の濃度又は量に比例させて含有させることにより、標準物質の正確な値付けが可能となった。 - 特許庁

The standard sample for the charged particle beam containing different two samples for magnification or dimension calibration, and the charged particle beam device using the standard sample are formed, in a TEM, an STEM (scanning transmission electron microscope), or an SEM for observing a sample by using electrons transmitted through it.例文帳に追加

本発明では、上記目的を達成するために、倍率、或いは寸法校正のための異なる２つの試料が含まれている荷電粒子線用標準試料及びそれを用いる荷電粒子線装置を提供する。 - 特許庁

To provide an automatic analyzer not decreased in its analyzing processing speed even when a standard sample and a precision control sample are charged.例文帳に追加

標準試料，精度管理試料を投入した場合でも、分析処理速度が低下しない、自動分析装置を提供すること。 - 特許庁

Since the error factor such as the purity irregularity of the standard sample is reflected to the standard spectrum thus corrected, this corrected standard spectrum is set as a target and the re-calibration of the MS part 20 using the standard sample is performed to eliminate the difference between the apparatuses.例文帳に追加

こうして修正された標準スペクトルには標準試料の純度のばらつきなどの誤差要因が反映されているので、この修正標準スペクトルを目標として標準試料を用いたＭＳ部２０の再校正を実行すると、装置間の差が解消される。 - 特許庁

Locally charged potential is measured by comparing the acquired image with an image of the standard sample.例文帳に追加

得られた画像と標準試料の画像とを比較して、局所的な帯電電位を計測する。 - 特許庁

STANDARD SAMPLE FOR SPUTTERING RATE CORRECTION, AND METHOD OF CALCULATING SPUTTERING RATE RATIO BY USING THE SAME例文帳に追加

スパッタ率補正用標準試料およびその試料を用いたスパッタ率比の算出方法 - 特許庁

HYDROGEN ION IMPLANT DOSE MEASURING METHOD OF SILICON SEMICONDUCTOR SUBSTRATE, AND SUBSTRATE FOR STANDARD SAMPLE例文帳に追加

シリコン半導体基板の水素イオン注入量測定方法及び標準試料用基板 - 特許庁

SEMICONDUCTOR IMPURITY STANDARD SAMPLE AND ITS MANUFACTURING METHOD, AND METHOD FOR ANALYZING SEMICONDUCTOR SUBSTRATE例文帳に追加

半導体不純物標準試料及びその作製方法並びに半導体基板の分析方法 - 特許庁

A system peak appears after elution of all intended anions in the standard sample is ended.例文帳に追加

システムピークは標準試料中の全ての目的とする陰イオンが溶出し終えた後に現われた。 - 特許庁

To perform waveform separation of an energy spectrum having overlap without using an energy spectrum of a standard sample.例文帳に追加

標準試料のエネルギースペクトルを用いないで、重なりのあるエネルギースペクトルを波形分離する。 - 特許庁

The introduction of the standard sample gas is stopped (26), and adjustment result is displayed and simultaneously stored (28).例文帳に追加

標準試料ガスの導入を止め（２６）、調整結果を表示し、同時に保存する（２８）。 - 特許庁

When the fluctuation thereof is within ±5% (step S4), a sample having a secondary X-ray dose closest to the average value is specified as a standard sample (step S5), and adhesion of plating to a sample other than the standard sample is detected by a destructive method.例文帳に追加

この二次Ｘ線量のばらつきが±５％以内のときに（ステップＳ４）、二次Ｘ線量の平均値に最も近い値を有するサンプル２を標準サンプルとして特定し（ステップＳ５）、標準サンプルを除くサンプル２のめっき付着量を破壊方式により検出する。 - 特許庁

In a measurement, a sample tray 1 on which a sample container containing a standard sample and the measurement sample is set is installed at a heating furnace 2, and it is fixed to the tip of a balance beam 4 protruding from an optical lever-type balance detector 3.例文帳に追加

測定時は移動可能な加熱炉２に標準物質及び測定試料を入れた試料容器をセットする試料皿１を設け、光テコ式天秤検出器３から出る天秤ビーム４の先に固定する。 - 特許庁

The silicon substrate 13 may be the standard sample in which a metal contamination amount on the surface of the substrate 13 is known or may be the sample to be measured.例文帳に追加

シリコン基板１３は、基板１３表面の金属汚染量既知である標準試料でもよいし、又は被測定試料でもよい。 - 特許庁