「intensity flaw」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To detect a flaw even when the difference of detection intencity of light due to the presence of the flaw is minute and environment light changes and to precisely detect a flaw without mistaking even if the detection intensity of light locally changes.例文帳に追加

欠陥の有無による受光強度の差が微小であり環境光が変動する場合でも欠陥を検出し、局所的に受光強度が変動しても誤認することなく欠陥を精度よく検出する。 - 特許庁

To provide a surface inspection device which has a simple constitution even in the case of an inspection target with a low intensity of diffracted light or the classification of a flaw.例文帳に追加

回折光の強度が弱い検査対象あるいは欠陥種別の場合であっても、構成が簡単な表面検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an image quality inspecting device capable of stably calculating the intensity of flaw of a two-dimensional image with high accuracy, to provide and an image quality inspection method.例文帳に追加

二次元画像の欠陥強度を高精度かつ安定に算出することのできる画質検査装置および画質検査方法を提供する。 - 特許庁

The scattering intensity of the flaw detected in a product wafer or the like is compared with the discrimination curve to easily and precisely discriminate the flaw of the product wafer or the like into the contaminations and COP.例文帳に追加

製品ウェーハ等で検出された欠陥の散乱強度を、その弁別線と比較することにより、容易にかつ精度良く、その製品ウェーハ等の欠陥を異物とＣＯＰとに弁別することが可能になる。 - 特許庁

The flaw seed of a flaw whose physical property on the surface is different from that of a base material is judged on the basis of the magnitude of the change polarity and the change amount with reference to the normal part of the three kinds of light intensity signals.例文帳に追加

この３種類の光強度信号の正常部に対する変化極性と変化量の大小から表面の物性が母材と異なる疵の疵種を判定する。 - 特許庁

A control mechanism 103 measures the range lowered from the maximum value of the intensity of the reflected wave signal, obtained from a flaw DE by a predetermined level as the depth of the flaw, when the ultrasonic waves are scanned in the form of a fan.例文帳に追加

制御機構１０３は、超音波を扇形に走査したとき、欠陥ＤＥから得られる反射波信号の強度の最大値から所定レベル低下する範囲を欠陥の深さとして測定する。 - 特許庁

The flaw inspection method of the cast piece has a radiation step of radiating an electromagnetic wave toward the surface of the cast piece, a step of measuring the reflection intensity of electromagnetic waves reflected from the surface of the cast piece and a step of detecting a crack flaw of the cast piece, on the basis of the reflection intensity.例文帳に追加

本発明に係る鋳片欠陥検査方法は、電磁波を、鋳片の表面に向けて放射する放射工程と、鋳片表面で反射した前記電磁波の反射強度を測定する工程と、前記反射強度に基づき、割れの欠陥を検出する工程とを有することを特徴とする。 - 特許庁

Meanwhile, since the piercing part 2a is healthy in the case where there is no flaw part, the intensity of the transmitted wave is large and the intensity of the reflected wave becomes small while the amplitude in the node becomes large (a standing wave ratio becomes small).例文帳に追加

一方、欠陥部が無い場合は貫通部２ａは健全であるため、透過波強度が大きく、また反射波強度は小さくなるため、節における振幅は大きくなる（定在波比は小さくなる）。 - 特許庁

Since the intensity of a transmitted wave decreases and the intensity of the reflected wave increases when a flaw part 2b such as corrosion is present in the piercing part 2a, the amplitude in the node w' of particle velocity becomes small.例文帳に追加

貫通部２ａに腐食等の欠陥部２ｂが存在するときには透過波強度が小さくなり、反射波強度が増すので、上述の通り粒子速度の節ｗ’における振幅は小さくなる。 - 特許庁

To expand the dynamic range of a measuring system by keeping the calculation precision of the particle size of a foreign matter or a flaw even if the intensity of scattered light caused by the foreign matter or flaw present on the surface or the like of a matter to be inspected depends on an illumination direction or the like.例文帳に追加

被検査物体表面等に存在する異物や欠陥により発生する散乱光の強度が照明方向等に依存する場合であっても異物や欠陥の粒径の算出精度を高く維持した上で測定系のダイナミックレンジを拡大可能な表面検査方法を実現する。 - 特許庁

Although the intensity of the reflected light hardly varies, even when a foreign substance is attached to the rear face of the glass substrate 1, when a flaw exists in the rear face of the glass substrate 1, a portion of the light reaching the glass substrate 1 is scattered, and the intensity of the reflected light is lowered.例文帳に追加

ガラス基板１の裏面に異物が付着していても、反射光の強度はほとんど変化しないが、ガラス基板１の裏面に傷があると、ガラス基板１の裏面へ到達した光の一部が散乱され、反射光の強度が低下する。 - 特許庁

Parallel light L is irradiated at a set angle below 5° excepting 0° formed with a surface B, with respect to the surface of a rolled plate material B moved relatively, and it is determined that a flaw exists on a part of the surface wherein the ratio of reflected light signal intensity to background signal intensity is higher than a prescribed value.例文帳に追加

相対的に移動する圧延板材Ｂの表面に対して、当該表面Ｂとのなす角度を、０°を除く５°以下に設定して平行光Ｌを照射し、背景信号強度に対する反射光信号強度の比が所定値以上の上記表面の部分に疵があるものと判定する。 - 特許庁

The surface of the object X to be inspected is irradiated with a light from a light source 10, and the surface flaw of the object X to be inspected is detected, on the basis of the intensity of the scattered light reflected from the surface of the object X to be inspected.例文帳に追加

被検査物Ｘの表面に光源１０から光を照射し、当該表面から反射する散乱光の強さにより被検査物の表面欠陥を検出する。 - 特許庁

A level of a flaw 100a generated in the pipe 100 is inspected based on a phase angle obtained from the output intensity in the each of the found H component and V component.例文帳に追加

そして、求められたＨ成分及びＶ成分それぞれの出力強度から得られる位相角により管１００に生じたきず１００ａの程度を検査する。 - 特許庁

The electronic scan probe is used to freely change the angle and focus of ultrasonic beam, thereby, making an ultrasonic wave able to hit on a defect with an optimum angle and intensity to perform the flaw detection by the TOFD process.例文帳に追加

電子スキャンプローブを使用し自由に超音波ビームの角度，焦点を変化させることにより、最適な角度，強度で超音波を欠陥にあて、ＴＯＦＤ法で探傷することを可能にする。 - 特許庁

To prevent the degradation in the accuracy of a flaw detection circuit due to the occurrence of a variation in the intensity of reflection light and the degradation in the adjustment accuracy of an offset by a difference in optical pickups and optical disks.例文帳に追加

光ピックアップ、光ディスクの相違により、反射光の強度にバラツキが生じオフセットの調整精度の悪化による、傷検出回路の精度低下を防止する。 - 特許庁

In the method, illumination intensity on the surface of a steel material W is set to 4,000 μW/cm^2 or above to make not only a signal level of flaw brightness 4-16 times the dark current of a camera optical part 11 but also a signal level of surface brightness 1.2-1.8 times the dark current.例文帳に追加

本発明の蛍光磁粉探傷方法は、鋼材Ｗ表面における照明強度を４０００μＷ／ｃｍ^２以上として疵輝度の信号レベルをカメラ光学部１１の暗時電流の４倍ないし１６倍とし、地肌輝度の信号レベルを暗時電流の１．２倍ないし１．８倍とするものである。 - 特許庁

Then, the degree of the flaw and stain of the photosensitive drum 1 is judged on the basis of the intensity of light of the scattered beam component detected by the light detecting members and, on the basis of the judge result, it is judged whether the photosensitive drum 1 must be replaced to display the judge result.例文帳に追加

そして、受光部材で受光された散乱光成分の光強度に基づいて、感光ドラム１の傷、汚れの度合いを判定し、その判定結果に基づいて感光ドラム１を交換すべきか否かを判断して、その判断結果を表示する。 - 特許庁

A signal processor 12 normalizes a strength distribution of measured three-kinds of image signals, calculates a change polarity and a change amount of light intensity signals of different polarized lights of a flaw to a normal part, compares the calculated change polarity and change amount respectively with a preliminarily set pattern, thereby discriminating types of flaws.例文帳に追加

信号処理部１２は測定した３種類の画像信号の強度分布を正規化し、正常部に対する疵部の異なる偏光の光強度信号の変化極性と変化量とを算出し、算出した変化極性と変化量とをそれぞれあらかじめ定めたパタ−ンと比較して疵種を判定する。 - 特許庁

The iron-based structure serves as part of a magnetic circuit with respect to the bias magnetic field, the intensity of the bias magnetic field varies according to the degree of a flaw/corrosion/thickness reduction of the iron-based structure, and the degree of a defect of the iron-based structure is inspected according to the output variation.例文帳に追加

鉄系構造物もバイアス磁界に対し磁気回路の一部となり、バイアス磁界の強さが鉄系構造物の傷・腐食・減肉の程度に応じて変化し、その出力変化から鉄系構造物の欠陥の程度を検査する。 - 特許庁

Then, the degree of the flaw and stain of the photosensitive drum 1 is judged on the basis of the intensity of light of the scattered light component detected by the light detecting members SG and, on the basis of the judge result, it is judged whether the photosensitive drum 1 must be replaced to display the judge result.例文帳に追加

そして、受光部材ＳＧで受光された散乱光成分の光強度に基づいて、感光ドラム１の傷、汚れの度合いを判定し、その判定結果に基づいて感光ドラム１を交換すべきか否かを判断して、その判断結果を表示する。 - 特許庁

LED light used for irradiation of a certain flaw item is a monochromatic ray from LEDs of various colors or a combined ray of these colors which is a monochromatic ray of LEDs of various colors whose difference between the reflected light intensity from a good item and that from a defective item is maximum, or a combined color ray obtained by combining them.例文帳に追加

ある欠陥項目の照射に用いるＬＥＤ光が、各色ＬＥＤのいずれかの単色光或いはこれらの組み合わせによる合成色光であって、良品からの反射光強度と不良品からの反射光強度の差が最大となる各色ＬＥＤのいずれかの単色光或いはこれらの組み合わせによる合成色光であること。 - 特許庁

A light source 16 demarcates a plurality of vertical light emitting diode row groups each having no black row but having a bright (white) row and a plurality of adjacent rows and, in the groups rows, the intensity of light is systematically reduced to the min. level capable of observing a shading flaw and systematically increased as compared with the next white row.例文帳に追加

光源１６は、各々が黒い列は有しないが、明るい（白い）列と、複数の隣接する列とを有する、複数の垂直な、発光ダイオード列グループを画成し、該列グループにおいて、光強度が、遮光欠陥を観察することが可能な最小レベルまで体系的に減少し、また光強度が、次の白い列よりも体系的に増加する。 - 特許庁

A portion where electrons reflected vertically from a sample 104 are formed is shielded by a shielding object 117, on a diffraction spot formed on a rear focal plane of an electron lens 111, and other reflected electron beams are detected by a detector 112, and its integration intensity is monitored by an input/output device 115, to thereby determine a foreign matter or a flaw.例文帳に追加

電子レンズ１１１の後焦点面に形成される回折スポットのうち、試料１０４から垂直に反射される電子が形成する部分を遮蔽物１１７で遮蔽し、その他の反射電子線を検出器１１２で検出し、その積分強度を入出力装置１１５でモニタすることにより異物や欠陥の判定を行う。 - 特許庁