「mounted device testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

A difference in Pachinko game machines of the same model is that only the shooting mode changing device 41 is mounted or removed in shooting testing and delivery, and the Pachinko game machine itself is standardized.例文帳に追加

従って、同一機種のパチンコ遊技機にあっては、実射試験時と出荷時に発射態様変更装置４１が装着されているか又は脱着されているかの違いのみで、パチンコ遊技機自体は共通化される。 - 特許庁

A semiconductor testing device 100 tests devices 17A, 17B to be measured which are mounted on two test heads by using two kinds of test programs each of which is constituted so as to include a program specification command for specifying a common program.例文帳に追加

半導体試験装置１００は共通プログラムを指定するプログラム指定コマンドを含んで構成された２種類のテストプログラムを用いて２台のテストヘッドに実装された被測定デバイス１７Ａ，１７Ｂを試験する。 - 特許庁

The marking device is mounted on an apparatus for testing the painted surface of the vehicle, which has a CCD camera 6 for scanning / photographing the outside painted surface of the vehicle and an image processing device 8 automatically detecting a microdefects generated in the painted surface from photographed signals.例文帳に追加

マーキング装置は、車両外面の車両塗面を撮像走査するＣＣＤカメラ６と、その画像信号の変化から車両塗面に生じている微小欠陥を自動的に検知する画像処理装置８とを備えた車両塗面検査装置に付属する。 - 特許庁

To provide a software testing device testing device, especially built-in software, in an environment using no actual machine, maintaining a conventional function by change of a control request or compliance with new control while checking a new function for improving quality of the software to be mounted , and extracting a differential point between an expectation value and a test output for facilitating debugging after a test.例文帳に追加

特に組み込みソフトウェアにおいて、実機を用いない環境でのソフトウェアテストを提供し、制御要求変更や新規制御対応による従来機能の保持と、新規機能の確認による実装対象となるソフトウェアの品質を向上し、更に期待値とテスト出力の差分点を抽出することにより、テスト後のデバッグを容易化するソフトウェアテスト装置を提供する。 - 特許庁

This abrasion testing apparatus 2 is provided with both a rotating drum 4 to which the test pieces T1-T6 are mounted and to be driven and rotated by a drive motor 5 and a water flow injecting device 6 having an injection nozzle 25 for injecting a flow of water to the test pieces T1-T6 mounted to the rotating drum 4 to rotate.例文帳に追加

摩耗試験装置２は、試験体Ｔ１〜Ｔ６が装着され駆動モータ５により回転駆動される回転ドラム４と、回転ドラム４に装着されて回転される試験体Ｔ１〜Ｔ６に対して水流を噴射する噴射ノズル２５を有する水流噴射装置６とを備えている。 - 特許庁

To provide a testing circuit and a testing method which have function capable of conducting a contact test or the like of terminals of a semiconductor device mounted on a board at a low cost, and capable of starting with a simple starting sequence without needing exclusive terminals, and preventing an easy start-up in the state of usual application in a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

ボード等に実装された半導体装置の端子のコンタクト試験等を安価に行う機能を備えた試験回路およびその試験方法、および半導体集積回路に関し、専用の端子を必要とせずに簡単な起動シーケンスで起動し、かつ、通常の使用状態では容易に起動しないようにすることを目的とする。 - 特許庁

Next, the test disk 30 is mounted in a test object drive, and a testing device inquires of the test object drive, a start position of the middle area, a recording end position of file data, a recordable start position of the disk and a recordable capacity (spare capacity).例文帳に追加

このテストディスク３０を検査対象ドライブに装着し、ミドルエリアの開始位置、ファイルデータの記録終了位置、当該ディスクの追記開始位置および追記可能容量（空き容量）を、検査装置から検査対象ドライブに問い合わせる。 - 特許庁

In the temperature testing device 1, the standby part 4 for temporally standing by the carrier C mounted with the crystal oscillator CR, and the measurement part 5 for measuring the oscillation frequency of the crystal oscillator CR at every temperature accompanied by the temperature change of the crystal oscillator CR are arranged along the X direction.例文帳に追加

温度試験装置１には、水晶振動子ＣＲを搭載したキャリアＣを一次待機させる待機部４と、水晶振動子ＣＲの温度変化に伴った各温度における水晶振動子ＣＲの発振周波数を測定する測定部５と、がＸ方向に沿って設けられている。 - 特許庁

A static electricity eliminating device 29 is mounted to eliminate static electricity of a disc-shaped rubber specimen G in a rubber abrasion testing machine for abrading the rubber specimen G by pressing the rubber specimen G to an outer peripheral face of a rotating disc-shaped grinding wheel 4, while being rotated.例文帳に追加

回転する円盤状の砥石４の外周面に円盤状のゴム試験片Ｇを回転させながら押し当てることによりゴム試験片Ｇを摩耗させるようにしたゴム摩耗試験機において、ゴム試験片Ｇに対して静電気を除去する静電気除去装置２９を設置する。 - 特許庁

In this immunity testing device, a horn antenna for radiating a test radio wave toward a test apparatus is equipped with a pyramid horn 22 for 1GHz; and a coaxial waveguide converter 24 mounted directly on the pyramid horn 22, capable of feeding a signal in the 1GHz band.例文帳に追加

妨害排除能力試験装置において、供試機器に向けて試験用電波を放射するホーンアンテナは、１ＧＨｚ用の角錐ホーン２２と、この角錐ホーン２２に直接装着されて１ＧＨｚ帯の信号を給電可能な同軸導波管変換器２４を備える。 - 特許庁

In the testing device 10, a ceiling panel 11 is supported by columns 13, an upper sound proofing wall 12b is mounted to the peripheral part under the panel 11, the wall 12b has a tapered shape with a small diameter and contacts with a cylindrical lower sound proofing wall 12a, and the circumference of the lower end of the sound proofing wall opens.例文帳に追加

テスト装置１０は天井パネル１１が支柱１３で支持され、パネル１１下部周囲には上部防音壁１２ｂが取付けられ、壁１２ｂはテーパ形状で小径となり、円筒状の防音壁下部１２ａに接し、防音壁下端周囲は開口している。 - 特許庁

In a game machine, the winning probability of a variable display device for normal patterns is heightened associated with the variable probability state while the opening time of a normal role device is extended with the shortening of the variation time along with an increase in the frequency of opening and a testing connector which allows the outputting of signals outside the game machine is mounted on a game control board.例文帳に追加

確変状態に付随して普通図柄用可変表示器の当り確率が向上されかつその変動時間が短縮されるとともに普通電役の開放時間が延長されかつその開放回数が増加する遊技機において、信号を遊技機外部へ出力可能な試験用コネクタを遊技制御基板に取付ける。 - 特許庁

In the game machine, the winning probability of a variable display device for ordinary symbols is improved following the variable probability state while the time of opening an ordinary electric role device is extended along with the shortening of the variation time and the frequency of opening is increased and a connector for testing capable of outputting signals outside the game machine is mounted on the game control board.例文帳に追加

確変状態に付随して普通図柄用可変表示器の当り確率が向上されかつその変動時間が短縮されるとともに普通電役の開放時間が延長されかつその開放回数が増加する遊技機において、信号を遊技機外部へ出力可能な試験用コネクタを遊技制御基板に取付ける。 - 特許庁

The apparatus for testing the optical head device 106 controls one or more functions out of focusing servo control, tracking servo control and spindle servo control, using control circuits (a PCB mounted thereon a controller, a servo circuit, a digital circuit, etc.), of the optical disk drive apparatus 100 into which the device 106 to be tested is to be incorporated.例文帳に追加

光学ヘッド装置１０６を検査するための検査装置において、検査装置のフォーカスサーボ、トラッキングサーボ、スピンドルサーボのうちいずれか１つ以上の制御機能を、検査対象の光学ヘッド装置１０６が組み込まれる光ディスク駆動装置１００の制御回路（コントローラ、サーボ回路、デジタル回路などを実装したＰＣＢ）を使用して実現するように構成した。 - 特許庁

To automatically correct the correspondence between XY coordinates on the side of an automatic jig, which is mounted on the test head of an IC testing device and corrects the operation state of a circuit connected to respective pins of an IC socket arranged on the test head by automatically bringing the probe into contact with the respective pins, and a XY position on the test head.例文帳に追加

ＩＣ試験装置のテストヘッドに装着され、テストヘッド上に配置されたＩＣソケットの各ピンにプローブを自動的に接触させ、ＩＣソケットの各ピンに接続された回路の動作状態を校正する自動治具において、自動治具側のＸＹ座標と、テストヘッド上のＸＹ位置との対応を自動的に校正する。 - 特許庁

This tension testing device is attached to an inside of a scanning electron microscope mounted with a reflected electron detector, a test piece is tensioned while photographing a reflected electron image, and a change of a shape in a crystal grain appearing in the reflected electron image is measured to compute sequentially a strain amount in each crystal grain and a cross section with respect to a tensioned direction.例文帳に追加

反射電子検出器を装着した走査電子顕微鏡内に引張り装置を取り付け、反射電子像を撮影しながら試験片を引張り、反射電子像に現れる結晶粒の形の変化を測定し、結晶粒毎の歪量及び引張り方向に対する断面積を逐次演算する。 - 特許庁

In this spraying corrosion testing device using a water-sealing system, a porous water-absorbing material is mounted on either or both of a lower fringe part of an upper lid of the test tank and a bottom part of a groove part of the test tank, and the bottom part of the groove part is tilted downward toward the inside of the test tank.例文帳に追加

ウォーターシール方式を用いた噴霧腐食試験装置において、前記試験槽の上蓋の下方周縁部と前記前記試験槽の溝部の底部とのどちらか一方又は両方に多孔質吸水性物質を取り付け、前記溝部の底部を前記試験槽内部に向かって下方傾斜させること。 - 特許庁

In this semiconductor testing device provided with a docking block, which is to be connected to a performance board and mounted to a handler base plate or the performance board, and a test socket mounted to the docking block, a docking plate for mounting the test socket is arranged, while a plate type docking base having a fitting hole, into which the docking plate is inserted and fitted, is arranged in the docking block.例文帳に追加

パフォマンスボードに接続されハンドラーベースプレートあるいは前記パフォマンスボードに取付けられるドッキングブロックと、このドッキングブロックに取付けられるテストソケットとを具備する半導体テスティング装置において、前記テストソケットが取付けられるドッキングプレートと、このドッキングプレートが挿入嵌め合わされて取り付けられる嵌合孔を有する板状のドッキングベースとを有するドッキングブロックを具備したことを特徴とする半導体テスティング装置である。 - 特許庁

An invention related to a claim 2 includes a buffer means which, relating to the collision testing device described in the claim 1, is arranged in front of the truck and at the projection barrier and, when the collision means operates, deforms by such amount as the frame of a vehicle where the cab is mounted deforms, to cause the cab to collide with the projection barrier.例文帳に追加

そして、請求項２に係る発明は、請求項１に記載の衝突試験装置に於て、前記台車の前方と前記突起バリアとに配置され、前記衝突手段の作動時に、前記キャブが搭載される車両のフレームの変形量だけ変形して前記突起バリアに前記キャブを衝突させる緩衝手段を有することを特徴とする。 - 特許庁

The washing-unrequired rice producing device for testing includes: processing containers 6, 7 which are removably mounted in a body and accommodate grains to be treated, water and adsorbents; a stirring part 14 which stirs the contents accommodated in the processing containers; a stirring-controlling part 10 which controls the operation of the stirring part 14; and an adsorbent-recovering container 5 which recovers the adsorbents accommodated in the processing containers 6,7.例文帳に追加

本体内に取り外し可能に装着され、被処理穀粒、水及び吸着材を収容する加工容器６，７と、加工容器内に収容された内容物を撹拌する撹拌部１４と、撹拌部１４の動作を制御する撹拌制御部１０と、加工容器６，７に収容された吸着材を回収する吸着材回収容器５と、を備えたテスト用無洗米製造装置。 - 特許庁

In this semiconductor testing device constituted so that input terminals of the plurality of DUTs are connected in parallel, and that a test signal is applied thereto simultaneously, the plurality of DUTs are mounted on a common DUT interface board, and a wiring pattern distributed in the branched state to the plurality of DUTs is branched at one branch point, and formed so that each length from the branch point to each DUT point is set to be equal.例文帳に追加

複数のＤＵＴの入力端子を並列接続して試験信号を同時に印加するように構成された半導体試験装置において、 前記複数のＤＵＴは共通のＤＵＴインタフェースボードに実装され、前記複数のＤＵＴに分岐配線する配線パターンは１箇所の分岐点で分岐され、この分岐点から各ＤＵＴ点までが等しい長さになるように形成されていることを特徴とするもの。 - 特許庁