「probe electrode」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

PROBE METHOD, PROBE DEVICE, AND ELECTRODE REDUCTION DEVICE例文帳に追加

プローブ方法、プローブ装置及び電極還元装置 - 特許庁

PROBE CONTACTING ELECTRODE AND ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

プローブ接触用電極、及び電子デバイス - 特許庁

ELECTRODE STRUCTURE OF ULTRASOUND PROBE, ULTRASOUND PROBE, AND SUBSTRATE OF ULTRASOUND PROBE例文帳に追加

超音波探触子の電極構造、超音波探触子、および超音波探触子の基板 - 特許庁

ELECTRODE NEEDLE, PROBE CARD, PROBE DEVICE, PROBE TESTING METHOD, SEMICONDUCTOR DEVICE, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

電極針、プローブカード、プローブ装置、プローブ試験方法、半導体装置及びその製造方法 - 特許庁

Initial positions of a negative electrode probe and a positive electrode probe against the contact support part 61, separation gap between the negative electrode probe and the positive electrode probe, and size of relative movement of the negative electrode probe and the positive electrode probe with a plate member can all be adjusted.例文帳に追加

コンタクト部において、コンタクト支持部61に対する負極プローブおよび正極プローブの初期位置、負極プローブおよび正極プローブ間の離間寸法、負極プローブおよび正極プローブと板部材との相対移動寸法はそれぞれ、調整可能である。 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF DNA PROBE FIXED ELECTRODE例文帳に追加

ＤＮＡプローブ固定電極の製造方法 - 特許庁

A probe region 32 allowing probe contact and a non-probe region 31 are formed in an electrode pad 21.例文帳に追加

電極パッド２１内にプローブコンタクト可能なプローブ領域３２と非プローブ領域３１を設ける。 - 特許庁

LARGE CURRENT SOURCE ELECTRODE PROBE OR CONNECTOR例文帳に追加

大電流電源電極プローブ若しくはコネクタ - 特許庁

MULTI-ELECTRODE PROBE DEVICE FOR INSPECTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体素子検査用の多極型プローブ装置 - 特許庁

ELECTRODE EXTRACTION STRUCTURE AND PROBE TYPE STRUCTURE例文帳に追加

電極の引き出し構造及びプローブ型構造体 - 特許庁

The compensation electrode is arranged in structures 13, 14 of the probe part for supporting the probe, and the probe and the compensation electrode contact with the flame at the same time.例文帳に追加

補償極は探針を支持するプローブ部の構造体(13,24)に配設され、探針及び補償極は、同時に火炎に接触する。 - 特許庁

The probe includes a magnetic field transducer and at least a single probe electrode.例文帳に追加

このプローブは、磁場トランスデューサと、少なくとも１個のプローブ電極と、を含んでいる。 - 特許庁

In the probe for the somatometry, the electrode and the optical probe are provided in the same measuring probe to perform simultaneous measurement by the electrode and the optical probe.例文帳に追加

生体計測用プローブにおいて電極と光プローブとを同一の測定プローブに設ける構成とすることによって電極と光プローブによる同時測定を可能とする。 - 特許庁

This causes the probe 51 to make stable contact with the electrode.例文帳に追加

これによりプローブ５１が電極に安定接触する。 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING PROBE CONTACTING ELECTRODE FOR ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

電子デバイスのプローブ接触用電極の製造方法 - 特許庁

To provide a probe device capable of making two probe styli contact with an electrode, without increasing the area of the electrode with which the probe styli contact.例文帳に追加

プローブ針に接触される電極の面積を大きくすることなく、２本のプローブ針を電極に接触させることができるプローブ装置を得る。 - 特許庁

To prevent the contact failure between a probe and a probe pad electrode due to the repeated usage of the inspection probe, in a semiconductor device having the probe pad electrode that is connected to a bonding pad elec trode.例文帳に追加

ボンディングパッド電極に接続されたプローブパッド電極を有する半導体装置において、検査用プローブの反復使用に伴うプローブとプローブパッド電極との接触不良をなくす。 - 特許庁

To provide stable contact of a probe with an electrode.例文帳に追加

プローブの電極に対する安定した接触を得ること。 - 特許庁

ELECTRODE TENSION TEST METHOD, DEVICE THEREFOR, SUBSTRATE /PROBE SUPPORT DEVICE THEREFOR AND ELECTRODE/PROBE BONDING DEVICE例文帳に追加

電極引張試験方法、その装置及び電極引張試験用の基板／プローブ支持装置並びに電極プローブ接合装置 - 特許庁

To provide a probe for somatometry and a probe holder for the somatometry which realize simultaneous measurement by a probe for different kinds of measurement by an electrode and an optical probe.例文帳に追加

電極と光プローブの異種の測定用プローブによる同時測定を可能とする生体計測用プローブ、及び生体計測用プローブホルダーを提供する。 - 特許庁

To provide a probe card device and probe used therefore allowing a satisfactory electric conduction of the probe with a pad electrode.例文帳に追加

プローブとパッド電極との良好な電気的導通が図られるプローブカード装置とそれに用いられるプローブを提供する。 - 特許庁

DISPLACEMENT MAGNIFYING MECHANISM FOR ELECTRODE MEASUREMENT PROBE, AND SUBSTRATE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

電気計測プローブ用変位拡大機構および基板検査装置 - 特許庁

A probe 20 contacts an electrode on the surface of a wafer 18.例文帳に追加

プローブ２０はウエハ１８の表面の電極に接触する。 - 特許庁

METHOD OF ALIGNING PROBE POINT WITH ELECTRODE OF INSPECTION BODY例文帳に追加

プローブの針先と被検査体の電極との位置合わせ方法 - 特許庁

PROBE WITH ELECTRODE FOR ELECTROCHEMICAL TREATMENT OF PROSTATE GLAND DISEASE例文帳に追加

前立腺疾患の電気化学的治療法用電極付プローブ。 - 特許庁

To provide a probe card for reliably bringing an electrode terminal into contact with an examination probe for the narrow-pitched electrode terminal.例文帳に追加

狭ピッチ化された電極端子に対しても、その電極端子と検針とを確実にコンタクトできるプローブカードを提供する。 - 特許庁

Probe area marks XPM and YPM where the test probe are brought into contact with the electrode pad 1 are provided, a test probe area TPA in the electrode pad 1 is limited by the probe area marks, and the electrode pad can be improved in bonding reliability.例文帳に追加

電極パッド１にテストプローブを接触させるエリア示すプローブエリアマークＸＰＭ，ＹＰＭを備え、プローブエリアマークにより電極パッドにおけるテストプローブエリアＴＰＡを限定し、電極パッドに対するボンディング信頼性を高める。 - 特許庁

A second probe electrode 42 is opposed to the first probe electrode 41 and the specimen 99 is charged in the gap between the first and second probe electrodes 41 and 42.例文帳に追加

第２プローブ電極４２が第１プローブ電極４１に対向し、第１プローブ電極４１と第２プローブ電極４２の間に被検体９９が充填される。 - 特許庁

Although a part of the electrode pad with which the probe stylus is in contact is stripped off resulting in causing a trace of a probe contact on the electrode pad after the measurement, an electrode film is formed on the surface of the electrode pad to cover the trace of probe caused on the electrode pad in a succeeding electrode pad forming step S103 to prevent the electrode film at the trace of probe from being exfoliated.例文帳に追加

測定後はプローブ針が接触した電極パッドの部分がめくれてプローブ痕が発生するが、次の電極パッド形成工程Ｓ１０３において、電極パッドの表面に電極膜を形成して電極パッドに発生したプローブ痕を覆うことにより、プローブ痕の電極膜が剥がれるのを防止することができる。 - 特許庁

To provide a substrate for a probe card capable of miniaturizing wiring and an electrode inexpensively, and to provide the probe card using the substrate for the probe card.例文帳に追加

低コストで配線・電極の微細化が可能なプローブカード用基板、および、前記プローブカード用基板を用いたプローブカードを提供する。 - 特許庁

To provide a substrate for probe card assembly, without generating electrode exfoliation, even in a probe card passing through a MEMS probe mounting process, and also to provide a probe card using it.例文帳に追加

ＭＥＭＳプローブ実装工程を経たプローブカードでも電極剥がれが発生しないプローブカード・アセンブリ用基板およびそれを用いたプローブカードを提供することにある。 - 特許庁

A probe assembly is provided that supports a blade-type probe and makes it electrically contact an electrode of an inspection object.例文帳に追加

ブレード型プローブを支持して被検査体の電極に電気的に接触させるプローブ組立体である。 - 特許庁

ELECTRODE-EQUIPPED PROBE AND CAPACITANCE TYPE LOAD METER USING IT例文帳に追加

電極付きプローブおよびそれを用いた静電容量型荷重計 - 特許庁

The lower probe 40 is provided at a height near the lower electrode 12, and the upper probe 41 is provided at a height near the upper electrode 20.例文帳に追加

下部プローブ４０は，下部電極１２付近の高さに設けられ，上部プローブ４１は，上部電極２０付近の高さに設けられる。 - 特許庁

To provide a device for detecting nucleic acid, constituted so that a solution is made easy to arrive at a probe electrode, while the area of the probe electrode is small.例文帳に追加

プローブ電極の面積が小さいながらもプローブ電極に溶液が到達しやすい核酸検出用デバイスを提供する。 - 特許庁

A probe 12A can be moved with respect to the electrode 4A and can come in contact with the electrode 4A.例文帳に追加

プローブ１２Ａは電極４Ａに対して移動可能であり、電極４Ａに接触可能である。 - 特許庁

To surely connect a contact electrode of a probe apparatus to an electrode of an inspection object.例文帳に追加

プローブ装置の接触電極を被検査体の電極に確実に接続させることにある。 - 特許庁

In the probe card, an electrode 13 is formed in a pattern region 11 connected to the probe 5A for electric source, and an electrode plate 13B of the electrode 13 is made to face the pattern region 11 connected with a probe 5B for grounding.例文帳に追加

電源用プローブ５Ａに接続されているパターン領域１１に電極１３を形成し、この電極１３の電極板１３Ｂをグランド用プローブ５Ｂに接続されているパターン領域１１に対向させる。 - 特許庁

To reduce a cut amount in an electrode pad of a semiconductor element when inspecting a probe, and to reduce damage in an underside of the electrode pad by the probe inspection.例文帳に追加

プローブ検査時の半導体素子の電極パッド削れ量を小さくすること、及びプローブ検査による電極パッド下のダメージを低減する。 - 特許庁

The probe pin 10 side breaks and suffers a loss when the probe pin 10 is pulled apart from the electrode P, so that a part of the electrode P is prevented from adhering to the probe pin 10.例文帳に追加

こうすることによって，プローブピン１０を電極Ｐから引き離す際に，プローブピン１０側が破断し欠損するので，電極Ｐの一部がプローブピン１０に付着することが防止できる。 - 特許庁

When the stage 70 stops, the probe 126 of a probe unit comes into contact with the electrode of a glass substrate 73 on a chuck top 72.例文帳に追加

このとき、プローブユニット６０のプローブ１２６がチャックトップ７２上のガラス基板７３の電極にコンタクトする。 - 特許庁

The wafer W is positioned to a probe card 5, and a probe needle 6 is electrically connected to an electrode pad P.例文帳に追加

まず、プローブカード５とウェハＷの位置合わせをし、プローブ針６と電極パッドＰの電気的接続を行う。 - 特許庁

The probe unit 712 has a probe 300 for applying a voltage to the conductor by contacting with the electrode wiring 111 on the base board 110 and a probe holder 711 holding the probe.例文帳に追加

プローブユニット７１２は、基板１１０上の電極配線１１１に接触して導電体に電圧印加を行うためのプローブ３００と、これを保持するプローブホルダ７１１とを有する。 - 特許庁

To prevent an electrode from being damaged, even when a probe comes into contact with a strip electrode at a slant.例文帳に追加

帯状電極に対し、プローブが傾斜して接触しても電極が損傷しないようにする。 - 特許庁

To prevent displacement of a contact electrode of a probe device from an electrode of a body to be inspected.例文帳に追加

プローブ装置の接触電極が被検査体の電極に対して位置ずれすることを防止すること。 - 特許庁