「roughness measuring」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

ULTRASONIC APPARATUS FOR MEASURING SURFACE ROUGHNESS AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

超音波表面粗さ測定方法と装置 - 特許庁

(3) Equipment for measuring surface roughness 例文帳に追加

３　表面粗さを測定することができるもの - 日本法令外国語訳データベースシステム

INTERFEROMETER AND METHOD FOR MEASURING ROUGHNESS例文帳に追加

粗さ計測干渉計および粗さ計測方法 - 特許庁

X-Y DRIVE MECHANISM OF SURFACE ROUGHNESS MEASURING DEVICE例文帳に追加

表面粗さ測定器のＸ−Ｙ駆動機構 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING ROAD-SURFACE ROUGHNESS DISTRIBUTION例文帳に追加

路面凹凸分布の測定装置及び測定方法 - 特許庁

To provide a roughness-measuring method and a roughness-measuring device capable of efficiently obtaining the roughness of a machining surface, in a work for forming the machining surface different in roughness.例文帳に追加

本発明は、粗さの異なる加工面が形成されたワークにおいて、加工面の粗さを効率よく得ることができる粗さ測定方法及び粗さ測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a roughness measuring device for measuring the roughness of a tooth flank while moving along the tooth flank of a gear.例文帳に追加

歯車の歯面に沿って移動しながら歯面粗さの測定を行うことができる粗さ測定装置を提供する。 - 特許庁

Humanity had to learn about measuring roughness.例文帳に追加

人は荒さを測ることを学ばなければならなかったのです - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

Then, the roughness of the regular measurement range is measured under the condition for measuring the roughness (fine sampling pitch.slow measuring speed) (S25).例文帳に追加

次にこの本測定範囲を粗さ測定用の測定条件（細かいサンプリングピッチ・遅い測定速度）で粗さ測定を行う（Ｓ２５）。 - 特許庁

DEVICE FOR AUTOMATICALLY SETTING MEASUREMENT CONDITION OF SURFACE ROUGHNESS STATE MEASURING MACHINE例文帳に追加

表面粗さ形状測定機の測定条件自動設定装置 - 特許庁

SURFACE ROUGHNESS/SHAPE-MEASURING APPARATUS AND PROGRAM FOR CONTROLLING THE SAME例文帳に追加

表面粗さ／形状測定装置及びそれを制御するプログラム - 特許庁

SURFACE ROUGHNESS MEASURING METHOD BY LASER REFLECTED LIGHT AND ITS DEVICE例文帳に追加

レーザ反射光による表面粗さ測定方法及びその装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING SURFACE ROUGHNESS AND PROCESSING DEVICE例文帳に追加

表面粗さの測定方法、表面粗さ測定装置及び加工装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING SURFACE ROUGHNESS AND SHAPE例文帳に追加

表面粗さ／形状測定装置及び表面粗さ／形状測定方法 - 特許庁

MEASURING METHOD AND MEASURING DEVICE FOR SURFACE ROUGHNESS OF MAGNETIC DISK SUBSTRATE AND MANUFACTURING METHOD FOR MAGNETIC DISK例文帳に追加

磁気ディスク基板の表面粗さ測定方法および測定装置並びに磁気ディスクの製造方法 - 特許庁

To provide an apparatus for measuring surface roughness of a cylindrical object capable of efficiently measuring the surface roughness of a plurality of cylindrical objects.例文帳に追加

複数の筒状体に対して効率的に表面粗さの測定を行うことが可能な筒状体の表面粗さ測定装置を提供する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING SURFACE ROUGHNESS, AND METHOD OF DIAGNOSING DEGRADATION OF TURBINE例文帳に追加

表面粗さの計測方法および装置およびタービンの劣化診断方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING SURFACE ROUGHNESS OF ROTOR, METHOD FOR MEASURING PROJECTION AMOUNT OF ABRASIVE GRAIN IN GRINDING WHEEL, AND GRINDING MACHINE例文帳に追加

回転体の表面粗さの測定方法、砥石における砥粒の突き出し量の測定方法、及び研削盤 - 特許庁

METHOD OF MEASURING SURFACE ROUGHNESS OF COPPER TAPE AND METHOD OF MANUFACTURING COPPER-CLAD ALUMINUM WIRE USING THE SAME METHOD OF MEASURING例文帳に追加

銅テープの表面粗さの測定方法及びその測定方法を用いた銅被覆アルミニウム線の製造方法 - 特許庁

To provide a roughness measuring instrument capable of easily performing preparation work such as centering work in a short time and capable of measuring roughness regardless of the size or posture of a hole.例文帳に追加

芯出作業等の準備作業を短時間で容易に行うことができ、且つ、孔の大きさや姿勢に関係なく測定することのできる粗さ測定装置を提供する。 - 特許庁

To readily measure in distinction from local roughness, by stably measuring a line width.例文帳に追加

線幅を安定して計測し、局所的なラフネスと区別して簡便に測定する。 - 特許庁

To provide a dimension measuring device and dimension measuring method capable of accurately measuring the measuring object dimension of an object to be measured regardless of the surface roughness thereof.例文帳に追加

被測定物の表面粗さの程度によらず、その測定対象寸法を正確に測定できる寸法測定装置及び寸法測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a precise and simple method of inspecting a surface roughness reduced in a measuring time for a magnetic recording medium having 1.5 nm or less of average roughness.例文帳に追加

平均粗さが１．５ｎｍ以下の磁気記録媒体に対して、精度が高く、簡便で、測定時間が短い表面粗さの検査方法。 - 特許庁

THERMOCOUPLE CONTACT TYPE SURFACE ROUGHNESS MEASURING METHOD AND DETECTION DEVICE OF SURFACE STATE OF WORKPIECE例文帳に追加

熱電対接触式の表面粗さ測定方法及びワークの表面状態検出装置 - 特許庁

To provide a device for measuring pattern shapes and a pattern shape measuring method, capable of quick and high-accuracy roughness measurement, without the need for designating a spot to be measured by a measuring person, when measuring roughness of a hole of a photomask or a wafer and a dot pattern shape.例文帳に追加

フォトマスク又はウェハのホール及びドットパターン形状のラフネスを計測する際に、測定者が計測する箇所を指定する必要がなく、迅速かつ高精度なラフネス計測が可能となるパターン形状計測装置及びパターン形状計測方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for measuring a roughness; whereby the surface roughness of a work without a cut-off value indicated can be correctly measured.例文帳に追加

本発明は、カットオフ値が指示されていないワークの表面粗さを正確に測定することができる粗さ測定方法及び粗さ測定装置を提供する。 - 特許庁

The roughness measuring device 1a thus constructed can measure the surface roughness of the measured object 2 in a non-contact and non-optical method.例文帳に追加

このように構成された粗さ測定装置１ａは、被測定物体２の表面粗さを非接触且つ非光学方式で測定することができる。 - 特許庁

Further, the apparatus has a means for measuring the surface roughness of the recording medium 2, and automatically selects the transparent toner corresponding to the surface roughness of the recording medium 2.例文帳に追加

更に、記録媒体２の表面粗さの計測手段を有して、記録媒体２の表面粗さに対応した前記透明トナーを自動的に選択する。 - 特許庁

To take measurements using a three-dimensional measuring instrument for resin moldings, while taking into account the surface roughness of products when products with surface roughness are to be measured.例文帳に追加

樹脂成型品の３次元測定機において、表面粗さのある製品を測定する場合に、表面粗さを考慮して測定することを目的とする。 - 特許庁

When there is an evaluating area exceeding the threshold (0.5 μm) in the calculated roughness, the roughness is calculated by using the measuring data of only the evaluated area which is not more than the threshold (0.5 μm), and the roughness is calculated by using the measuring data of only an evaluated area which exceeds the threshold (0.5 μm).例文帳に追加

そして、算出した粗さに閾値（０．５μｍ）を超える評価領域がある場合には、閾値（０．５μｍ）以下の評価領域のみの測定データを用いて粗さを算出し、閾値（０．５μｍ）を超える評価領域のみの測定データを用いて粗さを算出する。 - 特許庁

To provide a measuring apparatus for calibrating the optical noise caused by the surface roughness (irregularities) of a biosensor.例文帳に追加

バイオセンサの表面の粗さ（凹凸）に起因した光学ノイズを較正する測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and system for calibration between dissimilar measuring devices by roughness-adjusted sampling.例文帳に追加

ラフネスを考慮したサンプリングによる異種計測装置間のキャリブレーション方法及びそのシステムを提供する。 - 特許庁

The average roughness of the central surface found by measuring the surface of a polyester ○-layer with a magnification ▵ is expressed as WRa (▵) ○.例文帳に追加

ポリエステル○層の表面を倍率△倍で測定した中心面平均粗さを、ＷＲａ（△）○と表す。 - 特許庁

To provide a hole roughness measuring technique and a device thereof capable of assessing roughness easily by determining an optimum approximating curve even for out-of-round hole.例文帳に追加

真円ではないホール形状に対しても最適な近似曲線を求めてラフネスの評価を容易に行うことのできるホールラフネス計測方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic apparatus for measuring a surface roughness, which includes a simple and compact structure, is excellent in portability and accurately measures the surface roughness for a short time, and to proved a method therefor.例文帳に追加

簡単な構造で小型であり、可搬性に優れ、短時間で正確な表面粗さの測定が可能な超音波表面粗さ測定方法と装置を提供する。 - 特許庁

To provide a surface tracking type measuring instrument which can have its measurement range expanded while maintaining a measuring force, response, and resolution permitting surface roughness measurement.例文帳に追加

表面粗さ測定が可能な測定力、応答性、分解能を維持しつつ、測定範囲を拡大することができる表面追従型測定機を提供する。 - 特許庁

To provide a device for measuring a road-surface roughness distribution wherein the partial rough distribution of a road surface is acquired.例文帳に追加

路面の部分的な凹凸分布を求めることができる路面凹凸分布の測定装置を提供する。 - 特許庁

Otherwise, data of edge roughness in a sufficiently long area are divided, and fitting by statistic processing and logic calculation is performed thereto, and a long period roughness and a short period roughness corresponding to an optional inspection area are calculated and displayed on a length measuring SEM.例文帳に追加

または、十分長い領域のエッジラフネスデータを分割し、統計処理と理論計算によるフィッティングを行って、任意の検査領域に対応する長周期ラフネスと短周期ラフネスを算出し測長SEM上で表示する。 - 特許庁

To inexpensively provide a measurement condition setting device capable of easily setting a condition for measuring a surface roughness state.例文帳に追加

表面粗さ形状測定の測定条件が容易に設定できる測定条件設定装置を安価に提供する。 - 特許庁

In the roughness measuring instrument, the skid 126 guiding a probe 122 is attached to the leading end of a pickup 66.例文帳に追加

本発明の粗さ測定装置は、触針１２２を案内するスキッド１２６がピックアップ６６の先端に取り付けられている。 - 特許庁

The wafer surface inspection device has a method and a means for searching an area capable of measuring the surface roughness existing on the wafer with the pattern, and for measuring the measurable area.例文帳に追加

パターン付きウェハ上に存在する表面粗さを測定可能な領域を検索し、前記測定可能な領域を測定する方法及び手段を有する装置である。 - 特許庁

To provide an optical measuring device for measuring position and shape of any three dimensional structure without being affected by tilt of faces or surface condition (roughness) on the target structure.例文帳に追加

三次元構造物の位置や形状について被対象物の面の傾きや表面の状態（荒さ) に影響されない光学的な測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a roughness measuring device capable of measuring roughness of a rough surface having large irregularities in short time without being affected by moisture on the surface to be measured by employing a non-contact and non-optical simple structure.例文帳に追加

非接触且つ非光学方式の簡便な構成で、大きな凹凸で構成された非常に粗い表面の粗さを、測定対象表面の湿気の影響を受けることなく、かつ短時間で測定することができる粗さ測定装置を提供する。 - 特許庁

Measurement-required positions of the measuring object are moved to a measuring position measured by a surface roughness measuring sensor 6 respectively, without moving the stage 5 to a direction along the laid rails 3, 4 on the rails 4, 4.例文帳に追加

よって、ステージ５を、架設レール３，４上で該架設レール３，４に沿う方向に移動させることなく、測定対象物の測定必要箇所をそれぞれ表面粗さ測定センサ６による測定可能位置に移動させる。 - 特許庁

In the galvanized steel sheet with excellent press workability, relative load length tp at 3 μm cutting depth of a roughness curve obtained by measuring the surface roughness of a plating film is ≥60%.例文帳に追加

めっき皮膜の表面粗度を測定して得られる粗さ曲線のカッティング深さ３μｍにおける相対負荷長さｔp が６０％以上であるプレス加工性に優れた亜鉛めっき鋼板。 - 特許庁