「sub-test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

When a sub-test in the test flow 200 is executed, a database 400 of the test number is indexed by using index information including (1) an identifier of the sub-test and (2) the present test flow context information 300 (104).例文帳に追加

テストフロー２００内のサブテストが実行されると、テスト番号のデータベース４００が、（１）サブテストの識別子と（２）現行テストフローコンテキスト情報３００とを含む索引情報を使用して索引付けされる（１０４）。 - 特許庁

When a new test number is generated to the result of a sub-test in the test flow (904), a database 700 of the test number is indexed by using the new test number (906).例文帳に追加

テストフロー内のサブテストの結果に対して新しいテスト番号が生成されると（９０４）、新しいテスト番号を使用してテスト番号のデータベース７００にインデックスを付ける（９０６）。 - 特許庁

When the test number corresponding to the index information exists in the database 400, the test number is assigned to the result of the sub-test (106).例文帳に追加

索引情報に対応するテスト番号がデータベース４００内に存在する場合、このテスト番号はサブテストの結果に割り当てられる（１０６）。 - 特許庁

The test signal output units 20, 28 then transmit test signals to the main phone 16 or the sub-phone 17.例文帳に追加

その後、試験信号出力部２０、２８はインターホン親機１６あるいはインターホン子機１７より試験信号を送信する。 - 特許庁

Then, each item of (1) an identifier of the sub-test, (2) the present test flow context information 300, (3) the test number, and (4) the base number is correlated in a test number database 600 (108).例文帳に追加

ついで、テスト番号データベース６００内で、（１）サブテストの識別子、（２）現在のテストフローコンテキスト情報３００、（３）テスト番号、（４）ベース番号、の各項目を関連づける（１０８）。 - 特許庁

When a data node corresponding to the key exists in the map and is correlated with the test number, the test number of the data node is assigned to the result of the sub-test (106), and in different cases, a new test number is assigned to the result of the sub-test (108), and the new test number is correlated with the data node linked in the map.例文帳に追加

キーに対応するデータノードがマップ内に存在し、テスト番号と関連付けられている場合、このデータノードのテスト番号がサブテストの結果に割り当てられ（１０６）、そうでない場合は、新しいテスト番号がサブテストの結果に割り当てられ（１０８）、新しいテスト番号が、マップ内でリンクされたデータノードに関連付けられる。 - 特許庁

When a sub-test in the test flow is executed, a map 800 of linked data nodes 802-814 is indexed by using a key 500a formed from (1) a numerical value identifier of the sub-test and (2) the array of the context values.例文帳に追加

テストフロー内のサブテストを実行すると、リンクされたデータノード８０２〜８１４のマップ８００は、（１）サブテストの数値識別子と（２）コンテキスト値のアレイとから形成されたキー５００ａを使用して索引を付けられる（１０４）。 - 特許庁

The test tool 20 is composed of a holding tool 30, a sub pallet 50, and a main pallet 70.例文帳に追加

検査治具２０は保持治具３０と子パレット５０と親パレット７０とから構成される。 - 特許庁

The qualifying examination referred to in clause (c)(ii) of sub-section (1) of section 126 shall consist of a written test and a viva voce examination. 例文帳に追加

第126条(1)(c)(ii)にいう資格試験は，筆記テスト及び口述試験から成る。 - 特許庁

Thus, by preparing the sub-table 43 at a position close to the outside of the device, the test substrate 42 can be easily mounted on the sub-table 43.例文帳に追加

したがって、サブテーブル４３を装置外部に近い位置に設けることにより、テスト基板４２を容易に搭載することができる。 - 特許庁

Test results based on OECD Test Guidelines 210, though designed for sub-chronic toxicity, may serve as data on chronic aquatic toxicity as they effectively represent chronic toxicity.例文帳に追加

OECDテストガイドライン210は亜慢性試験であるが、試験結果は慢性毒性のよい指標となるので慢性水生毒性値として利用してよい。 - 経済産業省

When the test number corresponding to the index information does not exist in the database 400, a new test number is assigned to the result of the sub-test (108), and the index information is correlated with the new test number in the database 400.例文帳に追加

索引情報に対応するテスト番号がデータベース４００内に存在しない場合は、新しいテスト番号がサブテストの結果に割り当てられ（１０８）、データベース４００内で索引情報と新しいテスト番号とが関連付けられる。 - 特許庁

The test system includes a tester for testing a set of components and generating test data, and a local outlier identifying system for selecting data sub-set from the test data and identifying the local outlier in the data sub-set automatically.例文帳に追加

試験システムは、一組のコンポーネントを試験し、その試験データ生成するように構成されるテスターと、試験データからデータサブセットを選択し、データサブセットの中の局所的外れ値を自動的に識別するように構成される、局所的外れ値識別システムとを備える。 - 特許庁

The sub-driver control circuit 20 performs correction control of a test pattern signal output from a waveform formatter 12 based on a control signal, and outputs a corrected test pattern signal to the sub-driver SDR1.例文帳に追加

サブドライバ制御回路２０は、制御信号に基づいて、波形フォーマッタ１２から出力されるテストパターン信号の修正制御を行い、修正されたテストパターン信号をサブドライバＳＤＲ１に出力する。 - 特許庁

The test print includes a plurality of sets of horizontal stripe test patterns comprising a plurality of horizontal lines extending in a main scanning direction formed by laser scanning exposure and a plurality of sets of vertical stripe test patterns comprising a plurality of vertical lines extending in a sub scanning direction formed by laser scanning exposure, wherein the horizontal stripe test patterns and the vertical stripe test patterns are alternately arranged.例文帳に追加

レーザ走査露光によって形成される主走査方向に延びる複数本の横ラインからなる横縞テストパターンと、レーザ走査露光によって形成される副走査方向に延びる複数本の縦ラインからなる縦縞テストパターンとが互いに複数組配置されているテストプリント。 - 特許庁

A sample cup used as a test body sub-vessel is supplied on the way from a vessel supply part 130 through a vessel supply port 121 (121A, 121B), and loaded on the sub-rack.例文帳に追加

その途中において、容器供給部１３０からは、子検体容器であるサンプルカップ２２が、容器供給口１２１を介して供給され、ラック１０に載置される。 - 特許庁

A deviation value of the position of test image in the image data of test original supplied from the read unit 31 from a predicted position in the sub-scanning direction is detected.例文帳に追加

読取ユニット３１から与えられたテスト原稿の画像データ中におけるテスト画像の位置の想定された位置からの副走査方向に対するずれ量を検出する。 - 特許庁

An associative memory cell array CAM- ARY and a test block TB are provided corresponding to each of sub memory cell arrays 100.0-100.3.例文帳に追加

各サブメモリセルアレイ１００．０〜１００．３に対応して、連想メモリセルアレイＣＡＭ＿ＡＲＹとテストブロックＴＢが設けられる。 - 特許庁

To easily and surely test a waterproof structure of a sub-insertion part of a grommet, provided in parallel with its main insertion part.例文帳に追加

グロメット１のメイン挿通部３ａに並設されたサブ挿通部４の防水構造を容易且つ確実に検査すること。 - 特許庁

Thus, a stress test can be performed with a smaller area than when separating the precharge voltage VBLPL into two lines for each sub-array SARY.例文帳に追加

サブアレイＳＡＲＹ毎にプリチャージ電圧ＶＢＬＰＬを２系統に分離するよりも少ない面積で実現できる。 - 特許庁

A virtual test is performed in a planning level, and the pertinent number of test items is displayed for each level sub-divided into 5 levels as virtual test situations and reliability degrees as the test result, and detail items and identification numbers or the like are displayed especially for the test items whose reliability is low ranging from the level 0 to the level 2.例文帳に追加

企画段階で仮想試験を行い、その結果として、仮想試験状況と信頼度として５段階に細分化された各レベル毎に該当する試験項目数が表示され、特にレベル０〜２までの信頼性の低い試験項目については詳細な項目及び識別番号などが表示される。 - 特許庁

In the case of adjusting the position of the sensor block, a deviation in a sub-scanning direction is adjusted by using a test chart expressing a pattern having a straight part inclined from the sub- scanning direction.例文帳に追加

センサブロックの位置の調整においては、副走査方向に対して傾斜した直線部を有するパターンを表したテストチャートを用いて、副走査方向のずれを調整する。 - 特許庁

By utilizing this feature, test data is written by specifying an address 161 in the sub space 151 and the data is read out from an address 171 in the sub space 152 overlapped with the address 161.例文帳に追加

この特性を利用して、サブ空間１５１中のアドレス１６１を指定してテストデータを書き込み、このアドレスに重複するサブ空間１５２中のアドレス１７１からデータを読み出す。 - 特許庁

The change- over switch 18 inputs an output code of the sub A/D converter 14 and a test code inputted externally during a test into the D/A converter 15, selectively.例文帳に追加

切り換えスイッチ１８は、副Ａ／Ｄコンバータ１４の出力コードと、試験時に外部から入力される試験用コードとを選択的にＤ／Ａコンバータ１５に入力するものである。 - 特許庁

Furthermore, an air supply means 40, by which air for a test is supplied into a space in which the sub-insertion part 4 is sealed, is provided.例文帳に追加

さらに、サブ挿通部４を封緘している空間に検査用の空気を供給する空気供給手段４０を設けた。 - 特許庁

The scan test circuit includes scan sub-chains, a scan chain selection circuit, and scan shift input terminals.例文帳に追加

スキャンサブチェーンと、スキャンチェーン選択回路と、スキャンシフト入力端子とを具備するスキャンテスト回路によって解決することができる。 - 特許庁

When the new test number appears in the database 700 as an entry, a unique identifier related to the entry is compared with index information including (1) the identifier of the sub-test and (2) the present test flow context information 300 (908).例文帳に追加

新しいテスト番号がデータベース７００内でエントリとして現われた場合、エントリに関連づけられた一意的な識別子を、（１）サブテストの識別子と（２）現在のテストフローコンテキスト情報３００とを含むインデックス情報と比較する（９０８）。 - 特許庁

The sub harness test device 1 gives signal to the first terminals 5 in sequence and determines whether the first terminals 5 are conducted each other.例文帳に追加

サブハーネス検査装置１は第１の端子５に順に信号を与えて第１の端子５相互の導通状況の良否を判定する。 - 特許庁

Accordingly, a user can conduct the test operation of the servo motor and the setting of the damping control for the servo motor in one window (a sub-window W1).例文帳に追加

ユーザは、サーボモータのテスト運転および制振制御の設定を１つのウィンドウ（サブウィンドウＷ１）の中で行なうことができる。 - 特許庁

The main control device is provided with a test means S02 testing whether or not the command confirming means of the sub-control means normally operates.例文帳に追加

メイン制御装置は、サブ制御装置のコマンド確認手段が正常に動作するか否かを試験する試験手段（Ｓ０２）を備える。 - 特許庁

To reflect a variation in a sub scanning direction of the positions of latent images consecutively formed in a main scanning direction on the detection result of the test image.例文帳に追加

第１方向に連続形成された潜像の位置の第２方向におけるばらつきを、テスト画像の検出結果に反映させる。 - 特許庁

In this test pattern dots are regularly lined in a main scanning direction and a sub scanning direction, thereby the test pattern is viewed in a uniform condition without unevenness in density when printing in suitable recording timing.例文帳に追加

このテストパターンは、主走査方向および副走査方向に規則正しくドットが並んでいるため、適正な記録タイミングで印刷された場合には、濃淡のムラのない一様な状態として目視される。 - 特許庁

Gradation correction by a method of gradation correction for laser scanning exposure is performed on the basis of measured density values of a test print including a horizontal stripe test pattern comprising horizontal line groups extending in a main scanning direction and a vertical stripe test pattern comprising vertical line groups extending in a sub scanning direction.例文帳に追加

主走査方向に延びる横ライン群からなる横縞テストパターン及び副走査方向に延びる縦ライン群からなる縦縞テストパターンを有するテストプリントの測定濃度値に基づいて、レーザ走査露光のための階調補正方法階調補正が行われる。 - 特許庁

Sense amplifier activation control circuits 1601A, 1601B bring selectively one part of sub-word lines and one part of sense amplifiers into a non-activation state by making plural sub-word lines correspond to plural sense amplifiers based on an address signal Y8 discriminating plural sub-word lines in a test mode.例文帳に追加

センスアンプ活性化制御回路１６０１Ａ，１６０１Ｂは、テストモード時に、複数のプレートを区別するアドレス信号Ｙ８に基づき、複数のサブワード線と複数のセンスアンプとを対応づけて、サブワード線の一部とセンスアンプの一部とを選択的に非活性状態とする。 - 特許庁

A counter 7 meters the number of irradiation times of electron beam in a sub-field output by the disassembling part 3, and the result is output to a test piece speed computation part 17.例文帳に追加

分解部３が出力したサブフィールド内の電子ビームの照射回数をカウンタ７で計数し試料台速度演算部１７に出力する。 - 特許庁

The data stored in the data buffer 4 is read out by a correction computation part 5, and a sub-field coordinate under drawing is output to a test piece table control unit 14.例文帳に追加

バッファ４に格納されたデータは補正演算部５で読み出し試料台制御部１４へ現在描画中のサブフィールド座標を出力する。 - 特許庁

A program conversion device 1 stores the three hierarchized libraries of a main flow, a group flow and a sub-flow and precisely converts each flow of a test program by referring to the libraries at the time of converting the test program being a conversion source into the test program of the format fitted to the IC tester.例文帳に追加

プログラム変換装置１は、メインフロー、グループフローおよびサブフローの３つの階層化されたライブラリを記憶し、変換元となるテストプログラムを異なるＩＣテスタに適合する形式のテストプログラムに変換する際に、これらのライブラリを参照することによって、テストプログラムの各フローを正確に変換する。 - 特許庁

A printer processor outputs two test prints 61 recording a test pattern, formed on eight parallel straight lines 62a-65b in the main scanning direction and the sub-scanning direction of an exposure part on two photosensitive materials different in length.例文帳に追加

プリンタプロセッサは、露光部の主走査方向及び副走査方向に対して平行な８本の直線６２ａ〜６５ｂで形成されるテストパターンを長さの異なる２枚の感光材料に記録した２枚のテストプリント６１を出力する。 - 特許庁

Test chart paper T, on which a patch having the same density as that of the paper and respective density patches transiting stepwise from low density to high density are arranged and written in the sub scanning direction is scanned.例文帳に追加

用紙と同じ濃度及び低濃度から高濃度へと段階的に遷移する各濃度のパッチを副走査方向に並べて記したテストチャート用紙Ｔを走査する。 - 特許庁

To provide a protector for a wire harness, capable of housing an excessive length required for conduction test into the protector when the wire harness is routed through a vehicle body, thereby preventing interference between a sub-line and/or a trunk line and an external interference material.例文帳に追加

導通検査時に必要な余長を車体配索時にはプロテクタ内に収容し、支線および／あるいは幹線の外部干渉材との干渉を防止する。 - 特許庁

The test piece S can be heated to a prescribed temperature by a main heater 3 of a non-contact type located in the deformation region and sub-heaters 4L, 4R of a contact type located in a non-deformation region.例文帳に追加

試料Sは、その変形領域に位置する非接触式のメインヒータ3と、非変形領域に位置する接触式のサブヒータ4L、4Rで所定温度に加熱できる。 - 特許庁

The sub pallet 50 separated from the main pallet 70 by the holding tool 30 is moved and inserted into a detection part of a heating furnace, and a test of an operating state is carried out.例文帳に追加

そして、保持治具３０により親パレット７０から分離された子パレット５０が移動され、加熱炉に検知部が挿入されて作動状態の検査が行われる。 - 特許庁

A CPU 30 outputs test signals (TSP) from a plurality of loudspeakers (and sub-woofers), acquires frequency characteristic data thereof, and determines on the basis of the relevant frequency characteristic data whether or not a sub-woofer is connected to an audio system 100.例文帳に追加

ＣＰＵ３０は、複数のスピーカ（及びサブウーハ）からテスト信号（ＴＳＰ）を出力してその周波数特性データを取得し、当該周波数特性データに基づいてオーディオシステム１００にサブウーハが接続されているか否かを判断する。 - 特許庁

In other words, the test pattern CP is printed so that the formation position of a sub-pattern printed by using a second ink lighter than a first ink comes to the center side of the paper S more than the formation position of a first sub-pattern printed by using the first ink.例文帳に追加

つまり、第一インクよりも淡い第二インクを用いて印刷されるサブパターンの形成位置が、第一インクを用いて印刷される第一サブパターンの形成位置よりも、用紙Ｓの中央側に来るように、テストパターンＣＰは印刷される。 - 特許庁

As a test pattern for determining a correction value of sub-scan feeding amount of a print medium, a test pattern including a plurality of color patches being printed using different correction values is printed with an ink duty of lower than 100% using one kind of ink.例文帳に追加

印刷媒体の副走査送り量の補正値を決定するためのテストパターンとして、異なる補正値を用いてそれぞれ印刷される複数のカラーパッチを含むテストパターンを、１種類のインクを用いて１００％未満のインクデューティで印刷する。 - 特許庁