「testing time」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an IC testing apparatus for shortening its test time and to provide a method of controlling the IC testing apparatus.例文帳に追加

ＩＣ試験装置の試験時間を短縮するＩＣ試験装置およびその制御方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit provided with a shift-scan type testing circuit that can be shortened in testing time.例文帳に追加

試験時間の短縮が可能なシフトスキャン方式の試験回路を備えた半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus capable of improving testing efficiency by shortening a startup time.例文帳に追加

起動時間を短縮することにより試験効率を向上させることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

In a constitution mode, the hub returns an event received from a testing measuring apparatus to the testing measuring apparatus, and the testing measuring apparatus measures a time of the event returned from the hub.例文帳に追加

構成モードでは、ハブが試験測定機器から受けたイベントを試験測定機器に戻し、試験測定機器がハブから戻るイベントの時間を測定する。 - 特許庁

Oscilloscope, infrared night-vision device, insulation resistance tester, withstand voltage testing device, tachograph, material testing machine, emergency stop time measuring device, and vibration testing device 例文帳に追加

オシロスコープ、赤外線暗視装置、絶縁抵抗計、耐電圧試験装置、回転速度計、材料試験機、急停止時間測定装置及び振動試験装置 - 日本法令外国語訳データベースシステム

METHOD FOR EVALUATING HYDROPHILIZATION TIME OF COATING FILM SURFACE, AND DETERIORATION TESTING APPARATUS例文帳に追加

塗膜表面の親水化時間評価方法および劣化試験装置 - 特許庁

To shorten testing time at an output circuit of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の出力回路における試験時間を短縮する。 - 特許庁

To reduce a time for a test by reducing the number of addresses in the case of testing a DRAM etc.例文帳に追加

DRAM等のテスト時のアドレス数を減らしてテスト時間を短縮する。 - 特許庁

Thus the testing time period of the signal processor can be shortened.例文帳に追加

従って、信号処理装置のテスト時間を短縮させることができる。 - 特許庁

Accordingly, a time required for the step of rotating without load is omitted, and hence the testing time can be shortened.例文帳に追加

このため、空回転工程に要する時間を省略し、テスト時間を短くすることができる。 - 特許庁

To reduce remarkably a time necessary for a multi process testing accompanying a retesting process with a mechanical constitution equipped with the present testing devices as it is, with respect to the multi-process testing method and the multi-process testing device.例文帳に追加

多工程試験方法及び多工程試験装置に関し、現在の試験装置の具備する機械的構成のままで再試験工程を伴う多工程試験に要する時間を大幅に低減する。 - 特許庁

To adjust in a short time, fine pneumatic fluctuation in a tire generated during testing the tire, in a tire testing device.例文帳に追加

タイヤ試験装置において、タイヤ試験中に生じるタイヤ内の空気圧の微小な変動を短時間で調整する。 - 特許庁

To shorten a testing time for short-circuiting of a decoder and a bit line in testing a flash EEPROM.例文帳に追加

フラッシュＥＥＰＲＯＭの検査において、デコーダ及びビット線のショートの検査時間を短縮することを目的とする。 - 特許庁

To reduce a testing cost and a testing time by using an inexpensive analog tester in a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路装置において、廉価なアナログテスタを用いて検査コストを低減し且つ検査時間を短縮する。 - 特許庁

To shorten the testing time, reduce the size of a semiconductor and reduce the number of terminals required for testing the semiconductor.例文帳に追加

試験時間の短縮化と、半導体のサイズを低減させると共に半導体の試験に必要な端子数を削減する。 - 特許庁

As a result, a testing time can be shortened by shortening a test pattern.例文帳に追加

この結果、テストパターンを短くしてテスト時間を短縮させることができる。 - 特許庁

To reduce cost by effectively use of a base material and shortening testing time.例文帳に追加

基材の有効活用とテスト時間の短縮を図ってコストを低減する。 - 特許庁

To inhibit an increase in the number of test terminals of a semiconductor integrated circuit device at testing time.例文帳に追加

半導体集積回路装置のテスト時のテスト端子を抑制する。 - 特許庁

The test time can be shortened by simultaneously testing the memory part and the logic part.例文帳に追加

メモリ部とロジック部とを同時にテストすることでテスト時間を短縮する。 - 特許庁

To realize an IC tester capable of shortening a testing time.例文帳に追加

試験時間の短縮を図れるＩＣテスタを実現することを目的にする。 - 特許庁

To reduce a time for testing delay fault of a memory peripheral circuit.例文帳に追加

メモリ周辺回路に対する遅延故障テストの時間を削減すること。 - 特許庁

To shorten the time for testing driving circuits for controlling an LCD(liquid crystal display).例文帳に追加

ＬＣＤ（液晶表示器）制御駆動回路の試験時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of shortening a test time.例文帳に追加

テスト時間を短縮することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit which shortens testing time.例文帳に追加

テスト時間を短くすることが可能な半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

After undergoing testing for a certain period of time, the new product was put on the market. 例文帳に追加

一定期間のテストを経て、その新製品は市場に投入された。 - Weblioビジネス英語例文

To provide a testing device for a D/A converter shortening a required time for a test even when the bits of the D/A converter are increased, and also to provide a testing method for the testing device.例文帳に追加

Ｄ／Ａコンバータが高ビット化しても、試験の所要時間を短縮することができるＤ／Ａコンバータの試験装置およびその試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for reducing the time required for testing a semiconductor chip.例文帳に追加

半導体チップのテスト所要時間を短縮する方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an image display device capable of reducing the time of testing image data.例文帳に追加

画像データの検査時間を短縮できる画像表示装置を提供する。 - 特許庁

A port 1 and a port 2 are connected to an external part by external wiring at testing time.例文帳に追加

テスト時には、ポート１とポート２とが外部配線により外部接続される。 - 特許庁

To reduce testing time by improving processing efficiency in replacing software.例文帳に追加

ソフトウェアの入れ替えに係る処理を効率化することで試験時間を短縮する。 - 特許庁

To reduce the time required in testing pneumatic tire air leakage resistance performance.例文帳に追加

空気入りタイヤの耐空気漏れ性能の試験に要する時間を低減すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit having short test time for self testing of function.例文帳に追加

自己機能テストのテスト時間が短い半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

To shorten testing time in a product test of a semiconductor storage device.例文帳に追加

半導体記憶装置の製品テストにおけるテスティング時間の短縮化を図る。 - 特許庁

Thereby, a time required for testing data on the pipeline can be shortened.例文帳に追加

ことによりパイプライン上のデータテストのための時間を短縮することができる。 - 特許庁

Consequently, the lengths of the split chains become 1/2 and the testing time can be shortened.例文帳に追加

これにより、分割チェーンの長さが１／２になり、試験時間が短縮できる。 - 特許庁

To provide a connector apparatus having no possibility of miswiring at the time of testing.例文帳に追加

試験時の誤配線のおそれのない接続器具を提供することである。 - 特許庁

To provide an apparatus for testing a semiconductor device capable of shortening the test time.例文帳に追加

試験時間を短縮することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a test method and a test device testing a flash memory in a short time.例文帳に追加

フラッシュメモリを短時間に試験する試験方法と、試験装置を提供する。 - 特許庁

To realizes a device and method for testing a memory capable of shortening a testing time of a memory to be tested.例文帳に追加

被試験メモリの試験時間を短縮することができるメモリ試験装置及びメモリ試験方法を実現することを目的にする。 - 特許庁

To provide a communication system in which effective testing can be performed corresponding to its objects while time, cost, and man-hours for the testing can be drastically reduced.例文帳に追加

時間・経費、工数の大幅な削減を図り、目的に応じて有効な試験を実施可能な通信システムを提供する。 - 特許庁

To provide a burn-in environmental testing device which reaches a testing temperature in a short period of time at lower power consumption.例文帳に追加

試験温度に達するまでの時間が短く、且つ消費電力が低いバーンイン試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a testing device which can shorten a testing time of a memory to be tested having a repair block for each area domain.例文帳に追加

リペアブロックをエリア領域毎に有する被試験メモリの試験時間を短縮することができる試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device and a measuring device having high reliability of an electric characteristic test, capable of testing in a short time.例文帳に追加

電気的特性試験の信頼性が高く、短時間で試験可能な半導体試験装置および測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus capable of improving testing efficiency by reducing the analysis time of fail data.例文帳に追加

フェイルデータの解析時間を短縮することで、試験効率を向上させることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device testing device for concurrently testing a plurality of semiconductor devices in a short test time.例文帳に追加

複数の半導体デバイスを同時に試験する装置であって、試験時間を短縮した半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁