「testing time」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a memory test device for testing setup time Tds and hold time Tdh of a semiconductor memory.例文帳に追加

半導体メモリのセットアップ・タイムＴｄｓとホールド・タイムＴｄｈを試験するメモリ試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing gas passing through a governor, capable of testing the passing gas in a short period of time, when closing the governor.例文帳に追加

本発明は、整圧器閉切り時の越しガス検査を短時間で実施可能な整圧器の越しガス検査方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a device for pull-out testing of an eyeless needle which can perform a pull out test of a plurality of eyeless needles within short time, and to provide a testing method of the same.例文帳に追加

複数のアイレス針の引抜き試験を短時間で行うことができるアイレス針の引抜試験装置と方法を提供する。 - 特許庁

To diagnose and initialize the constitutional components necessary for testing among a plurality of constitutional components of a testing machine in a short time and without exception.例文帳に追加

試験装置の複数の構成要素のうち、試験に必要な構成要素の診断及び初期化を、短時間で、且つ漏れなく行う。 - 特許庁

To reduce the test time period by a convenient testing method about a method of testing the durability of exhaust purification devices for vehicles.例文帳に追加

車両用排気浄化装置の耐久試験方法に関し、簡便な試験方法によって試験期間を短縮できるようにする。 - 特許庁

To provide a device and method for testing immunity which reduces omission of fault detection at the time of testing EMC of the immunity.例文帳に追加

ＥＭＣイミュニティ試験時の不具合検出漏れを減少させ、且つ省力化が可能なイミュニティ試験装置及び試験方法の提供。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory testing a margin concerning a read operation in a short testing period of time even when a keeper circuit is connected to a bit line, and also to provide a testing method thereof.例文帳に追加

ビット線にキーパー回路を接続しても、読み出し動作に関するマージンを短いテスト時間で検査することのできる半導体記憶装置およびその試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a substrate testing apparatus and a substrate testing method for testing whether the mesa direction is adequate direction to the standard linear line within a short period of time with non-destructive system.例文帳に追加

基準直線に対してメサ方向が適切な方向であるか否かを短時間且つ非破壊で検査することができる基板検査装置及び基板検査方法を提供する。 - 特許庁

This memory 55 is further provided with a supposed hardness memory 56 that stores the supposed hardness of the test piece and a testing force memory 57 that stores the testing force at the time of hardness testing.例文帳に追加

また、この記憶部５５は、試験片の想定される硬度を記憶する想定硬度記憶部５６と、硬度試験時の試験力を記憶する試験力記憶部５７とを備えている。 - 特許庁

To provide a telephone switchboard testing device of improved operability for speaking time setting.例文帳に追加

通話時間設定の操作性向上を図った電話交換機試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a system capable of testing usability with high reliability at a low cost in a short time.例文帳に追加

低コストで短期間に信頼性の高いユーザビリティテストを行えるシステムの提供。 - 特許庁

To enable testing read-out after burn-in including an access time in a flash memory.例文帳に追加

フラッシュメモリにおいて、アクセスタイムを含むバーイン後の読み出しの検査ができるようにする。 - 特許庁

To shorten the testing time of the wafer of a semiconductor device.例文帳に追加

この発明は、半導体装置のウェハ・テスト時間の短縮を図ることを特徴とする。 - 特許庁

To provide a battery charging protection circuit and a power supply device for shortening a wafer testing time.例文帳に追加

ウェハーテスト時間を短縮する電池充電保護回路および電源装置の提供。 - 特許庁

To provide a software test method and program, reduced in testing time.例文帳に追加

テスト時間を短縮することができるソフトウェアのテスト方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁

ADAPTIVE LEARNING OF SET OF ACTUAL TIME MEASUREMENT VALUE AND AUTOMATIC TESTING SYSTEM THEREOF例文帳に追加

実時間測定値の集合を適応学習するための方法及び自動試験システム - 特許庁

To realize an apparatus for testing sealability which can surely text the sealability for a short time.例文帳に追加

短時間で確実に密封性の検査を行い得る密封性検査装置を実現する。 - 特許庁

To reduce chip occupied area by contracting a circuit scale and to reduce testing time.例文帳に追加

回路規模を縮小してチップ占有面積を削減し、さらに試験時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device which shortens pattern-data loading time.例文帳に追加

パターンデータのロード時間を短縮することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device shortening a loading time of a test program.例文帳に追加

テストプログラムのロード時間を短くすることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To shorten a test time is a semiconductor test device testing a semiconductor memory.例文帳に追加

半導体メモリの試験を行う半導体試験装置に於いて、試験時間を短縮する。 - 特許庁

To reduce time of the performance test for a protective relay, and the cost of testing facilities.例文帳に追加

保護継電器の動作試験にかかる時間の短縮及び試験設備の経費節減。 - 特許庁

Sequence for testing circuit block of discrete die is selected in order to optimize testing time of a set of dies to be parallel-tested.例文帳に追加

個別のダイの回路ブロックをテストするためのシーケンスは、並列テストが実施されるダイのセットのテスト時間を最適化するために選択される。 - 特許庁

To provide an impact testing machine for a gear, capable of testing a meshing part of a gear by applying such a tangential shearing load as that in a rotation time.例文帳に追加

歯車の噛合部に、回転時のような接線方向の剪断荷重を作用させて試験できるギヤの衝撃試験機を提供すること。 - 特許庁

METHOD OF DETECTING CHANGE POINT OF SIGNAL OUTPUTTED BY SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TIME MEASURING DEVICE例文帳に追加

半導体デバイスが出力する信号の変化点検出方法、半導体デバイス試験方法、半導体デバイス試験装置、時間測定装置 - 特許庁

To provide an image quality correction processing apparatus and method, and a program thereof for reducing a time required for testing without degrading the quality of testing to the utmost extent in an image testing processing for manually correcting the correction of an automatically corrected image as required.例文帳に追加

自動補正された画像に対し必要に応じてその補正を手動で修正する画像検定処理において、検定の質を極力落とさず検定の所要時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a method of testing an A-D conversion circuit for testing a high-resolution (multi-bit) A-D conversion circuit in a short time and at low cost, and the A-D conversion circuit suitable for implementing the testing method.例文帳に追加

高分解能（多ビット）Ａ／Ｄ変換回路の試験を短時間且つ低コストで実現するＡ／Ｄ変換回路の試験方法、及びその試験方法の実施に適したＡ／Ｄ変換回路の提供。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus capable of reducing the footprint of the semiconductor testing apparatus inside a semiconductor clean area, and thereby, reducing installation cost and device testing cost and time that accompany installation.例文帳に追加

半導体クリーンエリア内の半導体試験装置の占有面積を低減して、設置コストやそれに伴うデバイスのテストコスト及びテスト時間を低減することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The cold thermal shock testing device 1 stops fans 11, 16 at the time of a change in test environment and stops air circulation inside the high-temperature testing laboratory 2 and inside the low-temperature testing laboratory 3.例文帳に追加

冷熱衝撃試験装置１は、試験環境の切り替え時に送風機１１，１６を停止し、高温試験室２内および低温試験室３内における空気の循環流を停止させる。 - 特許庁

To provide a testing material and a testing method capable of executing the objective evaluation in a short time with a simple operation without using a special instrument for testing the inadaptation of dentures.例文帳に追加

特別の機材を必要とすることなく簡単な操作で、短時間で客観的に評価することが可能な、義歯不適合を検査するための検査材および検査方法を提供すること。 - 特許庁

Thus, since a start of the next variable display is informed to the testing machine after passing 1 ms corresponding to deciding time of an input signal of the testing machine, an error caused in the last time variable display is not erroneously recognized by the testing machine as an error of the next time variable display.例文帳に追加

このように次の変動表示の開始を、試験機の入力信号の確定時間に相当する１ｍｓ経過後に試験機へ報せるので、前回の変動表示で発生したエラーを、次回の変動表示のエラーとして、試験機に誤って認識させてしまうことはない。 - 特許庁

To provide a testing device capable of easily testing the immunity in a short time superior in operability and reproducibility by facilitating and automating an immunity testing system which is large in scale and requires time and effort.例文帳に追加

本発明の目的は、規模が大がかりで時間と手間のかかるイミュニティ試験系を簡易化および自動化することにより、イミュニティ試験が容易かつ短時間に行え、操作性および再現性にもすぐれた試験器を提供することにある。 - 特許庁

To provide a mobile terminal testing device which enables the test time for testing a transmission power control function of a mobile terminal to be shortened.例文帳に追加

移動端末機の送信電力制御機能を試験する際に、試験時間を短縮することができる移動端末機試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an IC tester and a testing method capable of testing characteristics of thin-type-display drivers when their output changes while reducing the test time.例文帳に追加

試験時間を抑制しつつ、薄型ディスプレイドライバの出力変化時特性の試験が行えるＩＣテスタ及び試験方法を実現することを目的にする。 - 特許庁

To provide a structure and testing method for suppressing peak power consumption at the time of testing an integrated circuit device.例文帳に追加

集積回路装置のテスト時におけるピークの消費電力を抑制するための構造，テスト方法，設計方法及び設計用データベースを提供する。 - 特許庁

To shorten testing time by diagnosing units included in a semiconductor testing device to estimate a unit to be replaced.例文帳に追加

半導体試験装置に備えられるユニットの診断を行って、交換するユニットを推定することで、試験時間の短縮化を図ることを目的とする。 - 特許庁

To provide a low-power-consumption testing circuit that can reduce power consumption at the time of testing semiconductor devices by using scanning F/Fs.例文帳に追加

この発明は、スキャンＦ／Ｆを使用した半導体装置のテストにおいて、消費電力を低減した低消費電力テスト回路を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide an apparatus for testing test plug, provided with such versatility as to adapt to various test modes and capable of reliably testing test plugs in a short time.例文帳に追加

様々な試験モードに対応可能な汎用性を備え、短時間で確実にテストプラグを試験することが可能なテストプラグ試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a multiple-test-item continuous testing device which can continuously test a plate-shaped metallic material on a plurality of test items by using one test piece at the time of testing the metallic material.例文帳に追加

板状金属材料の材料試験において複数の試験項目の試験を１枚の試験片を使用して連続的に行なう。 - 特許庁

To provide light-resistance testing equipment for preventing the damage of a sample while achieving the shortening of the testing time required in a light-resistance test.例文帳に追加

耐光性試験に要する試験時間の短縮を図りながら、試料の損傷を防止できる耐光性試験装置及び耐光性試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a durability testing device and a durability testing method by which durability of a liquid crystal panel can be appropriately evaluated in a short period of time.例文帳に追加

液晶パネルの耐久性を短時間で適正に評価することができる耐久性試験装置および耐久性試験方法を提供すること。 - 特許庁

To enhance testing reliability and accuracy by simplifying mechanism, miniaturizing size, and reducing cost and at the same time, making testing conditions uniform for each cassette.例文帳に追加

機構の単純化，小型コンパクト化及びコストダウンを図るとともに、カセット毎の試験条件の均一化により、試験の信頼性及び精度を高める。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of enhancing test efficiency and convenience by reducing the time required to preparation for testing of tested devices.例文帳に追加

被試験デバイスの試験の準備に要する時間を削減することにより、試験効率及び利便性を高めることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a strain control type super-high cycle fatigue testing method and a fatigue testing apparatus therefor, which can carry out a super-high cycle fatigue test for a short period of time.例文帳に追加

超高サイクル疲労試験を短時間で実施することができるひずみ制御型超高サイクル疲労試験方法および疲労試験装置を提供する。 - 特許庁

At this time, the primality testing unit uses a reconstruction unit to change the representation of prime candidates and the primality testing unit performs a primality test using the representation after change.例文帳に追加

このとき、再構成ユニットを使用して素数候補の表現が変換され、変換された表現形態を用いて素数性判定テストユニットが判定する。 - 特許庁