「testing time」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a semiconductor device capable of shortening the time for testing, to two or more memory circuits with few misjudgment.例文帳に追加

判定誤りが少なく、複数のメモリ回路に対する試験時間を短縮することのできる半導体装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device which can markedly shorten time for testing a memory cell part with a small number of additional circuits.例文帳に追加

少ない付加回路でメモリセル部のテスト時間を大幅に短縮することができる半導体集積回路装置を実現する。 - 特許庁

Accordingly, since the test of the I/O part and the test of the internal circuit can be executed in parallel, the testing time can be shortened.例文帳に追加

これによって、Ｉ/Ｏ部のテストと内部回路のテストが並行して実行できるため、テスト時間の短縮が可能となる。 - 特許庁

To enable progress of testing work to be reported to a test manager and a man in charge of the test in real time and by push type.例文帳に追加

試験作業の進捗状況が、試験管理者、試験担当者ヘリアルタイムに、かつ、プッシュ型的に通知を可能とする。 - 特許庁

To provide an apparatus for testing a liquid crystal display element which is suited for a large-area liquid crystal display element and can shorten the time for the test.例文帳に追加

大面積液晶表示素子に適合し、検査時間を短縮し得る液晶表示素子の検査装置を提供する。 - 特許庁

To make the securing of a level setting precision of an optical input signal near to a gain switching level compatible with the reduction of a testing time.例文帳に追加

利得切替レベルの近傍への光入力信号のレベル設定精度確保、試験時間の削減の両立を図る。 - 特許庁

To provide an error testing device with which an error test of required accuracy can be performed in a short time and directly with satisfactory efficiency, on the basis of a metered value.例文帳に追加

本発明は、計量値から直接、必要な精度の誤差試験を短時間で効率良く行うことを目的とする。 - 特許庁

To improve efficiency of operation in a test of a vehicular relay testing device, and to eliminate an accident at the same time.例文帳に追加

車両用継電器試験装置の試験における操作の効率化を図ると同時に事故を排除することを目的とする。 - 特許庁

To reduce costs for a test by shortening time for testing a semiconductor memory having an error correction function and a data compression test function.例文帳に追加

誤り訂正機能およびデータ圧縮試験を有する半導体メモリの試験時間を短縮し、試験コストを削減する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device, whose test time can be reduced by simultaneously testing a plurality of memory devices.例文帳に追加

同時に複数個のメモリ装置をテストすることによってテスト時間を減らすことができる半導体メモリ装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test circuit and method for reducing time and cost of testing a schmitt trigger buffer.例文帳に追加

シュミットトリガバッファのテストを短時間で行うことができ、テストコストを削減することができるテスト回路およびテスト方法を提供する。 - 特許庁

To raise screening effect by IDDQ test, and further reduce a time for testing the attainment of a target commercial defective fraction.例文帳に追加

ＩＤＤＱテストによるスクリーニング効果が上がり、さらに、目標市場不良率の達成に必要なテスト時間を短縮する。 - 特許庁

To shorten time for determining a measuring range of a measured wavelength in a sweep synchronizing testing device for carrying out measurement quickly.例文帳に追加

掃引同調試験装置における被測定波長の測定範囲の決定の時間を短縮して、測定を迅速に行なう。 - 特許庁

To provide an integrated circuit capable of testing efficiently a memory block, in an actually operated clock frequency, in a short time.例文帳に追加

実動作のクロック周波数でのメモリブロックのテストを短時間で効率よく実行することができる集積回路を提供する。 - 特許庁

Thus, because notifying the testing machine about the start of the next variable display after 1 ms corresponding to a decision time of an input signal of the testing machine lapses, the testing machine does not erroneously recognize the error having occurred in the preceding variable display as the error of the next variable display.例文帳に追加

このように次の変動表示の開始を、試験機の入力信号の確定時間に相当する１ｍｓ経過後に試験機へ報せるので、前回の変動表示で発生したエラーを、次回の変動表示のエラーとして、試験機に誤って認識させてしまうことはない。 - 特許庁

To provide a method and a testing system capable of generating common test-condition data to a plurality of testing apparatuses, and generating the test-condition data in each apparatus by taking into consideration a difference in the performance of an apparatus in a short period of time, in the method for generating the test-condition data of the wafer visual testing apparatus.例文帳に追加

ウエーハ外観検査装置の検査条件データを生成する方法において、複数台の検査装置に対する共通の検査条件データを生成し、機差を考慮した装置毎の検査条件データを短時間で生成できる方法及び検査システムを提供する。 - 特許庁

To provide a satellite testing system that does not require much manpower for operation, and eliminates the necessity of procuring the minimum components required for launching a satellite or dedicated testing systems for each satellite, thereby the satellite testing is conducted automatically and efficiently with a shorter period of time.例文帳に追加

人工衛星を立上げるのに必要な最低のコンポーネントや各人工衛星毎に試験装置の調達を必要とすることなく、人工衛星の試験の自動化や効率化、及び試験期間の短縮を図り、少人数で対応可能な衛星試験システムを提供する。 - 特許庁

Thus, based on the signals of the testing wires OP1 to OP4 and ON1 to ON4, whether a circuit pattern is formed to enable switching of the driving capability is inspected, and testing time is shortened by setting and testing all current loads corresponding to respective driving capabilities by a tester.例文帳に追加

これにより、試験配線ＯＰ１〜ＯＰ４，ＯＮ１〜ＯＮ４の信号から、ドライブ能力の切り換えが可能なように回路パターンが形成されているか検査でき、各ドライブ能力に対応する電流負荷を全てテスタで設定して試験するより、試験時間を短縮できる。 - 特許庁

To provide a memory device which realizes cost reduction and which shortens time required for writing and reading data, and to provide a semiconductor testing device which shortens time for testing a semiconductor device by being provided with the memory device.例文帳に追加

コストの低減を図ることができ、且つデータの書き込み及び読み出しに要する時間を短縮することができる記憶装置、及び当該記憶装置を備えることによって半導体デバイスの試験時間を短縮することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device and a control method of a semiconductor memory device by which a testing time can be shortened at the time of a test, while keeping low current consumption operation at the time of normal access operation.例文帳に追加

通常のアクセス動作時における低消費電流動作を維持しながら、試験時において、試験時間を短縮することが可能な半導体記憶装置及び半導体記憶装置の制御方法を提供すること - 特許庁

To provide a testing method for an A/D converting circuit that conducts a test of a high-resolution (multi-bit) A/D converting circuit in a short time at a low cost, and the A/D converting circuit suitable to implementation of the testing method.例文帳に追加

高分解能（多ビット）Ａ／Ｄ変換回路の試験を短時間且つ低コストで実現するＡ／Ｄ変換回路の試験方法、及びその試験方法の実施に適したＡ／Ｄ変換回路の提供。 - 特許庁

To provide a seabed cone penetration testing machine capable of simplifying its configuration and reducing its weight and its testing method for reducing cost and time required by a seabed cone penetration test conducted in a very deep area of the sea.例文帳に追加

大水深域で実施されるコーン貫入試験において、構成の簡素化と軽量化を図ったコーン貫入試験機と、試験の実施にかかる費用と時間とを低減できる試験方法とを提案する。 - 特許庁

Control results at that time are outputted to the communication equipment through the communication controller and the installation type testing device, and the test result state of the communication path to be tested is also decoded and displayed by a portable testing device.例文帳に追加

そのときの制御結果は、通信制御装置，設置型試験装置を介して、通信機に出力され、またその当該被試験通信路の試験結果状態は携帯形試験装置で解読され表示される。 - 特許庁

To obtain a testing method of radar proper for a testing method for radar during mass production, by making target detection performance of an FM-CW radar, capable of inspecting easily and in a short time, and to provide its device at low cost.例文帳に追加

ＦＭ−ＣＷレーダのターゲット検出性能を安価な設備で容易かつ短時間で検査できるようにして、レーダの大量生産時の試験方式として好適なレーダ試験方法および装置を得ること。 - 特許庁

To provide a new method for predicting the inherent carcinogenicity of a substance in a rodent mammal tissue, without requiring the performance of testing in mammals requiring a large sum of expenses and a long testing period of time.例文帳に追加

多額の費用と長期の試験期間を要する哺乳動物実験の実施とを要することなく、物質が有するげっ歯類哺乳動物組織における発がん性を予測する新たな方法を提供する。 - 特許庁

To provide a transmission/reception circuit with a data delaying function realizing the reduction of testing cost and testing time by dispensing with a dedicated measuring instrument in a test to a skew belonging to a received signal or a differential signal.例文帳に追加

受信信号または差動信号が有するスキューに対するテストにおいて、専用の測定器が不要となり、テストコストの低減化、テスト時間の短縮化を図るようにしたデータ遅延機能付き送受信回路の提供。 - 特許庁

To provide a foam discharge testing device and a foam discharge testing method by which the time and labor for the foamg discharge test of a foam fire extinguishing equipment is eliminated, the cost for an inspection is inexpensive, and the possibility of contaminating environment is small.例文帳に追加

泡消火設備の泡放出試験に手間がかからず、点検に要する経費も低廉で、環境を汚染するおそれの少ない泡放出試験装置および泡放出試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an engine testing device that easily and properly reproduces an engine behavior of an actual vehicle at an abrupt change in engine rotation speed such as at the time of engine start-up or speed change, and to provide an engine testing method.例文帳に追加

エンジン始動時や変速時などのエンジン回転速度の急変時における実車でのエンジン挙動を容易かつ的確に再現することのできるエンジン試験装置及びエンジン試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a relay diagnosis device and a semiconductor testing device, capable of estimating the individual replacement time of each relay that constitutes a semiconductor testing circuit, with high reliability, and of reducing the maintenance cost.例文帳に追加

半導体試験回路を構成するリレー１個毎の個別の交換時期を高い信憑性をもって推定することができ、保守費用を低減化できるリレー診断装置及半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit testing apparatus and a method, capable of acquiring digital waveform data wherein the position on the time base is accurate, when testing a test object device for outputting analog signal.例文帳に追加

アナログ信号を出力する被試験対象デバイスを試験する場合において、時間軸上の位置が正確なデジタル波形データを得ることのできる半導体集積回路試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

In performing the Huffman decoding method, the performing time can be reduced, by testing for the length of valid Huffman codes in a compressed data stream and using an offset corresponding to testing criteria.例文帳に追加

ハフマン復号化法は、圧縮したデータ・ストリーム中の有効なハフマン符号の長さに対して試験を行なうと共に、試験基準に対応するオフセットを使うことにより、実行時間を短縮することができる。 - 特許庁

An adjustment value s of spatial resolution and an adjustment value z of time resolution are output to a testing terminal 17 without restriction.例文帳に追加

検査用端子１７には、空間解像度の調整値ｓ及び時間解像度の調整値ｚが垂れ流し的に出力されている。 - 特許庁

To provide a testing device of an A/D converter which measures nonlinear errors with high precise and substantially eliminates data processing time.例文帳に追加

高精度な非直線性誤差の測定を行い、且つデータ処理時間を大幅に削減するＡ／Ｄ変換器試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and method for testing a device by which a test can be speeded up by shortening time for writing data.例文帳に追加

データの書込み時間を短縮することで試験の高速化を可能とするデバイス試験装置およびデバイス試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a sugar urine testing device suitably used in estimating and displaying a specific instantaneous sugar urine value, even when the sugar urine is measured at an indefinite time after eating.例文帳に追加

食後不定時に測定しても、所定の瞬間尿糖値を推測表示するに好適な尿糖検査装置を提供する。 - 特許庁

At the time of testing, write driver decoders WDC1 and WDC2 are driven in response to inputs to test decoding lines TL1 to TL4.例文帳に追加

テスト時において、テスト用のデコード線ＴＬ１〜ＴＬ４の入力に応答してライトドライバデコーダＷＤＣ１，ＷＤＣ２が駆動される。 - 特許庁

To provide a weather resistance-testing device that can be used without using any commercial power supplies and at the same time, can improve reliability in evaluation.例文帳に追加

商用電源を用いることなく使用できるとともに評価の信頼性を向上できる耐候性試験装置を得ることにある。 - 特許庁

To prepare operating-component data that allow to execute the same key-operation testing as that of executed by a skilled worker in a short period of time for each operation unit.例文帳に追加

熟練者と同じキー操作試験を操作単位毎に短時間で行うことを可能にする操作部品データを作成する。 - 特許庁

To quickly make alignment of a lens under testing while capable of under standing the moving direction of the lens at the time of making the alignment of the point marking etc.例文帳に追加

被検レンズへ印点等のアライメントに際し、レンズの移動方向を一目で判断でき、アライメントを迅速に行えるようにする。 - 特許庁

To shorten the test time of testing a device under test including a scan chain comprising a plurality of flip-flops.例文帳に追加

複数のフリップフロップから構成されるスキャンチェインを有する被試験デバイスの試験の試験時間の短縮化を図ることを目的とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of shortening time for development of the semiconductor device, and to provide a method of testing the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の開発時間を短縮することができる半導体装置及び半導体装置の試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a data display capable of easily comparing the changes in test execution time that accompany the correction of a device testing program.例文帳に追加

デバイスの試験用プログラムの修正に伴う試験実行時間の変化を容易に比較することができるデータ表示装置を提供する - 特許庁

To provide a network equipment test system and method for shortening a time for testing network equipment to reduce costs of the network equipment.例文帳に追加

ネットワーク機器の試験時間を短縮してネットワーク機器のコストを低減できるネットワーク機器試験システム及び方法を提供する。 - 特許庁

To propose an environmental testing apparatus which can realize miniaturization of a temperature chamber, while securing the residence time of the works inside the chamber.例文帳に追加

ワークの槽内滞留時間を確保しつつ温度槽の小型化を達成することのできる環境試験装置を提案すること。 - 特許庁

To provide an apparatus for testing packet transmission characteristics capable of analyzing whether streaming data can be reproduced in real time.例文帳に追加

本発明は、ストリーミングデータがリアルタイムで再生可能か否かを解析可能なパケット伝達特性試験装置の提供を目的とする。 - 特許庁