「testing time」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

On the occasion of testing the two variable delay circuits 3 and 17, the delay time for testing is set on the circuits 3 and 17 and the reference clock signal delayed through the reference variable delay circuit 3 is input to the strobe variable delay circuit 17.例文帳に追加

両可変遅延回路３，１７のテストの際、当該回路３，１７にはテスト用遅延時間が設定され、基準可変遅延回路３を経て遅延された基準クロック信号はストローブ可変遅延回路１７に入力される。 - 特許庁

To provide a built-in self-testing circuit and testing method capable of adjusting a period of time from sending a read operation signal to storage elements in a semiconductor integrated circuit till storing data outputted from the storage elements in a register.例文帳に追加

半導体集積回路内の記憶素子に読み出し動作の信号が送られてから、記憶素子から出力されたデータがレジスタに格納されるまでの時間を調整可能な組み込み自己試験回路及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a tire testing apparatus capable of testing a sample tire efficiently in a shorter period of time in evaluating various performance features of the tire by pressing the tread surface of the sample tire against the external surfaces of rotating drums driven to rotate.例文帳に追加

供試タイヤのトレッド表面を、回転駆動される回転ドラムの外表面に押圧して、タイヤの諸性能を評価するに当り、より短い時間で効率的に試験を行うことができるタイヤ試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an information acquiring method and device for quickly and precisely testing identification information by satisfactorily evading radio waves from a transmitter mounted on an adjacent vehicle at the time of testing identification information.例文帳に追加

識別情報を検査するときに、隣接する車両に搭載されている送信装置からの電波を良好に回避し、短時間で精度良く識別情報を検査できる情報取得方法及び情報取得装置を得る。 - 特許庁

To solve the problem that a capacity of a battery is reduced, a change to backup power supply is delayed when a power failure occurs during lifetime determination testing, and the reliability of power supply back up is deteriorated, since the lifetime determination testing is performed for every constant period of time.例文帳に追加

一定時間毎に寿命判定試験を行うため、バッテリー容量が減少し、寿命判定試験中に停電が発生するとバックアップ電源への切り替えが遅れ、電源バックアップの信頼性が低下する。 - 特許庁

To provide a testing device for semiconductor device capable of maintaining the temperature of a probe card with a simple structure via a probe needle during a lot standby and preventing the probe needle from being easily damaged at that time, and to provide a testing method of semiconductor device.例文帳に追加

簡単な構造でロット待機中にプローブ針を介してプローブカードの温度を保持することができ、そのときプローブ針を損傷しにくい、半導体素子の試験装置および半導体素子の試験方法を提供する。 - 特許庁

i. Components designed for use in controlling the vibration test equipment falling under 1 and that use a program for vibration testing and digitally control vibration testing in real time in a bandwidth exceeding 5 kilohertz 例文帳に追加

１　（一）に該当する振動試験装置の制御に使用するように設計した部分品であって、振動試験用のプログラムを用いたものであり、かつ、五キロヘルツを超える帯域幅で実時間での振動試験をデジタル制御するもの - 日本法令外国語訳データベースシステム

A signal delay part 24 is arranged on a communication passage of the CPU 10 and the trial shoot testing terminal 22 for transferring a control data signal outputted from the CPU 10 to the trial shoot testing terminal 22 by delaying by a prescribed time.例文帳に追加

ＣＰＵ１０と試射試験用端子２２との通信経路上には、ＣＰＵ１０から出力される制御データ信号を所定時間遅延させて試射試験用端子２２に転送する信号遅延部２４が設けられている。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for testing semiconductor integrated circuits capable of easily tracking down, at low cost and in a short time, the causes of malfunction which occurs in a wave-shaping part provided for the apparatus for testing the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路試験装置が備える波形整形部において生ずる不具合の原因究明を短時間で容易に且つ低コストで行うことができる半導体集積回路試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a magnetic head for testing capable of generating a surface state equal to the surface state of a magnetic head after long time operation in a short time and with sufficient reproducibility so that evaluation of influence of the magnetic head to which a lubricant adheres by long time operation is efficiently performed and to provide a testing method using the same.例文帳に追加

長時間稼動により潤滑剤が付着した磁気ヘッドによる影響の評価を効率的に行うべく、長時間稼動後の磁気ヘッドの表面状態と同等の表面状態を短時間で再現性良く発生させることのできる試験用磁気ヘッドの製造方法及びこれを用いた試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an operation testing device for a microprocessor accurately judging whether or not the prescribed processing of a test object can be operated within unit time during the operation of a real time processor for the real time processor performing the prescribed processing by a microprogram within the unit time by using the microprocessor.例文帳に追加

マイクロプロセッサを用いて単位時間内にマイクロプログラムによる所定処理を行なう実時間処理装置に対し、実時間処理装置の稼動中に試験対象の所定処理が単位時間内で動作可能かどうか正確に判断するマイクロプロセッサの動作試験装置を提供すること。 - 特許庁

A plurality of periodic time-stamp packets are transmitted to a communications apparatus of a receiver side with a testing transmission rate (R) set currently, and the variation trend of the transmission delay time difference between the time-stamp packets is evaluated, based on the respective times at which the time-stamp packets are received by the communications apparatus of the receiver side.例文帳に追加

複数の周期的なタイムスタンプパケットを、受信側の通信装置へ、現在設定されている試験伝送率(R)で伝送し、受信側の通信装置にタイムスタンプパケットのそれぞれが受信された時刻に基づいて、タイムスタンプパケット間の伝送遅延時間差の変化傾向を検査する。 - 特許庁

An area judgment threshold k, a judgment threshold α, and a fixing time period S are set corresponding to each recording quality and a kind of each recording medium from an optimum fixing time period determined according to the testing.例文帳に追加

試験することによって定めた最適な定着時間をもとに、各記録品位および各記録媒体の種類に応じてエリア判定閾値ｋ、判定閾値αおよび定着時間Ｓを設定した。 - 特許庁

The generator 20 transmits the testing frame to the POS channel N synchronously with a trigger signal showing a starting time point and an ending time point of the sampling period to be output from the POS probe unit 10.例文帳に追加

フレーム発生装置２０は、ＰＯＳプローブ装置１０から出力される、サンプリング期間の開始時点及び終了時点を示すトリガ信号に同期してＰＯＳ回線Ｎに試験フレームを送信する。 - 特許庁

A probe card 18 is equipped with a relay 38 for connecting a probe 16A to a voltage source of a tester 14 at the wafer 12 testing time, and grounding the probe 16A at the contact resistance measuring time of the probe.例文帳に追加

プローブカード１８は、ウェハ１２の試験時にはプローブ１６Ａをテスタ１４の電圧源と接続し、プローブの接触抵抗測定時にはプローブ１６Ａを接地するリレー３８を備えている。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of shortening time required for a gradation test of a device to be tested by shortening time for quality determination based on a differential value between positive output and negative output.例文帳に追加

正極出力と負極出力との差分値に基づく良否判定にかかる時間を短縮して、被試験デバイスの階調テストに要する時間を短縮する半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an adapter for continuity test of a line which can shorten the time for the continuity test and is easy to use since pins for testing can easily be inserted into conductor insertion holes in a short time.例文帳に追加

複数の導線挿入孔に試験用のピンを容易にかつ短時間に挿入できて、導通試験の時間短縮を図れる上に、使い勝手に優れた回線の導通試験用アダプターを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus capable of facilitating the measurement of pattern execution time performed for shortening test time and performing off-line measurement through the use of a simulator and to provide the simulator.例文帳に追加

テスト時間を短縮するために行うパターン実行時間の計測を、従来より容易に計測でき、更にシミュレータを用いてオフラインでも計測できる半導体試験装置及びそのシミュレータを提供する。 - 特許庁

To provide a plug and a communication transmission/reception testing apparatus and method in which a communication transmission/reception test can be performed from a protector inside a building in a short time.例文帳に追加

ビル内保安器から通信発着信試験を短時間に行えるプラグ、通信発着信試験装置および通信発着信試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a frame delay generator for changing delay time while frame delay generating function is not suspended and for enhancing efficiency of testing.例文帳に追加

フレームの遅延発生機能を停止せずに遅延時間を変更することができ、試験の効率を高めることができるフレーム遅延発生装置を提供すること。 - 特許庁

As a result of such processing, if the transmission delay time difference is included within the stable range, the testing transmission rate currently set is determined to be the available bandwidth.例文帳に追加

かかる処理の結果、伝送遅延時間差が安定範囲内に含まれると、現在設定されている試験伝送率を可用帯域幅として決定する。 - 特許庁

To provide a salt damage testing method for an ventilating air filter unit, allowing objective salt damage test at any site in a short time, and to provide its device.例文帳に追加

任意の場所において短時間で客観的な塩害試験を行うことができる換気用エアフィルタユニットの塩害試験方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device for testing helium leakage that can eliminate a time to pull out a cap mounted on the convex part of an object to be tested having a convex part with an opening.例文帳に追加

孔付凸部を有する被試験体の凸部に装着したキャップを抜き取る手間を省くことができるヘリウムリークテスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device for an air-conditioner, helpful in saving a space and resources and adaptable for evaluation in a shorter time than conventional one.例文帳に追加

省スペ−ス、省資源で行うことができるとともに、従来より短時間で評価することが可能な空気調和機の試験装置を提供する。 - 特許庁

Therefore, an address of a memory IC can be directly made in one-dimension, at the time of testing a high speed memory IC, the circuit delay and expansion of circuit scale can be prevented.例文帳に追加

そのため、メモリＩＣのアドレスを直接的に一次元化でき、高速のメモリＩＣ試験の際、回路遅延、回路規模の拡大を防ぐことができる。 - 特許庁

To achieve high TPI by shortening the testing time of a post code in a device for controlling the position of a head in a disk having a post code added to a servo frame.例文帳に追加

サーボフレームにポストコードを付与したディスクに、ヘッドを位置制御する装置において、ポストコードの試験時間を短縮し、高いＴＰＩを実現する。 - 特許庁

To obtain a method of manufacturing semiconductors, in which a semiconductor manufacturing apparatus operates its boat efficiently by allowing the boat to handle two types of testing wafers at the same time and independently.例文帳に追加

半導体製造装置のボートにおいて２種類のテストウェーハを同時に独立して能率的に運用できる半導体製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing inhibiting test time from increasing while preventing a normal semiconductor integrated circuit from being determined to be defective.例文帳に追加

正常な半導体集積回路が不良と判定されることを防止しながら、試験時間の増大を抑制することが可能な試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a low-temperature engine testing apparatus capable of achieving the maintenance of the inner environment of a low-temperature test room and control of the wall deterioration at the same time.例文帳に追加

低温試験室の内部環境の維持と壁の劣化の抑制を同時に達成することができるエンジンの低温試験装置を提供する。 - 特許庁

An automatic testing part 66 performs an automatic test to determine and report presence/no presence of the failure of a battery power source 40 and a sensor part 16 in every prescribed time.例文帳に追加

自動試験部６６は、所定時間毎に電池電源４０及びセンサ部１６の障害の有無を判定して報知する自動試験を行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus which stores data in a predetermined address of a memory without preprocessing of calculating each test to shorten a calculating time.例文帳に追加

本発明は、各試験の演算の前処理無しに、所定のメモリのアドレスの番地へ格納させて演算時間を短縮した半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

Then, the test directory tree 68 is used for selecting a test script to be used at the time of testing a newly compiled application program.例文帳に追加

そして、試験ディレクトリ・ツリー（６８）は、新しくコンパイルされたアプリケーション・プログラムを試験する際に使われる試験スクリプトを選択するために使用される。 - 特許庁

To use a storage device in good quality without increasing testing time for the storage device having a storage area of large capacity.例文帳に追加

大容量の記憶領域を有する記憶装置に対して試験時間を増大させることなく、良好な品質状態の記憶装置を使用できるようにする。 - 特許庁

Switching is allowed to have the priority to the shortening of the testing time or to have the priority to the measuring precision, by changing the precision regulation voltage.例文帳に追加

また、精度調整電圧を変えることにより、試験時間の短縮を優先するか、測定精度を優先するかの切り替えを行うことができる。 - 特許庁

At this time, the PLL counter copy uses a resistor incorporated into a test route including test facilitating means for testing the LSI by a scan path method.例文帳に追加

このとき、ＰＬＬカウンタコピーは、ＬＳＩをスキャンパス法により試験するための試験容易化手段を含む試験経路に組み込まれたレジスタを用いる。 - 特許庁

At the time of testing, the signal SA is retained by the FF33 through the selectors 31, 32, and therefore the signal path between the circuit blocks 10A, 10B can be tested.例文帳に追加

テスト時に、信号ＳＡはセレクタ３１，３２を介してＦＦ３３に保持されるので、回路ブロック１０Ａ，１０Ｂ間の信号経路がテストできる。 - 特許庁

A computer implemented method, a data processing system and the processor are provided for thermal throttling control for testing of real-time software.例文帳に追加

リアルタイム・ソフトウェアを試験するためのサーマル・スロットリング制御のための、コンピュータによって実施される方法、データ処理システム、およびプロセッサを提供する。 - 特許庁

To accurately measure devices and improve delivery quality by adapting to the case that semiconductor testing apparatuses change in a short period with the passage of time.例文帳に追加

半導体試験装置の短期間の経時における変化が発生する場合に対応し、デバイスを正確に測定し、出荷品質を向上させる。 - 特許庁

To provide a relay switching inspection system capable of shortening time needed for testing even in case the number of relay circuits constituting a channel exchanger is increased.例文帳に追加

経路交換器を構成するリレー回路の個数が増加した場合でも、テストに要する時間を短縮することが可能なリレー切替検査システムを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing system for conducing a test in a short time while the accuracy for detecting defects in a semiconductor device is maintained.例文帳に追加

半導体装置に関する不良の検出精度を維持しつつも短時間で試験を実施することができる半導体試験システムを提供することができる。 - 特許庁

The antenna 10 for testing is rotated on a circular orbiting path with the antenna 90 to be measured as a center each time when the antenna 90 to be measured is rotated at a specific angle.例文帳に追加

被測定アンテナ９０を所定角度回動する毎に試験用アンテナ１０を被測定アンテナ９０を中心とした円軌道上を回転させる。 - 特許庁

To provide a circuit opening test system and circuit opening testing method which permit elimination of a waiting time for an opening test even when the opening tests overlap with each other.例文帳に追加

開通試験が重なっても、開通試験の待ち時間を無くすことを可能にする回線開通試験システムおよび回線開通試験方法を提供する。 - 特許庁

As a result of the collation of the acquisition conditions, the progress status of the testing work is reported to the test manager and the person in charge of the test in real time and by push type.例文帳に追加

取得条件照合の結果、試験作業の進捗状況を、試験管理者、試験担当者ヘリアルタイムに、かつプッシュ型的に通知を行う。 - 特許庁

Accordingly, the quality determination of the differential signal can be performed, without having to measure the elapsed time, and the configuration of the testing device 2 can be simplified.例文帳に追加

したがって、経過時間を測定することなく、差動信号の良否判定を行うことができ、テスト装置２の構成を簡素にすることが可能となる。 - 特許庁

To provide a semiconductor device, reducing a test time for outputting a result of comparing a data pattern for testing with a data read out from a memory cell array.例文帳に追加

テスト用のデータパターンとメモリセルアレイから読み出したデータとの比較結果を出力するテスト時間を短縮する半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁