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testing timeの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 913件
This method includes inserting test points into a circuit for reducing the number of specified bits required for transition fault testing of the circuit by reducing the dependency of a second time-frame pattern of the circuit on a first time-frame pattern of the circuit.例文帳に追加
方法は、回路の第1時間フレームパターンに対する回路の第2時間フレームパターンの依存性を減らすことによって回路の遷移故障試験に必要な指定されるビットの個数を減らすために回路に試験点を挿入することを含む。 - 特許庁
To provide a semiconductor testing device capable of producing a test program which can shorten a test time even without having the knowledge about multithreading and capable of shortening the time required for preparation and debugging of the test program.例文帳に追加
マルチスレッドに関する知識を有しなくとも試験時間を短縮し得る試験プログラムを作成することができるとともに、その試験プログラムの作成及びデバッグに要する時間を短縮することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
To remarkably shorten a time required for an Iddq test compared with the conventional art, only by adding a simple circuit to a semiconductor testing device, to reduce a using time of the expensive semiconductor testing device to conduct a delivery test economically, and to reduce a cost, in the delivery test of a semiconductor integrated circuit wherein OFF leaks are frequently observed.例文帳に追加
OFFリークの多い半導体集積回路の出荷試験において、半導体試験装置に簡易な回路を付加するのみで、Iddq試験に要する時間を従来より大幅に短縮でき、高価な半導体試験装置の使用時間を低減できて、試験を経済的に実施することができ、コストを低減することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
This USB optical time-domain reflection test equipment comprises an optical time-domain reflection test module for testing an optical fiber, and a USB module which is connected to the optical time-domain reflection test module, provides power to the optical time-domain reflection test module from outside, performs control so that the optical time-domain reflection test module tests the optical fiber, and collects data.例文帳に追加
本発明のUSB光時間領域反射テスト装置は、光ファイバーをテストする光時間領域反射テストモジュールと、前記光時間領域反射テストモジュールと接続され、外部から前記光時間領域反射テストモジュールに電源を提供し、前記光時間領域反射テストモジュールが前記光ファイバーのテストを行うように制御し、また、データの収集を行うUSBモジュールとを含む。 - 特許庁
In this IC testing system, the chip arrayals to be tested at one time in a wafer prober 200 are made to correspond to the positions on rectangular coordinates for transmitting respective coordinates as character string data to an IC testing device 300, where the location data comprising the character string data are converted into the chip map data to generate the chip map using these chip map data.例文帳に追加
ウェハプローバにおいて一度に試験するチップの配列を直交座標上の位置に対応させ、各座標を文字列データとしてIC試験装置に伝送させ、IC試験装置ではチップマップ変換手段により文字列データから成るロケーション・データをチップマップデータに変換し、このチップマップデータを使ってチップマップを作成する。 - 特許庁
To provide a thermal shock testing device capable of shortening a time required for executing one cycle of thermal cycle, to the minimum, and capable of carrying out a thermal shock test under a stable condition, irrespective of conditions such as a heat capacity of a sample and a quantity of the sample, and a testing method for the thermal shock test.例文帳に追加
冷熱サイクルを1サイクル実施するのに要する時間を最小限に短縮でき、試料の熱容量や試料の数量等の条件によらず安定した条件下で熱衝撃試験を実施可能な冷熱衝撃試験装置、並びに、冷熱衝撃試験の試験方法の提供を目的とする。 - 特許庁
To make it possible to increase the testing efficiency by simultaneously making a plurality of testings in one time contact doing no damage to terminal pads in a semiconductor integrated circuit in order to test the wafer status in the circuit wherein the pin numbers required by the testing items are notably differentiated.例文帳に追加
試験項目により必要とされるピン数が大きく異なる半導体集積回路をウェハ状態で試験するに際し、半導体集積回路の端子パッドを痛めることなく、1回の接触で同時に複数の試験を行い、試験効率をあげることができる半導体集積回路試験装置及び試験方法の提供。 - 特許庁
To provide a trace element testing and analyzing method and a trace element testing and analyzing pretreatment device for conducting microwave irradiation and ultrasonic treatment concurrently, by effective treatment for analyzing trace amounts of elements in various solid product or materials, and for precisely conducting test and analysis by decomposing these, in a short time.例文帳に追加
様々の固体製品または材料中の微量元素を分析する上でより効果的な前処理によるマイクロウエーブ照射と超音波処理を同時に行い、短時間で精度良く分解して試験分析を行う微量元素試験分析方法および微量元素試験分析前処理装置を提供する。 - 特許庁
To simplify a system construction in testing and evaluating tested devices, to reduce maintenance cost by making maintenance easy, to reduce development cost by making easy development of boards for the tested devices, to shorten a development period, to measure correctly signals for testing and examining the tested devices, and to decrease down time.例文帳に追加
被試験デバイスの試験及び診断における装置構成を簡単にし、メンテナンスを容易にしてメンテナンス費を削減し、被試験デバイスのボードの開発を容易にして開発コストを削減し開発期間を短縮し、被試験デバイス試験用及び診断用の信号を正確に測定し、ダウンタイムを低減することである。 - 特許庁
To evaluate delay destruction characteristics in a shorter time as compared with a constant load testing method because the adverse effect on environment and the human body is reduced, the sealing capacity of hydrogen into steel is excellent and the identification of the limit amount of diffusible hydrogen due to a low strain speed testing method becomes possible and to reduce the number of samples to be prepared.例文帳に追加
環境および人体への悪影響が軽減され、鋼中への水素の封入能力が優れ、しかも、低ひずみ速度試験法による限界拡散性水素量の同定が可能となるので、定荷重試験法に比べて、短時間で評価でき、しかも用意するサンプル数も少なくて済む。 - 特許庁
To provide a weatherability testing machine capable of performing a weatherability evaluation test in a more markedly short time than a conventional testing machine utilizing ultraviolet irradiation and imparting a weatherability evaluation test results higher in correlation with outdoor natural exposure than those of the conventional methods that use irradiation of radicals formed by remote plasma.例文帳に追加
従来の紫外線照射を利用した試験装置よりも格段に短時間で耐候性評価試験が実施可能であり、従来のリモートプラズマにより生成したラジカルの照射を用いた方法よりも屋外自然曝露との相関性が高い耐候性評価試験結果を与える耐候性試験装置を提供する。 - 特許庁
While there has been previous surveys conducted to determine the number of individuals undergoing hepatitis testing, new surveys and further research are required to determine the true extent of hepatitis testing at the current time.例文帳に追加
しかしながら、肝炎ウイルス検査体制の整備及び普及啓発を効果的に実施するためには、施策を行う上での指標が必要であり、このため、従前から実施している肝炎ウイルス検査の受検者数の把握のための調査に加えて、肝炎ウイルス検査の受検率について把握するための調査及び研究が必要である。 - 厚生労働省
To provide a sanitary washing device, having excreta determination functions for preventing functional/performance troubles from occurring in the sanitary washing device by integrating an excreta testing device and the sanitary washing device, and at the same time efficiently branching water, required fro maintaining the functions of the excreta testing device by the sanitary washing device.例文帳に追加
排泄物測定装置と衛生洗浄装置を一体化すると共に、排泄物測定装置の機能維持のために必要な水を衛生洗浄装置より効率的に分岐することにより、衛生洗浄装置に機能・性能的な弊害が発生しない排泄物測定機能付き衛生洗浄装置を提供する。 - 特許庁
To provide a compact tool for testing a feather jig for underwater, hardly requiring time for preparation when testing the swimming posture of the feather jig for the underwater, convenient for carrying, hardly causing overflow of water to the exterior of a container, capable of lasting the swimming posture of the feather jig for the underwater, and enabling the swimming posture to be observed from the whole direction and the whole angle.例文帳に追加
水中用毛ばりの遊泳姿勢をテストする際、準備に時間を要すること無く、コンパクトで持ち運びに便利で、また、水が容器外にあふれ出すことも無く、更に水中用毛ばりに遊泳姿勢を持続させ、更にその遊泳姿勢を、全方向、全角度から確認することを可能とすることを提供する。 - 特許庁
The maximum traveling time required for a testing bolus to pass each of the scanning stations of a given number is determined by demarcating scanning stations 56, 58, 60 along a peripheral vessel structure 64, initially injecting the contrast medium in a patient, and passing the testing bolus in the peripheral vessel structure 64.例文帳に追加
末梢脈管構造(64)に沿って所与の数の走査ステーション(56、58、60)を画定し、造影剤を患者に初期注入して末梢脈管構造にテスト用ボーラスを通過させて追跡することにより、テスト用ボーラスが所与の数の走査ステーションの各々を通過して走行するのに掛かる最大走行時間を決定する。 - 特許庁
To conduct tests continuously for reduction in testing time by identifying a dummy test signal at the time of operational test of an electronic circuit breaker formed so as to incorporate energization heat history properties into overcurrent tripping properties, thereby temporarily releasing the energization heat history properties.例文帳に追加
過電流引外し特性に通電熱履歴特性を取り入れるようにした電子式回路遮断器の動作テスト時に擬似テスト信号であることを検知して一時的に通電熱履歴特性を解除して、連続テストを可能してテスト時間の短縮をはかる。 - 特許庁
To provide an overcurrent adjustment mechanism with the small number of parts capable of improving working efficiency by doing away with waiting time for a circuit breaker heated by electricity testing and the like to return to normal temperature in adjusting time required for electric path interception.例文帳に追加
電路が遮断されるまでの時間を調整する際に、通電試験等によって発熱した回路遮断器が常温に戻るまで待つ必要をなくし、作業効率を向上させることが可能な過電流調整機構を少ない部品数で提供する。 - 特許庁
To provide a method for activating a gas diffusion electrode by which the initial performance is improved, the performance is improved with the operating time, and the service life is stably prolonged and to furnish a testing method by which the quality of the electrode is confirmed in a short time, and the service life is predicted.例文帳に追加
初期性能が優れているとともに、運転時間と共に性能が良くなり、安定した長寿命のガス拡散電極の活性化方法を提供し、また短時間で電極の品質確認と寿命予測を行える試験方法を提供する。 - 特許庁
A comparison circuit 20 stores the comparison result data between the pulse width time of the pulse of an input signal IS for testing inputted to the delay circuit 10, and the delay time of delay signals PM-PN outputted from taps PM-PN in the delay circuit 10 in a comparison result register 30.例文帳に追加
比較回路20は、遅延回路10に入力されたテスト用入力信号ISのパルスのパルス幅時間と、遅延回路10のタップPM〜PNから出力される遅延信号PM〜PNの遅延時間との比較結果データを、比較結果レジスタ30に記憶する。 - 特許庁
To improve sensor testing method so as to use a signal for expressing a parameter to be measured at a very short time interval even when inspecting a sensor without interruption or relatively large interruption.例文帳に追加
センサが中断なしでまたは比較的に大きな中断なしで検査される場合でも、非常に短い時間間隔で、測定すべきパラメータを表す信号が使用されるように改善することである。 - 特許庁
To provide a performance evaluation method of a processed oil that allows the evaluation result of a laboratory level in a simplified testing machine to be adapted to the finishing machine of an actual machine, is precise and reliable, and has short test evaluation time.例文帳に追加
簡易型試験機による実験室レベルの評価結果が、実機の加工機に適応でき、精度および信頼性が高く、試験評価時間の短い加工油の性能評価方法を提供すること。 - 特許庁
To detect short-circuiting between even bits and between odd bits and prevent increase in the testing time without making the circuit scale larger when checking the memory by using a self-test circuit.例文帳に追加
自己テスト回路を用いてメモリのテストを行う際に、回路規模の増大を抑制しつつ、偶数ビット同士や奇数ビット同士のショート不良を検出するとともに、テスト時間の増大を抑制する。 - 特許庁
To provide a pipeline analog-to-digital converter testing circuit, and a pipeline analog-to-digital converter equipped with this, which directly measures the characteristics of each component of the pipeline analog-to-digital converter in a short period of time.例文帳に追加
短時間でパイプラインA/D変換器の各構成要素の特性を直接測定することが可能なパイプラインA/D変換器の試験回路及びこれを備えたパイプラインA/D変換器を実現する。 - 特許庁
To provide methods and apparatus that allow real-time data transmission between patients and medical practitioners to enable efficient communication and high throughput point-of-care testing in an ambulatory context.例文帳に追加
患者と医療実務者との間の実時間データ伝送が、歩行用の状況において効率的な伝達および高処理能力ポイントオブケア検査を可能にする方法および装置を提供する。 - 特許庁
To provide a seal structure of a chain case joining surface improving robustness to a leakage of engine oil by suppressing a clearance change of a thin film part of an FIPG (formed in place gasket) in a testing bench operating time.例文帳に追加
試験ベンチ運転時におけるFIPGの薄膜部のクリアランスの変化を抑制し、もってエンジンオイルの漏れに対するロバスト性を向上させる、チェーンケース合わせ面のシール構造を提供すること。 - 特許庁
To shorten the test time of the testing method which tests an address line for a memory device formed on a printed wiring board and to make it easy to find a fault position.例文帳に追加
プリント配線板に形成されているメモリデバイス用のアドレス線をテストするアドレス線のテスト方法に関し、テスト時間の短縮化と、故障個所の発見の容易化とを図ることができるようにする。 - 特許庁
To provide a heat radiation performance tester on an enclosure for removing variable factors by natural environment or an installation location, and variable factors caused by internal heat generation distribution independently of time for testing.例文帳に追加
試験のための時期によらず、また自然環境や設置場所に起因する変動要素、内部発熱分布による変動要素を排除することができる筐体の放熱性能試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a bearing testing device capable of reproducing white peeling of a test bearing with high accuracy and in a short time, and reproducing white peeling of any of a rolling element and rolling surface of the test bearing.例文帳に追加
試験軸受の白色はく離再現を短時間で精度良く行えるとともに、試験軸受の転動体、転動面のいずれの白色はく離をも再現できる軸受試験装置を提供する。 - 特許庁
The data to be written in the electronic tag labels 20 are divided, and by writing the data in the electronic tag labels 20 by the plurality of readers 151A to 151C, it is possible to shorten a reading/writing time, and to quicken a testing speed.例文帳に追加
電子タグラベル20書き込むべきデータを分割し、複数のリーダ151A〜151Cで電子タグラベル20に書き込むことにより読み書き時間を短くし、検査速度の高速化を図った。 - 特許庁
To perform highly accurate quality determination in measurement at high pushing-down speed during a line application time, concerning a quality determination method of a button of an electronic apparatus, a method for manufacturing the electronic apparatus, and an electronic apparatus button testing device.例文帳に追加
電子機器のボタンの良否判定方法、電子機器の製造方法及び電子機器ボタン試験装置に関し、ライン適用時に高速の押下速度による測定で精度の高い良否判定を行う。 - 特許庁
To provide an elevator and its emergency stop testing method capable of making sure the sheave idling condition of a hoist easily even if an operator etc. is in a position apart from the hoist at the time of performing an emergency stop test.例文帳に追加
非常止め試験時に、作業者等が巻上機から離れた位置にいても、巻上機のシーブ空転状態を容易に確認することができるエレベーター及び非常止め試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide a drop impact testing device, capable of carrying out precisely a natural drop impact test dropped under identical conditions, from a fixed height each time, and accurately dropped at the same spot.例文帳に追加
一定高さから毎回同じ条件で落下させ、同一箇所に正確に落とすといった自然落下衝撃試験を精度良く行うことができる落下衝撃試験装置を提供すること。 - 特許庁
To provide a hardness testing machine for ensuring accurate test-force holding time by sensing the moment a test force is exerted completely on a sample and the instant, when the test force is removed from the sample.例文帳に追加
試験力が完全に試料へ加わった瞬間の感知、及び、試験力が試料から除かれた瞬間の感知をすることにより、正確な試験力保持時間を確保する硬さ試験機を提供する。 - 特許庁
To provide an electronic component testing apparatus which can correctly control a temperature of an electronic part even when the electronic component generates heat by itself at a test time, and can test the electronic component at a desired test temperature.例文帳に追加
試験時に電子部品が自己発熱しても、電子部品の温度を正確に制御し、所望の試験温度にて電子部品を試験することができる電子部品試験装置を提供すること。 - 特許庁
To provide a material testing machine for reducing power consumption by a servo amplifier or a servo motor in a non-operation time when a material test or an operation relating to the material test is not executed.例文帳に追加
材料試験または材料試験に関連する操作が実行されていない非稼働時に、サーボアンプまたはサーボモータによる消費電力を低減することが可能な材料試験機を提供する。 - 特許庁
To provide an oil absorbency testing method of paper and cardboard for measuring the oil absorbency of paper and cardboard for a short period of time without causing the measuring error due to the judge error of a final point, and also to provide an oil absorbency tester therefor.例文帳に追加
紙及び板紙の吸油度を短い時間で測定し、且つ終点判定の誤差による測定誤差を生じない紙及び板紙の吸油度試験方法及び吸油度試験装置を提供する。 - 特許庁
A crack is produced in the test piece 2 by an increase in the load and the thin film pattern is cut but the cutting of the thin film pattern is detected by the material testing machine 1 and the displacement and the test load at this point of time are measured.例文帳に追加
荷重の増加によって試験片2にクラックが入り薄膜パターンが切断されるが、前記材料試験装置1により切断が検知され、この時点の変位、試験荷重が測定される。 - 特許庁
This easily disaggregating paper tube is constituted so that required time up to completely disaggregating becomes 60 minutes or less when performing disaggregation processing by a pulp-disaggregation testing method recorded on JIS P 8220.例文帳に追加
JIS P 8220に記載のパルプ−離解試験方法により離解処理を行った際の、完全に離解するまでの所要時間が60分以下である易離解性紙管を製造する。 - 特許庁
To provide a spring limit value testing device and an efficient spring limit value measurement method for reducing a sample cost, working man-hours and a working time while securing accuracy of data.例文帳に追加
データの正確性を担保しつつ試料コストの削減が図れ、且つ作業工数および作業時間を軽減したばね限界値試験機および効率的なばね限界値測定方法を提供する。 - 特許庁
To provide a culture unit capable of conducting the classified collection of target microorganisms and their culture simultaneously, leading to dispensing with multistep culture operations for testing microorganisms and thereby cutting the test time.例文帳に追加
対象とする微生物の分別収集とその培養を同時に行うことが可能で、微生物の検査において多段階の培養が不要となり、検査時間を短縮できる培養装置を提供する。 - 特許庁
To provide a method and an apparatus for testing a noise reduction performance of a drainage pavement which tests the noise reduction performance without use of an expensive measuring vehicle in a high S/N ratio in real time.例文帳に追加
高価な測定車両を用いることなく、高いS/N比で騒音低減性能をリアルタイムに試験することができる排水性舗装の騒音低減性能試験方法及び装置を提供する。 - 特許庁
To shorten a temperature rise and fall time of a tested object by efficiently creating a low temperature and high temperature state, in a tank of an electronic component temperature testing device that uses Peltier elements.例文帳に追加
ペルチェ素子を用いた電子部品の温度試験装置において、低温および高温の槽内状態を効率よく作り出すことにより、被試験物の温度上昇、下降時間を短縮する。 - 特許庁
To solve the problem that tests require time and labor as the tests are performed by activating only one clock when testing an integrated circuit operated by a plurality of clock signals at normal operation.例文帳に追加
通常動作において、複数のクロック信号によって動作する集積回路をテストするとき、1つのクロックだけを起動することによってテストするため、テストにかかる手間および時間がかかる。 - 特許庁
To provide a probe card preventing a probe from burning by protecting it from overcurrent generated for a short time until a protection circuit disposed in a test head or a tester of a testing apparatus is activated.例文帳に追加
検査装置のテストヘッドあるいはテスタに設けられた保護回路が作動するまでの短時間に生じる過電流からプローブを保護し、針焼けを防止することが可能なプローブカードを提供する。 - 特許庁
To provide an internal pressure fatigue testing machine capable of performing a more accurate test by suppressing fluctuation of a test pressure at the driving/stopping time of an auxiliary oil pressure source regardless of the pressure of an internal pressure test.例文帳に追加
内圧試験の圧力に係わらず、補助油圧源の駆動/停止時における試験圧力の変動を抑制し、より正確な試験を行うことのできる内圧疲労試験機を提供する。 - 特許庁
To provide a reliability testing device and a reliability test method capable of performing a reliability test in a comparatively short time at low cost, and having a small error of an estimated value based on the test result.例文帳に追加
信頼性試験を比較的短時間で低コストに行うことができ、また、試験結果に基づく推定値の誤差が少ない信頼性試験装置および信頼性試験方法を提供すること。 - 特許庁
A delay characteristic by edge search is detected with no time for stabilization of the delay characteristic in order to stabilize a test, and is stored in a memory, in a testing-objective chip for conducting the function test at first.例文帳に追加
最初にファンクション試験を行なう試験対象チップで、試験を安定させるためにエッジサーチによる遅延特性を、遅延特性が安定するのにかかる時間をおかずに検出してメモリに保持する。 - 特許庁
To test one item of test data by one pattern when inputting test data at the testing of combinational circuits, to simplify the circuit configuration of a test circuit, and to shorten test time.例文帳に追加
組合わせ回路をテストする際のテストデータの入力に際し、1つのテストデータを1パターンでテストすることを可能とし、テスト回路の回路構成を簡略化し、かつテスト時間の短縮を可能にする。 - 特許庁
To provide a testing device for conducting a test by generating, in a real time, a response signal based on a control signal from a control part to transmit a reply to the control part, and a response signal generator.例文帳に追加
制御部からの制御信号に基づく応答信号をリアルタイムに生成して該制御部に返信し、試験を行うことを可能とする試験装置及び応答信号生成装置を提供する。 - 特許庁
To provide a sensor capable of shortening a test time in the case of testing even if the sensor is provided with an abnormality deciding function (e.g. a function for deciding fire/non-fire) and to provide a monitoring and controlling system.例文帳に追加
異常判断の機能(例えば火災/非火災の判断を行なう機能)を備えた感知器であっても、試験時の試験時間を短縮することの可能な感知器および監視制御システムを提供する。 - 特許庁
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