「testing time」に関連した英語例文の一覧と使い方(16ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a cutting testing machine capable of producing a result efficiently in the shortest period of time even when enormous manhours cannot be secured to provide an optimum working condition of a working surface small in surface roughness and clean and at the lowest cost.例文帳に追加

表面粗さが小さい、きれいな加工面の最適加工条件を得るために、膨大な工数が確保できなくても効率良く最短の時間で、かつ、最小のコストで結果を出すことができる切削試験機を提供する。 - 特許庁

To prevent increase in test time accompanying scale enlargement of a circuit due to realizing individual test designs in a plurality of function circuit blocks (DRAM, logic, or the like) mounted on an LSI formed into one chip and sequentially testing them by using a plurality of testers.例文帳に追加

１チップ化されたＬＳＩに搭載された複数の機能回路ブロック（ＤＲＡＭ，ロジック等）には個別のテスト設計が実現され、テスタを使い分けて順次テストしていたため、回路の規模化に伴ってテスト時間が増大する。 - 特許庁

To provide a technology for largely shortening design time, and easily executing economical design by visually easily seizing a balance degree of stress and proof stress of the whole column bases of a proof stress testing object.例文帳に追加

耐力検定対象の柱脚全体の応力と耐力とのバランスの度合いを視覚的に容易に把握できるようにして、設計時間の大幅短縮、経済設計の実施の容易化を図ることが可能な技術を提供する。 - 特許庁

To provide a sensitivity tester, capable of testing the sensitivity of a fire sensor with an easy input operation for recording a test result of each fire sensor and with a reduced fire sensor test time.例文帳に追加

火災感知器の感度を試験する場合、火災感知器毎の試験結果を記録するための入力作業が容易であり、また、火災感知器を試験する時間が短い感度試験器を提供することを目的とするものである。 - 特許庁

(6) If the results of experimental testing are not filed within three months preceding the expiration of four years from the date of priority, the Hungarian Patent Office shall invite the applicant to rectify the irregularity within the time limit fixed in paragraph (5) or to verify that the results of experimental testing have not yet been communicated. Failure to comply with the said invitation, the applicant shall be considered to have surrendered the provisional plant variety protection.例文帳に追加

(6) 実験的試験の結果が優先日から4年の満了前の3月以内に提出されない場合は，ハンガリー特許庁は，出願人に対し，(5)に定める期限内に不備を更正するよう又は実験の結果がまだ伝達されていないことを確認するよう求める。出願人が当該求めに従わない場合は，植物品種仮保護を放棄したものとみなす。 - 特許庁

This system changeover test system for the duplex system having an active-system and a standby-system information processor has: a testing communication adapter different from a communication adapter performing communication in time of normal changeover generation inside the single information processor; and a system changeover control means performing the active-system or the standby-system changeover communication processing in a pseudo manner through the testing communication adapter.例文帳に追加

運用系と待機系の情報処理装置を持つ二重化システムの系切替試験システムにおいて、１台の情報処理装置内に通常切替発生時に通信を行う通信アダプタとは別の試験用通信アダプタと、その試験用通信アダプタを介して、運用系または待機系の切替通信処理を擬似的に行う系切替制御手段を有する。 - 特許庁

This automatic testing system 10 for a receiver device 20 for receiving a positioning signal has a simulation signal generating means for generating a simulation signal transmitted to the receiver device 20, based on a signal generation scenario, and a control means 44 for controlling the simulation signal generating means and the receiver device 20, based on an automatic test scenario, and for securing time synchronization as the whole automatic testing system.例文帳に追加

測位用信号を受信する受信装置２０の自動試験システム１０であって、受信装置２０に送信する模擬信号を信号生成シナリオに基づいて生成する模擬信号生成手段と、模擬信号生成手段及び受信装置２０を自動テストシナリオに基づいて制御し、かつ、自動試験システム全体の時刻同期を確保する制御手段４４と、を有する。 - 特許庁

The control device 20 of the IC testing device 1 performs a test time shortening processing by reading a test program 50 stored in an auxiliary storage device 10 and inputting the test program 50 to a time shortening device 22 in the control device 20 and stores it in a main storage device 21 in the control device 20.例文帳に追加

ＩＣ試験装置１の制御装置２０は、補助記憶装置１０に記憶されている試験プログラム５０を読み出した後、試験プログラム５０を制御装置２０内の時間短縮装置２２に入力することにより、試験時間短縮処理を行って、制御装置２０内の主記憶装置２１に格納する。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for inferring the test time of an integrated circuit device, capable of accurately inferring the test time necessary for testing the quality of the integrated circuit device.例文帳に追加

集積回路装置が良品であるか否かのテストに必要なテスト時間を推定する集積回路装置のテスト時間推定方法及び装置に関し、集積回路装置が良品であるか否かのテストに必要なテスト時間を正確に推定できる集積回路装置のテスト時間推定方法及び装置を提供する。 - 特許庁

In order to shorten the time required for testing overcharge detecting operation of an IC 1 for protecting a secondary battery test by shortening the delay time for overcharge detection by increasing the frequency of an oscillation circuit 7, a test control circuit 20 for increasing the level of a constant current determining the oscillation frequency of the oscillation circuit 7 is provided.例文帳に追加

２次電池保護用ＩＣ１の過充電検出動作のテスト時に、発振回路７の周波数を高くして過充電検出のための遅延時間を短縮し、テストに要する時間を短縮するために、発振回路７の発振周波数を決めている定電流の値を増加させるテスト用制御回路２０を設ける。 - 特許庁

The ozone sterilization testing equipment includes a hollow sterilization container 2, an ozone generator 3 for supplying ozone gas into the sterilization container, an ozone gas monitor 22 for measuring the concentration of ozone in the sterilization container and a CT value control means 21 for integrating the product of the concentration of ozone measured by the ozone gas monitor and predetermined time at each predetermined time.例文帳に追加

オゾン滅菌試験装置は、中空の滅菌容器２と、滅菌容器内にオゾンガスを供給するオゾン発生器３と、滅菌容器内のオゾン濃度を計測するオゾンガスモニター２２と、所定時間ごとにその間のオゾンガスモニターが計測したオゾン濃度と所定時間との積を積算するＣＴ値管理手段２１と、を有する。 - 特許庁

To quickly and flexibly narrow down any problematic operation and an object being the factor of the problematic operation without depending on the source code of an object mounted on a system and the hardware and OS of the system at the time of tracking an object being the factor of any problematic operation at the time of testing this system.例文帳に追加

システムの試験時に、問題となる動作を起こしたオブジェクトを追跡する場合において、システムに実装されたオブジェクトのソースコードおよびシステムのハード、ＯＳ等に依存せずに、問題となる動作および問題となる動作の原因となるオブジェクトの迅速かつ柔軟な絞り込みを可能とすること。 - 特許庁

In the testing method, the abrasion gage is mounted on test fixtures, a tape is positioned to adjust an overlapping angle in the end of the abrasion surface, desired tape tension, a speed, and operation time are selected, and the tape is run preferably in a single direction in effective contact with the abrasion surface for the desired operation time.例文帳に追加

テスト方法は、テスト治具に磨耗ゲージを装着し、テープを位置決めして磨耗表面の端部におけるオーバラップ角を調節し、所望のテープ張力、速度、及び動作時間を選定し、テープを所望の動作時間の間、磨耗表面と実効的に接触したまま、望ましくは単一方向に走らせる。 - 特許庁

In addition, oil removed from the transmission, after testing moves the oil pan is always stored at a fixed side to a lower part of the transmission to be fixed, and attachment and detachment of the oil pan adhering oil are enabled in a simple manner, in a short time.例文帳に追加

また、試験後の変速機からの油抜きも、常時固定側に収納されたオイルパンを変速機の下部に移動させて固定することで可能となり、油の付着したオイルパンの取り付け、取外しも短時間で簡単に可能となるものである。 - 特許庁

To improve the arithmetic precision of an equivalent operation in a control amplifier equivalence testing device for performing the same action as that at the time of driving an induction motor by a VVVF inverter, and for outputting an equivalent electric signal to the control amplifier of a VVVF inverter.例文帳に追加

ＶＶＶＦインバータで誘導電動機を駆動する時と同じ作用を行い、等価な電気信号をＶＶＶＦインバータの制御アンプに出力する制御アンプ等価試験装置において、等価動作の演算精度を向上させる事にある。 - 特許庁

In a material testing machine body 100, a load is applied to a specimen by a load device 101a, and a test force or a displacement at that time is detected by a load cell 101b and a displacement gage 101c, and the detection result is outputted to a control device 103.例文帳に追加

材料試験機本体１００は、負荷装置１０１ａによって供試体に負荷を与え、そのときの試験力あるいは変位量をロードセル１０１ｂおよび変位計１０１ｃで検出し、検出結果を制御装置１０３へ出力する。 - 特許庁

To precisely adjust an optical axis in a short time by precisely aligning the surfaces of an optical device and a package in a testing machine for an optical module used for an optical communication field and its optical- axis adjusting method.例文帳に追加

光通信分野に利用される光モジュール用試験機及びその光軸調整方法に関し、光デバイスのパッケージと光ファイバブロックとの面合わせを精度良く行い、光軸調整を精密に且つ、短時間で行うことを可能にする。 - 特許庁

To provide a testing and adjusting method for a microwave semiconductor device which shortens the time for electric characteristic measurement and adjustment by eliminating a screw-fixing process and matches characteristics in the adjustment with characteristics after sealing by ensuring electromagnetic shielding.例文帳に追加

ネジ止め工程を無くして、電気特性測定及び調整の時間を短縮させるとともに、電磁気シールドを確実にして、調整時の特性と封止後の特性を一致させることを可能にするマイクロ波半導体装置の試験調整方法を得る。 - 特許庁

In processes IV, V, a bar code of a component a is read in with bar code reading means 4d, 4e, and at the same time, a characteristics test is made with a characteristics testing means 7a, 7b, whose result is registered in the data base DB in coordination with an ID shown in the bar code.例文帳に追加

工程IV、Ｖでは、バーコード読取手段４ｄ，４ｅで部品ａのバーコードを読み取るとともに、特性検査手段７ａ，７ｂで特性検査を行い、その検査結果をバーコードで示されるＩＤに対応付けて、データベースＤＢに登録する。 - 特許庁

To provide a device and a method for testing a jitter transfer characteristic which can shorten a time for determining whether or not a measuring object 100 conforms to a predetermined jitter transfer characteristic mask.例文帳に追加

本発明は、測定対象１００が予め定められたジッタ伝達特性マスクに適合しているか否かの判定時間を短縮することのできるジッタ伝達特性試験装置及びジッタ伝達特性試験方法の提供を目的とする。 - 特許庁

To prevent shock on control mode switching and at the same time to prevent an actuator from starting operation unexpectedly immediately after the control mode switching even when an actuator drive signal generation means includes an integral element in a feedback control type material-testing machine.例文帳に追加

フィードバック制御式材料試験機において、アクチュエータ駆動信号発生手段が積分要素を含んでいる場合でも、制御モード切換時のショックを防止すると共に、制御モード切換直後にアクチュエータが意図しない動作を開始するのを防止する。 - 特許庁

To stably shorten the measurement waiting time generated due to dielectric absorption and to stably reduce a steady leakage electric current so as to improve the measurement accuracy of minute electric current and minute current fluctuation in a testing device for a semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウェハの試験装置における微少電流や微少な電流変動の測定精度を向上させるため、誘電吸収のために生じる測定待ち時間を安定に短くし、定常漏れ電流を安定に減少させる。 - 特許庁

To suppress the increase of the test time even if the number of chips on a wafer increases, differently from a conventional method of testing the chips on the wafer one by one and marking the chips to identify good/defective products or storing information about the good/defective products.例文帳に追加

ウェハー上のチップを１個ずつテストし、良品/不良品の識別が出来るようにマークをつけていくか、良品/不良品の情報を記憶していく従来の方式では、ウェハー上のチップ数が増えるに従ってテスト時間が増える。 - 特許庁

To obtain a hose-mounting tool in a hydraulic shock pressure-testing machine for easily changing the mounting angle of a hose, at the same time easily performing angle adjustment operation, and improving the accuracy of a hydraulic shock test.例文帳に追加

ホースの取付け角度の変更を容易に行うことが出来ると共に、角度調整作業も容易に行うことが出来、油圧衝撃試験の精度を向上させることが出来る油圧衝撃圧力試験機におけるホース取付け治具を提供する。 - 特許庁

To provide a transformation plastic coefficient testing device for measuring successively deformation of a test piece during a rapid cooling time by assuming rapid-cooling thermal treatment after heating a material, and identifying a transformation plastic coefficient from the deformation.例文帳に追加

材料を加熱した後に急速冷却する熱処理を想定し、急速冷却時の試験片の変形量を逐次測定可能とし、その変形量から変態塑性係数を同定することができる変態塑性係数試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device which shortens time required for a test or achieves flexible correspondence in accordance with a DUT, by generating a steeply-changing test signal or a mildly-changing test signal.例文帳に追加

急峻に変化する試験信号或いは緩やかに変化する試験信号を生成することができ、これにより試験に要する時間の短縮やＤＵＴに合わせた柔軟な対応を図ることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of improving yield of a semiconductor device, and saving the labor and the time required from start until finish of an interface test of the semiconductor device even when an abnormality occurs.例文帳に追加

半導体デバイスの歩留まりの向上を図ることができるとともに、異常が発生したときにおいても半導体デバイスのインターフェーステストを開始してから終了するまでにかかる手間と時間とを省くことができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To output the determined result of a test to the outside without increasing the number of pins to test a successive approximation type A/D converter mounted on an LSI, to execute the test of the A/D converter and the test of other circuits in parallel, and to shorten time for testing the LSI.例文帳に追加

LSI に搭載された逐次比較型A/D コンバータのテストを行なうためにピン数を増やすことなくテストの判定結果を外部へ出力し、A/D コンバータのテストを他の回路のテストと並行に実行でるようにし、LSI のテスト時間の短縮を実現する。 - 特許庁

With this, by a simple operation of plugging in the change-over plug into the bridge connector, the connection of the second electronic part and the first electronic part is cut off, and at the same time, a third electronic part such as a testing device can be connected there with the second electronic part.例文帳に追加

これによって、切替えプラグをブリッジコネクタに差し込む簡単な操作により、第２の電子部と第１の電子部との接続を切り離すと共に、そこに試験装置などの第３の電子部を第２の電子部と接続することができる。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus reads out all of the 5-bit from a one-time readout, from the storage positions of data storage sections 108a, 108b and 108c according to the constraint of the readout with a data arithmetic section 110 and performs determination processing of data with a determining section 111.例文帳に追加

そして、データ演算部１１０により読み出しの制限に従ってデータ格納部１０８ａ，１０８ｂ，１０８ｃの格納位置から１回の読み出しで５ビット全てのデータを読み出し、判定部１１１によりデータの判定処理を行う。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method by which every worker can produce a test piece having uniform quality without influence of his habitude and skillness, and bulk characteristics of material itself can be measured universally and objectively while suppressing increases of testing labor, time and cost.例文帳に追加

作業者の癖や熟練度に左右されず、誰でも容易に均一な品質の試験片を作製することができ、試験に必要な労力、試験時間、コストの増加を抑え、材料自体のバルク特性を示す普遍的で客観的な測定を行う。 - 特許庁

To provide an inspection method of an integrated circuit capable of surely testing a logic circuit in a short test time with a simple structure by applying it particularly to an integrated circuit of a large-scale logic circuit, in relation to a scan path circuit, an integrated circuit and an inspection method of an integrated circuit.例文帳に追加

本発明は、スキャンパス回路、集積回路及び集積回路の検査方法に関し、特に大規模論理回路の集積回路に適用して、簡易な構成により短いテスト時間で論理回路を確実にテストすることができるようにする。 - 特許庁

To accurately adjust the pressure of a proportional solenoid control valve in a short time independently of existence of an individual difference of the proportional solenoid control valve when testing a pressure control of the proportional solenoid control valve and to provide a device for the same method.例文帳に追加

比例電磁制御弁の圧力調整試験において、比例電磁制御弁の個体差の有無に関係なく短時間でかつ精度の高い比例電磁制御弁の圧力調整を行うこと及び、その装置の提供をすること。 - 特許庁

To provide a creep testing machine allowing a person to precisely know the point of time a test piece is actually loaded to a test piece and obtain precise data even for a material having a deforming characteristic sensitive to the loading of a resin or the like.例文帳に追加

試験片に対して荷重が実際に負荷される時点を正確に知ることができ、樹脂等の負荷に対して敏感な変形特性を有する材料にでも、正確なデータを得ることができるクリープ試験機の提供を課題とする。 - 特許庁

To provide a material testing device and an external output method for a measured load therein, capable of generating a sufficient processing time in a servo loop as far as possible, and of outputting a detected signal proportional to the load as far as possible.例文帳に追加

サーボループにおける処理時間に余裕を極力生じさせるとともに、負荷に極力比例した検出信号を出力することができる材料試験装置における計測負荷の外部出力方法および材料試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an edge signal generating apparatus reliably detecting generation errors of edge signals and easily analyzing the causes of errors of the edge signals in a short period of time, and also to provide a semiconductor testing apparatus provided with the apparatus.例文帳に追加

エッジ信号の発生エラーを確実に検出することができ、これによりエッジ信号のエラーの原因を短時間且つ容易に解析することができるエッジ信号生成装置、及び当該装置を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an electro-optical device and its test method, and electro-optical equipment, for easily testing an auxiliary wiring line at a low cost, and displaying a clear image for a long period of time without causing faults such as lighting unevenness.例文帳に追加

補助配線の検査を簡便かつ低コストにて行うことができ、点灯ムラ等の不具合が生じる虞が無く、鮮明な画像を長時間表示することができる電気光学装置及びその検査方法並びに電子機器を提供する。 - 特許庁

The testing device carrying out charge- or discharge testing for a sample includes first memory for sequentially overwriting oldest data with state information to execute loop recording if the state information acquired at given sampling time does not exceed a preset threshold value, and a second memory for sequentially recording state information if the state information exceeds a preset threshold value.例文帳に追加

試料に対して充電試験または放電試験を遂行する試験装置において、一定のサンプリングタイムで取得した状態情報が予め設定された閾値を超えない場合に、最も古いデータに対して状態情報を順次上書きしてループ記録する第一メモリと、状態情報が予め設定された閾値を超えた場合に、状態情報を順次記録する第二メモリとを備える試験装置とする。 - 特許庁

To determine an assembling sequence in a mixed production system, so as to eliminate delay of the start of a test due to the test sequence of a product to be tested and allocation to a testing device, and efficiently execute subsequent tests by increasing spare time of each test time even if any trouble occurs in the set test sequence.例文帳に追加

本発明の課題は、混流生産システムにおいて、試験対象の製品の試験順序、該当試験機への割り当て方による試験開始の遅延を無くし、また、個々の試験時間の空き時間を長くして、設定した試験順序でトラブル等が発生しても以後の試験を効率良く実行できるように設定することである。 - 特許庁

In a game machine, the winning probability of a variable display device for normal patterns is heightened associated with the variable probability state while the opening time of a normal role device is extended with the shortening of the variation time along with an increase in the frequency of opening and a testing connector which allows the outputting of signals outside the game machine is mounted on a game control board.例文帳に追加

確変状態に付随して普通図柄用可変表示器の当り確率が向上されかつその変動時間が短縮されるとともに普通電役の開放時間が延長されかつその開放回数が増加する遊技機において、信号を遊技機外部へ出力可能な試験用コネクタを遊技制御基板に取付ける。 - 特許庁

In the game machine, the winning probability of a variable display device for ordinary symbols is improved following the variable probability state while the time of opening an ordinary electric role device is extended along with the shortening of the variation time and the frequency of opening is increased and a connector for testing capable of outputting signals outside the game machine is mounted on the game control board.例文帳に追加

確変状態に付随して普通図柄用可変表示器の当り確率が向上されかつその変動時間が短縮されるとともに普通電役の開放時間が延長されかつその開放回数が増加する遊技機において、信号を遊技機外部へ出力可能な試験用コネクタを遊技制御基板に取付ける。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus 100 measures a matching time for each block and for each of a plurality of DUTs 90 that output test signals and calculates an optimal maximum match time for matching is obtained in a predetermined amount of blocks for each of the DUTs 90 in a predetermined number-th function test out of a plurality of number of times of tests.例文帳に追加

半導体試験装置１００では、複数回実行されるうちの所定回目のファンクションテストにおいて、試験信号を出力した複数の各ＤＵＴ９０毎、各ブロック毎のマッチ時間を計測し、所定量のブロックでマッチがとれるまでの最適マッチタイムアウト時間を各ＤＵＴ９０毎に算出する処理を行う。 - 特許庁

LIQUID PRESSURE CONTROL METHOD FOR MATERIAL TESTING DEVICE BY CAVITATION JET FLOW, MECHANISM FOR CONTROLLING PRESSURE INSIDE LIQUID TANK, JET PRESSURE CONTROL MECHANISM, MECHANISM FOR AUTOMATICALLY CONTROLLING PRESSURE INSIDE LIQUID TANK AND/OR JET PRESSURE, AND MECHANISM FOR SUPPLYING AND EXHAUSTING LIQUID INTO LIQUID TANK IN SHORT TIME例文帳に追加

キャビテーション噴流による材料試験装置の液体圧力制御方法、液体槽内圧力制御機構、噴射圧力制御機構、液体槽内圧力および／または噴射圧力の自動制御機構及び液体槽内への短時間液体給排機構 - 特許庁

An MPU 8 watches the state of an ejecting button 5 under the condition that a test compact disk is not loaded at startup, and when it is detected that the ejecting button 5 is pushed continuously or multiply within a prescribed period of time, the optical disk device 1 is laid under a testing operation.例文帳に追加

ＭＰＵ８は起動時にテスト用のコンパクトディスクが搭載されていない状態でイジェクト釦５の状態を監視し、所定時間内に連続又は多重にイジェクト釦５が押されたことが検出されると、光ディスク装置１は試験動作状態となる。 - 特許庁

A solder wettability testing apparatus comprises a holding member 3 inserted into an inner cylinder of a cylindrical component 2 and having a central hole 3a and a slit 3c provided as gassing passages so as not to store a gas of the flux in the component 2 at the time of dipping in the solder tank.例文帳に追加

筒状部品２の内筒に挿入されて当該部品を保持する保持部材３において、はんだ槽への浸漬時に筒状部品２の内部にフラックスのガスが溜まらないように、ガス抜き用通路としての中心孔３ａ、スリット３ｃを設ける。 - 特許庁