「testing time」に関連した英語例文の一覧と使い方(14ページ目) - Weblio英語例文検索

An in- communication detecting means 3b decides whether the network terminating device specified by the means 3a is in the middle of communication at that time and notifies it to a testing means 3c.例文帳に追加

通信中検出手段３ｂは、対象特定手段３ａによって特定された網終端装置がその時点において通信中であるか否かを判定し、試験手段３ｃに通知する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit testing device and a test method capable of shortening furthermore a time required for a burn-in test, and hereby reducing a manufacturing cost of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

バーンイン試験に要する時間を更に短縮することができ、ひいては半導体集積回路の製造コストを低下させることができる半導体集積回路試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an electron beam tester capable of testing an electric component with a simple structure and accurately positioning it in a short time in measuring a voltage waveform, and a test method for it.例文帳に追加

簡易な構成で電気部品の試験を行うことのできる、また、電圧波形測定における位置決めを正確且つ短時間で行うことのできる電子ビームテスタ及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To shorten, remarkably compared with hitherto, a time required for display of a response signal by applying to emulation of an integrated circuit by a logic circuit, concerning a testing device.例文帳に追加

本発明は、試験装置に関し、ロジック回路による集積回路のエミュレーションに適用して、応答信号の表示に要する時間を従来に比して格段的に短くすることができるようにする。 - 特許庁

To provide a hologram print tester in which a plurality of hologram images can be viewed at the same time from one observing direction, upon testing a hologram print in which different images emerge depending on the direction of sight.例文帳に追加

見る方向によって異なる像が浮かび上がるホログラム印刷を検査する際に、ひとつの視線方向から同時に複数のホログラム像を観察できるシンプルなホログラム印刷検査器を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device test module and its test method capable of testing a semiconductor device in a short time, while keeping reliability of the semiconductor device, without increasing the number of testers.例文帳に追加

テスタの台数を増加させることなくかつ半導体装置の信頼性を維持しつつ、短時間に半導体装置を試験する半導体装置試験モジュールおよびその試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can reduce a damage to a circuit under a pad at a wafer testing time without impairing bondability of a wire in a layout structure in which the circuit exists under the pad.例文帳に追加

パッド下に回路が存在するレイアウト構造において、ワイヤのボンディング性を損なうことなく、ウェハテスト時のパッド下回路へのダメージを減らすことのできる半導体装置を提供することにある。 - 特許庁

The testing machine 300 for pickup apparatuses 1, 2, 3 and 4 to test the durability of the pickup apparatuses 1, 2, 3 and 4, can test the durability of a plurality of pickup apparatuses 1, 2, 3 and 4 at the same time.例文帳に追加

ピックアップ装置１，２，３，４の耐久試験を実行可能なピックアップ装置１，２，３，４の試験機３００であって、複数のピックアップ装置１，２，３，４の耐久試験が同時に実行可能とされた。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and a method for testing the semiconductor device for accurately measuring the life of wiring at the time of evaluating the reliability of the wiring by an electromigration test.例文帳に追加

エレクトロマイグレーション試験により配線部の信頼性を評価する際に、配線部の寿命を正確に測定することができる半導体装置および半導体装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an optical pulse testing device for accurately analyzing events in a short time when simultaneously displaying waveform of loss distribution characteristics and analysis result of the events appearing on the waveform.例文帳に追加

損失分布特性の波形と波形上に現れるイベントの解析結果を同時に表示する場合に、短時間で精度よくイベントの解析を行うことが出来る光パルス試験器を実現する。 - 特許庁

To provide a preprocessing method for a semiconductor test program capable of shortening operation time as compared to a conventional program, and a semiconductor testing device equipped with a compiler for executing the preprocessing method.例文帳に追加

従来のプログラムに比べて動作時間を短縮可能とする半導体試験用プログラムの前処理方法および当該前処理方法を実行するコンパイラを備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The definitions of R50, R51 and R52 correspond to those of Acute 1, Acute 2 and Acute (GHS classification). However, the former differ from the latter in that Crustacea refers to Daphnia only, and that the testing time for algae is fixed at 72 hours.例文帳に追加

Ｒ５０、５１、５２の定義はそれぞれGHSの急性１、２、３に対応するが、甲殻類がミジンコ類に限られていること、藻類の試験時間が７２時間のみに決められていることがGHSと異なる。 - 経済産業省

To provide an environmental testing device capable of coping with each shape or quantity of various specimens, while shifting an environmental temperature to a set temperature in a short time corresponding to the shape or the like of the specimen.例文帳に追加

多様な供試体の形状や数量に対応可能としながら、供試体の形状等に応じて環境温度を短時間で設定温度に移行させることが可能な環境試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor element testing apparatus capable of improving test efficiently and reducing manufacturing costs by generating a constitution, which has been used for generating timing in a conventional apparatus, only by a time delay.例文帳に追加

従来装置においてタイミング生成のために使用した構成を時間遅延だけで生成し、テスト効率及び製造コストを低減することができる半導体素子のテスト装置を提供する。 - 特許庁

The comparison score calculating means 11, an LLR measuring section 14 and a threshold identifying section 16 perform hypothesis testing for each object, and output an identification result to which object each time-series data belongs to.例文帳に追加

比較スコア算出手段11、LLR測定部14および閾値識別部16は、各オブジェクトについての仮説検定を行い、各時系列データがどのオブジェクトのいずれに属するかの識別結果を出力する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device that is capable of executing, at high frequencies, a disturb test which requires a long time for testing, when a burn-in tester which can supply only clocks with low frequencies is used.例文帳に追加

低周波数のクロックしか供給できないバーンインテスタを用いた場合であっても、テストに長時間を要するディスターブテストを、高周波数で実行可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide an alarm of which sound volume, etc., of a voice output accompanying the testing and determining of the expiration or not expiration of the serviceable life time of the alarm can be arbitrarily controlled by a user.例文帳に追加

警報器の試験や耐用期間の経過有無の判定等に伴う音声出力の音量等を利用者が任意に制御等することができる警報器を提供することを課題とする。 - 特許庁

Therefore, a weight of a setting weight loaded into a car for setting a braking force of the hoisting machine is halved, so that labor and a working time for loading/unloading the setting weight in a braking action testing time can be reduced and braking force of the hoisting machine can be set easily.例文帳に追加

したがって、巻上機の制動力設定のためにかごに積み込む設定用おもりの重量が１／２となり、制動作用の検定時に設定用おもりをかごに積み込み、また撤去する作業の労力と作業時間が減少し巻上機の制動力設定を容易化する。 - 特許庁

To provide a piezoelectric transformer drive circuit for protecting a piezoelectric transformer from a short-circuitted state caused between a load and ground potential for some reason or a state of low load impedance during time-division light control and preventing incorrect judgement even if load impedance is high at the time of start, load opening, and high load impedance while limiting current testing specification is satisfied.例文帳に追加

時分割調光時に負荷が何らか理由でグランド電位と短絡された状態や負荷インピーダンスが低い状態に圧電トランスを保護し、限流試験規格を満足し、起動時、負荷オープン時、負荷インピーダンスが高い場合に誤判定をしない圧電トランス駆動回路を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit and its test method for preventing the deterioration of reliability due to any pad crack, by changing a test method for testing a wafer and the layers of pads to be connected at the time of test and the layers of pads to be used at the time of completing all processes in the middle of a metal diffusion process.例文帳に追加

メタル拡散工程の途中段階で、ウェハを試験するテスト手法及びテスト時に接続するパッドと全ての工程完了時に使用するパッドの層を変更し、パッドクラックによる信頼性劣化を防ぐ半導体集積回路およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To set the test condition of a material strength test reduced in the error of a test time by enabling setting a wide range of a well-balanced test condition without damaging the material characteristics due to an excessive temperature/stress test to perform correction, based on a short-time test result under the testing condition.例文帳に追加

過剰な温度・応力試験による材料特性を損なわないで、かつ広範囲でバランスの良い試験条件設定が可能となり、その試験条件で短時間試験結果により補正することで、試験時間の誤差が少ない材料強度試験の試験条件設定が可能となる。 - 特許庁

When an internal enable signal 13 is outputted from the PLL circuit 3 to the BIST circuit 5, a test at the actual operation speed is started, corresponding to the phase lock time of the PLL circuit mounted in each IC, thus preventing useless idle time during the self testing of function.例文帳に追加

ＰＬＬ回路３が内部イネーブル信号１３をＢＩＳＴ回路５に出力することにより、ＩＣ個々に搭載されるＰＬＬ回路の位相ロック時間に対応して実動作速度によるテストが開始されるので、自己機能テスト中に無駄な空き時間が発生しない。 - 特許庁

To provide a timer or the like for taking examination, capable of performing reexamination or correction of answers in a stage of the latter half of test time, while paying attention to the remaining time of a second unit by preparing the answers, while intuitively grasping a rough situation of progress, at the intermediate stage of the testing period.例文帳に追加

試験時間中盤の段階では大まかな進捗状況を直感的に把握しながら答案を作成でき、試験時間後半の段階では答案の見直しや修正を秒単位の残時間に気を配りながら行うこともできる受験用タイマー等を提供する。 - 特許庁

To provide colloid aqueous solution including defectless protein particles and usable instead of the human blood at the testing time of a medical tool or the like or at the experimental training time of a medical diagnosis action or the like, and model blood wherein the protein particles are allowed to simulate erythrocyte in human blood.例文帳に追加

医療用具等の試験、あるいは医療診断行為の実験実習などの際にヒトの血液の替わりに使用でき、欠点のないタンパク質粒子を含むコロイド水溶液、およびそのタンパク質粒子をヒト血液中の赤血球に擬した模擬血液を提供する。 - 特許庁

To provide a terminal resistance circuit capable of stabilizing the level of an input-output terminal at the input mode time, even when the input/output terminal unconnected to a testing terminal of an LSI tester exists, and reducing the through-current at the output mode time.例文帳に追加

ＬＳＩテスターのテスト用端子に接続されていない入出力端子が存在する場合であっても、入力モード時における、その入出力端子のレベルが安定し、出力モード時の貫通電流を低減させることができる終端抵抗回路を提供する。 - 特許庁

Thus, inter-task communication to synchronize devices is not needed any more, and because the time of the inter-task communication for one test cycle can drastically be reduced compared with the conventional testing method, data transfer quantity per unit time is increased and a high load can be given to the network.例文帳に追加

これにより、装置間の同期を取るためのタスク間通信の必要がなくなり、従来の試験方法と比較して、１テストサイクル中のタスク間通信の時間を大幅に減少させることができるので、単位時間あたりのデータ転送量が増加し、ネットワークに高い負荷を与えることができる。 - 特許庁

An operation content including all the input signals inputted to test equipment when a tester performs testing, an input time of day, and a time of day when the test has been performed by the test equipment is recorded as test data, their management table, and operation history every test ID, and is managed as a bug management database.例文帳に追加

テスターがテストを実施した際のテスト機器に入力された全ての入力信号と、入力された時刻と、テスト機器で実行された時刻を含む操作内容を、テストＩＤ毎に、テストデータと、その管理テーブルと操作履歴として記録してバグ管理データベースとして管理する。 - 特許庁

To provide a governor testing device, by which connection of an equipment, the analysis of data and the data reduction of a test result can be conducted easily in a short time, labor and a time can be reduced while an error on the reading of a measured data can be lowered and levelling for input conversion is made unnecessary.例文帳に追加

機器の接続やデータの解析および試験結果の整理が短時間にかつ容易にでき、労力と時間を削減できると共に、測定データの読み取り誤差を低減でき、入力換算のためのレベル調整が不要な調速機試験装置を提供する。 - 特許庁

In a pin electronics part 100 of this semiconductor testing device, when a control part 150 performs OFF-control of the semiconductor relay 130 at a time other than a test time of the DUT 180, ON-control of a relay 140 for direct current measurement is performed simultaneously even when the direct current measurement is not performed.例文帳に追加

半導体試験装置のピンエレクトロニクス部１００では、ＤＵＴ１８０の試験時以外において、制御部１５０が半導体リレー１３０をＯＦＦ制御すると、同時に直流測定を行っていない場合においても直流測定用リレー１４０をＯＮ制御しておく。 - 特許庁

The LSI tester and the test system for testing respective LSIs formed on a wafer is characterized by that the LSI tester is structured so as to forecast and calculate an ending time of measurement of all of the LSIs in real time every time the respective LSI tests are ended, and that the plurality of the LSI testers are connected by a network.例文帳に追加

ウェハ上に形成されている個々のＬＳＩのテストを行うＬＳＩテスタおよびテストシステムであって、全てのＬＳＩの測定が終了する時刻を個々のＬＳＩのテストが終了するごとにリアルタイムに予測算出するように構成されたＬＳＩテスタおよびこれら複数のＬＳＩテスタをネットワークで接続したことを特徴とするもの。 - 特許庁

To solve such a problems of a conventional radar testing device that a failure detection time is long because the test item order is determined in the descending order of MTBF(Mean Time Between Failure) values of components at the time of a test object design and therefore the test order reflecting a failure record in actual operation of the test body can not be selected.例文帳に追加

従来のレーダ用試験装置では、被試験体設計時の構成品のＭＴＢＦ（Ｍｅａｎ Ｔｉｍｅ Ｂｅｔｗｅｅｎ Ｆａｉｌｕｒｅ）値の降順にて試験項目順序を決定しており、被試験体の実運用における故障実績を反映させた試験順序を選択することができないため、故障検出時間が長い。 - 特許庁

In this semiconductor device testing device, a waiting time proportional to the stopping time of a device power source up to the application timing of power source to the auxiliary circuit and the device to be tested is generated from the application timing, and the test is started after the delay of this waiting time, whereby the influence of the jitter generated in the auxiliary device is removed.例文帳に追加

補助回路と被試験半導体デバイスに電源を印可したタイミングからその印可タイミングに至るまでにデバイス電源が停止していた時間に比例する待ち時間を発生させ、この待ち時間の遅延後に試験を開始させることにより補助回路で発生するジッタの影響を除去する構成とした半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a moving picture distribution testing device for testing video quality of each client in accessing a moving picture distribution server on a packet switching network at the same time, implementing simulation needing less calculation amounts for propagation of a defect by inter-frame reference, and simplifying inspection of a packet loss and a header so as to obtain video quality under conditions closer to actual conditions.例文帳に追加

パケット交換ネットワーク上の動画配信サーバに同時アクセスするときの各クライアントの映像品質を試験する装置において、フレーム間参照による欠損の波及を計算量の少ないシミュレーションで行い、パケット損失とヘッダ検査を簡易にして、より実際に近い条件で映像品質を求める動画配信試験装置を提供する。 - 特許庁

However, in particular fields, such as drug products, it takes a long time to conduct the testing and examinations etc. that are necessary for gaining the legally-mandated approvals etc. prescribed by the laws that are intended to ensure the safety of those products, which gives rise to the problem that while such testing and examinations are being conducted inventors cannot enjoy the benefits of the exclusive rights that they hold. 例文帳に追加

しかしながら、医薬品等一部の分野では、安全性の確保等を目的とする法律の規定による許可等を得るにあたり所要の試験・審査等に相当の長期間を要するため、その間はたとえ特許権が存続していても権利の専有による利益を享受できないという問題が生じている。 - 特許庁

To provide a method of a truncated life test capable of simply and quickly trial calculating the life level of the testing object even an unskilled person without generation of discrepancy of interpretation from the undamaged time while a part of the testing object are still subjected to the test without being damaged with high reliability in the truncated life test.例文帳に追加

打切り試験において、一部の試験対象品が破損することなく試験を継続している未破損時間から試験対象品のロットの寿命水準を、試験データの解釈の違いを引き起こすことなく、簡単かつ迅速に試算することができ、かつ信頼性の高いものとでき、熟練者でなくても試算できる方法を提供する。 - 特許庁

To provide a blood coagulation accelerant with surpassing stability coagulating any blood, even containing heparin, in a short time and a container for blood test favorably-used not only for normal blood testing but also for blood serum sampling in blood testing of an artificial dialysis patient or a thrombosis patient subject to heparin administration.例文帳に追加

血液、更にはヘパリンを含む血液であっても、短時間で凝固させるとともに、安定性に優れる血液凝固促進剤、及び通常の血液検査だけでなく、ヘパリン投与を受けている人工透析患者や血栓症患者の血液検査における血清の分取に好適に用いられる血液検査用容器を提供する。 - 特許庁

In signal output processing for testing, a CPU (central processing unit) outputs a game machine error state signal as a signal for testing when a prize ball delivery monitoring timer is in time-out, the value of an over delivery number storage counter exceeds a specified value, the value stored in a total prize ball count storage buffer exceeds a specified value or a delivery halt flag is set.例文帳に追加

試験用信号出力処理にて、ＣＰＵは、賞球払出監視タイマがタイムアウトしている場合、過剰払出数記憶カウンタの値が所定値を超えている場合、総賞球数格納バッファの格納値が所定値を超えている場合、あるいは払出停止フラグがセットされている場合に、遊技機エラー状態信号を試験用信号として出力する。 - 特許庁

To provide a testing device capable of executing, simply and surely, a permeability test of a coating film applied onto the surface of armoring material such as ALC or the like in an extremely short time without using consumables such as liquid, sealing material.例文帳に追加

ＡＬＣ等の外装材の表面に施された塗膜の透水試験を極めて短時間で、かつ液体やシーリング材等の消耗品を用いずに簡単かつ確実に実施し得る試験装置を目的とする。 - 特許庁

To provide a testing device, for a prescribed item with reference to an apparatus to be measured, by which a noise is detected in real time and at once and which can urge the early solution of a problem when a test result is affected.例文帳に追加

ノイズをリアル・タイムに、又即時に検知し、試験結果に影響が出てくる際には、問題を早期に解決することを促すことができる被測装置に対する所定試験項目の試験測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide an accelerated exposure testing method and apparatus capable of making the period of time required for a test shorter than if an accelerated exposure test is conducted by conventional artificial means.例文帳に追加

本発明は、従来の人工的手段による促進暴露試験の場合よりも、試験に要する期間（時間）を短縮できる促進暴露試験方法および促進暴露試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To surely make testing a printed circuit board generate pseudo-failures, by setting the printed circuit board in parallel to an arm efficiently in a short time, to reduce errors as far as possible.例文帳に追加

本発明は、短時間で効率的に、プリント回路基板とアームとを並行に設定し、誤差をできるだけ小さくすることよって、確実に擬似故障を発生させ、プリント回路基板の試験を行うことを目的とする。 - 特許庁

To solve problems that a multiple probe card for testing simultaneously several integrated circuits can not be used hitherto, and that thereby a test time of the integrated circuits is elongated, to increase an additional cost in a series of manufacturing processes.例文帳に追加

従来、いくつかの集積回路を同時に試験するための多重プローブカードの使用は不可能であり、これが集積回路の試験時間を延ばし、一連の製造工程における追加の費用を増大している。 - 特許庁

In this semiconductor testing device, the test condition of the receiving unit is set and changed in a timing relation where the generating time of the test pattern is synchronized with the timing of changing operation of each receiving unit for changing the test condition.例文帳に追加

試験パターンの発生タイミングと、試験条件の変更が行われる各受信ユニットの変更動作のタイミングとが同期したタイミング関係で受信ユニットの試験条件を設定変更する、半導体試験装置。 - 特許庁

To provide a bearing testing device capable of precisely reproducing the white exfoliation phenomenon of a bearing in a market, in a short time, and capable of optionally reproducing the white exfoliation of a rolling contact surface or a rolling element of the bearing.例文帳に追加

市場における軸受の白色はく離現象を短時間で的確に再現させるとともに、軸受の転動面や転動体に対して任意に白色はく離再現を可能とする軸受試験機を提供する。 - 特許庁

To provide structures and methods for emulation, simulation and tests, capable of shortening development time with superior observability, testability and controllability without having to use an expensive tester for testing or debugging a large-scale integrated circuit.例文帳に追加

大規模集積回路の試験やデバッグを行うために、高価な試験器を用いず、可観測性と試験性と制御性が優れ、開発時間の短縮が可能なエミュレーション、シミュレーション、試験の構造と方法を提供する。 - 特許庁