「testing time」に関連した英語例文の一覧と使い方(12ページ目) - Weblio英語例文検索

The required number of magnetic heads for testing can be mass-produced for a short time by performing the surface state reproducing step a plurality of times according to the number of descriptions of required reliability evaluation tests.例文帳に追加

表面状態再現工程を必要な信頼性評価試験の種類数に応じて複数回行えば必要な数の試験用磁気ヘッドを短時間で量産できる。 - 特許庁

In the trestle 2, a plurality of weather resistance-testing objects 9 and a plurality of solar cell modules 3 are installed side by side, and at the same time, the temperature-measuring instrument 4 and the moisture-measuring instrument 5 are installed.例文帳に追加

架台２には、複数の耐候性試験物９及び複数の太陽電池モジュール３を並べて設置するとともに、温度測定器４及び湿度測定器５を設置する。 - 特許庁

To provide a light stability-testing apparatus that has a reliable signal transmission means that is stable for a long time and a signal transmission mechanism having a large degree of freedom of installation.例文帳に追加

長期にわたり安定した信頼度の高い信号伝達手段を持ち、且つ設置の自由度の大きい信号伝達機構を有する光安定性試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an abrasion test method and an abrasion testing device allowing the abrasion quantity of an elastic body in indoor evaluation to correspond accurately to the abrasion quantity at an actual car traveling time.例文帳に追加

室内評価での弾性体の摩耗量を実車走行時の磨耗量に精度よく対応させることの可能な摩耗試験方法および摩耗試験装置を提供する。 - 特許庁

Testing time can be reduced because simultaneous reading and writing on all the memory modules, memory devices and memory units can be carried out by bypassing the memory identification information.例文帳に追加

前記メモリ識別情報を無視することにより、全てのメモリモジュール、メモリ装置、乃至メモリユニットに対して同時に読み込んで書き込むことができるので、テスト時間が減少される。 - 特許庁

To provide a testing apparatus and a method for opening, short circuit, a neck-down or inappropriate etching in which a trace is not brought into physical contact and is not excessively wasting time.例文帳に追加

トレースが物理的に接触されるものではなく、また過度に時間を費やすことのない開放、ショート、ネックダウンまたは不適切なエッチングのためのテスト装置および方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing cap used in a plurality of cases by changing the depth and the claw width of a water injection port even in different kinds of water injection ports, while used in a time when applying pressure from the water injection port of a radiator.例文帳に追加

ラヂエーターの注水口から圧力をかける時に用いて、異種の注水口でも、注水口の探さと爪幅を変化させて複数に利用できるテスト用キャップの提供 - 特許庁

To provide a high temperature high pressure reaction testing equipment in which a test can be efficiently carried out even when a high temperature high pressure reaction test is carried out under various kinds of conditions relating to the reaction time or the like.例文帳に追加

反応時間等の各種条件の高温高圧反応試験を行う場合であっても、効率よく実施することができる高温高圧反応試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a pathological condition examination apparatus for the coronary artery evaluating changes in the pathological conditions of microtubules of the coronary artery in real time using an image analysis by a noninvasive and monitoring exercise testing.例文帳に追加

非観血的で監視的な運動負荷試験による画像解析を用いて冠微小血管の病態変化をリアルタイムに評価できる冠動脈病態検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a ground fault protective relay system equipped with a capability of testing a ground fault direction relay having no danger of electric shock of an operator and capable of remarkably reducing a working time.例文帳に追加

作業員の感電の危険性がなくかつ作業時間の大幅な短縮を図ることができる地絡方向継電器の試験機能を備えた地絡保護継電器システムを提供する。 - 特許庁

To provide a testing device of an IC capable of shortening a test time of the IC having a detection circuit and a circuit for changing an output signal corresponding to an output signal of the detection circuit.例文帳に追加

検波回路と検波回路の出力信号に応じて出力信号を変化させる回路とを有するＩＣの試験時間を短縮するＩＣの試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a data driver whose operating test can be performed easily and surely at a manufacturing stage and also whose testing time can be shortened and a display device in which the driver is used.例文帳に追加

本発明は、製造段階において容易で確実な動作試験が行えると共に、試験時間を短縮することができるデータドライバ及びそれを用いた表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device for testing a bearing which generates static electricity without relying on external voltage and can check white detachment and which can also measure durable life in a short time.例文帳に追加

外部電圧に頼らずに静電気を発生させ白色はく離を確認できると共に、短時間で耐久寿命を測定できる軸受試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To significantly shorten the testing time, without having to perform metering (carrying) test from a metering initial value (all zero) up to overflow, in an electronic watthour meter that performs overflow test.例文帳に追加

オーバーフロー試験を行う電子式電力量計において、計量初期値（オール０）からオーバーフローまでの計量（桁上げ）試験を行うことなく、試験時間を大幅に短縮する。 - 特許庁

In advance of testing the semiconductor device, the relation between the noise quantity and the delayed time is determined by using an LSI 10 for evaluation having a delay measuring circuit 11 and a noise generating circuit 12.例文帳に追加

半導体装置の試験にあたって、遅延測定回路１１とノイズ発生回路１２とを有する評価用ＬＳＩ１０を用いて、ノイズ量と遅延時間の関係とを求めておく。 - 特許庁

To provide a method for testing a driving noise of road paving materials, which can measure the driving noise for a plurality of test samples of the road paving materials in a short time at low cost.例文帳に追加

複数の道路舗装材の試験サンプルに対して短時間で、かつ低コストで走行騒音の測定を行なえるようにした道路舗装材の走行騒音試験方法を提供する。 - 特許庁

To improve product yield by performing the optimization of temperature distribution on the surface of a metallic mold in a short time and fully excluding a testing shot process, when the metallic mold for casting is preheated.例文帳に追加

鋳造用金型を予熱する際の、金型表面の温度分布の最適化を短時間で行い、捨て打ち工程を完全に排除して、製品歩留まりの向上を図る。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit in which a determination can be made about a frequency of an output pulse of a class-D amplifier within a short required time while utilizing a semiconductor testing apparatus.例文帳に追加

半導体試験装置を利用して、短い所要時間でＤ級増幅器の出力パルスの周波数に関する判定を行うことが可能な半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

At the time of testing, a signal directing the test is inputted from the test signal input pin 205, and an edge detection circuit 211 detects the signal to latch signals inputted from respective input pins 102.例文帳に追加

テスト時にはテスト信号入力ピン２０５からテストを指示する信号が入力し、エッジ検出回路２１１がこれを検出して各入力ピン１０２から得られた信号をラッチする。 - 特許庁

To provide a controller of a material testing machine constituted so as to dispense with an operator at the time of the electrical calibration of the amplifier of a strain gauge type detector and capable of automating calibration.例文帳に追加

歪みゲージ式検出器のアンプの電気的校正に際してオペレータが介在する必要がなく、校正を自動化することのできる材料試験機の制御装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method of evaluating and testing polarity inverting ability of DC power equipment, by which the polarity inverting ability of DC power equipment can be evaluated easily and accurately, in a short time.例文帳に追加

短時間のうちに容易かつ正確に極性反転性能を評価することのできる直流用電力機器の極性反転性能評価試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of testing at desired timing a delay time or an operation speed of an internal circuit without being affected by a floating capacity or the like in a measuring system.例文帳に追加

測定系における浮遊容量等の影響を受けずに、内部回路の遅延時間又は動作速度を所望のタイミングで試験することができる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

To provide a digital line circuit testing system for a 2W multifunctional telephone set which makes a test for a digital line circuit for a 2W multifunctional telephone set to be unmanned and automated and shortens test time.例文帳に追加

２Ｗ多機能電話機用デジタルライン回路の試験の無人化、自動化、試験時間の短縮化を期す２Ｗ多機能電話機用デジタルライン回路試験方式を提供すること。 - 特許庁

To provide a grounding protective relay system equipped with a testing function of a grounding direction relay, capable of attaining a drastic reduction in the number of occurrences of grounding and a significant shortening of operation time.例文帳に追加

地絡発生回数の大幅な削減および作業時間の大幅な短縮を図ることができる地絡方向継電器の試験機能を備えた地絡保護継電器システムを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device easily applicable to various kinds of semiconductor tests and capable of reducing the production cost and dealing with the change in a measurement device in a short delivery time.例文帳に追加

多品種の半導体テストに容易に対応出来、生産コストを低減出来、測定デバイスが変更になった場合でも、短納期で容易に対応出来る半導体テスティング装置を提供する。 - 特許庁

To provide a component testing device capable of improving throughput on a test of an electronic component by shortening a time followed by exchange of the electronic component into a test socket.例文帳に追加

電子部品のテストソケットへの入れ替えに伴う時間の短縮化によって電子部品の試験にかかるスループットの向上を図ることのできる部品試験装置を提供する。 - 特許庁

To achieve a highly reliable test by enabling to test at the most suitable operating ratio to a circuit margin of an circuit to be tested with an excellent efficiency against an electric power source noise in a short testing period of time.例文帳に追加

電源ノイズに対応して効率良く、短い試験時間で、被検査回路の回路マージンに最適な動作率で試験を行うことを可能とし、信頼性の高い試験を実現する。 - 特許庁

For a burn-in test that energizes a semiconductor device 5 in a high-temperature atmosphere for a specific amount of time, the semiconductor device 5 is supplied to a substrate 4 for testing where a number of sockets 3 are arranged on an insulating substrate l.例文帳に追加

そのため、半導体装置を試験用基板に装着する前に実施しているが、少数の不良品のために全数短絡試験をすることは無駄であった。 - 特許庁

To provide a suction device for an electronic component testing device capable of ensuring a uniform pushing pressure at the time of pressing an electronic component to be tested in an adhered state by suction against the contact part of a test head.例文帳に追加

被試験電子部品を吸着した状態でテストヘッドのコンタクト部へ押し付ける際の押圧力を均一化できる電子部品試験装置用吸着装置を提供する。 - 特許庁

To prevent deviation of a wind test model from a wind tunnel measuring part, to mitigate restriction of a test range, and to reduce a transient phenomenon at the free flight shifting time, concerning a dynamic wind runnel testing device and a method.例文帳に追加

動的風洞試験装置及び方法に関し、風試模型の風洞計測部からの逸脱を防止し試験範囲の制限を緩和し、フリーフライト移行時の過渡現象を小さくする。 - 特許庁

To prevent an overvoltage from being applied to a load and facilitate wire connection work at the time of testing by detecting a state of phase interruption of a neutral line extending from a power source to a load connection point.例文帳に追加

電源から負荷接続点に達する中性線路の欠相状態を検出して、負荷への過電圧印加を防止すると共に、試験する際の結線作業を容易にする。 - 特許庁

To provide an AD converter measuring circuit capable of using an LSI tester that does not need a DC measuring unit to perform a test in short period of time in testing an AD converter.例文帳に追加

ＡＤコンバータのテストを行う際、ＤＣ測定ユニットを必要としないＬＳＩテスタを用いて短時間でテストを行うことを可能にするＡＤコンバータ測定回路を提供する。 - 特許庁

The BIST unit receives the selection commanding signal and outputs the enable signal, and at the same time, regulates the output voltage of the testing voltage source to a predetermined level, on the basis of the compared result.例文帳に追加

ＢＩＳＴ装置は選択指示信号を受信してイネーブル信号を出力にすると共に、比較結果に基づいてテスト電圧源の出力電圧を所定の電圧に調整する。 - 特許庁

To collect a series of test data from the start to the end of a test at a fixed sampling rate irrespective of length of testing time.例文帳に追加

試験時間の長さに関係なく、試験開始から終了までの試験データを、一定のサンプリングレートで収集することが可能な試験装置及び試験データの収集方法を提供する。 - 特許庁

To provide a redundancy opperating method and a redundancy opperating device capable of shortening a period of time needed for the failure recovery of a memory device, and to provide a memory testing device with the redundancy opperating device.例文帳に追加

メモリデバイスの不良救済に要する時間を短縮することができるリダンダンシ演算方法及び装置並びに当該装置を備えるメモリ試験装置を提供する。 - 特許庁

A data base containing data indicating the passing time of each wafer through each of a plurality of devices is prepared and whether or not each wafer has a certain kind of damage mark is discriminated by testing the wafers.例文帳に追加

データベースを作り、そのデータは各ウエーハが各複数台の装置を通過する時間を表して、複数個のウエーハをテストして、ウエーハがある種の損傷マークを有するかどうか判断する。 - 特許庁

This semiconductor integrated circuit 201 mounted on the board 100 comprises a normal circuit part composed of an internal logic part 113 and a circuit part 231 operating at the time of testing.例文帳に追加

基板１００に実装された半導体集積回路２０１は、内部ロジック１１３からなる通常の回路部分とテスト時に動作する回路部分２３１から構成されている。 - 特許庁

The water permeability comparing and experiencing device 3 makes it possible to compare the water permeability of respective testing devices by putting water into the two test devices D1, R2 and peeping the change rates by the water permeated with lapse of time.例文帳に追加

透水性比較装置は、２つの試験器D1,R2 に水をいれ、その水の経時的な透水による変化量を覗き見て各試験器の透水性を比較するようになされたものとする。 - 特許庁

An OTDR (Optical Time Domain Reflectometer) waveform is acquired for each wavelength with testing lights of wavelengths of λ1, λ2, ..., λn, and an OTDR waveform of reference light λ0 different from all of them is acquired.例文帳に追加

λ１，λ２，…，λｎの波長の試験光によりＯＴＤＲ波形を各波長ごとに得て、さらに、これらのいずれとも異なる基準光λ０のＯＴＤＲ波形を得る。 - 特許庁

To obtain a method for monitoring and testing plural output signals from a circuit to be tested at the same time without switching by using one pattern monitor circuit and plural data comparing circuits.例文帳に追加

一つのパターン監視回路と複数のデータ比較回路を使用することにより、被試験対象回路からの複数出力信号を切替えなしで同時に監視・試験する方法を得る。 - 特許庁

A test case may use mock objects to assist the testing, particularly if using a real object is difficult, time-consuming, or hard to generate. 例文帳に追加

特に、実際のオブジェクトを使用することが難しかったり、時間がかかったり、生成が困難であったりする場合、テストケースでは、テストに役立つモックオブジェクトが使用されることがあります。 - NetBeans

To achieve continuous operation for a long time of an environmental testing device in low humidity conditions, expansion of a low humidity region and energy saving while suppressing increase in the size of an installation space and cost.例文帳に追加

設置スペースの大型化及びコスト上昇を抑制しつつ、低湿条件での環境試験装置の長時間の連続運転、低湿度域の拡大、及び省エネを実現する。 - 特許庁

To provide a real time automatic monitoring control system for an artificial satellite test capable of performing data evaluation on a real time basis and improving safety/reliability for a ground test without requiring personnel involved in the ground test to go to the execution place for testing.例文帳に追加

地上試験に関わる人員が試験実施場所に赴むくことなく、リアルタイムでのデータ評価を行い、地上試験の安全性／信頼性の向上を図ることが可能な人工衛星試験リアルタイム自動監視制御システムを提供する。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for testing a cross point that can test path setting even during operation of the apparatus in a shorter time than that of a conventional test method where no test is available during operation of the apparatus and that takes much test time.例文帳に追加

装置の運用中にテストできず、相当の時間を要する従来のテスト方法に比べて、短時間で、しかも装置の運用中にもパス設定のテストを行うことができるクロスポイントスイッチのテスト方法及びテスト装置を提供する。 - 特許庁

To reduce the labor and time at the time of calibrating reference devices in respective sites without reducing precision in an IC test device capable of testing plural IC chips in parallel having the plural sites each including measurement units and measurement unit diagnostic reference devices.例文帳に追加

測定ユニットと測定ユニット診断用の基準器とをそれぞれ有するサイトを複数備え、複数のＩＣチップを並列して試験可能なＩＣ試験装置において、精度を下げずに、各サイトの基準器を校正する際の手間と時間とを削減する。 - 特許庁