「testing time」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a semiconductor tester capable of reducing the test time for testing pass/fail of multi-value output.例文帳に追加

この発明は、多値出力のパス／フェールを試験する試験時間を短縮した半導体試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a D/A converter and an operation testing method thereof that can shorten a test time without using a high-precision voltmeter.例文帳に追加

高精度な電圧計を使用することなくテスト時間の短縮を図ることができるＤ／Ａコンバータ及びその動作テスト方法を得る。 - 特許庁

To provide a digital circuit capable of testing a particular digital circuit module in a short time with a simple and small scale structure.例文帳に追加

簡単かつ小規模な構成で、特定のデジタル回路モジュールのテストを短時間で行えるデジタル回路を提供することを目的とする。 - 特許庁

A circuit for testing the access time of a clock synchronization type memory, includes a delay circuit 520, a sampling circuit 530 and a coincidence detection circuit 540.例文帳に追加

クロック同期式のメモリのアクセスタイムをテストする回路であって、遅延回路520と、サンプリング回路530と、一致検出回路540と、を備える。 - 特許庁

To provide an automatic gain control circuit, capable of shortening its adjustment and testing time and reducing its production cost to reduce the number of circuit components.例文帳に追加

回路構成部品の部品点数を削減し、その調整や試験の時間の短縮化を図るとともに、製造コストの低減を図る。 - 特許庁

To provide a device for testing semiconductor, capable of performing accurate measurement by executing relay-off operation with appropriate waiting time, after switching off the power.例文帳に追加

パワーオフ後に適切な待ち時間でリレーオフ動作を実行することにより、正確な測定が可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method by which DMA information of an optical disk is confirmed at the time of initialization which is not verified, and a testing device for performing the method.例文帳に追加

検証しない初期化時の光ディスクのDMA情報を確認する方法及びこれを行うためのテスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide a voice quality testing system, in which an ordinary user at any time can inexpensively, conveniently and speedily determine the quality of the line used.例文帳に追加

通常のユーザが、使用中の回線の品質をいつでも安価、便利、迅速に判定できる音声品質テストシステムの提供 - 特許庁

Thereby, adjustment time reduction and cost reduction are attained along with dispensing with an external complicated measuring instrument for testing or the like, and facilitating the recovery time measurement.例文帳に追加

これにより外付けの複雑な試験用計測器などを不要にでき、回復時間の測定を容易に行うことができるとともに、調整時間の削減及びコスト低減が可能となる。 - 特許庁

After the delay time is adjusted, an input signal for testing is inputted again, the comparison result data are read again from the comparison result register, and the delay time is confirmed after the adjustment.例文帳に追加

遅延時間が調整された後にテスト用入力信号を再度入力し、比較結果レジスタから比較結果データを再度読み出して、調整後の遅延時間を確認する。 - 特許庁

To reduce a manufacturing time for a semiconductor memory by suppressing increase of a testing time due to transfer processing of information of a defective memory cell to a buffer memory from a fail memory.例文帳に追加

フェイルメモリからバッファメモリへの不良メモリセル情報の転送処理に起因する試験時間の長時間化を抑制し、以って半導体メモリの製造時間の短縮化を図る。 - 特許庁

To provide a dynamic load-testing device for eliminating the need for incorporating a spindle unit into the machine and exchanging a work and for testing the dynamic load of a rotor extremely easily and economically, and at the same time performing the dynamic load test while a load is being applied for a long time.例文帳に追加

主軸ユニットの本機への組み込みやワークの交換が不要で、非常に容易に、かつ経済的に回転体の動的負荷試験を行うことができるとともに、長期間負荷を加えた状態で動的負荷試験をすることも可能な動的負荷試験装置を提供する。 - 特許庁

A dip switch 15 is provided on the control panel of a testing device 1 for testing a telephone switchboard 2, and a speaking time detecting part 11a detects the setting state of the dip switch 15, set by a person in charge of test and obtains 'speaking time' on a telephone line 2a on the basis of the detected result.例文帳に追加

電話交換機２を試験する試験装置１の操作パネルにディップスイッチ１５を設け、通話時間検出部１１ａが、試験担当者により設定されたディップスイッチ１５の設定状態を検出し、検出結果に基づいて、電話回線２ａにおける「通話時間」を求める。 - 特許庁

To provide a portable discarded water testing device which shortenes a time period necessary for water quality testing and discarding water in a discarded water pipe in a service water piping network, eliminates a wasteful amount of discarded water, and carries out water discarding work at a number of points in the service water piping network efficiently and in a short time.例文帳に追加

本発明は、水道配水管網の捨水配水管部における水質検査と捨水時間とを短縮して、無駄な捨水量をなくし多数の水道配水管網での捨水作業を効率的に短時間で行うことが可能な可搬型捨水検査装置を提供する。 - 特許庁

The device for inspecting solder material is equipped with a storage unit 14 where teacher data that a print processing time required for performing print processing by the use of a testing solder material is correlated with deterioration data on the testing solder material in the print processing time are previously stored, and a control unit 13.例文帳に追加

半田材検査装置は、試験用半田材を用いて印刷処理を実行したときの印刷処理時間と、上記印刷処理時間における試験用半田材の劣化度データとを対応付けた教師データを予め記憶した記憶部１４と、制御部１３とを備える。 - 特許庁

The second and third testing circuits may have respectively a plurality of testing elements provided electrically in parallel, a selection part for controlling each testing element in the on-state successively at the test time of the electronic device, and a discrimination information output part for outputting each terminal voltage of the testing element controlled in the on-state successively by the selection part as discrimination information of the electronic device.例文帳に追加

第２および第３のテスト用回路は、電気的に並列に設けられた複数のテスト用素子と、電子デバイスの試験時において、それぞれのテスト用素子を順次オン状態に制御する選択部と、選択部が順次オン状態に制御したテスト用素子のそれぞれの端子電圧を、電子デバイスの識別情報として出力する識別情報出力部とを有してよい。 - 特許庁

To provide a service life testing device capable of easily measuring a service life characteristic of electric equipment, insulation material or the like in a short time.例文帳に追加

電気機器あるいは絶縁材料など寿命特性を容易に、かつ、短時間で計測することのできる寿命試験装置を提供する。 - 特許庁

To shorten the time required for testing a plurality of circuit modules by reducing the volume of test data and test results data being inputted/ outputted externally.例文帳に追加

複数個の回路モジュールをテストするのに外部と入出力するテストデータ及びテスト結果データの量を減らし、テスト時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a whisker evaluating method capable of accelerating the occurrence and growth of whiskers to shorten an evaluation time, and testing equipment for evaluating the whiskers.例文帳に追加

ウィスカの発生及び成長を促進して評価時間を短縮できるウィスカ評価方法及びウィスカ評価用試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a crash testing device and a crash test method for an automobile body capable of performing a crash test while measuring acceleration applied to a vehicle compartment at a collision time.例文帳に追加

衝突時の車室に作用する加速度を計測しながら衝突試験を行うことができる衝突試験装置を提供する。 - 特許庁

To realize a high speed operation without using any memory whose access time is fast or any high speed element in the sequence control circuit of a semiconductor testing device.例文帳に追加

半導体試験装置のシーケンス制御回路において、アクセス時間の速いメモリや高速素子を用いることなく高速動作を可能にする。 - 特許庁

To provide an erase function testing method of a semiconductor nonvolatile memory executing the erase function test in sector units in a short time.例文帳に追加

セクタ単位での消去機能の試験を短時間で実行することができる、半導体不揮発性メモリの消去機能試験方法を提供する。 - 特許庁

This direct-current testing device has a power amplifying circuit 130 for supplying a current to DUT at the current application voltage measuring time.例文帳に追加

直流試験装置は、電流印加電圧測定時にＤＵＴに対して電流を供給する電力増幅回路１３０を有している。 - 特許庁

To reduce an electric current consumption in an operation time of an electronic circuit caused by a test module for testing the electronic circuit.例文帳に追加

電子回路を試験する試験モジュールに起因する電子回路の動作時の電流消費を低減する方法およびデバイスを提供すること。 - 特許庁

To provide a method capable of performing the reliability test of a joint part of an electronic part with a short testing time and a small number of samples.例文帳に追加

試験時間が短く、かつ少ないサンプル数で電子部品の接合部の信頼性試験を行うことが可能な方法を提供する。 - 特許庁

To verify the operation of a semiconductor integrated circuit device efficiently in a short time by verifying the operation of an IP itself by a testing program.例文帳に追加

テスト用プログラムによってＩＰそれ自体の動作検証を行い、短時間で効率よく半導体集積回路装置を動作検証する。 - 特許庁

The fire receiver has a communication part 13C for transmitting the fire signal to a WWW serer 30 through the Internet 9 at the time of testing.例文帳に追加

火災受信機は、試験時に火災信号をインターネット網９を介してＷＷＷサーバ３０に送信する通信部１３Ｃを有する。 - 特許庁

To perform operational test for a rectifier type current-limiting interruptor simply and in a short time without preparing for a dedicated testing place.例文帳に追加

整流器型限流遮断装置の動作試験を、専用の試験場を用意したりすることなく、簡単かつ短時間に行えるようにする。 - 特許庁

To provide a reading comprehension testing method and device with which the document reading comprehension of a human being can be measured in a short time and with high accuracy.例文帳に追加

人間の文書読解力を、短時間かつ高精度に測定することを可能とする読解力試験方法及び装置の提供。 - 特許庁

This LSI comprises an external terminal 21 for inputting a wait signal MWAIT from a testing device to be connected at the time of the high-speed test.例文帳に追加

高速試験を行うときに接続する試験装置から、ウエイト信号ＭＷＡＩＴを入力するための外部端子２１を設ける。 - 特許庁

To provide a penetration testing machine capable of preventing damage of a part at dividing/assembling time, by simplifying a connecting part structure of respective block elements.例文帳に追加

各ブロック要素の連結部分構造が簡単で、かつ分割・組立時における部品の損壊を防止できる貫入試験機の提供。 - 特許庁

To accelerate a test concerning a memory to be tested by shortening time for testing concerning each bit included in the memory cells of the memory to be tested.例文帳に追加

被試験メモリのメモリセルに含まれる各ビットに関する試験時間を短縮し、被試験メモリに関する試験を高速化することができる。 - 特許庁

To provide an indicator testing device capable of performing a test optionally in a short time without dismounting indicators mounted on a monitoring board.例文帳に追加

監視盤に取付けてある指示計を取外さずに、任意に短時間で試験を行うことを可能とした指示計試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory testing apparatus for shortening a time required for retrieving a singular cell such as a defective cell or the like included in a semiconductor memory.例文帳に追加

半導体メモリに含まれる不良セル等の特異セルの検索に要する時間を短縮できる半導体メモリ試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a wear-testing apparatus that can test wear using a general environmental bath and at the same time can be carried easily.例文帳に追加

一般の環境槽を用いて摩耗試験を行うことができるとともに、容易に運搬することができる摩耗試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus that reduces a maximum matching time, improves the overall efficiency of a test, and reduces a cost.例文帳に追加

マッチタイムアウト時間を短縮して試験全体の効率の向上を図るとともに、コストの低減を実現した半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of preventing breakage of a test object, while clarifying an exchange time of a mechanical relay.例文帳に追加

機械式リレーの交換時期の明確化を図りつつ、被試験対象の破壊を防止することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory element and a semiconductor memory device that are designed for shortening the time necessary for testing a plurality of semiconductor memory elements.例文帳に追加

複数の半導体記憶素子の試験に要する時間の短縮を図った半導体記憶素子および半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

RING OSCILLATING CIRCUIT, DELAYED TIME MEASURING CIRCUIT, TEST CIRCUIT, CLOCK SIGNAL GENERATING CIRCUIT, IMAGE SENSOR, PULSE GENERATING CIRCUIT, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

リング発振回路、遅延時間測定回路、テスト回路、クロック発生回路、イメージセンサ、パルス発生回路、半導体集積回路、及び、そのテスト方法 - 特許庁

To provide a software test system testing target software in a short time at a low cost with improved reliability.例文帳に追加

ソフトウェアを短時間にしかも安価でテストすることができ、そして、信頼性を向上させたソフトウェアテストシステムを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a device and a method for testing a bearing, capable of reproducing brittle separation caused by hydrogen brittleness, in a short time and with precision.例文帳に追加

水素脆化に起因する脆性剥離を短時間で的確に再現できる軸受試験装置と軸受試験方法を提供することである。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of testing, in a short time, whether a delay circuit corresponding to a prescribed register value functions in normal manner.例文帳に追加

所定のレジスタ値に対応する遅延回路が正常に機能するか否かを短時間にテストできる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

At the time of testing, an LSI conveyer 1 chucks the LSI 2 to be tested to carry it to the LSI socket 3 and attaches it to the LSI socket 3.例文帳に追加

テスト時には、ＬＳＩ搬送機１が被試験ＬＳＩ２を吸着してＬＳＩソケット３まで運搬しＬＳＩソケット３に装着する。 - 特許庁

To provide an automatic wiring board system that can decrease a waiting time for test connection and select a matrix board connected to a testing apparatus.例文帳に追加

本発明は、試験接続待ち時間を短縮させることと、試験機と接続させるマトリックスボードを選択できるようにすることを目的とする。 - 特許庁

To provide a time domain reflection factor meter-testing device that is easy to manufacture, is inexpensive, and can test a matching impedance test point.例文帳に追加

製造が容易で安価な整合インピーダンス試験点の試験ができる自動化された時間領域反射率計試験装置を提供する。 - 特許庁