「testing time」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

To reduce a testing cost and a manufacturing cost, by reducing a testing time in a device having a transmission/reception function like the physical layer of an IEEE 13394 interface.例文帳に追加

ＩＥＥＥ１３９４インターフェースの物理層デバイスのように送受信機能を有するデバイスにおいて、テスト時間を短縮し、テストコスト及び製造費用の低減を図ること。 - 特許庁

To provide a method for testing semiconductor devices, which suppresses an increase in the time required for simultaneously testing multiple semiconductor devices on a semiconductor wafer by using a probe card.例文帳に追加

半導体装置の試験方法について、プローブカードを使用して半導体ウエーハ上の複数の半導体装置を同時に試験する時間の増加を抑制すること。 - 特許庁

To provide a testing method of a display device, which is capable of accurately predicting a lifetime of a pixel in a short time, a display device, a testing instrument of the display device, and an electronic apparatus.例文帳に追加

短期間で、画素の寿命を正確に予測することの可能な表示装置の検査方法、表示装置、表示装置の検査装置及び電子機器を提供する。 - 特許庁

To provide a compressor performance testing device to serve for an operating characteristics test of a centrifugal or an axial flow type compressor capable of enhancing the testing accuracy and decreasing the test time.例文帳に追加

遠心力式又は軸流式圧縮機の動作特性試験における試験精度の向上と試験時間の削減を図った圧縮機性能試験装置を提供する。 - 特許庁

To reduce time and cost relating to the testing process by improving the uniformity and the precision of the burn-in test conditions and widening the testing items executable during a burn-in test.例文帳に追加

バーンイン試験条件の均一性と精度を高め、バーンイン試験中に行うことのできる試験項目の幅を広げ、検査工程に係る時間と費用を削減する。 - 特許庁

In the thermal shock testing device 1, the sample W is exposed under the testing environment over a prescribed exposure time counted from a time point with the lapse of the difference time, after the detection temperature by the environment temperature detecting sensor 9 reaches the prescribed set temperature, in an objective test.例文帳に追加

冷熱衝撃試験装置１は、本試験において、環境温度検知センサ９の検知温度が所定の設定温度に到達した後、差異時間が経過した時点から所定の晒し時間にわたって試料Ｗを試験環境下に晒す。 - 特許庁

To provide an inexpensive and durable electronic part testing device for accurately controlling the temperature of an electronic part even when the electronic part self-heats at the time of test, and for testing the electronic part at a desired testing temperature.例文帳に追加

試験時に電子部品が自己発熱しても、電子部品の温度を正確に制御し、所望の試験温度にて電子部品を試験することができ、しかも安価で耐久性に優れた電子部品試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a testing method and a testing circuit, which enable the user to perform the test of ADC in a time shorter than that in conventional ones, without using a high-precision, high-resolution, and expensive analog voltage generating circuit for an ADC testing circuit.例文帳に追加

ＡＤＣの試験回路に高精度かつ高分解で高価なアナログ電圧発生回路を用いることなく、従来と比較して短時間でＡＤＣの試験を行うことができる試験方法および試験回路を提供する。 - 特許庁

To provide a parts testing device and a parts testing method capable of shortening the rising time of a tester by achieving the shortening of the temperature rising or falling time in a test chamber and easy in maintenance.例文帳に追加

試験用チャンバ内における昇温または降温時間の短縮を図り、試験装置の立ち上がり時間を短くすることが可能であり、しかも、メンテナンスが容易な部品試験装置および試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an environmental testing device capable of prolonging the time, when there is condensation, or controlling to some extent, the time condensation is generated.例文帳に追加

結露が存在する時間を長期化したり、結露が生じる時間をある程度制御することができる環境試験装置を提供する - 特許庁

The transmission path 18 is formed on a scribe line 19, and a testing circuit is disconnected at the time of separating a wafer.例文帳に追加

伝送線路１８は、スクライブ線１９上に形成し、ウエハを切り離す際に試験回路を切断する。 - 特許庁

To provide a method for surely testing a memory terminal in a very short period of time.例文帳に追加

極めて短時間に、メモリ端子の不良を確実に検査することができる方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a testing handler capable of shortening the length of a soaking chamber and a preheating/precooling time therefor, and an operation method therefor.例文帳に追加

ソークチャンバーの長さ及び予熱／予冷時間を短縮し得るテストハンドラー及びその作動方法を提供する。 - 特許庁

To provide a system and a method of substrate inspection for testing mounting condition of an IC chip onto a substrate in a short time, based on objective criterion.例文帳に追加

基板へのＩＣチップの実装状態の検査を、客観的基準に基づいて短時間で実施する。 - 特許庁

The application of the wettability testing liquid and the measurement of the repelling area after the passage of the preset time are repeated for every unit area.例文帳に追加

単位面積毎に濡れ性試験液の塗布と所定時間経過後にはじいた面積の測定を繰り返す。 - 特許庁

To provide a measuring method for hysteresis circuit capable of accurately testing a hysteresis circuit in a short time.例文帳に追加

ヒステリシス回路を短時間で且つ高い精度でテストすることができるヒステリシス回路測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a non-volatile semiconductor memory for testing bit-line leakage with high precision in a short time period.例文帳に追加

ビット線リークを短時間で精度良くテストすることができる不揮発性半導体記憶装置を実現する。 - 特許庁

Though testing isn't difficult to do, it can be annoying and time consuming if you want to use many untested 64-bitapplications.例文帳に追加

Gentooをインストールするために、このインストールCDを使用できますが、常時接続のインターネット環境がある場合だけです。 - Gentoo Linux

To measure the amount of wear of a coating material in vacuum accurately in real time in a coating material-testing device.例文帳に追加

コーティング材試験装置において、真空中でコーティング材の摩耗量をリアルタイムで正確に計測すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor test system capable of improving the testing efficiency by shortening the time in wasteful standby state.例文帳に追加

無駄な待機状態を短縮することによりテスト効率を改善できる半導体テストシステムを実現すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of performing changeover of a testing mode, in a short time.例文帳に追加

本発明は、試験モードの切り替えを短時間で実行可能な半導体装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a system for testing a tire using an algorithm for analyzing fluctuation of a representative parameter time-serially.例文帳に追加

経時的に代表的なパラメータの変動を分析するアルゴリズムを用いてタイヤを試験するシステムを提供する。 - 特許庁

To easily evaluate a damage or the like generated in an inside of a water cooled hole in a short time, using a testing object.例文帳に追加

水冷孔の内部で発生する損傷等の評価を、試験体を用いて簡易かつ短時間で行なう。 - 特許庁

To provide a portable telephone tester capable of absorbing dead time spent before position registration processing from a start time of a portable telephone, thereby attaining a high-speed testing.例文帳に追加

携帯電話機の起動時間から位置登録処理までに要するデッドタイムを吸収し、高速のテストを可能とする携帯電話テスターを実現する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device reducing overhead time and reducing test time, by reducing the traffic of a command of a system bus.例文帳に追加

システムバスのコマンドの通信量を軽減することでオーバーヘッド時間を短縮し、試験時間を短縮することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To obtain a semiconductor device, in which the optimal drive performance can be selected at testing and at normal usage time, to realize low power consumption at normal usage time.例文帳に追加

テスト時と通常使用時で最適なドライブ能力を選択でき、通常使用時に低消費電力化を図る半導体装置を得ることである。 - 特許庁

Each testing measuring apparatus has a time delay of communication from an output part to the hub, which is approximately similar to a time delay of communication from the hub to an input part.例文帳に追加

各試験測定機器は、ハブから入力部までのコミュニケーションの時間遅延にほぼ類似の出力部からハブまでのコミュニケーションの時間遅延がある。 - 特許庁

To provide a system for testing a plurality of optical fiber lines in telecommunication using OTDR (optical time-domain reflectometry), in particular, a PON (passive optical network) type system therefor.例文帳に追加

本発明は、ＯＴＤＲ（Optical Time-Domain Reflectometry）を用いて、長距離通信における複数の光ファイバラインを試験するシステム、特に、ＰＯＮ（Passive Optical Network）タイプのシステムに関する。 - 特許庁

To shorten a designing time and a testing time by using arranging name in data used in a weighing control operation and fixing a weighing control operation program.例文帳に追加

秤量制御演算で使用するデータに配列ネームを用い、秤量制御演算プログラムを固定化させることにより設計時間、試験時間を短縮する。 - 特許庁

At the time of performing an arithmetic operation by an electronic circuit in an equivalence testing device, an Euler method and a backward Euler method are alternately performed in each micro-sampling time interval ΔT.例文帳に追加

等価試験装置内の電子回路による演算を、微小サンプリング時間間隔ΔT毎にオイラー法と後退オイラー法を交互に行うものである。 - 特許庁

To shorten the test time without using an expensive tester at the time of testing a semiconductor storage device.例文帳に追加

半導体記憶装置の検査を行うに際し、高価なテスターを用いることなく検査時間の短縮を図ることができるようにすることを目的とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of shortening a test time by shortening an overhead time generated by using a software.例文帳に追加

ソフトウェアを用いることで発生するオーバーヘッド時間を短縮することにより、試験時間を短縮することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To correct the loading effect not by the presence or absence of a circuit pattern or by its shape, but only by one-time film formation testing, and per 25 sheets of tested wafers or fewer, at a time.例文帳に追加

回路パターンの有無や形状によらず、テスト成膜１回のみで、且つテストウエハの枚数を２５枚程度以下で、ローディング効果を補正可能とする。 - 特許庁

To increase a generation voltage in a finish time point of a ramp-up time up to a reference generation voltage, even in a loading time, in an insulation withstand voltage testing device having a ramp-up function.例文帳に追加

ランプアップ機能を有する絶縁耐圧試験装置において、有負荷時においてもランプアップ時間の終了時点で発生電圧を基準発生電圧にまで上げることを可能とする。 - 特許庁

To provide a testing apparatus to perform DNA testing by a real-time PCR method by flowing a reaction solution containing nucleic acids through a flow channel and effective for reducing the deterioration such as fading of fluorescent label during the test.例文帳に追加

核酸を含む反応溶液を流路内に流しながらリアルタイムPCR法によりDNA検査を行う検査装置において、検査中の蛍光標識の退色などの劣化を低減させる。 - 特許庁

To acquire highly-reliable test result efficiently in a time and a cost, when testing the relation between irradiance and aging deterioration of a sample in a weather/light resistance testing device.例文帳に追加

耐候光試験装置において、放射照度と、試料の老劣化の関係を試験する場合に、時間的、費用的に効率よく、しかも信頼性の高い試験結果を得られるようにすること。 - 特許庁

To enable semiconductor testing to be performed at a desired low-speed rate time length and cycle ratio by means of a semiconductor testing device equipped with a high-speed pattern generator and a low-speed pattern generator.例文帳に追加

高速パターン発生器と、低速パターン発生器とを備えた半導体試験装置で、希望する低速レート時間長とサイクル比とで半導体試験を行なえるようにする。 - 特許庁

To provide a testing device and a type-switching method capable of shortening a type switching operation time of a device, in testing of the semiconductor device under a low-temperature environment.例文帳に追加

低温環境下での半導体デバイスの試験における該デバイスの品種切替作業時間を短縮させることができる試験装置及び品種切替方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a power line artificial ground fault testing system and a power line artificial ground fault testing method having no danger of electric shock of an operator and capable of remarkably reducing a working time.例文帳に追加

作業員の感電の危険性がなくかつ作業時間の大幅な短縮を図ることができる配電線人工地絡試験装置および配電線人工地絡試験方法を提供する。 - 特許庁

To automatically prepare coordinate data about a part with an especially high part mounting density on a base board to reduce the testing man- hours as a whole, and to increase the testing precision at the same time.例文帳に追加

特に基板の部品実装密度の高い部分について座標データを自動的に作成することにより全体の検査工数を削減すると共に検査精度を向上させる。 - 特許庁

To enable a tester to arbitrarily change testing conditions except the fixed code transmitting-receiving condition specified by an exchange at the time of testing a multiple-frequency encoder used for the exchange.例文帳に追加

交換機に使用される多周波符号器の試験を、交換機が規定している固定の符号送受信条件以外に、試験者が任意に条件を変動させて行えるようにする。 - 特許庁

To provide a method for testing waterproofness, which is compatible with testing the waterproofness in a liquid such as water and lightening the correction work at the time that the bad waterproofness is detected.例文帳に追加

水等の液体中で防水性を試験することと、防水不良検出時の修正作業の軽減を図ることを両立することができる防水試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an intermittent energization testing device, an intermittent energization testing method, and a heat generating electronic device, which can save power supply and a wire rod cost, and shorten time of a test cycle.例文帳に追加

電源と線材コストを抑え、かつ試験サイクルの時間を短縮することができる断続通電試験装置、断続通電試験方法、および発熱電子デバイスを提供する。 - 特許庁

(b) Programs for testing aerial vehicle gas turbine engines or components thereof, and designed to collect, process and analyze the data in real time and also execute feedback control during testing 例文帳に追加

ロ　航空機用ガスタービンエンジン又はその部分品の試験のためのプログラムであって、実時間でデータを収集、処理及び解析し、かつ、試験中にフィードバック制御を行うように設計したもの - 日本法令外国語訳データベースシステム

A wettability testing liquid such as a colored wettability testing liquid is applied to the seal edge portion SE of a panel glass 1a of a cathode ray tube for measuring an area out of a total applied area, where the wettability testing liquid is repelled after the passage of a preset time after application.例文帳に追加

陰極線管のパネルガラス１ａのシールエッジ部ＳＥに、着色された濡れ性試験液などの濡れ性試験液を塗布し、塗布部分の面積のうち、塗布から所定時間経過後において濡れ性試験液をはじいた面積を測定する。 - 特許庁