「testing time」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a device for testing, capable of reducing time necessary for clearing an address fail memory (AFM).例文帳に追加

ＡＦＭのクリア処理に要する時間を低減することができる試験装置を提供する。 - 特許庁

To ameliorate time coordination between bolus infusion and the start of measurement by using a radiation testing apparatus.例文帳に追加

ボーラス注入と放射線検査装置による測定の開始との時間的協調を改善する。 - 特許庁

To provide a deterioration testing device capable of executing a highly-accurate deterioration test in a short time.例文帳に追加

短時間に高精度の劣化試験を実施することができる劣化試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing a visual field, which is easily operated and shortens inspection time greatly.例文帳に追加

実施が簡単であり、検査時間を大きく短縮した視野検査のための方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method capable of reducing the time required until the rupture of a separator.例文帳に追加

セパレータの破裂までに要する時間を短縮する事が可能な試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device inspecting apparatus capable of testing a semiconductor device for a short test time.例文帳に追加

短いテストタイムで半導体装置の試験ができる半導体装置試験装置を提供する。 - 特許庁

SYSTEM FOR TESTING TIRE USING ALGORITHM FOR ANALYZING FLUCTUATION OF REPRESENTATIVE PARAMETER TIME-SERIALLY例文帳に追加

経時的に代表的なパラメータの変動を分析するアルゴリズムを用いてタイヤを試験するシステム - 特許庁

At the current time, most model testing and validation studies must rely on a limited data base.例文帳に追加

現在，たいていのモデルの試験・確証研究は，限定されたデータベースに頼らなくてはならない。 - 英語論文検索例文集

To shorten the inspection time required for acceleration test at the time of testing a semiconductor integrated circuit including a novolatile memory element.例文帳に追加

不揮発性記憶素子を含む半導体集積回路の試験において、加速試験に要する検査時間を短縮させる。 - 特許庁

To provide a data transfer circuit and a semiconductor testing device equipped therewith which are capable of significantly reducing the waiting time during the semiconductor testing, and performing arithmetic operation processings on the data for testing which are now measured during the testing period.例文帳に追加

本発明は、半導体試験における待ち時間を大幅に削減し、かつ試験中に現在測定している試験のデータの演算処理を行うことができるデータ転送回路、およびこれを備えた半導体試験装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a normality testing method and a normality testing device capable of easily confirming a phase error and the stepping state of a built-in clock of a new time signal guide device to Japan Standard Time.例文帳に追加

新時報案内装置の内蔵時計の日本標準時に対する位相誤差および歩進状態を簡単に確認し得る正常性試験方法および正常性試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method for a semiconductor device, in which the setup time and the loading time can be measured irrespective of a skew accuracy among the pins of an LSI tester, and to provide a loading board suitable for the testing method.例文帳に追加

ＬＳＩテスタのピン間スキュー精度によらずセットアップ時間、ホールド時間の測定を可能とした半導体デバイスの試験方法及びこの試験方法に好適なロードボードを提供する。 - 特許庁

Further, a junction temperature Tj at the time of testing is obtained by a formula of (Tj (tch)) = Ta + thermal resistance × Power) from the temperature Ta at the time of the real testing and the predetermined power Power.例文帳に追加

さらに、実試験時の周囲温度Ｔａと一定電圧Ｐｏｗｅｒとから、式（Ｔｊ（Ｔｃｈ）=Ｔａ＋熱抵抗×Ｐｏｗｅｒ）より、試験時のジャンクション温度Ｔｊを求める。 - 特許庁

Based on these status signals, the external testing device can decide whether the data are set to be loaded on each mixed memory, or to be disregarded, thereby enabling the outer testing device to reduce the testing time for the memory of the device.例文帳に追加

これらの状態信号に基づいて、外部試験装置は、どのデータセットを各メモリ混載アレーからロードすべきか、無視すべきかを判断することができ、それによりデバイスに対するメモリ試験時間を減少する。 - 特許庁

To decrease the scale of a microcomputer for testing a memory part and a logic part, and to eliminate the wasted time of the test to shorten a test time.例文帳に追加

メモリ部及びロジック部をテスト可能なマイコンを小規模化し、かつテストにおける無駄な時間を解消し、テスト時間を短縮する。 - 特許庁

Furthermore, in the case where a continuous operation time of the parts testing device is longer than a predetermined time, a normal temperature returning processing is carried out automatically.例文帳に追加

または、部品試験装置の連続運転時間が所定時間以上である場合に、自動的に常温復帰処理を行う。 - 特許庁

To realize shortening of testing time in a burn-in acceleration test in a burn-in test method by shortening the burn-in time.例文帳に追加

本発明は、バーンインテスト方法に関し、バーンイン時間の短縮を図り、バーンイン加速試験の試験時間の短縮を実現するものである。 - 特許庁

To provide a performance testing method for an HGA at the time of a low driving voltage, which can be actualized in a short time through a simple process.例文帳に追加

簡易なプロセス、及び、短時間にて実現可能な、低駆動電圧時におけるＨＧＡの性能試験方法を提供すること。 - 特許庁

This circuit 24 is preferably capable of delaying the transmission data by an optical time at testing.例文帳に追加

このテスト回路２４は、テスト時に、送信データを任意の時間だけ遅延できるようにするのが好ましい。 - 特許庁

To provide a method of testing an electric fuse capable of shortening test time, and to provide an electric fuse circuit.例文帳に追加

テスト時間を短縮することのできる、電気ヒューズのテスト方法、及び電気ヒューズ回路を提供する。 - 特許庁

To provide a circuit block testing method in an integrated circuit capable of carrying out a test in a short time.例文帳に追加

短時間でテストを行うことができる集積回路における回路ブロック試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a fatigue testing method of rubber which enables the estimation of the fatigue life of rubber in a short time.例文帳に追加

ゴムの疲労寿命を短時間で予測することを可能にしたゴムの疲労試験方法を提供する。 - 特許庁

CONFIRMATION METHOD FOR DEFICIENCY MANAGEMENT AREA INFORMATION OF OPTICAL DISK AT THE TIME OF INITIALIZATION WHICH IS NOT VERIFIED AND TESTING DEVICE THEREFOR例文帳に追加

検証しない初期化時の光ディスクの欠陥管理領域情報の確認方法及びテスト装置 - 特許庁

It is preferred that calculation and establishment are done after the collection of the testing image on real time in the process.例文帳に追加

計算及び設定は進行中にリアルタイムで試験画像の収集後に行われるのが好ましい。 - 特許庁

To provide a testing apparatus capable of greatly reducing the amount of time required to test a solid-state image pickup device.例文帳に追加

固体撮像装置のテストに要する時間の大幅な短縮化が可能なテスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test apparatus capable of easily testing bio-related substances, in a short time and with high accuracy.例文帳に追加

生体関連物質を短時間で高い精度で簡便に検査できる検査装置を提供する。 - 特許庁

To shorten total testing time by restricting data to be calculated.例文帳に追加

演算対象となるデータを限定的にすることで、試験時間全体の短縮化を図ることを目的とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of shortening testing time of scan test without increasing circuit scale of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路の回路規模を増大させずにスキャン試験の試験時間を短縮する。 - 特許庁

To provide an IC tester and a testing method of the IC tester capable of shortening the test time.例文帳に追加

テスト時間を短縮できるＩＣテスタ及びＩＣテスタの試験方法を実現することを目的にする。 - 特許庁

To obtain a bridge connector unnecessary to take-off at each time when testing a second electronic part.例文帳に追加

第２の電子部の試験等をする際にその都度コネクタを外す必要が生じないブリッジコネクタを得る。 - 特許庁

To provide a load testing device and a load test method capable of shortening the time required for a load test.例文帳に追加

荷重試験に要する時間を短縮できる荷重試験装置および荷重試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an ejection testing device capable of determining whether a liquid droplet is normally ejected in a short period of time.例文帳に追加

液滴が正常に吐出されたか否かを短期間に判定する吐出検査装置の提供。 - 特許庁

To provide a direct-current testing device capable of reducing useless power consumption at the waiting time.例文帳に追加

待機時の無駄な電力消費を低減することができる直流試験装置を提供すること。 - 特許庁

To reduce the testing time by conducting the test of a memory to be tested and the analysis of a defect in parallel.例文帳に追加

被試験メモリの試験と不良解析を並行処理することによって試験時間を短縮する。 - 特許庁

To automate a test of a plant control device, to shorten testing time and to improve the accuracy of a test result.例文帳に追加

プラント制御装置の試験を自動化し、試験時間の短縮と試験結果の精度を上げること。 - 特許庁

At compile time this is done by including <unistd> and/or <limits> and testing the value of certain macros. 例文帳に追加

コンパイル時に行うには、<unistd>と<limits>の両方もしくは一方をインクルードし、特定のマクロの値を確認する。 - JM

By the time the man from the defense intelligence agency, robert koepp, arrived, we'd given up on our standard testing procedure.例文帳に追加

この頃 国防情報局から ロバート・ケップが到着しました 標準のテストに 見切りをつけました - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

CONFIRMATION METHOD FOR DEFICIENCY MANAGEMENT AREA INFORMATION OF OPTICAL DISK AT THE TIME OF INITIALIZATION TO BE VERIFIED AND TESTING DEVICE THEREFOR例文帳に追加

検証する初期化時の光ディスクの欠陥管理領域情報の確認方法及びテスト装置 - 特許庁

Further, in the above test state, two delay time shortening modes for testing are implemented using a fuse.例文帳に追加

さらに、ヒューズを用いて、前記テスト状態において、二つのテスト用遅延時間短縮モードを実現する。 - 特許庁

In this way, a time change to a testing time is carried in a necessary part without changing the time of the system as a whole, so that a test can be carried out without any influence on the on-line action.例文帳に追加

このようにして、システム全体の時刻を変更せずに、必要な一部を試験用の時刻に変更し、オンライン動作に影響を与えずに試験が行える。 - 特許庁

To provide a discharge characteristic testing apparatus and a discharge characteristic testing method which can shorten a charge time per discharge characteristic test and reduce a unit price of the apparatus.例文帳に追加

１回の放電特性テスト当たりの充電時間を短くでき、また、装置単価を低廉にできる放電特性テスト装置、および放電特性テスト方法の提供を図る。 - 特許庁

To shorten the testing time, and to reduce the testing cost and the manufacturing cost in a device having the transmitting-receiving function such as a physical layer device for an IEEE 1394 interface.例文帳に追加

ＩＥＥＥ１３９４インターフェースの物理層デバイスのように送受信機能を有するデバイスにおいて、テスト時間を短縮し、テストコスト及び製造費用の低減を図ること。 - 特許庁

To provide scratch resistance testing equipment capable of detecting the occurrence of the scratch produced on the surface of a work in a real time with high precision, and a scratch resistance testing method.例文帳に追加

ワークの表面に生じる傷の発生をリアルタイムにかつ高精度に検出することができる耐擦傷性試験装置および耐擦傷性試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an IC testing device and an IC testing method capable of acquiring data in a short time, judging a necessary portion, and displaying the result of an accurate SHMOO plot.例文帳に追加

データ取得時間を短時間に行い、必要な部分の判定が行われ正確なSHMOOプロットの結果を表示することが可能なIC試験装置及びIC試験方法の提供。 - 特許庁

To provide a dust testing device and dust testing method for a electronic apparatus, whereby the adhering state of dust in the electronic apparatus used for a long time can be suitably reproduced.例文帳に追加

長期間使用した電子機器における埃の付着状況を適切に再現可能な、電子機器用の埃試験装置および埃試験方法を提供する。 - 特許庁