「work analysis program」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

WORK STYLE ANALYZER, WORK STYLE ANALYSIS PROCESSING METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

ワークスタイル分析装置、ワークスタイル分析処理方法及びプログラム - 特許庁

ANALYSIS WORK SUPPORT DEVICE, AND PROGRAM FOR REALIZING ANALYSIS WORK SUPPORT FUNCTION例文帳に追加

解析作業支援装置及び解析作業支援機能を実現するためのプログラム - 特許庁

To provide a program analyzer capable of improving the efficiency of analysis work for a branch point targeted for program analysis.例文帳に追加

プログラム解析の対象とする分岐箇所の解析作業を効率化できるプログラム解析装置を提供する。 - 特許庁

To provide a program analysis device and a program analysis program capable of improving work efficiency of a user who analyzes a large-scale program including a number of subroutines.例文帳に追加

本発明は、多数のサブルーチンを含む大規模なプログラムをユーザが解析する際の作業の効率を向上させることが可能なプログラム解析装置およびプログラム解析プログラムを提供することを目的とする。 - 特許庁

PROGRAM, METHOD, AND DEVICE FOR SUPPORTING GROUP WORK ANALYSIS例文帳に追加

グループ作業解析支援プログラム、グループ作業解析支援方法、およびグループ作業解析支援装置 - 特許庁

The program individual information analysis section 141 decodes a scramble key by using a work key and outputs the decoded signal to a program information encryption device 73.例文帳に追加

番組・個別情報解析部１４１は、ワーク鍵でスクランブル鍵を復号し、番組情報暗号器７３に出力する。 - 特許庁

To complicate an analysis of a program by a third party without impeding confirmation work of preregistered program contents and prevent falsification of the program.例文帳に追加

予め登録したプログラムの内容確認作業に支障を与えることなく、第三者によるプログラムの解析を困難にでき、プログラムの改ざんを防止することができる。 - 特許庁

To provide a business analysis support program, a business analysis support device, and a business analysis support method capable of generating a workflow diagram by which the consumption amount of work and flow can be intuitively grasped.例文帳に追加

作業とフローの消費量を直感的に把握可能なワークフロー図を生成することができる業務分析支援プログラム、業務分析支援装置および業務分析支援方法を提供すること。 - 特許庁

The analysis means performs analysis of the user operation man-hour from the operation history input by the input means and classifies a utilization situation of the application program into a plurality of work categories.例文帳に追加

分類手段は、入力手段により入力された操作履歴からユーザの操作工数を分析して、アプリケーションプログラムの利用状況を複数の作業カテゴリーに分類する。 - 特許庁

To raise efficiency in a program analyzing work by providing a method for efficiently extracting a execution condition required till the execution of a program reaches the code in program analysis, and providing a system therefor.例文帳に追加

プログラム解析において、プログラムの実行がそのコードに到達するまでの実行条件を効率よく抽出する方法およびそのシステムを提供し、プログラム解析の作業効率を向上させる。 - 特許庁

When program analysis is executed, loading (101), the analysis and display (102, 103) of the measuring place/measuring method and work information designation (104) is carried out, and then the propriety of the analyzed measuring place/method is determined (105).例文帳に追加

プログラム解析時には、ローディング（１０１）、計測箇所／計測方法を解析、表示（１０２、１０３）、ワーク情報指定（１０４）に続いて、解析した計測箇所／方法の良否判定を行う（１０５）。 - 特許庁

To reduce the load of numerical analysis work by providing a device, a program and a method for automatically performing data mapping between dissimilar mathematical models.例文帳に追加

異種数学モデル間におけるデータのマッピングを自動的に行う装置、プログラムおよび方法を提供することにより、数値解析作業の負荷を軽減することを目的とする。 - 特許庁

To provide a dispatch system, dispatch method and program for troubleshooting a computer that shorten a failure analysis time and quickly and accurately send work instructions to a maintenance person.例文帳に追加

故障解析時間を短縮し、保守員への作業指示を迅速かつ正確に伝達するコンピュータの故障修理のディスパッチシステム、そのディスパッチ方法及びそのプログラムを提供する。 - 特許庁

To automate behavior scenario generation in a cockpit work load estimation program equipped with a work load estimation output function which targets a time base analysis in an aircraft cockpit, and aims system architecture easily utilizable by a designer.例文帳に追加

本発明の課題は、航空機コックピットにおける時間軸解析を対象とし、設計者が容易に利用可能なシステムの構築を目指すもので、ワークロード推算出力機能を装備し、コックピット・ワークロード推算プログラムにおける行動シナリオ生成を自動化することにある。 - 特許庁

In addition, since the control part 40 is dedicated one specialized in determining radial runout of a measuring tire 22 based on a measurement result from the measuring sensor 36, a waveform analysis processing program is not required to be installed to dispense with a troublesome work.例文帳に追加

しかも、制御部40は、測定センサ36からの測定結果を基に測定タイヤ22のラジアルランナウトを求めることに特化された専用のものであるため、波形解析処理プログラムをインストールする必要はなく、面倒な作業が不要となる。 - 特許庁

In the analysis program for analyzing the cutting resistance in cutting work by using a computer, a cutting chip removal program is added for carrying out, by using the computer, steps of: monitoring an inclination of the cutting resistance at a minute time Δt while calculating the cutting resistance; and removing cutting chips when the inclination of the cutting resistance being monitored becomes a negative value.例文帳に追加

切削加工における切削抵抗をコンピュータを用いて解析する解析プログラムに、切削抵抗の算出中に微少時間Δｔにおける切削抵抗の傾きをモニタリングするステップと、そのモニタリングしている切削抵抗の傾きがマイナスになった場合に切り屑を除去するステップとをコンピュータに実行させる切り屑除去プログラムを追加する。 - 特許庁

To provide a forming method of shape model for analysis capable of automating an optimization work based on a shape model formation including a complicated processing operation by extending the function of a macro file for efficiently operating software to construct a further flexible and efficient program.例文帳に追加

ソフトを効率的に動作させるマクロファイルの機能を拡大し、より柔軟性の高い、効率的なプログラムを構築することにより、複雑な処理操作を含む形状モデル作成に基づく最適化作業を自動化することができるような解析用形状モデルの作成方法を提供する。 - 特許庁

(i) work to design or maintain a system that functions by using computers (including analysis conducted prior to or following or related to such design or maintenance) or work to design, create or maintain a program (which means directives to computers which are organized to obtain a single result; the same shall apply in items (xxiii) and (xxv)); 例文帳に追加

一　電子計算機を使用することにより機能するシステムの設計若しくは保守（これらに先行し、後続し、その他これらに関連して行う分析を含む。）又はプログラム（電子計算機に対する指令であつて、一の結果を得ることができるように組み合わされたものをいう。第二十三号及び第二十五号において同じ。）の設計、作成若しくは保守の業務 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide a substrate, a substrate holding apparatus, an analysis apparatus, a program, a detection system, a semiconductor device, a display apparatus and a semiconductor manufacturing apparatus, which can detect or analyze information regarding the temperature of a substrate that can be used in an environment where the substrate has a high temperature and prevent decrease in the flexibility in the processing work of the substrate.例文帳に追加

基板の温度といった情報を検出または解析する基板、基板保持装置、解析装置、プログラム、検出システム、半導体デバイス、表示装置、および半導体製造装置であって、基板が高温になる環境でも用いることができ、かつ、この基板に対する加工作業の自由度の低下を防止できるものを提供する。 - 特許庁