ふりーずれぷりかの英語

異なるプロセス変動値および位置合せずれ誤差値を使用して、提供された設計構成について上述のステップを繰り返し、予測重なり寸法が不良になるかどうか判定し、さらに不良の目安のレポートが出力される。例文帳に追加

The above-described steps are repeated regarding the provided designed structure using different values of process variations and positioning deviation errors, decides whether or not the predicted superposed dimensions are improper, and further a report of a measure of improperness is provided as an output. - 特許庁

１つの実施の形態において、ホッパ及び挿入ポートの双方は、カードフリップデバイスに連続しており、これらは、カードを受け、カードを回転し又はカード印刷モジュール又はカード読みとり書き込みモジュールのいずれかへカードを前進させる。例文帳に追加

Both a hopper and the insertion port are continuous with a card flip device in the form of one piece of execution, receive the card C and turn the card C or advance the card C to either a card printing module or a card printing module. - 特許庁

ＣＺ法により窒素をドープし或はドープなしで育成されたシリコン単結晶棒からスライスして得られたシリコンウエーハであって、該シリコンウエーハの全面が、ＮＶ領域、ＯＳＦリング領域を含むＮＶ領域、ＯＳＦリング領域のいずれかであり、かつ格子間酸素濃度が１４ｐｐｍａ以下であるシリコンウエーハおよびその製造方法並びにシリコンウエーハの欠陥領域を評価する方法。例文帳に追加

In the method for evaluating the defect area of the silicon wafer, at least two oxygen deposit densities measured by some specific stages are compared. - 特許庁

ＣＺ法により窒素をドープし或はドープなしで育成されたシリコン単結晶棒からスライスして得られたシリコンウエーハであって、該シリコンウエーハの全面が、ＮＶ領域、ＯＳＦリング領域を含むＮＶ領域、ＯＳＦリング領域のいずれかであり、かつ格子間酸素濃度が１４ｐｐｍａ以下であるシリコンウエーハおよびその製造方法並びにシリコンウエーハの欠陥領域を評価する方法。例文帳に追加

The method of producing such silicon wafer and the method of evaluating defect area of the silicon wafer are also provided. - 特許庁

部品実装ラインの稼働中に検査装置でパネルのいずれかのボードで部品の実装不良が検出されたときに、検査装置より下流側の実装機モジュール１２で、部品実装を作業者が設定したスキップ単位でスキップする。例文帳に追加

When mounting failure of a component is detected in any board on a panel by the inspection device during operation of the component mounting line, component mounting is skipped by a mounting machine module 12 on the downstream side of the inspection device in a skip unit set by the worker. - 特許庁

蒸気抜き機能を有する包装袋の製造中に、蒸気抜き孔７が穿設されている折り返し部内面に介在している剥離性テープ材の状態を視認することができ、その剥離性テープ材の「捩じれやずれ」などによる不良品の検知を確実にする蒸気抜き機能を有する包装袋の提供にある。例文帳に追加

To provide a packaging bag with a vapor release function in which a state of a peelable tape interposed on the inner face of a return part, on which a vapor release hole 7 is opened, can be seen and a defective product with a twist or a gap or the like of the peelable tape can be detected certainly during manufacturing of the packaging bag with the vapor release function. - 特許庁

長期保管時に帯電部材の変形等による画像不良を簡易な構成で抑制しつつ、使用開始時にユーザの手間を省く構成において、運搬・陳列時に受ける振動等による離間部材外れを抑制できるプロセスカートリッジを提供する。例文帳に追加

To provide a process cartridge capable of suppressing disengagement of a separation member caused by vibration and the like occurring during transportation or display for the cartridge with a simple configuration suppressing image defects due to deformation, and the like, of a charging member during long-term storage and saving user a trouble when starting to use the cartridge. - 特許庁

導体パターンを上下層に連ねるための接続部位が、低い高さでなだらかに形成されて、導体パターンがより確実に接続されて高い信頼性を有するとともに、接続部分が位置ずれしている場合でも断線という特性不良を引き起こすことがない構成を備えた積層チップ部品を提供すること。例文帳に追加

To provide a laminated chip component having a constitution in which a connection portion for vertically linking conductor patterns has a low height and a gentle slope, and the conductor patterns are connected more reliably to provide high reliability, and a characteristic failure including the disconnection of a wire is not caused even if the misalignment of the connection portion occurs. - 特許庁