before screeningとは 意味・読み方・使い方

To provide a method for producing semiconductor devices, which can highly and efficiently screen semiconductor devices at a low cost by remov ing defective semiconductor devices before screening.例文帳に追加

不良の半導体装置を選別工程前に取り除くことによって、半導体装置の選別を高効率化し、かつ製造コストを小さくする。 - 特許庁

In a standby test after the screening test, as a result of the calculation of the difference between the consumption current measured at each test point and the consumption current measured before the screening test, the semiconductor device of which the difference exceeds a second consumption current threshold is regarded as faulty.例文帳に追加

次に、スクリーニングテスト後のスタンバイテストでは、各テストポイントで測定した消費電流とスクリーニングテスト前に測定した消費電流との差分を算出し、それらが第２の消費電流しきい値よりも大きい半導体装置を不良品とする。 - 特許庁

Because the contaminated soil is crushed before screened by the ball mill 13, the dry screening device 15 can be adopted which requires no treatment facilities for used water.例文帳に追加

しかも、篩分けの前にボールミル１３により汚染土壌を粉砕するので、使用済み水の処理設備が不要な乾式の篩装置１５の採用が可能となる。 - 特許庁

Further, a moisture absorbing process is carried out before the heat treatment process to more surely and effectively carry out the screening of the solder short failure by the heat treatment.例文帳に追加

さらに、熱処理工程の前に吸湿工程を設けることにより、より確実に熱処理によるはんだショート不良のスクリーニングを行うことができるという効果を奏するものである。 - 特許庁

The method uses the method for screening the membrane-permeable material by adding a sample to be detected and detecting changes of the curvature and/or a phase before and after the addition of the same.例文帳に追加

本発明はまた被検物質を添加し、その添加の前後における膜の曲率変化及び／又は相変化を検出することによる、膜透過性物質のスクリーニング方法を用いる。 - 特許庁

To provide a substrate screening device for removing a substrate having a risk of cracking or chipping at the time of executing a prescribed processing to the substrate before feeding it to a manufacture line.例文帳に追加

基板に所定の処理を施す際に基板が割れたり欠けたりするおそれのある基板を、製造ラインに投入する前にあらかじめ取除くための基板のスクリーニング装置を提供する。 - 特許庁

In a standby test before a screening test, a consumption current is measured at each test point, and when the consumption current value exceeds a first consumption current threshold, the semiconductor device is regarded as faulty.例文帳に追加

スクリーニングテスト前のスタンバイテストで、各テストポイントでの消費電流を測定し、それら消費電流値が第１の消費電流しきい値よりも大きい場合には、その半導体装置を不良とする。 - 特許庁

Information of various threshold value distributions before application of stress for screening is written for each device and it is compared with remeasurements taken after application of stress thus sorting the good from the bad.例文帳に追加

また、スクリーニングのためのストレス印加前の各種しきい値分布情報をデバイスごとに書き込んでおき、その書き込み情報とストレス印加後の再測定結果とを比較して、良品と不良品とを分類する。 - 特許庁