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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > "ふぁらでーかっぷ"に関連した英語例文

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"ふぁらでーかっぷ"を含む例文一覧と使い方

該当件数 : 70



例文

基板載置面と同一面にファラデーカップと表面電位を測定するための電極を設置し、測定結果に基づき入射するイオン電力を積算することで、加工量を推定する。例文帳に追加

A Farady cup and an electrode to measure the surface potential are set on the same face as a substrate placing face, and the incident ion power is integrated on the basis of the measured result to estimate the extent of working. - 特許庁

棒状部材16はファラデーカップ10のプレート18の底面18aから突出するよう取り付けられ、また受け部21はプリアンプ装置20の外箱25の上面25aに取り付けられている。例文帳に追加

A bar-shaped member 16 is installed projectingly from the bottom surface 18a of a plate 18 of a Faraday cup 10, and a receiving part 21 is installed on the upper surface 25a of an outer box 25 of a preamplifier device 20. - 特許庁

この装着により、ホルダ16の電極は試料ステージ側の電極5に接触し、ホルダ16のファラデーカップはホルダ電極、電極5を介して電流計測手段6に接続される。例文帳に追加

An electrode of the holder 16 comes in contact with an electrode 5 on the specimen stage 3, by above attaching operation thereby connecting a Faraday cut of the holder 16 to a current measuring mean 6 through the holder electrode and the electrode 5. - 特許庁

原盤1が支持される支持機構部2のスライドテーブル6上に、原盤1のすぐ横に位置してナイフエッジ134とファラデーカップ131とを備えたフォーカス合わせステージ30を設ける。例文帳に追加

A focusing stage 30, which is positioned alongside the original recording 1 and is equipped with a knife edge 134 and a Faraday cup 131, is arranged on a slide table 6 of a supporting mechanism 2 which supports the original recording 1. - 特許庁

例文

第1、第2のブランカ128、134とファラデーカップ130、134を用い、第1、第2のブランカ128、134のオンオフを切り替えて、投射マスク115の上下2箇所でビーム電流をモニタする。例文帳に追加

With the use of first and second blankers 128, 132, and first and second Faraday cups 130, 134, beam currents are monitored at top and bottom points of a projection mask 115 by changing on-offs of the first and the second blankers 128, 132. - 特許庁


例文

演算処理部200は、この同一測定点のデータにずれが生じないように、ファラデーカップ112の固有特性を校正するための補正値を求める。例文帳に追加

A calculation processing part 200 is used for finding a correction value for correcting the specific characteristic of the Faraday cups 112 so as not to generate deviation in data of the same measurement point. - 特許庁

また、平行度及び発散角度を測定する測定装置は、ビーム分割スリットと、このビーム分割スリットを透過したビームの電流量を計測する可動式ファラデーカップを具備している構成とした。例文帳に追加

The measurement device to measure the parallel degree and the divergence angle is provided with a beam split slit and a movable Faraday cup to measure a current amount of the ion beam passed through the slit. - 特許庁

排気路36のバルブ37を開いて、鏡体部2内の高真空をファラデーカップ35内に作用させ、低い真空に保たれた試料室1内で正確なプローブ電流を測定する。例文帳に追加

High vacuum inside the microscope body part 2 is influenced on the inside of a Faraday cup 35 by opening a valve 37 of an exhaust passage 36, and an accurate probe current is measured inside the sample chamber 1 held in low vacuum. - 特許庁

ビームスキャナ36への入射前のビームライン上に、イオンビームの全ビーム量を計測してビーム電流を検出するインジェクタフラグファラデーカップ32が入れ出し可能に配置される。例文帳に追加

On a beam line before an incident into a beam scanner 36, there is arranged, in a takeout/takein manner, an injector flag Faraday cut 32 for measuring a total beam volume of an ion beam and detecting a beam current. - 特許庁

例文

電力調整器19は、複数のファラデーカップを2つの群の領域に分け、かつそれぞれの群の積算値の平均値の差に基づいて高周波電源からコイル4に供給する高周波電力を調整する。例文帳に追加

A power conditioner 19 divides the plurality of Faraday cups into two groups of regions and adjusts the high-frequency power which is supplied from the high-frequency power source to the coil 4 based on a difference in integrated average values for each group. - 特許庁

例文

コントローラは、受け取ったイオンがファラデーカップによって検出されるようにコントローラが作動する第1の構成と、受け取ったイオンが電子増倍器によって検出されるようにコントローラが作動する第2の構成との間で切り替え可能である。例文帳に追加

The controller can be switched between a first configuration where the controller is operated so that the received ions can be detected by the Faraday cup, and a second configuration where the controller is operated so that the received ions can be detected by the electron multiplier. - 特許庁

イオン注入中において、チャージアップ防止用電子銃12が生成した二次電子はファラデーカップ10に形成された絶縁膜ZMにより吸収されにくくなり、生成された二次電子が半導体ウエハWに効率よく供給され、チャージアップを防止する。例文帳に追加

During ion implantation, secondary electrons generated from an electron gun 12 for preventing charge-up are efficiently supplied to a semiconductor wafer W and prevent charge-up, because the electrons are hardly absorbed into the insulating film ZM formed on the internal wall surface of the cup 10. - 特許庁

一次電子光学系は、一次電子線の照射領域8を調整するための2組以上の四重極電極6、一次電子線を走査するための1組以上の偏向器7、走査信号を発生する発信器、及び一次電子線の電流密度を測定するためのファラデーカップを含む。例文帳に追加

The primary electron optic system includes not less than two pairs of quadrupole electrodes 6 for adjusting the irradiation area 8 of the primary electron beams, not less than one pair of polarizers 7 for scanning the primary electron beams, and a Faraday cup for measuring the current density of the primary electron beams. - 特許庁

接地電位に保たれたビームダクト1内に配置されたファラデーカップ2に一端が接続されるパルス検出抵抗18を、ビームダクト1と同電位に保たれたケース14内にツェナーダイオード19とともに収納する。例文帳に追加

A pulse detecting resistance 18 connected to one end of a Faraday cup 2 placed in a beam duct kept at electric potential of the earth is accommodated together with a Zener diode 19 in a case 14 kept at the equal electric potential to the beam duct. - 特許庁

大電力X線装置(10)用のHVコネクタは、充填物質を含み、同様な物質の礫体を充填することができる熱伝導性エポキシ(70)と、ケーブル端子と、ファラデーカップ(74)と、スプリング付勢接点と、鉛で裏張りされたハウジング(78)とを含む。例文帳に追加

The HV connector for large current X-ray tube device (10) comprises a thermally conductive epoxy (70) which contains a filling object and can be filled up with a gravel of the same material, a cable terminal, a Faraday cup (74), a spring biased contact, and a housing (78) that has backing plated by lead. - 特許庁

電流量に応じて階段状に切り替わる数種類のゲインを用いて電子ビームの電流量を測定するファラデーカップを備えた電子ビーム描画装置において、電流量測定時にゲインの切り替わりを防止して、測定の信頼性を向上する。例文帳に追加

To improve the reliability of measurement by preventing the switching of gain during measurement of current quantity in an electron beam lithography system equipped with a Faraday cup which measures current quantity of electron beams by using a several kinds of gains which switch stepwise according to current quantity. - 特許庁

ガスクラスターに熱電子を衝突、電離させ発生させたガスクラスターイオンを加速してワークに照射する装置において、リターディング電圧を印加するリターディンググリッド21、イオンビームをパルス化する偏向電極24a、24b、ドリフトチューブ26、ファラデーカップ27、および電流計測手段28,29を備えて、飛行時間法によりイオンのクラスターサイズ分布を計測するようにした。例文帳に追加

After ion irradiating conditions are adjusted so as to have a desired distribution, the ion beam is irradiated to the work 32. - 特許庁

加速器Y1から出射されたイオンビームLのビーム電流を測定する分割電極10或いはファラデーカップ20等のビーム電流測定手段を試料分析装置の測定室73aに設け,このビーム電流測定手段によるビーム電流の測定値に基づいてイオンビームLの軌道位置を検出する。例文帳に追加

The beam current measurement means such as a segmented electrode 10 or the Faraday cup 20 etc. measuring a beam current of an ion beam L emitted from an accelerator Y1 is provided in a measurement chamber 73a of a sample analyzer. - 特許庁

イオンビーム加工工程と電気抵抗測定工程とを交互に繰り返し、測定した電気抵抗値が基準値に到達したら試料が断線したと判断し、制御装置20がイオン光学装置1を制御して、イオンビーム2をファラデーカップ8側に偏向させ続け集束イオンビーム加工を終了する。例文帳に追加

When the measured electrical resistance value reaches a reference value after alternately repeating the ion beam machining step and electrical resistance measuring step, a controller 20 discriminates that the wiring 4 of the sample 3 has been disconnected and terminates the focused ion beam machining, by continuously causing the ion beam 2 to be deflected to a Faraday cup 8 side by controlling the ion optical device 1. - 特許庁

例文

複数の荷電粒子線を用いてウエハ9を描画するマルチ荷電粒子線描画装置において、複数の荷電粒子線を直接入射させその総電流を計測するファラデーカップ14と、各荷電粒子線を直接入射させ入射電子を増倍する機能を有し、各荷電粒子の電流の相対値を計測するマルチ検出器15とを有する。例文帳に追加

The multi-charged particle writing system for writing on a wafer 9 using a plurality of charged particle beams comprises a Faraday cup 14 receiving a plurality of charged particle beams directly and measuring the total current thereof, and a multi-detector 15 having a function for receiving each charged particle beam directly and multiplying incident electrons, and measuring the relative value of the current of each charged particle beam. - 特許庁

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