「"Test Patterns"」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

The test print includes a plurality of sets of horizontal stripe test patterns comprising a plurality of horizontal lines extending in a main scanning direction formed by laser scanning exposure and a plurality of sets of vertical stripe test patterns comprising a plurality of vertical lines extending in a sub scanning direction formed by laser scanning exposure, wherein the horizontal stripe test patterns and the vertical stripe test patterns are alternately arranged.例文帳に追加

レーザ走査露光によって形成される主走査方向に延びる複数本の横ラインからなる横縞テストパターンと、レーザ走査露光によって形成される副走査方向に延びる複数本の縦ラインからなる縦縞テストパターンとが互いに複数組配置されているテストプリント。 - 特許庁

A test pattern generator 12 impresses test patterns repeatedly to the DUT 1.例文帳に追加

テストパタン発生部１２はテストパタンを繰り返しＤＵＴ１に印加する。 - 特許庁

Test patterns with different densities are formed according to an image formation processing.例文帳に追加

画像形成処理に応じて、濃度の異なるテストパターンを形成する。 - 特許庁

For a short inspection device 1, two or more test patterns are prepared beforehand.例文帳に追加

ショート検査装置１には，あらかじめ複数のテストパターンが用意されている。 - 特許庁

To generate various test patterns from algorizm pattern data of a few bit numbers.例文帳に追加

ビット数が少ないアルゴリズムパターンデータから多様な試験パターンを生成する。 - 特許庁

To generate a variety of test patterns utilizing a small capacity memory.例文帳に追加

多種多様のテストパターンの発生を小容量のメモリを利用して行う。 - 特許庁

When assigning again, the same valid test condition is assigned to multiple test patterns, the possible largest number of test patterns, and thereafter, the invalid test condition is assigned again.例文帳に追加

状態再割当にあたって、まず、可能な限り多数のテストパターンへ同一の有効テスト状態を割り当てた後、無効テスト状態への割り当てを行なう。 - 特許庁

A test pattern conversion part 7 converts the test patterns and test vectors selected by the selection part 5 into test patterns for the LSI tester.例文帳に追加

そして、テストパターン変換部７は、変換テストパターン選択部５によって選択されたテストパターンおよびテストベクタをＬＳＩテスタ用テストパターンに変換する。 - 特許庁

Random test patterns generated by a PRPG 210 are corrected to test patterns for test by a pattern corrector 220 and inputted to shift registers 200.例文帳に追加

ＰＲＰＧ２１０によって生成したランダムなテストパターンをパターン修正器２２０によって試験用のテストパターンに修正して、シフトレジスタ２００に入力させる。 - 特許庁

When an adjustment mode is set, transfer positions of the test patterns of each color on the intermediate transfer belt 21 are detected in the separation state, to measure the shift of the test patterns of each color from the transfer positions of the test patterns of each color and correct the measured shift of the test patterns of each color by using each difference in the memory 75.例文帳に追加

そして、調整モードが設定されると、離間させた状態で、中間転写ベルト２１上の各色のテストパターンの転写位置を検出して、各色のテストパターンの転写位置からそれらのずれを測定し、この測定した各色のテストパターンのずれをメモリ７５内の各差分を用いて補正している。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which test patterns can easily be written.例文帳に追加

テストパターンを容易に書込むことが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

The same process is repeated to a test pattern set of merged test patterns.例文帳に追加

テストパタンの併合されたテストパタンセットに対しても、同様の処理を繰り返す。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory, in which test patterns can easily be written.例文帳に追加

テストパターンを容易に書込むことが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a scan test pattern input method capable of minimizing tester memory capacity for storing test patterns and reproducing all the test patterns created by ATPG.例文帳に追加

テストパタンを記憶するテスターメモリ容量を最小限とし、かつＡＴＰＧによって生成された全てのテストパタンを再現可能なスキャンテストパタン入力方法を提供する。 - 特許庁

This failure inspection apparatus performs the failure inspection of an integrated circuit by using test patterns.例文帳に追加

故障検査装置は、テストパターンを用いて集積回路の故障検査を行う。 - 特許庁

To efficiently generate test patterns used for detecting failures of logic circuits.例文帳に追加

論理回路の故障の検出に用いられるテストパターンを効率よく生成すること。 - 特許庁

The inkjet recorder records a plurality of test patterns with different impact amounts of ink.例文帳に追加

インクジェット記録装置は、インク打ち込み量の異なる複数のテストパターンを記録する。 - 特許庁

To provide a printing apparatus capable of altering printing test patterns arbitrarily and readily.例文帳に追加

印刷するテストパターンを任意かつ容易に変更できる印刷装置を提供する。 - 特許庁

To improve precision of detecting pattern imperfection without increasing the number of test patterns.例文帳に追加

テストパターン数を増大させることなくパターンの不具合検出精度を向上させる。 - 特許庁

To minimize the capacity of a test area and to record test patterns taking crosstalks into consideration.例文帳に追加

テストエリアの容量を最小限にとどめ、クロストークを考慮したテストパターンを記録する。 - 特許庁

To shorten the processing time for ATPG, and to reduce the number of excessive test patterns.例文帳に追加

ＡＴＰＧの処理時間の短縮化および余分なテストパターン数の削減を図ること。 - 特許庁

Four test patterns 21 to 24 are simultaneously displayed on a display part 1 for a computer.例文帳に追加

４個のテストパタン２１乃至２４が同時に計算機用表示部１に表示される。 - 特許庁

The plural test patterns are read from a compile data storage part by a test pattern generating part 17.例文帳に追加

テストパタン生成部１７は、コンパイルデータ記憶部２３から複数のテストパタンを読み込む。 - 特許庁

At this time, the common data block, contained in two or more arbitrary test patterns, is searched.例文帳に追加

このとき、任意の２つ以上のテストパターンに含まれる共通のデータブロックを検索する。 - 特許庁

Pattern memory 78 stores test patterns to be supplied for a device to be tested 40 in advance.例文帳に追加

パターンメモリ７８は、被試験デバイス４０に供給するテストパターンを予め格納する。 - 特許庁

By using pens 50, 52, 54, 56, ink ejection elements, test patterns 92, 94, 96 are printed on a printing medium 90, and these test patterns 92, 94, 96 are read by an optical scanner 80.例文帳に追加

インク射出素子であるペン５０、５２、５４、５６を用いてテストパターン９２、９４、９６をプリント媒体９０にプリントし、これらテストパターン９２、９４、９６を光学スキャナ８０で読み取る。 - 特許庁

A plurality of test patterns are formed along a roller in the longitudinal direction, and a correction value optimal for correcting conveyance error dependent on the eccentricity of the roller is acquired from the test patterns.例文帳に追加

ローラの長手方向に沿って複数のテストパターンを形成し、これに基いてローラの偏心に依存する搬送誤差を補正するのに最適な補正値を取得するようにする。 - 特許庁

To provide a built-in self-test circuit capable of conducting a test having high quality by various test patterns without decreasing the number of test patterns while having simple circuit constitution.例文帳に追加

簡素な回路構成を備えながらも、テストパターン数を削減することなく、多種のテストパターンによって高品質のテストを行うことができる組込み自己テスト回路を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus, a method, and a program for generating test patterns and capable of preventing increases in the number of test patterns and highly accurately detecting bridge faults and open faults.例文帳に追加

テストパターン数の増大を抑制し、ブリッジ故障及びオープン故障を高精度で検出可能なテストパターン作成装置、テストパターン作成方法及びテストパターン作成プログラムを提供する。 - 特許庁

An execution order for the simulation as to the plurality of test patterns 21 is determined using the plurality of test patterns 21 as inputs to output simulation execution order information 22 (S1).例文帳に追加

【解決手段】 複数のテストパターン２１を入力として、複数のテストパターン２１についてのシミュレーションの実行順序を決定して、シミュレーション実行順序情報２２を出力する（Ｓ１）。 - 特許庁

The difference between a reproduced signal from a magnetic domain 80 sandwiched by the test patterns 98 and 99 of the test pattern 96 and a reproduced signal from an unsandwiched magnetic domain 82 is calculated for each recording light quantity of the test patterns 98 and 99.例文帳に追加

テストパターン96のテストパターン98,99に挟まれた磁区80からの再生信号と、挟まれていない磁区82からの再生信号との差を、テストパターン98,99の記録光量毎に求める。 - 特許庁

Finally, a state transition for realizing the remaining test patterns is added to the test series (step 8).例文帳に追加

最後に、残ったテストパターンを実現する状態遷移をテスト系列に追加する（ｓｔｅｐ８）。 - 特許庁

In the burn-in test, a plurality of test patterns for the burn-in are selectively generated by a circuit 20 for generating the burn-in test patterns on the chips of the LSI, and inputted in parallel to a flip-flop circuit 15 for scanning forming scan paths.例文帳に追加

バーンインテストに際して、LSI チップ上のバーンインテストパターン発生回路20で複数のバーンインテストパターンを選択的に発生し、スキャンパスを形成するスキャン用フリップフロップ回路15に並列に入力する。 - 特許庁

To solve the problem that test patterns are not printed on a proper position on sheets and highly accurate alignment adjustment cannot be carried out when positional displacement or skew travel is generated in the sheets when printing the test patterns.例文帳に追加

テストパターンを印刷する際に用紙に位置ずれや斜行が発生していた場合、テストパターンが用紙上の正しい位置に印刷されなくなり、精度の高いアライメント調整ができなくなる。 - 特許庁

An imaging means (printer 300) outputs a plurality of test patterns including an identical test pattern and the gradation characteristics of the imaging means are corrected based on the read out results of these test patterns.例文帳に追加

画像形成手段（プリンタ３００）が、同一のテストパターンを含む複数枚のテストパターンを出力し、それらのテストパターンを読み取った結果から画像形成手段の階調特性の補正を行う。 - 特許庁

According to some aspects, the present invention automatically selects those test patterns that are most effective in determining the optimal model parameter values from an existing pool of candidate test patterns, as opposed to designing optimal patterns.例文帳に追加

幾つかの態様によれば、本発明は、最適パターンの設計とは対照的に、既存プールの候補テストパターンから最適モデルパラメータ値を求める際に最も効果的なテストパターンを自動的に選択する。 - 特許庁

In a second conveyance, the four test patterns are formed in a region R2 on the second surface S2 of the printing paper P, and at the same time, the four test patterns which have been formed on the first surface S1 are read from the second surface S2.例文帳に追加

２回目の搬送時に、用紙Ｐの第２面Ｓ２の領域Ｒ２に４つのテストパターンを形成すると共に、第１面Ｓ１に形成された４つのテストパターンを第２面Ｓ２から読み取る。 - 特許庁

This IC tester is acquired by improving an IC tester for testing a test object in various test patterns.例文帳に追加

本発明は、被試験対象を各種試験パターンで試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

The test patterns for the LSI tester can be reduced without lowering the rate of failure detection.例文帳に追加

したがって、故障検出率を低下させずに、ＬＳＩテスタ用テストパターンを削減することが可能となる。 - 特許庁

In this burn-in test method for collectively testing two or more objects to be tested having test patterns, at least two objects to be tested are simultaneously designated during burn in, the test patterns are read from the parts to be tested, and the test patterns read after the burn in are compared with an expectation value pattern.例文帳に追加

テストパターンを有する被試験対象物を複数個まとめてテストするバーンインテスト方法において、バーンインの間、少なくとも２以上の該被試験対象物を同時に指定し、当該被試験対象部品から該テストパターンを読み出し、該バーンイン後に読み出したテストパターンと、期待値パターンとの比較を行うよう、構成する。 - 特許庁

The image forming apparatus comprises a control circuit 210 for acquiring test patterns 401 and 501 through the Internet 100, a memory 209 for storing the test patterns thus acquired, an image print section 207 for printing the test patterns 401 and 501 thus stored, and a control circuit 210 for executing calibration of an image reading section 206.例文帳に追加

画像形成装置は、インターネット１００を介してテストパターン４０１，５０１を取得する制御回路２１０と、取得された記憶するメモリ２０９と、記憶されたテストパターン４０１，５０１を印字する画像印字部２０７と、画像読取り部２０６のキャリブレーションを実行する制御回路２１０とを備える。 - 特許庁

To provide a semiconductor tester for attaining the generation of test patterns different in working speed at a low cost.例文帳に追加

動作速度の異なるパターン発生を低コストで実現できる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

Desired test patterns therefore can be written by inputting data signals D0 to D3 of a 'H' level.例文帳に追加

したがって、「Ｈ」レベルのデータ信号Ｄ０〜Ｄ３を入力して、所望のテストパターンを書込むことができる。 - 特許庁

Test patterns T, each having electrodes to which the head of a probe is contacted, are formed on a wafer W.例文帳に追加

ウエハＷ上に、プローブの先端を接触させる電極を備えたテストパターンＴを形成する。 - 特許庁

To provide a method and device for creating test patterns for a logic circuit capable of shortening the lengths of the test patterns created by an ATPG system for a sequential circuit and an ATPG system for a sequential circuit.例文帳に追加

本発明は、順序回路用ＡＴＰＧシステム及び組み合わせ回路用ＡＴＰＧシステムが生成するテストパタン長を短縮できる論理回路のテストパタン生成方法及び装置を提供することを課題とする。 - 特許庁